JPS5958344A - けい光x線分析供試用ろ紙 - Google Patents
けい光x線分析供試用ろ紙Info
- Publication number
- JPS5958344A JPS5958344A JP17047382A JP17047382A JPS5958344A JP S5958344 A JPS5958344 A JP S5958344A JP 17047382 A JP17047382 A JP 17047382A JP 17047382 A JP17047382 A JP 17047382A JP S5958344 A JPS5958344 A JP S5958344A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter paper
- ray analysis
- fluorescence
- fluorescent
- analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
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- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Filtering Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、液体試料についてけい光XbI!分析を行
うJミ)合に、その液中の倣B2金属元素を吸着相持ζ
せるけい光X線分析供試用ろ紙にし」する。
うJミ)合に、その液中の倣B2金属元素を吸着相持ζ
せるけい光X線分析供試用ろ紙にし」する。
液体試別についてけい光X?YA分析を行う場合に1゛
にJljj VC行われている方法は、試別を液体試料
容器に入ハてHθあるいは真朶、江囲気中で分析するも
のであるが、コスト、我・作性などにおいて問題があり
、また付帯設(iiiiを必要とするなどの輯1゜点が
ある。このため、液体試料中の微量金属元素をろ紙に吸
着さぜた後、乾ジ栗させて分析に供する方法が呆近行わ
几でいる。しかし、従来行わコシているのは単に市販の
ろ紙の上に液体試別を〆1:・j下する方法であり、こ
のような方法では液体試料の拡(1,f…181iが区
々であり、丑だろ紙を乾燥させたときにろ紙面が平滑に
ならず波打つ。このため、分析結果の精度および内税性
に悪影脅を及はすこととなる。そこでこの発明はこのよ
うな従来のIAf点を解消するようなけい光X線分析供
試用ろ紙を提供することを目的としてなさf’したもの
である。
にJljj VC行われている方法は、試別を液体試料
容器に入ハてHθあるいは真朶、江囲気中で分析するも
のであるが、コスト、我・作性などにおいて問題があり
、また付帯設(iiiiを必要とするなどの輯1゜点が
ある。このため、液体試料中の微量金属元素をろ紙に吸
着さぜた後、乾ジ栗させて分析に供する方法が呆近行わ
几でいる。しかし、従来行わコシているのは単に市販の
ろ紙の上に液体試別を〆1:・j下する方法であり、こ
のような方法では液体試料の拡(1,f…181iが区
々であり、丑だろ紙を乾燥させたときにろ紙面が平滑に
ならず波打つ。このため、分析結果の精度および内税性
に悪影脅を及はすこととなる。そこでこの発明はこのよ
うな従来のIAf点を解消するようなけい光X線分析供
試用ろ紙を提供することを目的としてなさf’したもの
である。
以下、この発明の構成および実施例について説明する。
この発明に係るけい光X線分析供試用ろ紙は、第1図お
よび第2図にその1実施例を示すように、ろ紙Ovに所
定面積を画するように撥水性物質を線状に含浸させ、こ
の画線a功で囲まれた平面内に点滴された被検液体がそ
の画線O埠で1Jllf捷nていない周辺域に1で拡1
牧しないようにしたことを特徴とする。
よび第2図にその1実施例を示すように、ろ紙Ovに所
定面積を画するように撥水性物質を線状に含浸させ、こ
の画線a功で囲まれた平面内に点滴された被検液体がそ
の画線O埠で1Jllf捷nていない周辺域に1で拡1
牧しないようにしたことを特徴とする。
ろ!1′4(は市販のものを使用すnばよく、)星手の
ものは機械的強度に優れ、一方薄手のものはバックグラ
ンド強度が低いという特徴があるから、これらの点を考
慮して適当なものをべ択団用する。そして炭水性物質、
たとえばパラフィンやワックスのようなものを溶融状に
、IAにして、第1図および第2図に示すようにこのパ
ラフィン等をろ紙Cl0K所定面れ;を画するように線
状にろ紙(lυの與+N+に達するまで含浸させる。画
に:iI IJ鍛で囲ま几る面積は、有効X、%!照射
面積、試月簡下乾燥後における試料吸着面の安定度など
を考慮して決めるが、両路(2)を円形とするときは2
8〜30@J程度とするのが適当である。なおここで重
要なことは、画線a4によって囲捷れる面積は常に一定
、しだがってII!IJ 1tli! gZ)の形、大
きさは常に同じにしなけ几ばならないということである
。
ものは機械的強度に優れ、一方薄手のものはバックグラ
