JPS597156B2 - 磁気バブル記憶方式 - Google Patents

磁気バブル記憶方式

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JPS597156B2
JPS597156B2 JP14986478A JP14986478A JPS597156B2 JP S597156 B2 JPS597156 B2 JP S597156B2 JP 14986478 A JP14986478 A JP 14986478A JP 14986478 A JP14986478 A JP 14986478A JP S597156 B2 JPS597156 B2 JP S597156B2
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JP
Japan
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loop
defective
minor
information
defect
Prior art date
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Expired
Application number
JP14986478A
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JPS5577075A (en
Inventor
盛 高井
治美 前川
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5577075A publication Critical patent/JPS5577075A/ja
Publication of JPS597156B2 publication Critical patent/JPS597156B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、メジャー ・ループとマイナー ・ループと
を備えた磁気バブル記憶装置に於いて、マイナー ・ル
ープに欠陥が在る場合に対処する磁気バブル記憶方式に
関する。
一般に、磁気バブル記憶装置に於いては、そのバブル・
メモリ・チップに何箇所か欠陥が発生することはしばし
ば起きている。
そのような欠陥が例えはメジャー ・ループに存在する
場合には如何とも仕様が無く、そのようなバブル・メモ
リ・チップは不良品とされることになるが、欠陥がマイ
ナー ・ループに存在する場合には何等かの対策を施し
て使用することが多い。従来、その様な場合の対策とし
ては、バブル・メモリ・チップに対応させて外部にPR
OM(Pro一grammableReadOnlyM
emory)を配置し、そこに欠陥が存在する場所に関
する情報を書込んでおき、バブル・メモリに於いて読出
し、書込みを行なう際は前記PROMに書込まれている
情報を参照しながら行なうことに依り欠陥のあるマイナ
ー ・ループは使用しないような方式を採つている。
しかしながら、この方式に依つた場合、バブル・メモリ
・チップに一つ一つ対応づけてPROMを配置しなけれ
ばならないから部品数が多くなり、構成が複雑となる。
本発明は、外部にPROMを配置することなく、欠陥の
あるマィナー ・ループを使用しない操作を可能とし、
極めて簡単な構成で欠陥マイナ・ループを有するバブル
・メモリ・チップを活用できるようにするものであり、
以下これを実施例について詳細に説明する。
図は本発明を実施する磁気バブル記憶装置の要部説明図
である。
図に於いて、LGはメジャー ・ループ、LMは1番か
らn番までのマイナ一・ループ、WRは書込み器、ER
は消去器、Dvは分割器、DTは検出器、T6はトラン
スフア・ゲート、FLは欠陥をそれぞれ示している。
通常、磁気バブル記憶装置の動作は次の通りである。
先ず、書込み器WRからメジヤ一・ループL6に情報、
即ち、磁気バブルを書込むと、そのバブルは順次メジヤ
一・ループL6を転送され、所定の位置に到達するとト
ランスフア・ゲートT6の作用に依りマイナ一・ループ
LMに移送される。マイナ一・ループLMに移送された
バブルはその内部で転送されながら保存され、必要に応
じてメジヤ一・ループL6に戻され検出器DTに依つて
読出される。消去器ERは新たな情報を書込む前に旧情
報を消去するものである。さて、本発明では、マイナ一
・ループLM中に少なくとも一つの欠陥ループ書込みマ
ーク用ループを設定する。
図では1番のマイナ一・ループLMがそれであるとする
。この欠陥ループ書込みマーク用ループは無欠陥のもの
を選び、また全チツプに共通であるものとする。そして
、このループには各マイナ一・ループに於いて欠陥の有
無を示す情報が書込まれている位置を示す情報、即ちバ
ブルを書込むようにし、他の一般の情報の書込みには使
用しない。図示例では、例えば4番目のマイナ一・ルー
プLMがバブルの転送を阻止或いは消失させる欠陥FL
を持つている。
そこで、1番目のマイナ一・ループLMには欠陥情報の
場所を示す情報、即ち、欠陥情報位置表示マークを書込
み、2番目以下のマイナ一・ループLMに対しては、前
記1番目のマイナ一・ループLMに欠陥情報位置表示マ
ークを書込んだ場所に相当する場所に、欠陥マイナ一・
ループにはバブル無し、無欠陥マイナ一・ループに対し
てはバブル有りの情報を書込んでマイナ一・ループLM
上に各マイナ一・ループ内の欠陥情報の場所を記憶させ
るものである。図では、1番目のマイナ一・ループLM
に書込んだ欠陥情報位置表示マークを黒円で表わし、無
