JPS5978343A - レジスト膜の現像方法 - Google Patents

レジスト膜の現像方法

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Publication number
JPS5978343A
JPS5978343A JP19025282A JP19025282A JPS5978343A JP S5978343 A JPS5978343 A JP S5978343A JP 19025282 A JP19025282 A JP 19025282A JP 19025282 A JP19025282 A JP 19025282A JP S5978343 A JPS5978343 A JP S5978343A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
resist film
developer
nozzle
developing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19025282A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Fukuda
雄二 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP19025282A priority Critical patent/JPS5978343A/ja
Priority to US06/545,329 priority patent/US4564280A/en
Priority to DE8383306538T priority patent/DE3369204D1/de
Priority to EP83306538A priority patent/EP0110558B1/en
Publication of JPS5978343A publication Critical patent/JPS5978343A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/30Imagewise removal using liquid means
    • G03F7/3021Imagewise removal using liquid means from a wafer supported on a rotating chuck

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (al  発明の技術分野 本発明日レジスト膜の現像方法に係り、柄にレジスト膜
現像液のスプレ一方法の改善に関するものである。
(b)  技術の背景 半導体装り等の製造においては、半導体基板上に1.・
シスト膜を塗布し、その後このレジスト膜を所望のバク
ーンに露光させて感光させ、感光したレジスト部分ある
い一感光しAいレジスト部分金現仰して不要部分を除去
]−で微1111・;クーンを形成すること(:I@知
である。
(C)  従来技術と問題点 従来のレジスト膜の現像方法と15.マ、半3び体基板
上に塗布されたレジスト膜に現像液を剥土して行々われ
るカシ−(パドル方1)、)と、スフ1ノーノズルを通
じて現像液をレジストII<−2に短状に1賓出するこ
とによって行なわれる方法(ン(フレ一方法)Lがを〕
る。
上記パドル方法は第1図に示ずようなJ1シ仰装鰐を用
いてレジスト膜の現像が行カー、・ノLる。即ち同図に
おいて、1けレジスト現イヘ1液を両土するノス゛ル、
2は基板3上に塗布さILkレジスト膜で茅・Iへ前記
ノズル1け基板3の回転中心−の−1一方に位置してい
る。4に′!、前記基板3を載−する戦fh□台、5は
庫V1眞台4の−■・血に配ガさ11た真2′リヘンク
、6はこの真空チャック51よひ載V1台4を回転する
叱胛Jモーター、7iま現佃枦本体の他壁、B1−1飛
散きれた現像液を排除する排液孔てg、、、l=、、こ
のように仏成きれた現像装置の載僧゛台4−ヒに1ヅr
定のレジスト膜2が塗布された基板3を真空ヂャンク5
にて吸刑固定し1次いて駆mJ−L−クーロによりnl
[記基板3を所定の速度に回転しつつ、前記ノズルlを
基板の回転中心と基板周縁部との間を往復運動させなが
ら、前記ノズル1よりレジスト膜2を有する基板3上に
現像液を滴−トして、所定時間現像した後1滴−トを停
止し次いで基板3面上の現像液を飛散除去して¥′L燥
し、微細なし・シストパターンか)し成される。尚飛散
された現像液は側壁′7をったい排液孔8によって排除
される。
しかしながら上述したパドル現像方法においては、基板
上全面に形成された所要パターンの均一性がpい反面、
特にポジレジスト膜現像の場合に現像液量を多く使用し
、かつ現像時開が長くかかる問題がある。ヌ一方スフレ
一方法は第2図に示すような装置を用いてレジスト膜の
現像か行なわれる。第2図において前回と同等の部分に
ついて1寸同−宿号を(\」しているか同図において現
像液スフレ−ノズル21は基板の回転中心と交わる線上
の所定位置に固定されており共の他については前述した
のて説明を猶略する。該スフレ−ノズル21は、レジス
ト膜2を冶−Jる基鈑δ上に、イj’:Ah”;乍い′
図示せず)Kよって供給された現倍液を円形の膀状にし
て所定時間吹きつJ Ir)”て所望のレシン、ト膜を
形成うる。このスフレ−現像方法は知11411uで、
現像液の使用卸も少々くてず1.+反面、卑4り土全面
に形成されたパターンの均一性か!11′、い、、即ち
基板内縁部に1弓状の凸部が)L5成4きれ現像マー1
−らをi’L1j!f1題が〆る。
(d)  発明の目的 不発E’Jjの目的kA力・かる間届点に叱・ブなき扛
たイ・ので均一て安定したレジストPiAの現像方法で
、かつ短時聞て現像液スフレの少ない経fh的々t、・
シスト膜の現像方法の提供にある1゜ (θ)発明の構成 即ち本発明は基(ツメ上に塗布さth 7ヒ]/シスト
膜の現像方法でろつ゛C1前記基状を回転し一ρつ、駄
基板の回転中心と文わる線上に設&Iた現像液スフし・
−ノズルを、該基板の回転中より同縁?115に1[」
1つて往復運〜りぜしI)、  前記、スプレーノズル
