JPS598143U - 光学式腐敗検出装置 - Google Patents

光学式腐敗検出装置

Info

Publication number
JPS598143U
JPS598143U JP10361082U JP10361082U JPS598143U JP S598143 U JPS598143 U JP S598143U JP 10361082 U JP10361082 U JP 10361082U JP 10361082 U JP10361082 U JP 10361082U JP S598143 U JPS598143 U JP S598143U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
sample
receiving element
amplified
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10361082U
Other languages
English (en)
Inventor
秋山　広一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kewpie Corp
Original Assignee
QP Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by QP Corp filed Critical QP Corp
Priority to JP10361082U priority Critical patent/JPS598143U/ja
Publication of JPS598143U publication Critical patent/JPS598143U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図および第２図はこの考案の一実施例を示すもので
、第１図は概略構成図、第２図は螢光検出部の詳細を示
すブロック図、第３図はプリアンプ部の具体的な回路図
、第４図Ａから第４図Ｅはこの考案の実施例の動作を説
明するための波形図である。 １・・・紫外線発生器、２・・・交流電源、４・・・試
料、３５・・・螢光検出部、６・・・腐敗判別部、１３
・・・受光素子、１４・・・増幅回路、１５・・・直流
信号除去回路、１６・・・全波整流回路、１７・・・平
均化回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 腐敗検出試料に所定の周波数で変調した紫外線を照射す
    る紫外線発生装置と、この装置からの変調紫外線が前記
    試料に照射されると前記試料から螢光光線が発生され、
    この光線を検出するとともに電気信号に変換する受光素
    子と、この受光素子から送出される電気信号を増幅し、
    この増幅信号中の直流信号成分を除去して前記螢光光線
    による交流信号を出力する直流信号除去回路と、この除
    去回路の出力信号を全波整流しその整流出力を平均化す
    る平均化回路と、この平均化回路の出力信号が供給され
    、そめ信号のレベルから前記試料の腐敗を判定する判別
    部とを備えた光学式腐敗検出装置。
JP10361082U 1982-07-08 1982-07-08 光学式腐敗検出装置 Pending JPS598143U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10361082U JPS598143U (ja) 1982-07-08 1982-07-08 光学式腐敗検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10361082U JPS598143U (ja) 1982-07-08 1982-07-08 光学式腐敗検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS598143U true JPS598143U (ja) 1984-01-19

Family

ID=30243648

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10361082U Pending JPS598143U (ja) 1982-07-08 1982-07-08 光学式腐敗検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS598143U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040662A (ja) * 2016-10-31 2017-02-23 株式会社アクロエッジ 測定方法
JP2019039931A (ja) * 2018-11-19 2019-03-14 株式会社アクロエッジ 測定方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5238382A (en) * 1975-09-19 1977-03-24 Q P Corp Apparatus for inspecting eggs
JPS5238383A (en) * 1975-09-19 1977-03-24 Q P Corp Method and apparatus for detedting eggs invaded by bacteria

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5238382A (en) * 1975-09-19 1977-03-24 Q P Corp Apparatus for inspecting eggs
JPS5238383A (en) * 1975-09-19 1977-03-24 Q P Corp Method and apparatus for detedting eggs invaded by bacteria

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040662A (ja) * 2016-10-31 2017-02-23 株式会社アクロエッジ 測定方法
JP2019039931A (ja) * 2018-11-19 2019-03-14 株式会社アクロエッジ 測定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0559391A3 (en) Magnetooptical recording/reproducing apparatus
DE69709109D1 (de) Abtasters zum lesen von nah-infraroten fluoreszenten markierungen
JPS598143U (ja) 光学式腐敗検出装置
US4730108A (en) Ambient light insensitive circuit with frequency matching
JPS5788532A (en) Recording error detection method in optical type recorder
JPS598142U (ja) 光学式腐敗検出装置
JPS5881944U (ja) 半導体ウエハ検査装置
JPS59181573U (ja) 荷電粒子線装置における試料室排気装置
JPH01110198A (ja) プリペイカード
JPS6046056U (ja) 螢光ｘ線測定装置
JPS6016756U (ja) イオンビ−ムスパツタリング装置
JPS58132876U (ja) 絶縁ケ−ブルの素線断線検知装置
JPS5640334A (en) Indoor information transmission system
JPS58189978U (ja) 車両用光レ−ダ装置
JPS6059178U (ja) 光電検出装置
JPS6115583U (ja) 光量変化式検知器
JPS5966175U (ja) 光による物品検出器
JPS59170273U (ja) 死活線判別装置
JPS60101865U (ja) 情報読取装置
BACH et al. Laser diagnostics of metallic plasmas[Final Report, 1 Nov. 1978- 31 Oct. 1981]
JPS6133048U (ja) 画像濃度検出装置
JPS6054954U (ja) 微粒子検出装置
JP2005242654A (ja) 被検出体における蛍光体の蛍光検出方法及び装置
JPS58127332U (ja) 輝線の中心値検出回路
JPS6059738U (ja) 漏電検出表示器