欠陥のマイナ一・ループに書込んだ無欠陥ループ情報(
バブル有り)も黒円で表わしてある。尚、白円は通常の
情報を示している。このような状態に在る装置に於いて
、トランスフア・ゲートT6が一括して開かれることに
よりマイナ一・ループLMからメジヤ一・ループL6に
情報がパラレルに移送されて、メジヤ一・ループL6内
を転送され検出器DTに到達すると、そこで情報はシリ
アルに読出されるものであり、先ず、1番目のマイナ一
・ループLMから欠陥情報位置表示マークが出てくるか
ら、次に連らなつて読出される情報は無欠陥ループであ
るか欠陥ループであるかを示すものであることが判るよ
うになつている。
そして、今の場合、2番目及び3番目のマイナ一・ルー
プLMからは情報即ちバブルか出てくるから、それ等は
使つても良いものであり、また、4番目のマイナ一・ノ
レープLMからはバブルは出てこないので、それは使用
不可であることが判別できるものである。尚、各マイナ
一・ループ内の欠陥情報は必ずしも1番目のマイナ一・
ループLMの欠陥情報位置表示マークと相似の位置に書
込む必要はないが、相似位置に書込めば各トランスフア
・ゲ一+の一活動作により、上記の如く、位置表示マー
クと欠陥情報が連なつて読出されるから極めて好都合で
ある。ところで、前記のような動作をさせるには、装置
の電源をオンにして回転磁界を加えた際、出来る限り速
く前記欠陥情報位置表示マークであるバブルが検出され
た方が好ましいことは明らかであり、そのようにするに
は若干の条件がある。
即ち、イ)欠陥情報位置表示マークを書込む為の欠陥ル
ープ書込みマータ用ループ即ち図示例に於ける1番目の
マイナ一・ループLMの如きマイナ一・ループは検出器
DTに最も近い場所に配置することが必要、口)バブル
のスタートストツプを行なう場合に欠陥情報が書かれて
いる場所が常に同じ場所となるようにすることが必要、
ノうバブルをスタートさせて一番最初に欠陥情報位置表
示マークであるバブルを読出すことができるように検出
器DTに最も近い位置にそれをストツプさせることが必
要、等である。尚、前記口)及びノ))を実行すること
はカウンタを用いてデイジタル的に行なうことに依り容
易に制御することができる。前記したところから明らか
なように、本発明では、マイナ一・ループ中に欠陥を持
たないループの少なくとも一つを欠陥ループ書込みマー
ク用ループとして設定し、そのループの任意の1ビツト
に欠陥情報の場所を示す情報を書込み、他のマイナ一・
ループに於いては、前記欠陥ループ書込みマーク用ルー
プに欠陥情報位置表示マークを書込んだ場所に相当する
場所に無欠陥ループではバブル有り、また、欠陥ループ
ではバブル無しのそれぞれの情報を書込んでおき、それ
等のマーク及び情報を利用することに依り、外部に多数
のPROMを必要とすることなく欠陥マイナ一・ループ
をパージできるようにしたものであるが、当然のことな
がら、前記検出器D,で読出された欠陥ループに関する
情報は外部回路で処理、記憶され、磁気バブル記憶装置
の通常のデータ処理時には、前記記憶された欠陥ループ
に関する情報を読出して常にそれを照合しながら欠陥ル
ープを除いてバブル・メモリ・チツプを使用しなければ
ならない。そこで、この場合、外部に配設する記憶部等
の外部回路の構成が問題となる。即ち、そのような外部
回路も出来る限り簡素に構成しなければならないが、本
発明に移れば、そのような要求に対処することができる
。第1図に示した装置に於いて、若し、マイナ一・ルー
プLMが128個あつたとすると、前記欠陥ループに関
する情報は128ビツトの信号になつて読出されてくる
しかし、これをそのまま用いたのでは取扱いデータ量が
膨大なものとなるから、本発明では、これを2進数に変
換して取扱うことにする。即ち、そのようにすれば、1
28ビツトの信号を7〜8ビツトの構成でアドレス記憶
等の処理を行なうことが可能になり、8ビツト構成であ
れば1バイトであるから、欠陥ループが2個であれば2
バイト、3個であれば3バイトで構成すれば良く、それ
を可乳にする為には欠陥アドレス変換部が必要になる。
第2図は本発明を実施する装置の一例を表わすプロツク
図であり、BOは第1図に関して説明したような磁気バ
ブル・メモリ・チツプ、DTは検出器、Cvは欠陥アド
レス変換部、MEは欠陥アドレス記憶部をそれぞれ示し
ている。
ここで問題となるのは欠陥アドレス変換部Cvであるか
ら、これを第3図に具体的に示して説明する。
即ち、欠陥アドレス変換部Cvは大別して2Xカウンタ
CUl(第1のカウンタ)と2yカウンタC。,(第2
のカウンタ)とからなつている。第4図は第1図乃至第
3図に見られる装置の要所に於ける信号を表わすタイミ
ング・チヤートである。さて、磁気バブル・メモリ・チ
ツプB。
から検出器DTを介して欠陥ループに関する情報を読出
すと第2図及び第3図に於ける点aには第4図に見られ
るような情報信号が得られる。斜線を施したパルスは第
1図に於ける1番目のマイナ一・ループから読出された
欠陥情報位置表示マークである。この欠陥情報位置表示
マークに基づきカウンタ・スタート信号をカウンタCU
lに加えてスタートさせる。第1図に見られるマイナ一
・ループLMは先ず4番目のものが欠陥ループであるか
ら欠陥ループ情報信号は4番目が抜けて零になつている
。そこで、それに基づき書込み命令信号を記憶部MEに
入れ、そのときのカウンタCUlの出力、例えば・・・
00000100の如く、欠陥ループのアドレスが4番
である旨の情報を記憶部MEに記憶させるものである。
ところで、欠陥ループが複数個ある場合には、前記のよ
うな動作を再び行なつて、それぞれ欠陥ループのアドレ