ンド強度が低いという特徴があるから、これらの点を考
慮して適当なものをべ択団用する。そして炭水性物質、
たとえばパラフィンやワックスのようなものを溶融状に
、IAにして、第1図および第2図に示すようにこのパ
ラフィン等をろ紙Cl0K所定面れ;を画するように線
状にろ紙(lυの與+N+に達するまで含浸させる。画
に:iI IJ鍛で囲ま几る面積は、有効X、%!照射
面積、試月簡下乾燥後における試料吸着面の安定度など
を考慮して決めるが、両路(2)を円形とするときは2
8〜30@J程度とするのが適当である。なおここで重
要なことは、画線a4によって囲捷れる面積は常に一定
、しだがってII!IJ 1tli! gZ)の形、大
きさは常に同じにしなけ几ばならないということである
。
そうでなければ分析結果について再現性を期待できなく
なるからである。一定の形、大きさの血1.叡(1りを
ろ紙(1υ上に措くたと)(・こtl、l゛4曝図eζ
示すような治具を使用1すiLばよい。図中、Ca1)
に[熱伝導J走の小さい打ネ・1で作らn、lt一つ寸
み部、(支)はアルミニウムのようなぐい、・1゛ゾで
1′[ら)した一本体部である。そしてこの、本体i″
1jXlゎをパラフィンあるいi−1ワツクスなどがi
’i’tFlγするギ、j 11.の涛冒uしこ才でカ
II温してJ、・き、その本体部いうの<、1.、 、
:、li、1部12◆にパラフィン分を均一に月石させ
で、と1Lをろ紙(11)の片[foこスタンプするの
である。
なるからである。一定の形、大きさの血1.叡(1りを
ろ紙(1υ上に措くたと)(・こtl、l゛4曝図eζ
示すような治具を使用1すiLばよい。図中、Ca1)
に[熱伝導J走の小さい打ネ・1で作らn、lt一つ寸
み部、(支)はアルミニウムのようなぐい、・1゛ゾで
1′[ら)した一本体部である。そしてこの、本体i″
1jXlゎをパラフィンあるいi−1ワツクスなどがi
’i’tFlγするギ、j 11.の涛冒uしこ才でカ
II温してJ、・き、その本体部いうの<、1.、 、
:、li、1部12◆にパラフィン分を均一に月石させ
で、と1Lをろ紙(11)の片[foこスタンプするの
である。
1’g体試料についてけい光X fl、6+分析を行う
鳴合Vcit、このようにして−作さ)tだろ紙(II
)のri!11線Q4で囲1几た平面θ、9の中心位1
1−1°eこマイクロビベ・ン)を用いて被検液体を点
滴する。このとき被検液体を、1、パラフィンやワック
スにょすIL!ri C) itて両線0鍛で囲゛まノ
]、でいない1−8辺Jj4’jに才で歴数することは
ない。次にヘアードライヤなどを使って6〜5分間イ1
,1度ろ紙面を+:i:、j曽゛−させたイ、(、こt
l−をけい光X線分イノ1′にfjムする。なおろ#I
E(II)十に点滴する試料54.は、X線強度、’v
、’<−、h時間、ろ紙に対する拡散性などを考l・λ
(して決めら)する。
鳴合Vcit、このようにして−作さ)tだろ紙(II
)のri!11線Q4で囲1几た平面θ、9の中心位1
1−1°eこマイクロビベ・ン)を用いて被検液体を点
滴する。このとき被検液体を、1、パラフィンやワック
スにょすIL!ri C) itて両線0鍛で囲゛まノ
]、でいない1−8辺Jj4’jに才で歴数することは
ない。次にヘアードライヤなどを使って6〜5分間イ1
,1度ろ紙面を+:i:、j曽゛−させたイ、(、こt
l−をけい光X線分イノ1′にfjムする。なおろ#I
E(II)十に点滴する試料54.は、X線強度、’v
、’<−、h時間、ろ紙に対する拡散性などを考l・λ
(して決めら)する。
液体試料につい−Cけい光X線分析を行う揚台に、その
分析に供せられるろ紙を以上説明したように419成す
ることにより、被検液体が拡散する而1’jtおよびそ
の状況を常に一定に保つことができ、゛また画線部分は
パラフィン等で固められているのでろ紙を乾燥させたと
きろ紙面は平滑VC張ることになる。このため、けい光
X線分析の:r+’1度および再現性を高めることがで
きた。
分析に供せられるろ紙を以上説明したように419成す
ることにより、被検液体が拡散する而1’jtおよびそ
の状況を常に一定に保つことができ、゛また画線部分は
パラフィン等で固められているのでろ紙を乾燥させたと
きろ紙面は平滑VC張ることになる。このため、けい光
X線分析の:r+’1度および再現性を高めることがで
きた。
9J’); 1図titこの発明に係るけい光x紳分析
供試用ろ紙の1実h1・(例を示す平面12.1、M2
図は同じ<JfriCM向図であり H;(< 6図は
上記ろ紙を作製するために使用する治具の1例を示す縦
断面図である。 (IJ)−・ろ紙、 (IJ −i+ju
+14 。 第11Ni 第2図 j 第3図
供試用ろ紙の1実h1・(例を示す平面12.1、M2
図は同じ<JfriCM向図であり H;(< 6図は
上記ろ紙を作製するために使用する治具の1例を示す縦
断面図である。 (IJ)−・ろ紙、 (IJ −i+ju
+14 。 第11Ni 第2図 j 第3図
Claims (1)
- 被検液体を点滴後乾燥させてけい光X線分析に供するけ
