JPS5965228A - 多重分光放射測定方法 - Google Patents
多重分光放射測定方法Info
- Publication number
- JPS5965228A JPS5965228A JP57175707A JP17570782A JPS5965228A JP S5965228 A JPS5965228 A JP S5965228A JP 57175707 A JP57175707 A JP 57175707A JP 17570782 A JP17570782 A JP 17570782A JP S5965228 A JPS5965228 A JP S5965228A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- spectral
- light sources
- light source
- emissions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/08—Beam switching arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、複数個の光源の分光的な放射パワーを一台の
分光装置で、同時に多重測定を行なう多重分光放射測定
方法に関するものである。
分光装置で、同時に多重測定を行なう多重分光放射測定
方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
光源の放射パワー、光色を正しく評価するためには、分
光的な放射測定が必要であるが、それには、分光分布標
準光源を含む複数の光源を順次点灯、測定しなければな
らない。ところが、分光放射測定はそれ自身、相当の測
定時間を要する上に、測定対象となる光源、たとえば螢
光ランプや各種の放電ランプなどが測定のできる安定な
点灯状態になるまでに点灯後２ｏ分程度かかるために、
これらを−灯づつ逐次測光ベンチ上等で点灯して分光放
射測定を行なう場合、甚しく効率の悪い作業にならざる
を得なかった。
光的な放射測定が必要であるが、それには、分光分布標
準光源を含む複数の光源を順次点灯、測定しなければな
らない。ところが、分光放射測定はそれ自身、相当の測
定時間を要する上に、測定対象となる光源、たとえば螢
光ランプや各種の放電ランプなどが測定のできる安定な
点灯状態になるまでに点灯後２ｏ分程度かかるために、
これらを−灯づつ逐次測光ベンチ上等で点灯して分光放
射測定を行なう場合、甚しく効率の悪い作業にならざる
を得なかった。
発明の目的
本発明は、上記従来の問題点を解消するもので、光源の
分光放射測定を行なう場合、それらを同時に測定するこ
とによって、測定精度を充分維持しながら短時間で測定
できる多重分光放射測定方法を提供することを目的とす
る。
分光放射測定を行なう場合、それらを同時に測定するこ
とによって、測定精度を充分維持しながら短時間で測定
できる多重分光放射測定方法を提供することを目的とす
る。
発明の構成
前記目的を達成するため、本発明ばｎ （Ｋの光源から
の放射を少なくともｎ−１のそれぞれ相異なる周波数で
各々変調し、各々の放射を同時に分光し、その分光され
た放射を電気信号に変換し、その電気信号を前記周波数
毎に分離し、検波回路によって前記ｎ個の光源からの分
光放射パワーを検出する多重分光放射測定方法であり、
ｎ （Ｅの光源からの放射を日時に分光することによっ
て、分光放射パワーの測定を短時間で行なうことのでき
るものである。
の放射を少なくともｎ−１のそれぞれ相異なる周波数で
各々変調し、各々の放射を同時に分光し、その分光され
た放射を電気信号に変換し、その電気信号を前記周波数
毎に分離し、検波回路によって前記ｎ個の光源からの分
光放射パワーを検出する多重分光放射測定方法であり、
ｎ （Ｅの光源からの放射を日時に分光することによっ
て、分光放射パワーの測定を短時間で行なうことのでき
るものである。
実施例の説明
不発明の一実施例として、２つの光源からの放射を多重
分光放射測定した場合について図面を使用して説明する
。第１図において、第１の光源１である色温度３１００
にの電球からの第１の放射１２Ｌと、第２の光源２であ
る色温度２８００にの電球からの第２の放射２ａを、そ
れぞれ異なる周波数に変調するために、第１の放射１ａ
を周波数１２．５ Ｈｚの回転セクタ３に、また第２の
