JPS5977351A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS5977351A JPS5977351A JP57187914A JP18791482A JPS5977351A JP S5977351 A JPS5977351 A JP S5977351A JP 57187914 A JP57187914 A JP 57187914A JP 18791482 A JP18791482 A JP 18791482A JP S5977351 A JPS5977351 A JP S5977351A
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- Japan
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- control unit
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、超音波を用いた探傷装置において。
被検査物の外形寸法を測定する外形測定器を被検査物の
進入部に設置し、追従装置の待機位置と。
進入部に設置し、追従装置の待機位置と。
被検査物の外形寸法とが適合しているかを事前に確認す
ることにより、追従装置の待機位置と被検査物の外形寸
法との不適合に発生する。追従装置等の破損、損傷を防
止することを特徴とする超音波探傷装置に関するもので
ある、 従来のこの種装置としては、第1図に示すものがあった
。
ることにより、追従装置の待機位置と被検査物の外形寸
法との不適合に発生する。追従装置等の破損、損傷を防
止することを特徴とする超音波探傷装置に関するもので
ある、 従来のこの種装置としては、第1図に示すものがあった
。
図において、(1)は被検査物、(2)は被検査物(1
)の進入を検知するだめのMDセンサー、(3)は探触
子の保持及び被検査物(1)に探触子を追従させるだめ
の追従装置、(4)は追従装置を固定及び、待機位置に
セットするだめの機構装置、(5)は被検査物(1)を
搬送するための搬送ローラー、(6)は追従装置(3)
を被検査物(1)の外形寸法に適合した待機位置に設定
するための指令値を発生する機構待機位置設定部。
)の進入を検知するだめのMDセンサー、(3)は探触
子の保持及び被検査物(1)に探触子を追従させるだめ
の追従装置、(4)は追従装置を固定及び、待機位置に
セットするだめの機構装置、(5)は被検査物(1)を
搬送するための搬送ローラー、(6)は追従装置(3)
を被検査物(1)の外形寸法に適合した待機位置に設定
するための指令値を発生する機構待機位置設定部。
(7)は機構待機位置設定部(6)からの指令値と機構
装置(4)からの設定値とを比較し、指令値に一致する
様に制御するだめの機構装置制御部、(8)は機構装置
制御部(7)からの制御信号によって機構装置(4)を
駆動するための機構装置駆動部、(9)は外部からの搬
送指示によって搬送制御信号を発生する搬送制御部、
Qlは搬送制御部(9)からの搬送制御信号に応じて搬
送ローラー(5)を駆動するだめの搬送駆動部。
装置(4)からの設定値とを比較し、指令値に一致する
様に制御するだめの機構装置制御部、(8)は機構装置
制御部(7)からの制御信号によって機構装置(4)を
駆動するための機構装置駆動部、(9)は外部からの搬
送指示によって搬送制御信号を発生する搬送制御部、
Qlは搬送制御部(9)からの搬送制御信号に応じて搬
送ローラー(5)を駆動するだめの搬送駆動部。
圓は探傷動作の開始、停止等の探傷動作指令及び被検査
物(1)の有無を検知するMDセンサー(2)からの信
号等によって追従装置(3)を被検査物(1)に抜管さ
せるタイミング及び探触子から探傷信号を取シ込むタイ
ミング等を制御するだめの探傷シーケンス制御部、(1
のは探傷シーケンス制御部(11)からの追従装置液管
信号によって、追従装置(3)を被検査物(1)に抜管
さぜるための追従装置駆動部である。
物(1)の有無を検知するMDセンサー(2)からの信
号等によって追従装置(3)を被検査物(1)に抜管さ
せるタイミング及び探触子から探傷信号を取シ込むタイ
ミング等を制御するだめの探傷シーケンス制御部、(1
のは探傷シーケンス制御部(11)からの追従装置液管
信号によって、追従装置(3)を被検査物(1)に抜管
さぜるための追従装置駆動部である。
次に動作について説明する。機構待機位置設定部(6)
に被検査物外形寸法を指示することにより。
