JPS5956170A - 伝達関数測定器 - Google Patents
伝達関数測定器Info
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- JPS5956170A JPS5956170A JP16737182A JP16737182A JPS5956170A JP S5956170 A JPS5956170 A JP S5956170A JP 16737182 A JP16737182 A JP 16737182A JP 16737182 A JP16737182 A JP 16737182A JP S5956170 A JPS5956170 A JP S5956170A
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- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被測定物に信号を供給し、その入力信号と、
被測定物よりの出力信号とから、被測定物の伝達関数を
求める伝達関数測定器、特に高速フーリエ変換処理によ
りデジタル的に伝達関数を測定する測定器に関する。
被測定物よりの出力信号とから、被測定物の伝達関数を
求める伝達関数測定器、特に高速フーリエ変換処理によ
りデジタル的に伝達関数を測定する測定器に関する。
〈従来技術〉
伝達関数測定器は、第1図に示すように掃引正弦波信号
発生器11よりの掃引正弦波信号を被測定物12に入力
1〜、その入力信号のレベルで被測定物12の出力信号
のレベルを割算回路13で割算してCRT表示器14の
第1Y軸端子に供給し、又被測定物12に対する入力信
号と出力信号との位相差を位相差検出器15で検出して
CRT表示器14の第2Y軸端子に供給し、一方、掃引
W丑。
発生器11よりの掃引正弦波信号を被測定物12に入力
1〜、その入力信号のレベルで被測定物12の出力信号
のレベルを割算回路13で割算してCRT表示器14の
第1Y軸端子に供給し、又被測定物12に対する入力信
号と出力信号との位相差を位相差検出器15で検出して
CRT表示器14の第2Y軸端子に供給し、一方、掃引
W丑。
波信号発生器11よりの周波数掃引信号をCRT表示器
14のX軸端子へ供給して、被111I定物12の振幅
(利得)特性を表示器14の表示面に曲線16として表
示すると共に、位相特性を曲線17として表示するよう
にされている。
14のX軸端子へ供給して、被111I定物12の振幅
(利得)特性を表示器14の表示面に曲線16として表
示すると共に、位相特性を曲線17として表示するよう
にされている。
このように伝達関数をアナログ的にo+す定する代りに
デジタル的に測定することにより、その後のデジタル的
処理が行いやすいようにしたものが提案されている。こ
れは入力信号及び出力信号を高速フーリエ変換して伝達
関数を求めるものである。
デジタル的に測定することにより、その後のデジタル的
処理が行いやすいようにしたものが提案されている。こ
れは入力信号及び出力信号を高速フーリエ変換して伝達
関数を求めるものである。
即ち入力信号のn +1julのサンプルより滑る時系
列を昼速フーリエ変換して、例えば第2図に示すように
その周波数成分Fl−Fnについてそれぞれ入力。
列を昼速フーリエ変換して、例えば第2図に示すように
その周波数成分Fl−Fnについてそれぞれ入力。
信号スペクト/l/ a + +ja + ’ 〜al
+j an ’及びそのパワーゝスペクトルA+−An
を得る。同様にして被測定物12の出力信号のn個のサ
ンプルよりなる時系列を高速フーリエ変換して周波数成
分F+−Fnによって出力信号スペクトルbs+jb+
’〜bn+jbn’を求め、これら入カスベクトル及び
出カスベクトルの対応する周波数の積であるクロススペ
クトルを周波数成分F1〜Fnについてc+−1−jc
+”〜Cn+jCn1を求める。このように入力信号及
び出力信号の各時系列毎に入カバワースベクトル及びク
ロススペクトルを求めると共に、その各対応する周波数
成分についての平均値を求め、負周波数成分ごとにその
平均されだ入カパワースペ、クトルによって平均された
クロススペクトルをそれぞれ割算して振幅(利得)特性
を求めると共に、各胤波数成分の平均クロススペクトル
の実数部と虚数部とから位相特性を求めている。
+j an ’及びそのパワーゝスペクトルA+−An
を得る。同様にして被測定物12の出力信号のn個のサ
ンプルよりなる時系列を高速フーリエ変換して周波数成
分F+−Fnによって出力信号スペクトルbs+jb+
’〜bn+jbn’を求め、これら入カスベクトル及び