放射２ａを周波数３７５ Ｈｚの回転セクタ４に通し、
かつ、拡散板であるＢａ５Ｏａ圧着面５に、その面の法
線をはさんでそれぞれ４５０角度で入射させる。第１の
放射１ａと第２の放射２ａにおけるＢａＳＯ４圧着面５
の法線方向に反射され合成された放射１４を、ミラー６
により分光装置であるダブルモノクロメータ７に導き、
ダブルモノクロメータ７によシ放射１４を分光する。こ
こでダブルモノクロメータ７の波長設定をたとえば４０
０ｎｍに設定する。分光された放射を光電子増倍管８へ
入射させる。光電子増倍管８からの出力信号は、電流電
圧変換器９により電流信号を電圧信号に変換した後、中
心周波数１２４５ Ｈｚ 、その周波数と帯域半値幅の
比で表わされるＱが約１ｏの第１の帯域フィルタ１０を
通し、周波数１２・６Ｈｚの信号成分を取り出し、同期
検波１路１１によって、第１の光源１からの波長４００
ｎｍの分光放射パワーとして検出する。捷た同様に光電
子増倍管８かもの信号を、電流電圧変換器９に通し、さ
らに中心周波数３７５Ｈｚ、Ｑが約１０の第２の帯域フ
ィルタ１２を通して、通常の検波回路１３で、第２の光
源２からの波長４００ｎｍの分光放射パワーとして検出
する。ここで、ダブルモノクロメーク７の波長設定を４
００ｎｍから７００ｎｍまで順次設定することにより、
第１の光源と第２の光源２の波長４００から７００ｎｍ
の範囲における分光放射分布が同時に得られる。
分光放射測定した場合について図面を使用して説明する
。第１図において、第１の光源１である色温度３１００
にの電球からの第１の放射１２Ｌと、第２の光源２であ
る色温度２８００にの電球からの第２の放射２ａを、そ
れぞれ異なる周波数に変調するために、第１の放射１ａ
を周波数１２．５ Ｈｚの回転セクタ３に、また第２の
放射２ａを周波数３７５ Ｈｚの回転セクタ４に通し、
かつ、拡散板であるＢａ５Ｏａ圧着面５に、その面の法
線をはさんでそれぞれ４５０角度で入射させる。第１の
放射１ａと第２の放射２ａにおけるＢａＳＯ４圧着面５
の法線方向に反射され合成された放射１４を、ミラー６
により分光装置であるダブルモノクロメータ７に導き、
ダブルモノクロメータ７によシ放射１４を分光する。こ
こでダブルモノクロメータ７の波長設定をたとえば４０
０ｎｍに設定する。分光された放射を光電子増倍管８へ
入射させる。光電子増倍管８からの出力信号は、電流電
圧変換器９により電流信号を電圧信号に変換した後、中
心周波数１２４５ Ｈｚ 、その周波数と帯域半値幅の
比で表わされるＱが約１ｏの第１の帯域フィルタ１０を
通し、周波数１２・６Ｈｚの信号成分を取り出し、同期
検波１路１１によって、第１の光源１からの波長４００
ｎｍの分光放射パワーとして検出する。捷た同様に光電
子増倍管８かもの信号を、電流電圧変換器９に通し、さ
らに中心周波数３７５Ｈｚ、Ｑが約１０の第２の帯域フ
ィルタ１２を通して、通常の検波回路１３で、第２の光
源２からの波長４００ｎｍの分光放射パワーとして検出
する。ここで、ダブルモノクロメーク７の波長設定を４
００ｎｍから７００ｎｍまで順次設定することにより、
第１の光源と第２の光源２の波長４００から７００ｎｍ
の範囲における分光放射分布が同時に得られる。
第２図に波長４００〜７００ｎｍにおいて、第１の光源
１及び第２の光源２からの放射を同時に測定系に入射し
た場合の出力と、一方の光源からの光入射を遮断した単
独入射での出力との比較を示す。第２図に示す偏差とは
、一方の光源からの光入射を遮断した単独入射での出力
と、第１の光源および弔２の光源２からの放射を同時に
入射した場合の出力との差を、第１の光源１および第２
の光源２からの放射を同時に入射した場合の出力を１０
０％として表わしたものである。第２図の実線は、１２
・５ Ｈｚに変調された放射を単独入射させた場合の偏
差を示し、破線は、３７５Ｈｚに変調された放射を単独
入射させた場合の偏差を示す。測定の結果、波長４００
ｎｍから７００ｎｍの範囲において、他の周波数成分の
混入の割合は、１２．５Ｈ２，３７５Ｈｚとも＋ｏ、３
％以内であシ、この１１１は、測定系自身に混入する雑
音等による、表示のゆらぎの範囲内であった。
１及び第２の光源２からの放射を同時に測定系に入射し
た場合の出力と、一方の光源からの光入射を遮断した単
独入射での出力との比較を示す。第２図に示す偏差とは
、一方の光源からの光入射を遮断した単独入射での出力
と、第１の光源および弔２の光源２からの放射を同時に