に被検査物外形寸法を指示することにより。
機構待機位置設定部(6)は被検査物(1)の外形寸法
に適合した位置に追従装置(3)を待機させるだめの待
機位置指令信号を出力する。機構装置制御部(7)は機
構待機位置設定部(6)からの待機位置指令信号と機構
装置(4)からの追従装置の待機位置設定値とを比較し
、同じになるよう機構装置(4)を駆動させるだめの制
御信号を次の機構装置駆動部(8)へ送る。
に適合した位置に追従装置(3)を待機させるだめの待
機位置指令信号を出力する。機構装置制御部(7)は機
構待機位置設定部(6)からの待機位置指令信号と機構
装置(4)からの追従装置の待機位置設定値とを比較し
、同じになるよう機構装置(4)を駆動させるだめの制
御信号を次の機構装置駆動部(8)へ送る。
機構装置駆動部(8)は機構装置制御部(力からの制御
信号によって機構装置(4)を駆動し、追従装置(3)
の待機位置を被検査物外形寸法指示に適合した位置に待
機させる。
信号によって機構装置(4)を駆動し、追従装置(3)
の待機位置を被検査物外形寸法指示に適合した位置に待
機させる。
次に外部よシの搬送指示によって搬送制御部(9)は、
搬送制御信号を次の搬送駆動部(10)へ出力する。
搬送制御信号を次の搬送駆動部(10)へ出力する。
′ 搬送駆動部θ1は搬送指令信号にもとついて被検査
物(1)を搬送するだめの搬送ローラーを駆動し、被検
査物+1)を搬送させる。又、探傷シーケンス制御部住
υは外部よシの探傷動作指示によって探傷シーケンスの
制御を始める、被検査物(11が搬送指示にもとづいて
搬送されて来ると、MDセンサー(2)は被検査物(1
)の進入を検知し、探傷シーケンス制御部αυへ検知信
号を送る。探傷シーケンス制御部01)は、入力された
検知信号をもとに、被検査物(1)が追従装置(3)の
真下に来た時に追従装置(3)を抜管させるような液管
指令信号を出力するよう、制御を行なう。追従装置駆動
部0は、探傷シーケンス制御部αυからの液管指令信号
によって、追従装置(3)を被検査物(1)に抜管させ
る駆動を行なう。追従装置(3)を被検査物(1)に抜
管させることによ見追従装置(3)に保持された接触子
は、被検査物(1)の搬送に伴ない、順次被検査物(1
)を探傷する。
物(1)を搬送するだめの搬送ローラーを駆動し、被検
査物+1)を搬送させる。又、探傷シーケンス制御部住
υは外部よシの探傷動作指示によって探傷シーケンスの
制御を始める、被検査物(11が搬送指示にもとづいて
搬送されて来ると、MDセンサー(2)は被検査物(1
)の進入を検知し、探傷シーケンス制御部αυへ検知信
号を送る。探傷シーケンス制御部01)は、入力された
検知信号をもとに、被検査物(1)が追従装置(3)の
真下に来た時に追従装置(3)を抜管させるような液管
指令信号を出力するよう、制御を行なう。追従装置駆動
部0は、探傷シーケンス制御部αυからの液管指令信号
によって、追従装置(3)を被検査物(1)に抜管させ
る駆動を行なう。追従装置(3)を被検査物(1)に抜
管させることによ見追従装置(3)に保持された接触子
は、被検査物(1)の搬送に伴ない、順次被検査物(1
)を探傷する。
以上のように、従来の超音波探傷装置では、被検査物の
外形寸法指示にもとづいて、被検査物(11に適合した
待機位置に追従装置(3)を待機させておき、被検査物
(1)の進入によって追従装置(3)を被検査物(1)
に抜管させて探傷するよう構成されていた。
外形寸法指示にもとづいて、被検査物(11に適合した
待機位置に追従装置(3)を待機させておき、被検査物
(1)の進入によって追従装置(3)を被検査物(1)
に抜管させて探傷するよう構成されていた。
父、追従装置(3)の待機位置を、被検査物(1)の最
大外形に適合する位置に予め設定しておく方法は。
大外形に適合する位置に予め設定しておく方法は。
被検査物(1)の外形寸法範囲が大きいため、追従装置
(3)の抜管レバーの可動範囲の制限及び、追従装置(
3)の液管タイミングのバラツキ等の困難な要因がある
。
(3)の抜管レバーの可動範囲の制限及び、追従装置(
3)の液管タイミングのバラツキ等の困難な要因がある
。
このため、被検査物(1)の設定誤り、被検査物外形寸
法指示の誤シ、及び機構装置等の誤動作、故障等がある
と、被検査物(1)の進入によ先遣従装置(1)、探触
子2機構装置(4)等の破損、損傷を発生する危険があ
先又9操作員の安全面においても問題であった。
法指示の誤シ、及び機構装置等の誤動作、故障等がある