出カスベクトルの対応する周波数の積であるクロススペ
クトルを周波数成分F1〜Fnについてc+−1−jc
+”〜Cn+jCn1を求める。このように入力信号及
び出力信号の各時系列毎に入カバワースベクトル及びク
ロススペクトルを求めると共に、その各対応する周波数
成分についての平均値を求め、負周波数成分ごとにその
平均されだ入カパワースペ、クトルによって平均された
クロススペクトルをそれぞれ割算して振幅(利得)特性
を求めると共に、各胤波数成分の平均クロススペクトル
の実数部と虚数部とから位相特性を求めている。
このように従来においては高速フーリエ変換されたスペ
クトルの、すべての周波数成分についてそれぞれ平均し
ており、つまりパワーが小さいスペクトルも平均してお
り、限られたビット数で者数を表現するデジタル処理に
おいては小さいパワーによる割算は大きな誤差を伴い、
全体としての測定精度を低下させていた。
クトルの、すべての周波数成分についてそれぞれ平均し
ており、つまりパワーが小さいスペクトルも平均してお
り、限られたビット数で者数を表現するデジタル処理に
おいては小さいパワーによる割算は大きな誤差を伴い、
全体としての測定精度を低下させていた。
〈発明の概要〉
この発明の目的は高い精度で伝達関数をデジタル的に測
定することができ、ひずみ等の非直線的な影響のない伝
達関数測定器を提供することにある。
定することができ、ひずみ等の非直線的な影響のない伝
達関数測定器を提供することにある。
この発明によれば各入力信号及び出力信号の高速フーリ
エ変換時系列についてその入カバワースベクトルのピー
クの周波数及びそのピーク値を求める。そのピーク周波
数についてそれ甘でに得られている時系列毎のフーリエ
変換の対応する周波62のパワーのピーク値の平均及び
対応する周波数のクロススペクトルの平均をそれぞれ求
め、これら平均されたものによシ伝達特性を求める。こ
のようにピーク値についてのみ平均、割算処理が行われ
、低い誤差成分の多いレベルの低い周波数成分について
は、これらを無視することによって?Flj定精度を上
げている。入力信号は正弦波信号であって、そのスペク
トルは単一周波数のみに出るのが普通であり、前述のよ
うにピーク値の周波数成分のみの処理により高い精度の
測定が得られる。
エ変換時系列についてその入カバワースベクトルのピー
クの周波数及びそのピーク値を求める。そのピーク周波
数についてそれ甘でに得られている時系列毎のフーリエ
変換の対応する周波62のパワーのピーク値の平均及び
対応する周波数のクロススペクトルの平均をそれぞれ求
め、これら平均されたものによシ伝達特性を求める。こ
のようにピーク値についてのみ平均、割算処理が行われ
、低い誤差成分の多いレベルの低い周波数成分について
は、これらを無視することによって?Flj定精度を上
げている。入力信号は正弦波信号であって、そのスペク
トルは単一周波数のみに出るのが普通であり、前述のよ
うにピーク値の周波数成分のみの処理により高い精度の
測定が得られる。
〈実施例〉
第3図はこの発明による伝達関数測定器の一例を示す。
掃引正弦波信号発生器11よシの正弦波信号は被測定物
12に入力される。その入力信号は一定周期で標本化さ
れ、AD変換器21により各標本値がデジタル信号に変
換されて入力バッファメモリ22に書き込まれる。また
被測定物12の出力信号はAD変換器23により一定周
期毎の標本値がデジタル信号に変換されて出力バッファ
メモリ24に取込まれる。バッファメモリ22゜24の
読み出し出力側N″ll:マルチプレクサ25を通じて
バス26に接続される。中央処理装置いわゆるCPU2
7、全体の制御を行うプログラムが記憶された読み出し
専用メモリ28、高速フーリエ変換演算を行うFFTブ
ロセッザ29、高速フーリエ変換出力が記憶される変換
メモリ31、更に平均値が記憶される平均値メモリ32
等がバス26に接続されている。
12に入力される。その入力信号は一定周期で標本化さ
れ、AD変換器21により各標本値がデジタル信号に変
換されて入力バッファメモリ22に書き込まれる。また
被測定物12の出力信号はAD変換器23により一定周
期毎の標本値がデジタル信号に変換されて出力バッファ
メモリ24に取込まれる。バッファメモリ22゜24の
読み出し出力側N″ll:マルチプレクサ25を通じて
バス26に接続される。中央処理装置いわゆるCPU2
7、全体の制御を行うプログラムが記憶された読み出し
専用メモリ28、高速フーリエ変換演算を行うFFTブ
ロセッザ29、高速フーリエ変換出力が記憶される変換
メモリ31、更に平均値が記憶される平均値メモリ32
等がバス26に接続されている。
CPU27はメモリ28のプログラムを読み出して解読
