JPS5956510U - 光学的表面検査装置 - Google Patents
光学的表面検査装置Info
- Publication number
- JPS5956510U JPS5956510U JP15172082U JP15172082U JPS5956510U JP S5956510 U JPS5956510 U JP S5956510U JP 15172082 U JP15172082 U JP 15172082U JP 15172082 U JP15172082 U JP 15172082U JP S5956510 U JPS5956510 U JP S5956510U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reflected light
- inspected
- surface inspection
- optical surface
- inspection device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図はこの考案の実施例である光学的表面検査装置の
構成を示す斜視図であり、第2図はその構成断面図であ
る。第3図は受光素子にフォト・ダイオードを使用する
ときの光電変換器の回路構成を示す図である。 1・・・被検査物、2・・・比較的散乱反射部分、3・
・・比較的鏡面反射部、4・・・光源、5・・・光電変
換器(正反射用)、7・・・充電変換器(散乱反射用)
、6.8・・・集光レンズ、1′1・・・差動増幅器、
13・・・コンパレータ、14・・・フォト・ダイオー
ド、15・・・基準信号。 4ん7−[ 1′ −) 1?15 第3図 計鵡 113 −9 ±
構成を示す斜視図であり、第2図はその構成断面図であ
る。第3図は受光素子にフォト・ダイオードを使用する
ときの光電変換器の回路構成を示す図である。 1・・・被検査物、2・・・比較的散乱反射部分、3・
・・比較的鏡面反射部、4・・・光源、5・・・光電変
換器(正反射用)、7・・・充電変換器(散乱反射用)
、6.8・・・集光レンズ、1′1・・・差動増幅器、
13・・・コンパレータ、14・・・フォト・ダイオー
ド、15・・・基準信号。 4ん7−[ 1′ −) 1?15 第3図 計鵡 113 −9 ±
Claims (1)
- 比較的散乱反射する反射面を有する部材の表面の一部に
比較的鏡面反射する反射面を有する異なる部材を備えた
被検査物を光照射し、前記被検査物表面からの正反射光
を受光し光電変換して鏡面部分の形状の基準形状との一
致性を検査するようにした光学的表面検査装置において
、前記光照射により前記被検査物表面からの散乱反則光
を受光し光電変換する光電変換器を正反射光の光路外に
設けるとともに、前記正反射光と散乱反射光とを光電変
換した電気出力の差値を検出する手段を設け、該検出手
段によって得られる信号を基準信号と対比処理するよう
にしたことを特徴とする光学的表面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15172082U JPS5956510U (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 光学的表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15172082U JPS5956510U (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 光学的表面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956510U true JPS5956510U (ja) | 1984-04-13 |
Family
ID=30336134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15172082U Pending JPS5956510U (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 光学的表面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956510U (ja) |
-
1982
- 1982-10-05 JP JP15172082U patent/JPS5956510U/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO1998052025A1 (fr) | Procede et instrument de controle de surface | |
| JPS6068510U (ja) | 焦点検出装置 | |
| JPS63140904A (ja) | 散乱光測定装置 | |
| JPS6423145A (en) | Optical appearance inspection device | |
| JPS58138010U (ja) | 寸法測定装置 | |
| JPS5990848U (ja) | ガス検知器 | |
| JPS5998353U (ja) | レチクル面の傷の検出装置 | |
| JPS6133048U (ja) | 画像濃度検出装置 | |
| JPS59185609U (ja) | 表面あらさ測定装置 | |
| JPH0252149U (ja) | ||
| JPS58129109U (ja) | 空間フイルタによる距離測定装置 | |
| JPS6358738U (ja) | ||
| JPS5886509U (ja) | 表面検査装置 | |
| JPS6126108U (ja) | 金属部品の精密検査装置 | |
| JPS5941747U (ja) | 表面状態測定装置 | |
| JPS58138008U (ja) | 寸法測定装置 | |
| JPS60209187A (ja) | 固体撮像素子の検査装置 | |
| JPS606123U (ja) | 集束性ロツドレンズアレイを用いた画像読取装置 | |
| JPS58132810U (ja) | 光学式位置測定器 | |
| JPS5933268U (ja) | 半導体レ−ザ | |
| JPS59162651U (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPS62168037A (ja) | 物体検出装置 | |
| JPS60107742U (ja) | 光学的検出装置の光路検査装置 | |
| JPS5862250U (ja) | 検出装置 | |
| JPS58180483U (ja) | 光レ−ダ装置用受光器 |