入射した場合の出力との差を、第１の光源１および第２
の光源２からの放射を同時に入射した場合の出力を１０
０％として表わしたものである。第２図の実線は、１２
・５ Ｈｚに変調された放射を単独入射させた場合の偏
差を示し、破線は、３７５Ｈｚに変調された放射を単独
入射させた場合の偏差を示す。測定の結果、波長４００
ｎｍから７００ｎｍの範囲において、他の周波数成分の
混入の割合は、１２．５Ｈ２，３７５Ｈｚとも＋ｏ、３
％以内であシ、この１１１は、測定系自身に混入する雑
音等による、表示のゆらぎの範囲内であった。
また、前記実施例では、２つの光源の分光放射測定につ
いて、両方の光源からの放射を、それぞれ相異なる周波
数で変調する例を示したが、どちらか一方の光源からの
放射のみ変調し、他の光源からの放射を変調しない方法
を取っても良い。このときには、第１図において、たと
えば第２の光源２からの放射２ａを変調せずに圧着面５
に入射させるため、回転セクター４が不要となり、また
電流電圧変換器９により得られた電圧信号のうち、直流
成分を分離するために、帯域フィルタ１２の代わりに、
高域遮断フィルタを通し通常の検波回路１３で検出する
ものである。なお、他の構成は前記実施例と同様である
。前記高域遮断フィルタの高域遮断周波数は、他方の光
源からの放射を変調する回転セフ２３０回転周波数より
充分小さければよい。これによって、構成はより簡単に
なる。
いて、両方の光源からの放射を、それぞれ相異なる周波
数で変調する例を示したが、どちらか一方の光源からの
放射のみ変調し、他の光源からの放射を変調しない方法
を取っても良い。このときには、第１図において、たと
えば第２の光源２からの放射２ａを変調せずに圧着面５
に入射させるため、回転セクター４が不要となり、また
電流電圧変換器９により得られた電圧信号のうち、直流
成分を分離するために、帯域フィルタ１２の代わりに、
高域遮断フィルタを通し通常の検波回路１３で検出する
ものである。なお、他の構成は前記実施例と同様である
。前記高域遮断フィルタの高域遮断周波数は、他方の光
源からの放射を変調する回転セフ２３０回転周波数より
充分小さければよい。これによって、構成はより簡単に
なる。
実際に、第１の光源１を１２・５Ｈｚで変調し、第２の
光源２は無変調（ＤＣ）で入射させて、多重検出する実
験を行なったが、このとき、無変調信号成分への、他の
周波数変調信号成分の混入は、最大で、検出値の±０・
６係以内であシ、したがつて上記に示した多重分光放射
測定方法により、充分な精度の分光測定が達成される事
が示された。
光源２は無変調（ＤＣ）で入射させて、多重検出する実
験を行なったが、このとき、無変調信号成分への、他の
周波数変調信号成分の混入は、最大で、検出値の±０・
６係以内であシ、したがつて上記に示した多重分光放射
測定方法により、充分な精度の分光測定が達成される事
が示された。
発明の効果
本発明の多重分光放射測定方法はｎ個の光源からの放射
を少なくともｎ−１のそれぞれ相異なる周波数で各々変
調し、各々の放射を同時に分光し、その分光された放射
を電気信号に変換した後、その電気信号を前記周波数毎
に分離し、各光源の分光放射パワーを測定することによ
り、ｎ個の光源からの分光放射測定を、測定精度が充分
維持されながら短時間のうちに行なうことができる。ま
た同時に複数の光源の分光放射を測定できるため、たと
えば、分光標準光源と複数の試料光源とを組み合わせた
測定の場合、光電子増倍管のダイノード電圧の変動等、
測定系の感度が変動しても、精度よく試料光源の分光分
布を求めることができる。
を少なくともｎ−１のそれぞれ相異なる周波数で各々変
調し、各々の放射を同時に分光し、その分光された放射
を電気信号に変換した後、その電気信号を前記周波数毎
に分離し、各光源の分光放射パワーを測定することによ
り、ｎ個の光源からの分光放射測定を、測定精度が充分
維持されながら短時間のうちに行なうことができる。ま
た同時に複数の光源の分光放射を測定できるため、たと
えば、分光標準光源と複数の試料光源とを組み合わせた
測定の場合、光電子増倍管のダイノード電圧の変動等、
測定系の感度が変動しても、精度よく試料光源の分光分
布を求めることができる。
第１図は本発明の一実施例の多重分光放射測定方法の概
略構成図、第２図は２つの光源からの放射を変調し、同
時に測定した場合の各々の出力と、一方の光源からの入
