JPS595870B2 - サイリスタ測定回路 - Google Patents
サイリスタ測定回路Info
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- JPS595870B2 JPS595870B2 JP258875A JP258875A JPS595870B2 JP S595870 B2 JPS595870 B2 JP S595870B2 JP 258875 A JP258875 A JP 258875A JP 258875 A JP258875 A JP 258875A JP S595870 B2 JPS595870 B2 JP S595870B2
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- thyristor
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- voltage
- gate
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 17
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 17
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims 1
- 101100329714 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CTR3 gene Proteins 0.000 description 8
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、正確で迅速なサイリスタのゲート点弧電流、
電圧の測定回路に関するものである。
電圧の測定回路に関するものである。
従来のサイリスタの点弧電流、電圧測定回路を第1図に
示す。被測定素子サイリスタ1の陽極側にスイッチを介
して制限抵抗RLを接続する。抵扮MLの一方を直流電
源Eの(+)極へ接続し電源E2の(−)極は電流計M
3を介してサイリスタ陰極へ接続する。一方、サイリス
タ1のゲートにはスイッチ、電流計、可変抵抗器R1を
介して直流電源E1の(+)極へ接続する。直流電源E
1の(一)極には制限抵抗R2を介してサイリスタ1の
陰極に接続する。さらにサイリスタ1のゲートと陰極間
に電圧計M2を接続する。このような第1図の測定回路
でサイリスタ1のゲート点弧電流、電圧を測定するには
、先ず陽極側スイッチと、ゲート側スイッチを閉じる。
示す。被測定素子サイリスタ1の陽極側にスイッチを介
して制限抵抗RLを接続する。抵扮MLの一方を直流電
源Eの(+)極へ接続し電源E2の(−)極は電流計M
3を介してサイリスタ陰極へ接続する。一方、サイリス
タ1のゲートにはスイッチ、電流計、可変抵抗器R1を
介して直流電源E1の(+)極へ接続する。直流電源E
1の(一)極には制限抵抗R2を介してサイリスタ1の
陰極に接続する。さらにサイリスタ1のゲートと陰極間
に電圧計M2を接続する。このような第1図の測定回路
でサイリスタ1のゲート点弧電流、電圧を測定するには
、先ず陽極側スイッチと、ゲート側スイッチを閉じる。
次に可変抵抗R1の抵抗値を徐々に低くして、サイリス
タのゲートー陰極間の電流、電圧を増加していく。増加
していく途中で電流計M3によつてサイリスタ1の点弧
を確認しその時のゲート点弧電流をM、から、電圧をM
2から読みとる。しかしこの方法では点弧直後にゲート
点弧電流・電圧が低下するので正確なゲート点弧電流・
電圧が測定できない。また抵抗R1を変化させるのに熟
練を要することなど測定にも時間がかかり、かつサイリ
スタ1の接合部の温度上昇の影響を受け易いなどの欠点
がある。他の測定方法として、ゲート点弧電流を連続ま
たはパルス状にして徐々に増加させて、サイリスタが点
弧したときのゲート点弧電流・電圧をホールドして測定
する方法がある。
タのゲートー陰極間の電流、電圧を増加していく。増加
していく途中で電流計M3によつてサイリスタ1の点弧
を確認しその時のゲート点弧電流をM、から、電圧をM
2から読みとる。しかしこの方法では点弧直後にゲート
点弧電流・電圧が低下するので正確なゲート点弧電流・
電圧が測定できない。また抵抗R1を変化させるのに熟
練を要することなど測定にも時間がかかり、かつサイリ
スタ1の接合部の温度上昇の影響を受け易いなどの欠点
がある。他の測定方法として、ゲート点弧電流を連続ま