実行して制御処理を行うが、この処理は次のようなもの
である。即ちCPU27によりマルチプレクサ25を制
御して先づ入力バッファメモリ22からそれまでの例え
ばn個のサンプル値の時系列がCPU27に取込まれ、
その取込まれた時系列はこれよりFFTプロセッサ29
において高速フーリエ変換され、第2図について述べた
ように周波数成分F1〜Fnについて入カスベクトルa
l−1−jat ’ 〜an+jan’が演算され、更
にこれらよシバワースベクトルA1〜Anが演算さね、
こゎらけCPU27を介して変換メモリ31内の入カス
ベクトル領域31a及び入カッくワースベクトル頓域3
1bにそれぞれ記憶される。次にCP U27のill
illにより出力バッファメモリ24から、前記入力
時系列と対応するn個のサンプル値よりなる時系列がC
PU27に取込まれ、更にFFTプロセッサ29によっ
て高速フーリエ変換される。これにより出カスベクトル
t)+十jbl’〜b2+jb2’ とそのパワース
ペクトルB1〜Hnがそれぞれ得られ、これも変換メモ
リ31の出カスベクトル領域31C及ヒ出カバワースベ
クトル31dにそれぞれ記憶される。
実行して制御処理を行うが、この処理は次のようなもの
である。即ちCPU27によりマルチプレクサ25を制
御して先づ入力バッファメモリ22からそれまでの例え
ばn個のサンプル値の時系列がCPU27に取込まれ、
その取込まれた時系列はこれよりFFTプロセッサ29
において高速フーリエ変換され、第2図について述べた
ように周波数成分F1〜Fnについて入カスベクトルa
l−1−jat ’ 〜an+jan’が演算され、更
にこれらよシバワースベクトルA1〜Anが演算さね、
こゎらけCPU27を介して変換メモリ31内の入カス
ベクトル領域31a及び入カッくワースベクトル頓域3
1bにそれぞれ記憶される。次にCP U27のill
illにより出力バッファメモリ24から、前記入力
時系列と対応するn個のサンプル値よりなる時系列がC
PU27に取込まれ、更にFFTプロセッサ29によっ
て高速フーリエ変換される。これにより出カスベクトル
t)+十jbl’〜b2+jb2’ とそのパワース
ペクトルB1〜Hnがそれぞれ得られ、これも変換メモ
リ31の出カスベクトル領域31C及ヒ出カバワースベ
クトル31dにそれぞれ記憶される。
このように入力信号の1時系列と同時に得られた出力信
号の1時系列とを高速フーリエ変換して変換メモリ31
に記憶した後、その各変換周波数成分F1〜l’i’n
の対応するものについて入カスベクトルと出カスベクト
ルとの積を演算してクロススペクトルc+−4−jct
’〜cn+jcn’を求めて変換メモリ31中のクロス
スペクトル領域31eに記憶す次に変換メモリ31中の
入カバワースベクトルAI−AnをCPU27に順次読
み取りピーク値の周波数及びそのピーク値を検出し、そ
のピーク値が所定レベル以上であるか否かを判定し、所
定レベル以上の場合はそのピーク周波数におけるそtl
までの時系列について得られたピーク値との平均が行わ
れ、その平均結果は平均値メモリ32の対応する周波数
の部分に記憶される。その平均演豹はそれまでの平均値
を5とし、新だに得られたピーク値をXeとし、それま
での平均回数を1くとすると、次の式で行われる。
号の1時系列とを高速フーリエ変換して変換メモリ31
に記憶した後、その各変換周波数成分F1〜l’i’n
の対応するものについて入カスベクトルと出カスベクト
ルとの積を演算してクロススペクトルc+−4−jct
’〜cn+jcn’を求めて変換メモリ31中のクロス
スペクトル領域31eに記憶す次に変換メモリ31中の
入カバワースベクトルAI−AnをCPU27に順次読
み取りピーク値の周波数及びそのピーク値を検出し、そ
のピーク値が所定レベル以上であるか否かを判定し、所
定レベル以上の場合はそのピーク周波数におけるそtl
までの時系列について得られたピーク値との平均が行わ
れ、その平均結果は平均値メモリ32の対応する周波数
の部分に記憶される。その平均演豹はそれまでの平均値
を5とし、新だに得られたピーク値をXeとし、それま
での平均回数を1くとすると、次の式で行われる。
眉←Xo十 k
この値を新たな平均値として平均値メモリ32の対応す
る周波数のところに記憶する。たソしl(の初期値は2
であり、かつ同一周波数のピーク値が連続して得られる
間そのl(を順次+1する4、このようにして、例えば
第4図に示す」:うに検出ピーク値の各周波数F+−F
nについての入カバワースベクトルの平均値A1出カバ
ワースベクトルの平均値テ、更にクロススペクトルの平
均値「+r1°がそれぞれ演算される。なおこの平均を