と、被検査物(1)の進入によ先遣従装置(1)、探触
子2機構装置(4)等の破損、損傷を発生する危険があ
先又9操作員の安全面においても問題であった。
この発明は、これらの欠点を改善するだめのもので、被
検査物の進入部に被検査物の外形寸法を測定する外形測
定器を設置し、外形測定器の測定結果と、追従装置の待
機位置とが適合していることを確認し、適合外の場合に
は、被検査物の搬送を停止するよう制御する探傷装置を
提供するものである。
検査物の進入部に被検査物の外形寸法を測定する外形測
定器を設置し、外形測定器の測定結果と、追従装置の待
機位置とが適合していることを確認し、適合外の場合に
は、被検査物の搬送を停止するよう制御する探傷装置を
提供するものである。
以下、第2図に示すこの発明の実施例について説明する
。
。
第2図において、(1)は被検査物、(2)は被検査物
(1)の進入を検知するだめのMDセンザー、(3)は
探触子の保持及び、被検査物(1)に探触子を追従させ
るだめの追従装置、(4)は追従装置の固定及び待機位
置にセットするだめの機構装置、(5)は被検査物+1
)を搬送するための搬送ローラー、(6)は追従装置(
3)を被検査物(1)の外形寸法に適合した待機位置に
設定するだめの指令値を発生する機構待機位置設定部、
(7)は機構待機位置設定部(6)からの指令値と機構
装置(4)からの設定値とを比較し、指令値に一致する
ように制御するだめの機構装置制御部、(8)は機構装
置制御部(7)からの制御信号によって9機構装置(4
)を駆動する機構装置駆動部、(9)は搬送指示及び、
比較制御部(14)からの比較制御信号より搬速制御信
号を発生する搬送制御部、 01は搬送制御部(9)か
らの搬送制御信号に応じて搬送ローラーを駆動するだめ
の搬送駆動部、(1υは探傷動作指令及び、被検査物(
1)の有無を検知するMDセンサー(2)からの検知信
号等によって、追従装置(3)を被検査物(Elに抜管
きせるタイミング及び、探触子がら探傷信号を取シ込む
タイミング等を制御するための探傷シーケンス制御部、
(lのは探傷シーケンス制御部t11)からの追従装置
抜管信号によって、追従装置(3)を被検査物(1)に
抜管させるだめの追従装置駆動部、0■は被検査物の外
形寸法を測定するだめの外形測定器、θ(イ)は外形測
定器からの測定結果と2機構装置(4)からの追従装置
待機位置設定値とを比較し、搬送可否の比較制御信号を
発生する比較制御部である。
(1)の進入を検知するだめのMDセンザー、(3)は
探触子の保持及び、被検査物(1)に探触子を追従させ
るだめの追従装置、(4)は追従装置の固定及び待機位
置にセットするだめの機構装置、(5)は被検査物+1
)を搬送するための搬送ローラー、(6)は追従装置(
3)を被検査物(1)の外形寸法に適合した待機位置に
設定するだめの指令値を発生する機構待機位置設定部、
(7)は機構待機位置設定部(6)からの指令値と機構
装置(4)からの設定値とを比較し、指令値に一致する
ように制御するだめの機構装置制御部、(8)は機構装
置制御部(7)からの制御信号によって9機構装置(4
)を駆動する機構装置駆動部、(9)は搬送指示及び、
比較制御部(14)からの比較制御信号より搬速制御信
号を発生する搬送制御部、 01は搬送制御部(9)か
らの搬送制御信号に応じて搬送ローラーを駆動するだめ
の搬送駆動部、(1υは探傷動作指令及び、被検査物(
1)の有無を検知するMDセンサー(2)からの検知信
号等によって、追従装置(3)を被検査物(Elに抜管
きせるタイミング及び、探触子がら探傷信号を取シ込む
タイミング等を制御するための探傷シーケンス制御部、
(lのは探傷シーケンス制御部t11)からの追従装置
抜管信号によって、追従装置(3)を被検査物(1)に
抜管させるだめの追従装置駆動部、0■は被検査物の外
形寸法を測定するだめの外形測定器、θ(イ)は外形測
定器からの測定結果と2機構装置(4)からの追従装置
待機位置設定値とを比較し、搬送可否の比較制御信号を
発生する比較制御部である。
次に動作について説明する。
外部よシの被検査物外形寸法指示によシ2機構待機位置
設定部+6) i’t 、被検査物(1)の外形寸法に
適合した位置に追従装置(3)を待機させるだめの待機
位置指令信号を出力する。機構装置制御部(7)は。
設定部+6) i’t 、被検査物(1)の外形寸法に
適合した位置に追従装置(3)を待機させるだめの待機
位置指令信号を出力する。機構装置制御部(7)は。