たはパルス状にして徐々に増加させて、サイリスタが点
弧したときのゲート点弧電流・電圧をホールドして測定
する方法がある。
しかし、この方法においても測定精度を向上させるにし
たがつて測定時間が長くなる欠点がある。本発明は上記
の欠点を改良するものであり、その目的とするところは
、読み取り誤差がなく、正確にかつ短時間にゲート点弧
電流・電圧を測定する回路を提供するところにある。
たがつて測定時間が長くなる欠点がある。本発明は上記
の欠点を改良するものであり、その目的とするところは
、読み取り誤差がなく、正確にかつ短時間にゲート点弧
電流・電圧を測定する回路を提供するところにある。
本発明の測定回路の特徴は被測定素子サイリスタの陽極
−陰極間にパルス電圧を印加しておき、このパルス電圧
に同期させて、サイリスタのゲート−陰極間に零から5
0wLA/rャmチで上昇する階段波電流を流し、サイリ
スタが点弧した後は、この階段波直流電流をIIVセツ
チで下降させて、サイリスタの陽極−陰極間に流れてい
るパルス電流が流れなくなつた点の階段波直流電流・電
圧を計測して、サイリスタのゲート点弧電流・電圧を測
定するものである。
−陰極間にパルス電圧を印加しておき、このパルス電圧
に同期させて、サイリスタのゲート−陰極間に零から5
0wLA/rャmチで上昇する階段波電流を流し、サイリ
スタが点弧した後は、この階段波直流電流をIIVセツ
チで下降させて、サイリスタの陽極−陰極間に流れてい
るパルス電流が流れなくなつた点の階段波直流電流・電
圧を計測して、サイリスタのゲート点弧電流・電圧を測
定するものである。
以下図面に従つて実施例を詳細に説明する。
第2問は本発明の測定回路プロツク図である。本回路の
構成を説明する。AClOOVを入力電源とする測定回
路全体の電源POWERSUPPLYから、単相半波の
O−180信までの正電圧を、被測定素子の陽極Aと陰
極K間に流れる電流を制限する回路1AC0NTR0L
を介して、被測定素子の陽極Aと陰極Kに抵抗MRを通
して印加する。
構成を説明する。AClOOVを入力電源とする測定回
路全体の電源POWERSUPPLYから、単相半波の
O−180信までの正電圧を、被測定素子の陽極Aと陰
極K間に流れる電流を制限する回路1AC0NTR0L
を介して、被測定素子の陽極Aと陰極Kに抵抗MRを通
して印加する。
POWERSUPPLYからAClOOVの商用周波数
に同期したパルス発生回路TlMINGPULSEの出
力を制御回路CONTROL2に接続する。
に同期したパルス発生回路TlMINGPULSEの出
力を制御回路CONTROL2に接続する。
CONTROL2は測定開始のSTART信号によつて
動作開始し、カウンターCTR3へ階段波の上昇、下降
の信号をカウンターCTR3へ出力する。さらにCON
TROL2に接続されたデジタルボルトメータDVMへ
も被測定素子5のゲート電圧計測のスタート、ストツプ
の制御信号を出力する。CTR3はCONTROL2か
らの信号によつて、階段波のピツチをカウントし、その
出力をD/ACONVERTERへ送る。D/ACON
VERTERはCTR3からのデジタル信号を階段波の
アナログに変換し、この波形を次のAMP,GATED
RlVERを介して、被測定素子5のゲートへ加える。
動作開始し、カウンターCTR3へ階段波の上昇、下降
の信号をカウンターCTR3へ出力する。さらにCON
TROL2に接続されたデジタルボルトメータDVMへ
も被測定素子5のゲート電圧計測のスタート、ストツプ
の制御信号を出力する。CTR3はCONTROL2か
らの信号によつて、階段波のピツチをカウントし、その
出力をD/ACONVERTERへ送る。D/ACON
VERTERはCTR3からのデジタル信号を階段波の
アナログに変換し、この波形を次のAMP,GATED
RlVERを介して、被測定素子5のゲートへ加える。
一方、被測定素子5にオン電流が流れているか、否かを
COMPARATOR6で検出し、その結果をCONT
ROL2へフイールドバツクしている。
COMPARATOR6で検出し、その結果をCONT
ROL2へフイールドバツクしている。
次に第2図の回路の動作を説明する。被測定素子5の陽
極A、陰極K、ゲートGを図示のごとく接続する。
極A、陰極K、ゲートGを図示のごとく接続する。
次にIACONTROL回路から被測定素子のA一K間
にパルス電圧を印加する。
にパルス電圧を印加する。
このパルス電圧は、商用周波数のO−180るの正の単
相半波とする。この状態から測定開始のSTART信号
1を入れる。CONTROL2はTlMlNGPULS
