JPS5956510U - 光学的表面検査装置 - Google Patents

光学的表面検査装置

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JPS5956510U
JPS5956510U JP15172082U JP15172082U JPS5956510U JP S5956510 U JPS5956510 U JP S5956510U JP 15172082 U JP15172082 U JP 15172082U JP 15172082 U JP15172082 U JP 15172082U JP S5956510 U JPS5956510 U JP S5956510U
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JP
Japan
Prior art keywords
reflected light
inspected
surface inspection
optical surface
inspection device
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Application number
JP15172082U
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English (en)
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昭夫 麦島
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SHIRAI ELECTRONICS INDUSTRIAL CO.,LTD.
Original Assignee
SHIRAI ELECTRONICS INDUSTRIAL CO.,LTD.
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Publication date
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Publication of JPS5956510U publication Critical patent/JPS5956510U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の実施例である光学的表面検査装置の
構成を示す斜視図であり、第2図はその構成断面図であ
る。第3図は受光素子にフォト・ダイオードを使用する
ときの光電変換器の回路構成を示す図である。 1・・・被検査物、2・・・比較的散乱反射部分、3・
・・比較的鏡面反射部、4・・・光源、5・・・光電変
換器(正反射用)、7・・・充電変換器(散乱反射用)
、6.8・・・集光レンズ、1′1・・・差動増幅器、
13・・・コンパレータ、14・・・フォト・ダイオー
ド、15・・・基準信号。 4ん7−[ 1′    −) 1?15      第3図 計鵡 113 −9     ±

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 比較的散乱反射する反射面を有する部材の表面の一部に
    比較的鏡面反射する反射面を有する異なる部材を備えた
    被検査物を光照射し、前記被検査物表面からの正反射光
    を受光し光電変換して鏡面部分の形状の基準形状との一
    致性を検査するようにした光学的表面検査装置において
    、前記光照射により前記被検査物表面からの散乱反則光
    を受光し光電変換する光電変換器を正反射光の光路外に
    設けるとともに、前記正反射光と散乱反射光とを光電変
    換した電気出力の差値を検出する手段を設け、該検出手
    段によって得られる信号を基準信号と対比処理するよう
    にしたことを特徴とする光学的表面検査装置。
JP15172082U 1982-10-05 1982-10-05 光学的表面検査装置 Pending JPS5956510U (ja)

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