い光X線分析供試用ろ紙において、所定面積を画するよ
うに撥水性物り7[を1状に含浸させ、この画線で囲ま
fLだ平面内Vζ点滴された被検液体がそのii!j&
iJで囲ま7していない周辺域に寸で拡を枚しないよう
にしプこことをIi゛丁徴とするけい光In分析供試用
ろ紙。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17047382A JPS5958344A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | けい光x線分析供試用ろ紙 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17047382A JPS5958344A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | けい光x線分析供試用ろ紙 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5958344A true JPS5958344A (ja) | 1984-04-04 |
| JPH0115014B2 JPH0115014B2 (ja) | 1989-03-15 |
Family
ID=15905591
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17047382A Granted JPS5958344A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | けい光x線分析供試用ろ紙 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5958344A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214262A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Kawasaki Steel Corp | 自動定量点滴装置 |
| WO2004000452A1 (en) * | 2002-06-21 | 2003-12-31 | Symyx Technologies, Inc. | High throughput crystallographic screening of materials |
| EP1650559A4 (en) * | 2003-08-01 | 2006-08-23 | Rigaku Ind Corp | SAMPLE HOLDER FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROCESS AND DEVICE THEREWITH |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS48104386U (ja) * | 1972-03-06 | 1973-12-05 | ||
| JPS54125293U (ja) * | 1978-02-21 | 1979-09-01 |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP17047382A patent/JPS5958344A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS48104386U (ja) * | 1972-03-06 | 1973-12-05 | ||
| JPS54125293U (ja) * | 1978-02-21 | 1979-09-01 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214262A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Kawasaki Steel Corp | 自動定量点滴装置 |
| WO2004000452A1 (en) * | 2002-06-21 | 2003-12-31 | Symyx Technologies, Inc. | High throughput crystallographic screening of materials |
| EP1650559A4 (en) * | 2003-08-01 | 2006-08-23 | Rigaku Ind Corp | SAMPLE HOLDER FOR X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS PROCESS AND DEVICE THEREWITH |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0115014B2 (ja) | 1989-03-15 |
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