機構待機位置設定部(6)からの待機位置指令信号と。
機構装置(4)からの追従装置の待機位置設定値とを比
較し、同じになるよう機構装置(4)を駆動させるだめ
の制御信号を機構装置駆動部(8)へ送る。機構装置駆
動部(8)は機構装置制御部(7)からの制御信号によ
って2機構装置(4)を駆動し、追従装置(3)の待機
位置を被検査物外形寸法指示に適合した位置に待機させ
る。次に搬送制御部(9)は外部よりの搬送指示により
、搬送制御信号を次の搬送駆動部(10)に出力する。
較し、同じになるよう機構装置(4)を駆動させるだめ
の制御信号を機構装置駆動部(8)へ送る。機構装置駆
動部(8)は機構装置制御部(7)からの制御信号によ
って2機構装置(4)を駆動し、追従装置(3)の待機
位置を被検査物外形寸法指示に適合した位置に待機させ
る。次に搬送制御部(9)は外部よりの搬送指示により
、搬送制御信号を次の搬送駆動部(10)に出力する。
搬送駆動部αQは、搬送制御信号にもとづいて、被検査
物(1)を搬送するだめの搬送ローラーを駆動し、被検
査物(1)を搬送させる。被検査物(1)が進入してく
ると、進入部に設置した外形寸法測定器Q3は、被検査
物(1)の外形寸法を測定し、測定結果を比較制御部α
騰へ出力する。比較制御部0りは、外形測定器からの測
定結果と2機構装置(4)からの追従装置の待機位置設
定値とを比較し、不適合の場合は、比較制御信号を搬送
制御部(9)に送り被検査物(11の搬送を停止させる
。
物(1)を搬送するだめの搬送ローラーを駆動し、被検
査物(1)を搬送させる。被検査物(1)が進入してく
ると、進入部に設置した外形寸法測定器Q3は、被検査
物(1)の外形寸法を測定し、測定結果を比較制御部α
騰へ出力する。比較制御部0りは、外形測定器からの測
定結果と2機構装置(4)からの追従装置の待機位置設
定値とを比較し、不適合の場合は、比較制御信号を搬送
制御部(9)に送り被検査物(11の搬送を停止させる
。
又、探傷シーケンス制御部(11)は、外部からの探傷
動作指示によって、探傷ンーケンス制御を始める。被検
査物(++が搬送指示に基づいて搬送されてくると、M
Dセンザー(2)は、被検査物(1)の進入を検知し、
探傷シーケンス制御部(11)へ検知信号を送る。探傷
シーケンス制御部Iは、入力された検知信号をもとに、
被検査物(1)が追従装置(3)の真下に来た時に追従
装置(3)を抜管させるような抜管指令信号を出力する
よう制御を行なう。追従装置駆動部tea i: 、探
傷シーケンス制御部αDからの抜管指令信号によって、
追従装置(3)を被検査物(1)に抜管さぜる駆動を行
なう。
動作指示によって、探傷ンーケンス制御を始める。被検
査物(++が搬送指示に基づいて搬送されてくると、M
Dセンザー(2)は、被検査物(1)の進入を検知し、
探傷シーケンス制御部(11)へ検知信号を送る。探傷
シーケンス制御部Iは、入力された検知信号をもとに、
被検査物(1)が追従装置(3)の真下に来た時に追従
装置(3)を抜管させるような抜管指令信号を出力する
よう制御を行なう。追従装置駆動部tea i: 、探
傷シーケンス制御部αDからの抜管指令信号によって、
追従装置(3)を被検査物(1)に抜管さぜる駆動を行
なう。
追従装置i# (3)を被検査物(1)に抜管させるこ
とにより、追従装置(3)に保持された探触子は、被検
査物(1)の搬送に伴ない、順次被検査物(1)を探傷
する。
とにより、追従装置(3)に保持された探触子は、被検
査物(1)の搬送に伴ない、順次被検査物(1)を探傷
する。
この発明は以上のように構成されているだめ。
仮に、被検査物の外形寸法指示誤り、被検査物(1)の
設定誤り等により、追従装置(3)の待機位置に相当す
る外形寸法以上の被検査物(1)が搬送されてきても、
外形測定器<Isで外形測定し、比較制御部α4で不適
合を判定して被検査物(1)の搬送を停止する様動作す
ることによって、追従装置(3)1機構装置(4)の破
損、損傷を防止することができる。
設定誤り等により、追従装置(3)の待機位置に相当す
る外形寸法以上の被検査物(1)が搬送されてきても、
外形測定器<Isで外形測定し、比較制御部α4で不適
合を判定して被検査物(1)の搬送を停止する様動作す
ることによって、追従装置(3)1機構装置(4)の破
損、損傷を防止することができる。
以上の様に、この発明に係る超音波探傷装置では、被検
査物の進入部に被検査物の外形寸法を測定する外形測定
器と、前記外形寸法測定器からの測定値と機構装置から
の追従装置の待機位置設定値とが適合しているかを比較