行うに当ってkがあらかじめ設定された値になると、そ
の周波数についての平均を中東する。
る周波数のところに記憶する。たソしl(の初期値は2
であり、かつ同一周波数のピーク値が連続して得られる
間そのl(を順次+1する4、このようにして、例えば
第4図に示す」:うに検出ピーク値の各周波数F+−F
nについての入カバワースベクトルの平均値A1出カバ
ワースベクトルの平均値テ、更にクロススペクトルの平
均値「+r1°がそれぞれ演算される。なおこの平均を
行うに当ってkがあらかじめ設定された値になると、そ
の周波数についての平均を中東する。
このようにして入力信号周波数を掃引し々から次々と入
力信号及び出力信号をサンプルして高速フーリエ変換を
行って各時系列毎についてのピニク値の周波数を求め、
その周波数についてそれまでの平均を求め、目的の周波
数範囲内の掃引が終了した時点でそれまで得られた各ピ
ークの周波数毎の入カバワースベクトルの平均値、出カ
バワースベクトルの平均値、クロススペクトルの平均値
から、入カバワースベクトルの平均値によシ、クロスス
ペクトルの平均値を割り算することを各周波数成分にて
求めて振幅(利得)特性を求め、更にクロススペクトル
の平均値の実数部と虚数部とから位相特性を求める。な
お必要に応じて入カバワースベクトル及び出カバワース
ベクトルよりその相関が各周波数成分ごとに演算される
。
力信号及び出力信号をサンプルして高速フーリエ変換を
行って各時系列毎についてのピニク値の周波数を求め、
その周波数についてそれまでの平均を求め、目的の周波
数範囲内の掃引が終了した時点でそれまで得られた各ピ
ークの周波数毎の入カバワースベクトルの平均値、出カ
バワースベクトルの平均値、クロススペクトルの平均値
から、入カバワースベクトルの平均値によシ、クロスス
ペクトルの平均値を割り算することを各周波数成分にて
求めて振幅(利得)特性を求め、更にクロススペクトル
の平均値の実数部と虚数部とから位相特性を求める。な
お必要に応じて入カバワースベクトル及び出カバワース
ベクトルよりその相関が各周波数成分ごとに演算される
。
以上述べたようにこの発明の伝達関数測定器においては
その入カバワースベクトルのピーク値の周波数を検出[
2、そのピーク周波数についてそねまでの時系列毎に得
られている入カバワースベクトル、クロススペクトルの
各平均を求めているだめ、つまりパワースペクトルのす
べての周波数成分について平均をとるものではなく、小
さなレベルで大きな誤差を含む可能性のある成分につい
ては無視することによシ正しい測定結果を得る。このよ
うにピークの周波数についてのみ平均処理を行なっても
、本来は1周波数成分ごとの特性が得られればよく、測
定も正弦波信号を入力信号とし、その周波数を掃引する
が、瞬時的には一周波数成分のみが入力されており、そ
の成分についてのみ平均して特性が得られればよく、そ
れにより高い精度の測定が可能となる。しかも歪々どの
非直線的な結合の影響が彦<、その周波数成分について
のみの平均が行なわれることになる。
その入カバワースベクトルのピーク値の周波数を検出[
2、そのピーク周波数についてそねまでの時系列毎に得
られている入カバワースベクトル、クロススペクトルの
各平均を求めているだめ、つまりパワースペクトルのす
べての周波数成分について平均をとるものではなく、小
さなレベルで大きな誤差を含む可能性のある成分につい
ては無視することによシ正しい測定結果を得る。このよ
うにピークの周波数についてのみ平均処理を行なっても
、本来は1周波数成分ごとの特性が得られればよく、測
定も正弦波信号を入力信号とし、その周波数を掃引する
が、瞬時的には一周波数成分のみが入力されており、そ
の成分についてのみ平均して特性が得られればよく、そ
れにより高い精度の測定が可能となる。しかも歪々どの
非直線的な結合の影響が彦<、その周波数成分について
のみの平均が行なわれることになる。
第1図はアナログ信号による伝達関数測定器を示すブロ
ック図、第2図はデジタル的処理にょる伝達関数の測定
に用いられるデータを示す図、第3図はこの発明による
伝達関数測定器の一例を示すブロック図、第41¥1は
その平均値メモリ32における記憶例を示す図である。 11:掃引正弦波信号発生器、12:′#測定物、21
.23:AD変換器、22 、24 :バツファメモリ
、25:マルチプレクサ、27 : CPU28ニブロ
グラム記憶メモリ、29:FFTプロセッサ、31:変
換メモ’J、32:平均値メモリ。 特許出願人 タケダ理研工業株式会社代理人 草野
卓 7t=1 囮 2 4 沙 2 図 手続補正書(自発) 昭和57午11月8日 特許庁長官 殿 1事件の表示 特願昭57−167371、発明の名
