JPS5960272A - 放射線検出器の製作方法 - Google Patents

放射線検出器の製作方法

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Publication number
JPS5960272A
JPS5960272A JP57172376A JP17237682A JPS5960272A JP S5960272 A JPS5960272 A JP S5960272A JP 57172376 A JP57172376 A JP 57172376A JP 17237682 A JP17237682 A JP 17237682A JP S5960272 A JPS5960272 A JP S5960272A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photosensitive resin
radiation detector
assembly jig
substrate
sheet
Prior art date
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Pending
Application number
JP57172376A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Yamamoto
正之 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP57172376A priority Critical patent/JPS5960272A/ja
Publication of JPS5960272A publication Critical patent/JPS5960272A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J47/00Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
    • H01J47/02Ionisation chambers

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発1v口よ、X線、γ線などの放射線が気体を電離
する性質を利用して放射線の強さを測定する電離箱型放
射線検出器の製作方法(こ関する。
このような放射線検出器は、たとえば透過型コンビーー
タ11Jr層撮影装置の検出器として使用されるもので
ある。
電離箱型、放射線検出器は、気体(たとえばキセノン)
を封入した容器中に電極を設け、これをこ高電圧を加え
ておいた場合(こ、入射した放射線の側さに比例したイ
オンが電極(こ集められるため、この11.:気蹴を測
定して放射線の強さを求めようとするものである。ぞし
て電極板は、平行(二対11′1された一対の支持板の
対向面側にそれぞれ形成された複数本の?1/jGこ上
下両端部がそれぞれ差し込まれて保持されている。支持
板をこ溝を形成するQこは、t′L来、セラミックや石
英などの高絶縁性基盤昏こダイヤモンドソーやワイヤソ
ーを用い゛〔機イ戒加工を施していた。この場合。
γ1′6゛は()、3〜1.0朋の間隔で放射線状昏こ
刻まれる。
しかし、このような機械加工の精度は士−→−朋00 程度であり、また再現性の点で必ずしも満足できるもの
でなかった。しかも機械加工の場合は。
加工時のミク(Jクラックや残留歪みのおそれがあり゛
11]−能劣化や歩留り低下をまねいていた。そこで、
この発明はこのような機械加工(こおける+!l un
点を解決することを目的としてなされたものである。
以F5図面を参照しながらこの発明の構成および実施例
を3ついて説明する。
放射線検出器を製作する(こは、支持&または第11立
用治具の片面(こ複数本の渦、を形成し、溝が形成され
た曲を対向させて一対の支持板または組立用治具を配置
し、この一対の支持板瘉こ形成されたn>に電極板の上
下hIu端部を順次差し込むことQこよ−・て、もしく
は、一対の組立用治具(こ形成された溝に電極板の左右
両’jkit部を順次差し込んだ後それら電極板の上下
両端部をこぞれそれ支持板を接合することをこまって、
−刻の支持板間(こ複数枚のW、極板を装着するよう(
こする。そしてこの発明は基板の片面(こ感光性樹脂を
塗イ]iし、または予めシート状Qこ加工した感光性4
NEi脂ンードの」二面(こ複数本の直線が描かれたフ
ォトマスクを介して光線、電子線、X線などを照射した
後、未硬化の樹脂を洗滌除去すること(こよって、支持
板または組立用治具の前記溝を形成することを特徴と1
−る。また、基板の片面に感光性樹脂を塗布しまたは予
めシート状に加工した感光性樹脂シートの上面(こ複数
本の直線が描かれたフォトマスクを介して光線、電子線
、X線などを照射した後、未硬化の樹111′を乞1.
 l、Hp除去才ること(こよりc h:+、型をつく
り、この原型をこ樹脂を1に人し41す化させた後、脱
型してレフリカを作製すること(二よって、支持板また
は組立用治具の前記j1”1を形成することを特徴とす
る。
1人(こ、第1図ないし第3図をこ基ついてこの発明の
実施例」について説明する。
第Jのづj明は第1図をこボずよう(こ、まず基板(I
Iの片面(こ感光″12三4iIj脂021を塗布しま
たは予めシート状(こ加工した感光性樹脂シートのI麟
光牲417411tf ’Julの−L ifi口こ複
数本の111線が描かれたフォトマスクを介して紫外線
、電子線、X線などを矢印の方向から照射する。基板(
11)のI質としては。
たとえば4人・アルミニウムなどの金属薄板およびポリ
エステルシートのような横力N 製シートが使用される
。また感光性樹脂(12としてはナイロン系、アクリル
系、ウレタン系、ポリエステル系など各411(のもの
が使用され、紫外線等の照射によって硬化′i−るもの
あるいは分解するもの(図示のものは(i14化型)、
いずれであってもよい。
この感光性n1脂021は基板01J−に通常、0゜5
〜1、 OMl、I程度の厚さをこ【シヱイIJされる
。またフォトマスク03)は、用途CL Lb [て屑
・ガ型またはホジ型(図〕Jりのものはネカ型)をイ史
い分(ハ)れはよい。なお、このようなフォトエノラー
ング(こよる41弓月ii XOの加工精度は、フォト
マスク(J3)と感光性(!II IIH(12+の〕
・hを新着さぜるほど、また紫、外線等の照射角度がフ
ォトマスク013対して111直となるほど。
静光注前脂02)の本硬化部分あるいは分解部分を。
水またはアルコール、界面活性剤などを含む水で十分に
洗滌して除去し、これ【こよ1て(1な、u〜が形成さ
れる。そして、以にのよう(こしてつ<−)たli’i
l脂仮05)を図では支持板06)とし、溝OHこ電極
板(17)の」重下両端部を順次差し込むことによって
一対の支持板06)間に電極板07)を装着する。ある
いは、樹脂板05)を組立用治具(18)とし、溝(1
4]に電極板(171の左右両端部を順次差し込んだ後
電極板07)の上下両端部にそれぞれ支持板(16)を
、たとえば接着フィルム(I9)で接合すること(こよ
って、〜に1のヅ持41< (If;: 1rIl +
Z ’+l ’lUt li (17jを(’li 7
irする(第3図91・、t)7.このよう1.c手順
によって放射線検出器を鏡佳しくいく。
= h 、 、−1−記のノオトエッチングの操作Qこ
おい−c 、  7 t+−v ス/’ 0.11 ト
に’i光tlI)Ji’f01Q」−1111トノ)゛
1.ノijの4’+i Iすが小十分なとさ、)C線毎
の平杓度が低いどざ li8.ば元′匪1+:+ JJ
ii u’a cl) j之i明度が低いとき(紫外)
、iN ′−′!i−の内部散i’+Lか多いとき)、
あるいは。
1保光〕土4+RJjii G21の7’++−1が厚
いときなどGこあっては。
第2図にtJ\すように基&O1lどの接合部伺近で傾
斜を生じ+ ?M’加工をVW度良く行なうことが困難
となる。また感光1′11:4I11脂は通′16恣光
核利を内IiMしているため、これが残4−pすると比
電気抵抗が1010〜1013Ω・aと低下する(本来
は1016Ω・(7)以上の高絶縁1:1ミが要求され
る)。そこで第2の発明は第2レロこ示すようをこ、樹
脂板05)を原型とし、これからレプリカ(4))を作
製する。レプリカ(20)を作る(こは、樹Jlii板
05)の原型に樹脂、たとえば11;J絶に1求1主の
シリコン樹j石ぺ〕ウレタン払1月しエホキシ系(・d
 l1irなどを軟化状態または溶液状態で流し込み、
硬化させた後原型を取り外す。このとき4YI4脂枳0
5)の原型は繰り返して使用することができる。そして
このようQこして製作したレプリカ(イ))を上記と同
様(こ、支持板(Ili)あるいは組立用治具として使
方JL、放射糊検出器を製作する。
以j’、 jfh−明したよう(こ、放射線(莢用益を
こおける打(1゜力11工を42*、 (IIV、力I
J工(こよらないでフォトエツチングの手法な用いて行
なうことをこより、あるいはノ」lエツチングされたも
のからレフリカをつくること番こより +  !−朋程
度の粕度で、かつ 100 再現Ill良く前加工を行なうことができる。また機械
加]4の場合のように加工時のミクロクランクや残りイ
止み船こついて心配する必要がない。しかもダイヤモン
ドソーのような高価な消耗性器共を使用しなくてもよい
から安価に放射線検出器を製作でき9作業性の点でもイ
サれている。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、この発明に係る放射線検出器の
製作方法における=t−rI+x+の一部を説明1−る
ための図であり、第3図は7組立用治具を用(・て放(
、IJ、l’、i酉ir用益を製作する場合の状態を示
す図である。 (11j、、!11.−  七l          
            02) ・・・ 感光1゛に
 (貞NJM(Ill・〕1トマスク   041・・
・溝(1う)・・・支持板      (171・・・
電極板(11・・・tll 文月J ?’i’i 具(
20)−レプリカ第 1 図 第2図 1.IIl:曽l 第3図 =352