より現像液を基板上に噴出して、前記レジスト膜を現(
(4・甘る]程が含プノ1てなることを特徴とする。
(f)  発明の実施例 以1・本発明の実施例について図面を参照して説明噌る
。第3図は本発明の一実施例のレジスト膜の現像方法を
実施するための現像装置の枳を略梧成図である1、色1
前図七同等の部分についてi: fi=il−符りをイ
て1している。
同図において、現像液スフレ−ノズル:51fd、基釈
の回転中心、!:交わる線上に設けら!1.訃線土に基
板の回転中心さ基板周縁部との間をrI:復連動するよ
うに構成、いtlている。かかる構成において一#、占
え(6)AZJhへo(シンフレー719す)の月−シ
レジノド膜2が所定厚いに塗イ11さノまた基板ろを載
11t、  4  f二に藪1i(l−、−(:  、
  1JJi動’に−1−6[j  1lli’;] 
 no 〜T (+ On rpmの速度に回転しつ−
)、前記スフレ−/スル:51荀基板の回転中心と基板
IPI縁部古のf(TJを往マυ1111 !lalさ
VながC・1該スフレ−ノズル3]1すΔzヲベロンノ
・=(シンフレー社製)のJQ Ml ra &基板上
に綜平2に噴出してレジスト腰2の現像をイ″1々えは
、基板上にPII′望のm、 fI(LH力・吹きつけ
C)れ杓−なレジストパターンが短詩1111にノド:
 ft’i、J’ 4こ♂かt=f能で4〕る。この場
合前記スフレ−ノズルのうじIf!fifI及び噴出圧
力は上記現像面が総状に”Di at a 、thるよ
う調整さILでおり、勿論現像液の気化熱による現像温
度低下のないように調整されている。
(gl  発明の効果 以上説り」したことく本発明の一切MII例を(まれQ
」現像液スフレーノズルを往復j4it B!!Jして
埃2像液を噴出し、かつ所望の層1像液噴霧状鰻のrI
1出によって均一で安定した短日に1731の現像力V
、かiJj 1i(−さなり。
コストダウン、イハ!11(個1歩fYイ回」二なと太
き、′ンクカ飼′をtりることかできる。
【図面の簡単な説明】
第]し1及び第二・図は従沫方〃、にイ史用する蜘像1
々首の枇匹、梧成図、第3図d本発lル]の−す施例の
レジスト膜の駒、佃力法を実h1.17に、ための規仰
シ冒酋の池齢、梧成図て゛あ/!、〕。図において2は
レジス1−膜。 3 Ir、l基l< 、  31け現(ft、H液スフ
レーノス・I・を不−q、第1図 す 第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 基板上に塗布されたレジスト膜の現像方法であって、I
    a記基板を回転しつつ、該基板の回転中心と交わる線上
    に設けた現像液スプレーノズルを。 該基板の回転中心より周縁部に向って往復連動せしめ、
    前記スフレ−ノズルより現像液を基板上に噴出して、前
    記レジスト膜を現像する丁り程が含寸れて々るこ七を特
    !表するレジスト膜の現像方法、。
JP19025282A 1982-10-28 1982-10-28 レジスト膜の現像方法 Pending JPS5978343A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19025282A JPS5978343A (ja) 1982-10-28 1982-10-28 レジスト膜の現像方法
US06/545,329 US4564280A (en) 1982-10-28 1983-10-25 Method and apparatus for developing resist film including a movable nozzle arm
DE8383306538T DE3369204D1 (en) 1982-10-28 1983-10-27 Method and apparatus for use in developing resist film
EP83306538A EP0110558B1 (en) 1982-10-28 1983-10-27 Method and apparatus for use in developing resist film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19025282A JPS5978343A (ja) 1982-10-28 1982-10-28 レジスト膜の現像方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5978343A true JPS5978343A (ja) 1984-05-07

Family

ID=16255037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19025282A Pending JPS5978343A (ja) 1982-10-28 1982-10-28 レジスト膜の現像方法

Country Status (1)

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JP (1) JPS5978343A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54102123A (en) * 1978-01-27 1979-08-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Developing method
JPS5963726A (ja) * 1982-10-05 1984-04-11 Toshiba Corp ホトレジスト現像装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54102123A (en) * 1978-01-27 1979-08-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Developing method
JPS5963726A (ja) * 1982-10-05 1984-04-11 Toshiba Corp ホトレジスト現像装置

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