称 1云達関数測定器 3補正をする者 @S件との関係 特許出願人 タケダ理研工業株式会社 5、補正の対象 明細書中発明の詳細な説明の欄6袖
正の内容 (])明細摺3頁13行、7頁16〜17行1入カスベ
クトル」を「人カスベクトルの複素共役」前述のように
」を「その線形応答のスペクトルは、この入力周波数の
みC二出てくる。従って前述のように」と訂正する。 (3)同書8頁10行「平均回数なk」を「平均回数な
に−1」と訂正する。 (4)同書8頁15行「初期値は2であり、」を。 [初期値は1であり、」と訂正する。 (5)同書8頁19行「平均値λ、」を「平均値心、」
と訂正する。 (6)同書9頁1〜2行「平均値B、・・・・・それぞ
れ演算される。」を1平均値B1、更にクロススペーー
ーー〒 クトルの平均値C; + J C+がそれぞれ演Wされ
る。」と訂正する。 (7)同書9百9〜10行「l」的の・・・・・得られ
た」を「掃引した周波数範囲のそれまで得られた」と訂
正する。 (8) 同書9頁15〜19行[振幅(利得)持す4
1を求め、・・・・・・演算される。」を「振幅(利得
)特性と、位相特性を求める。なお必要E l+j;じ
て人カバワースベクトル及び出カバワースベクトルクロ
ススペクトルのそれぞれの平均値よりその開速度関数が
各周波数成分ごとに演算される。」と訂正する。 (9)同書io頁16行「その周波数成分」を「その掃
引周波数成分」と訂正する。 以上
ック図、第2図はデジタル的処理にょる伝達関数の測定
に用いられるデータを示す図、第3図はこの発明による
伝達関数測定器の一例を示すブロック図、第41¥1は
その平均値メモリ32における記憶例を示す図である。 11:掃引正弦波信号発生器、12:′#測定物、21
.23:AD変換器、22 、24 :バツファメモリ
、25:マルチプレクサ、27 : CPU28ニブロ
グラム記憶メモリ、29:FFTプロセッサ、31:変
換メモ’J、32:平均値メモリ。 特許出願人 タケダ理研工業株式会社代理人 草野
卓 7t=1 囮 2 4 沙 2 図 手続補正書(自発) 昭和57午11月8日 特許庁長官 殿 1事件の表示 特願昭57−167371、発明の名
称 1云達関数測定器 3補正をする者 @S件との関係 特許出願人 タケダ理研工業株式会社 5、補正の対象 明細書中発明の詳細な説明の欄6袖
正の内容 (])明細摺3頁13行、7頁16〜17行1入カスベ
クトル」を「人カスベクトルの複素共役」前述のように
」を「その線形応答のスペクトルは、この入力周波数の
みC二出てくる。従って前述のように」と訂正する。 (3)同書8頁10行「平均回数なk」を「平均回数な
に−1」と訂正する。 (4)同書8頁15行「初期値は2であり、」を。 [初期値は1であり、」と訂正する。 (5)同書8頁19行「平均値λ、」を「平均値心、」
と訂正する。 (6)同書9頁1〜2行「平均値B、・・・・・それぞ
れ演算される。」を1平均値B1、更にクロススペーー
ーー〒 クトルの平均値C; + J C+がそれぞれ演Wされ
る。」と訂正する。 (7)同書9百9〜10行「l」的の・・・・・得られ
た」を「掃引した周波数範囲のそれまで得られた」と訂
正する。 (8) 同書9頁15〜19行[振幅(利得)持す4
1を求め、・・・・・・演算される。」を「振幅(利得
)特性と、位相特性を求める。なお必要E l+j;じ
て人カバワースベクトル及び出カバワースベクトルクロ
ススペクトルのそれぞれの平均値よりその開速度関数が
各周波数成分ごとに演算される。」と訂正する。 (9)同書io頁16行「その周波数成分」を「その掃
引周波数成分」と訂正する。 以上
Claims (1)
- (1) 被測定物に供給する入力信号を高速フーリエ
変換する手段と、上記被測定物の出力信号を高速フーリ
エ変換する手段と、これら高速フーリエ変換された入力
信号スペクトルと出力信号スペクトルとの各対応する周
波数成分を掛算してクロススペクトルを求める手段と、
上記入力信号の変換されたスペクトル中のピークパワー
の周波数及びそのピーク値を検出する手段と、各入力信
号のサンプル時系列毎にそれまでに検出されたピーク周
波数におけるその入力信号のパワースペクトルの平均と
」二記クロススペクトルの平均とを求める手段と、その
得られた入力ピーク周波数のパワースペクトルの平均及
びクロススペクトルの平均から上記被測定物の伝達特性