E回路から商用周波数例えば50Hzの時は、20mS
周期のパルスを受けてCTR3へ上昇する階段波発生の
信号を送る。CTR3はCONTROL2からの信号(
パルス)をカウントLI>//1VC0NVERTER
へ50mV/ピツチの階段波直流電圧に変換する信号を
出力する。D/ACONVERTERでは1ピツチ20
mSごとに60mA上昇するゲーート点弧信号を発生す
る。この信号をAMPGATEDRIVER回路で増幅
し、被測定素子5のゲートGへ加えるCONTROL2
からは被測定素子5がオンするまで上昇階段波発生の信
号を出力し続ける。被測定素子5がオンすると、抵抗M
Rを介して流れた電流を(1)MPARATOR6が被
測定素子5のオンを検出し、CONTROL2へ上昇階
段波発生のストツプ信号を出力する。この信号を受けた
CONTROL2は上昇階段波発生から直ちに下降階段
波発生信号をCTR3へ出力する。CTR3は今度は1
ピツチ20mSごとに1mAの下降する信号を])//
ACONVERTERへ出力する。瑳ACONVERT
ERでは、1ピツチ20mSごとに1mAの下降する階
段波形に変換する。この波形をAMP一GATEDRl
VERを介して被測定素子5のGへ加える。下降階段波
は、被測定素子5のA−K間に流れている単相半波がオ
フするまで加えられる。被測定素子5がオフすると、C
OMPARATOR6で検出し、CONTROL2へ信
号を送る。この信号を受けたCONTROL2からは、
CTR3へカウント中止信号を送ると同時にDVMへは
Gへ印加されている電圧の計測値をホールドする信号を
送る。CTR3は、上昇する階段波のときは1パルス当
り50mAづつの電流値を表示し、例えば計測スタート
して5パルスでは250mAの表示となる。今、被測定
素子5が、上昇階段波5ピツチ目でオンしたとすると、
素子5のゲート点弧−電流は、200mAと250mA
の間である。次に下降階段波に移行すると1パルス当り
1mAづつ減算するから250mA,249mA,24
8mA・・・・・・と表示値が下がる。仮に下降階段波
の36ピツチ目で素子5がオフしたとすると、250[
NA−36r11A一214mAとなり、ゲート点弧電
流は素子5がオフする1ピツチ前の値、すなわち215
mAとなる。一方、ゲート点弧電圧は素子5のGに印加
されている点をDVMでデジタル表示しているので、C
ONTROL2からのホールド信号によつて固定された
計測値を読みとればよい。上記実施例では測定時間は約
0,8秒であり、測定精度1mAである。
相半波とする。この状態から測定開始のSTART信号
1を入れる。CONTROL2はTlMlNGPULS
E回路から商用周波数例えば50Hzの時は、20mS
周期のパルスを受けてCTR3へ上昇する階段波発生の
信号を送る。CTR3はCONTROL2からの信号(
パルス)をカウントLI>//1VC0NVERTER
へ50mV/ピツチの階段波直流電圧に変換する信号を
出力する。D/ACONVERTERでは1ピツチ20
mSごとに60mA上昇するゲーート点弧信号を発生す
る。この信号をAMPGATEDRIVER回路で増幅
し、被測定素子5のゲートGへ加えるCONTROL2
からは被測定素子5がオンするまで上昇階段波発生の信
号を出力し続ける。被測定素子5がオンすると、抵抗M
Rを介して流れた電流を(1)MPARATOR6が被
測定素子5のオンを検出し、CONTROL2へ上昇階
段波発生のストツプ信号を出力する。この信号を受けた
CONTROL2は上昇階段波発生から直ちに下降階段
波発生信号をCTR3へ出力する。CTR3は今度は1
ピツチ20mSごとに1mAの下降する信号を])//
ACONVERTERへ出力する。瑳ACONVERT
ERでは、1ピツチ20mSごとに1mAの下降する階
段波形に変換する。この波形をAMP一GATEDRl
VERを介して被測定素子5のGへ加える。下降階段波
は、被測定素子5のA−K間に流れている単相半波がオ
フするまで加えられる。被測定素子5がオフすると、C
OMPARATOR6で検出し、CONTROL2へ信
号を送る。この信号を受けたCONTROL2からは、
CTR3へカウント中止信号を送ると同時にDVMへは
Gへ印加されている電圧の計測値をホールドする信号を
送る。CTR3は、上昇する階段波のときは1パルス当
り50mAづつの電流値を表示し、例えば計測スタート
して5パルスでは250mAの表示となる。今、被測定
素子5が、上昇階段波5ピツチ目でオンしたとすると、
素子5のゲート点弧−電流は、200mAと250mA