スを記憶部M。
に書込まなければならないから、その際、記憶部MEを
y方向に走査してアドレスする必要があり、その為にカ
ウンタCU2が設けられている。即ち、カウンタCU2
は欠陥ループのアドレスが記憶部M。に書込まれる度に
、その書込み命令信号が同時に加えられることに依りシ
フトして、次に欠陥ループのアドレスを書込むべき記憶
部MEの場所をアドレスする。図示のカウンタCU2で
は3本のラインが記憶部MEに入つているので、通常で
あれば8個の欠陥ループに対処できる。以上の説明で判
るように、本発明に依れば、メジヤ一・ループ及びマイ
ナ一・ループを有する磁気バブル記憶装置に於いて、少
なくとも一つのマイナ一・ループを欠陥ループ書込みマ
ーク用ループとして欠陥情報位置表示マークを書込み、
他のマイナ一・ループに於いては、前記欠陥ループ書込
みマーク用ループに欠陥情報位置表示マークを書込んだ
場所に相当する場所に、無欠陥ループではバブル有り、
また、欠陥ループではバブル無しのそれぞれの情報を書
込むようにし、そして、そ゛れ等全マイナ一・ループか
らの欠陥ループに関する情報は、欠陥ループのアドレス
のみを2進数に変換して外部の記憶部に記憶させておき
、磁気バブル記憶装置にて通常の情報処理を行なう際は
、前記記憶部に記憶されている欠陥ループのアドレスを
読出して常にそれを照合しながら行なつて、欠陥ループ
を使用しないようにすることができ、しかも、それを実
施するには従来のように外部に多数のPROMを設ける
必要は皆無でありながら、電源を一旦切断、再投入後等
に於いても欠陥情報を容易に得ることかでき、また、外
部回路も極めて簡素な構成で目的を達成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施する装置の一例を表わす要部説明
図、第2図は本発明を実施する装置の一例を表わすプロ
ツク図、第3図は第2図の装置に於ける欠陥アドレス変
換部の動作を説明する為の要部プロツク図、第4図は同
じく動作を説明する為の信号タイミング・チヤートであ
る。 図に於いて、L6はメジヤ一・ループ、LMはマイナ一
・ループ、WRは書込み器、ERは消去器、Dvは分割
器、DTは検出器、T6はトランスフア・ゲート、FL
は欠陥、Cvは欠陥アドレス変換部、MEは欠陥アドレ
ス記憶部である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 メジャー・ループ及びマイナー・ループを有する磁
    気バブル記憶装置を用いる磁気バブル記憶方式に於いて
    、少なくとも一つのマイナー・ループを欠陥ループ書込
    みマーク用ループとして欠陥有無情報の位置を表示する
    情報を書込み、他のマイナー・ループに於いては、前記
    欠陥ループ書込みマーク用ループ内の前記位置表示情報
    を書込んだ場所に対し所定の関係にある場所に無欠陥マ
    イナー・ループにあつてはバブル有り及び欠陥マイナー
    ・ループにあつてはバブル無しの情報を書込んだ状態と
    した後、全マイナー・ループから前記欠陥ループに関す
    る情報を検出してその情報から欠陥マイナー・ループの
    アドレスのみを欠陥アドレス変換部に於いて2進数に変
    換して欠陥アドレス記憶部に記憶させ、磁気バブル記憶
    装置にて通常の情報処理を行なうに際し、前記欠陥アド
    レス記憶部から欠陥マイナー・ループのアドレスを読出
    して照合しその欠陥マイナー・ループを使用することな
    く前記情報処理を進行させることを特徴とする磁気バブ
    ル記憶方式。
JP14986478A 1978-12-04 1978-12-04 磁気バブル記憶方式 Expired JPS597156B2 (ja)

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JP14986478A JPS597156B2 (ja) 1978-12-04 1978-12-04 磁気バブル記憶方式

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JP14986478A JPS597156B2 (ja) 1978-12-04 1978-12-04 磁気バブル記憶方式

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JPS5577075A JPS5577075A (en) 1980-06-10
JPS597156B2 true JPS597156B2 (ja) 1984-02-16

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JP14986478A Expired JPS597156B2 (ja) 1978-12-04 1978-12-04 磁気バブル記憶方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61141232U (ja) * 1985-02-21 1986-09-01

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61141232U (ja) * 1985-02-21 1986-09-01

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JPS5577075A (en) 1980-06-10

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