射を遮断した単独出力との比較を示す図である。 １・・・・・・第１の光源、２・・・・・・第２の光源
、３・・・・・・周波数１２．５ Ｈｚの回転セクター
、４・・・・・周波数３７６Ｈｚの回転セクター、７・
・・・・・分光装置、８・・・・・・光電子増倍管、９
・・・・・・電流電圧変換器、１０・・・・・・第１の
帯域フィルタ、１１・・・・・・同期検波回路、１２・
・・・・・第２の帯域フィルタ、１３・・・・・・検波
回路。
略構成図、第２図は２つの光源からの放射を変調し、同
時に測定した場合の各々の出力と、一方の光源からの入
射を遮断した単独出力との比較を示す図である。 １・・・・・・第１の光源、２・・・・・・第２の光源
、３・・・・・・周波数１２．５ Ｈｚの回転セクター
、４・・・・・周波数３７６Ｈｚの回転セクター、７・
・・・・・分光装置、８・・・・・・光電子増倍管、９
・・・・・・電流電圧変換器、１０・・・・・・第１の
帯域フィルタ、１１・・・・・・同期検波回路、１２・
・・・・・第２の帯域フィルタ、１３・・・・・・検波
回路。
Claims (1)
- ｎ個の光源からの放射を少なくともｎ−１のそれぞれ相
異なる周波数で各々変調し、各々の放射を同時に分光し
、その分光された放射を電気信号に変換し、その電気信
号を前記周波数毎に分離し、検波回路によって前記ｎ個
の光源からの分光放射パワーを検出することを特徴とす
る多重分光放射測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57175707A JPS5965228A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 多重分光放射測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57175707A JPS5965228A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 多重分光放射測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5965228A true JPS5965228A (ja) | 1984-04-13 |
Family
ID=16000836
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57175707A Pending JPS5965228A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 多重分光放射測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5965228A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6238341A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-19 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 光学繊維の光伝送損失測定方法及び装置 |
| JPS62278424A (ja) * | 1986-05-28 | 1987-12-03 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 光学繊維の光伝送損失測定方法及び装置 |
-
1982
- 1982-10-06 JP JP57175707A patent/JPS5965228A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6238341A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-19 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 光学繊維の光伝送損失測定方法及び装置 |
| JPS62278424A (ja) * | 1986-05-28 | 1987-12-03 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 光学繊維の光伝送損失測定方法及び装置 |
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