して、被検査物の搬送を制御するだめの比較制御機能を
具備することによって、追従装置の待機位置設定誤見追
従装置の待機位置設定と異なる外形の被検査物の搬送等
によって起る追従装置、探触子2機構装置等0)破損、
損傷を防止することが出来る利点がある。
査物の進入部に被検査物の外形寸法を測定する外形測定
器と、前記外形寸法測定器からの測定値と機構装置から
の追従装置の待機位置設定値とが適合しているかを比較
して、被検査物の搬送を制御するだめの比較制御機能を
具備することによって、追従装置の待機位置設定誤見追
従装置の待機位置設定と異なる外形の被検査物の搬送等
によって起る追従装置、探触子2機構装置等0)破損、
損傷を防止することが出来る利点がある。
第1図は、従来の超音波探傷装置のブロック図。
第2図はこの発明による超音波探傷装置の実施例を示す
ブロック図である。 図中、(1)は被検査物、(2)はMDセンサー、(3
)は追従装置、(4)は機構装置、(5)は搬送ローラ
ー、 I(i)は機構待機位置設定部、(7)は機構装
置制御部、(8)は機構装置駆動部、(9)は搬送制i
11部、00は搬送駆動部、 (11)は探傷シーケン
ス制御ff1l、 Lt2は追従装置駆動部、餞は外形
測定器、 (+41は比較制御部である。 なお1図中同一あるいは和尚部分には、同一符号を伺し
て示しである。 代理人 葛野信−
ブロック図である。 図中、(1)は被検査物、(2)はMDセンサー、(3
)は追従装置、(4)は機構装置、(5)は搬送ローラ
ー、 I(i)は機構待機位置設定部、(7)は機構装
置制御部、(8)は機構装置駆動部、(9)は搬送制i
11部、00は搬送駆動部、 (11)は探傷シーケン
ス制御ff1l、 Lt2は追従装置駆動部、餞は外形
測定器、 (+41は比較制御部である。 なお1図中同一あるいは和尚部分には、同一符号を伺し
て示しである。 代理人 葛野信−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 探触子が取付けである追従装置を、被検査物に接利して
探傷を行なう超音波探傷装置において。 被検査物の外形寸法を測定するための外形測定器と、外
形測定器の測定値と2追従装置の待機位置とが適合して
いることを確認するだめの比較手段とを具備して追従装
置の待機位置の設定誤り2機構装置の誤動作及び被検査
物の設定誤シ等にょる探触子、あるいは追従装置の損傷
を防止することを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57187914A JPS5977351A (ja) | 1982-10-26 | 1982-10-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57187914A JPS5977351A (ja) | 1982-10-26 | 1982-10-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5977351A true JPS5977351A (ja) | 1984-05-02 |
Family
ID=16214409
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57187914A Pending JPS5977351A (ja) | 1982-10-26 | 1982-10-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5977351A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03115689A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-16 | Kokuyo Co Ltd | 移動間仕切装置 |
-
1982
- 1982-10-26 JP JP57187914A patent/JPS5977351A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03115689A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-16 | Kokuyo Co Ltd | 移動間仕切装置 |
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