の間である。次に下降階段波に移行すると1パルス当り
1mAづつ減算するから250mA,249mA,24
8mA・・・・・・と表示値が下がる。仮に下降階段波
の36ピツチ目で素子5がオフしたとすると、250[
NA−36r11A一214mAとなり、ゲート点弧電
流は素子5がオフする1ピツチ前の値、すなわち215
mAとなる。一方、ゲート点弧電圧は素子5のGに印加
されている点をDVMでデジタル表示しているので、C
ONTROL2からのホールド信号によつて固定された
計測値を読みとればよい。上記実施例では測定時間は約
0,8秒であり、測定精度1mAである。
前述した従来の方法で同一条件のもとで測定した場合は
約43秒の測定時間を要するから本発明の実用的価値は
大きい。以上の説明で明らかなようにゲート点弧信号に
上昇階段波、および下降階段波を用いて測定し、計測値
をデジタル表示するので、短時間にしかも正確に測定す
ることができる。尚、本発明の実施例では商用周波数に
同期したタイミングパルスを使用したがこれに限定され
るものではない。
約43秒の測定時間を要するから本発明の実用的価値は
大きい。以上の説明で明らかなようにゲート点弧信号に
上昇階段波、および下降階段波を用いて測定し、計測値
をデジタル表示するので、短時間にしかも正確に測定す
ることができる。尚、本発明の実施例では商用周波数に
同期したタイミングパルスを使用したがこれに限定され
るものではない。
また素子5のA−K間に印加する電圧も単相交流の全波
整流波形でもよい。この場合のタイミングパルスは各半
波当りに1パルスを発生させればよい。
整流波形でもよい。この場合のタイミングパルスは各半
波当りに1パルスを発生させればよい。
第1図は従来測定法の回路図、第2図は本発明の測定回
路プロツク図である。 2・・・・・・コントロール回路、3・・・・・・カウ
ンタ回路、4・・・・・・D/A変換・アンプ・ゲート
ドライバー回路、5・・・・・・被測定素子、6・・・
・・・コンパレータ。
路プロツク図である。 2・・・・・・コントロール回路、3・・・・・・カウ
ンタ回路、4・・・・・・D/A変換・アンプ・ゲート
ドライバー回路、5・・・・・・被測定素子、6・・・
・・・コンパレータ。
Claims (1)
- 1 タイミングパルス発生回路と、該タイミングパルス
に同期した階段波直流ゲート点弧信号発生回路と、前記
タイミングパルスに同期した被測定素子の陽極−陰極間
にパルス電圧を印加する回路と、該被測定素子のターン
オン・オフを検出するコンパレータと、前記階段波直流
ゲート点弧信号の上昇、下降を制御する回路とからなり
、該階段波直流ゲート点弧信号の1パルス当たりの大き
さは、上昇するときよりも下降するときの方が、小さく
設定されていることを特徴とするサイリスタのゲート点
弧電流・電圧特性測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP258875A JPS595870B2 (ja) | 1974-12-27 | 1974-12-27 | サイリスタ測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP258875A JPS595870B2 (ja) | 1974-12-27 | 1974-12-27 | サイリスタ測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5177174A JPS5177174A (ja) | 1976-07-03 |
| JPS595870B2 true JPS595870B2 (ja) | 1984-02-07 |
Family
ID=11533527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP258875A Expired JPS595870B2 (ja) | 1974-12-27 | 1974-12-27 | サイリスタ測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS595870B2 (ja) |
-
1974
- 1974-12-27 JP JP258875A patent/JPS595870B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5177174A (ja) | 1976-07-03 |
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