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一対の支41′i板または組立用治具船こ形成さ
    れた多数本の)11昏こ多数枚の電極板の左右両端部を
    舶θ(差し込んだ後接合する放射線検出器の製作方法を
    こおいて、支持板または組立用治具の1’jIJ記ji
    +’jを基板の片ifi口こ感光性樹脂を塗布しまたは
    予めシー l・状に加工した感光性樹脂シートの」−面
    をこ複数本の直線が描かれたフォトマスクを介して光線
    、電子線、X線などを照射l−だ後、未硬化の樹脂を洗
    滌除去することによって形成することを特徴とする放射
    線検出器の製作方法。
  2. (2)一対の支持板または組立用治具に形成された複数
    本の溝に多数枚の電極板の左右両端部を順次差し込んだ
    後接合する放射線検出器の製作方法(こおいて、支持板
    または組立用治具の口1記溝を基板の片面昏こ感光性何
    Jjf’4を塗布しまたは予めシート状昏こ加工した感
    光性樹脂シートの上面に複数本の直線か描かれたフォト
    マスクを介して光線、電子線、X#などを照射した後、
    未硬化の樹脂を洗滌除去して原型をつくり、この原型を
    こ樹脂を注入して硬化させた後、脱型しレプリカを作製
    すること(こよって形成することを′1′、f徴とする
    放射線検出器の製作方法。
JP57172376A 1982-09-29 1982-09-29 放射線検出器の製作方法 Pending JPS5960272A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1987000295A1 (fr) * 1985-06-28 1987-01-15 Yokogawa Medical Systems, Ltd. Gabarit d'alignement des plaques d'electrodes d'un detecteur aux rayons x du type a chambre d'ionisation
US4640729A (en) * 1984-06-04 1987-02-03 Hitachi, Ltd. Method of producing ionization chamber detector
JP2010151726A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology X線分解能評価用ファントム

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