を演算する手段とを具備する伝達関数測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16737182A JPS5956170A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 伝達関数測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16737182A JPS5956170A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 伝達関数測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956170A true JPS5956170A (ja) | 1984-03-31 |
| JPH0339270B2 JPH0339270B2 (ja) | 1991-06-13 |
Family
ID=15848468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16737182A Granted JPS5956170A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 伝達関数測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956170A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2604528A1 (fr) * | 1986-09-25 | 1988-04-01 | France Etat | Procede et dispositif de determination numerique de l'amplitude de la fonction de transfert entree-sortie d'un quadripole |
| US4744041A (en) * | 1985-03-04 | 1988-05-10 | International Business Machines Corporation | Method for testing DC motors |
| US4885708A (en) * | 1987-11-20 | 1989-12-05 | Advantest Corporation | Apparatus and method for measuring frequency response function |
| JP2005308509A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 |
| JP2005308511A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 |
| JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
-
1982
- 1982-09-24 JP JP16737182A patent/JPS5956170A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4744041A (en) * | 1985-03-04 | 1988-05-10 | International Business Machines Corporation | Method for testing DC motors |
| FR2604528A1 (fr) * | 1986-09-25 | 1988-04-01 | France Etat | Procede et dispositif de determination numerique de l'amplitude de la fonction de transfert entree-sortie d'un quadripole |
| US4885708A (en) * | 1987-11-20 | 1989-12-05 | Advantest Corporation | Apparatus and method for measuring frequency response function |
| JP2005308509A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 |
| JP2005308511A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 |
| JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0339270B2 (ja) | 1991-06-13 |
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