JPS598161Y2 - マイクロメ−タヘツドの送り誤差測定装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、マイクロメータヘッドを支持するフレームに
取り付けてマイクロメータヘッドのスピンドルの送り誤
差を測定するために用いるマイクロメータヘッドの送り
誤差測定装置に関するものである。

一般に外側測定マイクロメータによって測定される製品
の寸法製度は、マイクロメータのスピンドルの送り精度
に大きく依存している。

このため、外側測定マイクロメータにあっては、組立直
後および組立後の使用状態に応じて定期的にスピンドル
の送り精度を測定することにより、その測定精度を確認
する必要がある。

しかしながら、このようなマイクロメータのスピンドル
の送り精度を簡易に測定するのに好ましい装置が従来は
見当らなかった。

例えば、相対向する固定アンビルを有するタイプの外側
マイクロメータにあっては、寸法の異なる多種類のブロ
ックゲージを用意しなければならず、スピンドルを微小
範囲だけ移動し得る構威とした場合には、測定精度的に
も問題がある。

また、固定アンビルを具備しないタイプのマイクロメー
タヘッドを用いた場合には、ゲージブロックを挾むこと
ができない。

本考案は、このようなマイクロメータのスピンドルの送
り精度を簡易に測定可能なマイクロメータヘッドの送り
誤差測定装置を提供することを目的とするものである。

以下、本考案の一実施例を図面にしたがって説明する。

第１図ないし第６図において、１はマイクロメータヘッ
ドの送り誤差測定装置の本体である。

この本体１の一端部には、屈曲するアンビル取付部２が
一体に設けられている。

このアンビル取付部２には、本体１の他端部側に向けて
延びる保持孔３が穿設されている（第１図参照）。

４はアンビルである。

このアンビル４は、アンビル軸５とアンビルヘッド６を
有する。

このアンビルヘッド６は球面状部６ａとねじ軸６ｂを有
している。

このアンビルヘッド６はねじ軸６ｂをアンビル軸５に螺
合することによりアンビル軸５の一端部に取り付けられ
ているが、このアンビルヘッド６のアンビル軸５への取
付は他の方法であってもよい。

図中、５ａはアンビル軸５の他端部に設けられたツマミ
部である。

このようなアンビル４のアンビル軸５の中間部は第１図
の如く保持孔３内に摺動自在に嵌合されており、このア
ンビル軸５に取り付けられたアンビルヘッド６は本体１
の他端側を向いている。

このアンビルヘッド６とアンビル取付部２との間には圧
縮されたコイルスプリング７が介装されていて、アンビ
ル４を左右にばね付勢している。

８はアンビル取付部２に螺合されたクランプネジで、こ
のクランプネジ８の先端はアンビル軸５に圧接可能に設
けられている。

本体１の他端部には、アンビル取付部２が屈曲する側に
面して略■字状のフレーム当接面９が設けられている。

このフレーム当接面９はアンビル４の軸線方向に延びて
いる。

本体１の中間部には、フレーム当接面９の左端に密接し
てクランプアーム１０がネジ止めされている。

このクランプアーム１０は、第２図ないし第６図に示し
たように先端部が２つのアーム部１０ａ，１０ｂに分岐
している。

このアーム部１０ ａ ， １０ｂはアンビル４の軸線
に対して直角に設けられている。

本体１の他端部にはアンビル４と同方向に進退動可能に
クランプネジ１１が螺合されており、この移動ネジとし
てのクランプネジ１１のヘッド部１１ａにはクランプネ
ジ１１の軸線と直交する軸１２によって操作軸１３が回
動自在に取り付けられている。

このクランプネジ１１は、ヘッド部１１ ａと本体１と
の間に配設したクランプアーム１４を貫通している。

このクランプアーム１４も先端部が２つのアーム部１４
ａ，１４ｂに分岐されていて、このアーム部１４ａ，１
４ｂはクランプアーム１０と平行に設けられている。

１５はクランプアーム１４を貫通するガイドピンである
。

このガイドピン１５は、クランプネジ１１と平行に本体
１に固定されていてクランプアーム１４の回動を規制す
ると共に、クランプアーム１４をクランプアーム１０に
対して進退自在に支持している。

このようにして、本体１の他端部には、アンビン４の軸
線方向に相対接近・離反可能に一対のクランプアーム１
０，１４が取り付けられている。

第１図，第２図中、１６は上述した構戊の送り誤差測定
装置を装着した外側測定マイクロメータである。

この外側測定マイクロメータ１６は、■次状のフレーム
１７・フレーム１７の一端筒状部１７ Ｈに取り付けら
れたマイクロメータヘッド１８・フレーム１７の他端部
に取り付けられたアンビル（図示せず）を有する。

このマイクロメータヘッド１８は、フレーム１７に取り
付けられたスリーブ１９・スリーブ１９に回転自在に支
持されたシンプル２０・スリーブ１９に進退自在に螺合
され且つシンプル２０と一体に設けられたスピンドル２
１を有する。

図中、２２はスリーブ１９に設けられた基線、２３はス
リーブ１９に設けられた目盛、２４はシンプル１９に設
けられた目盛、２５は一端筒状部１７ａに螺合されたク
ランプネジである。

次に上述した構戒の送り誤差測定装置の外側マイクロメ
ータヘッド１６への取り付けと使用状態を説明する。

上述した送り誤差測定装置の取付には、まずクランプネ
ジ１１を緩めた後、クランプアーム１０のアーム部１０
ａ，１０ｂ間にスピンドル２１を挿入すると共に、クラ
ンプアーム１４のアーム部１４ａ，１４ｂ間にクリープ
１９を挿入して、フレーム当接面９をフレーム１７の一
端筒状部１７ ａに当接させる。

次に、操作軸１３を回動操作してクランプネジ１１をア
ンビル４側に移動させることにより、クランプアーム１
４をアンビル４側に移動させる。

このような操作によって一端筒状部１７ ａをクランプ
アーム１０，１４間に挾持させることにより、上述した
送り誤差測定装置を外側測定マイクロメータ１６の一端
筒状部１７ ａに側部側から取り付ける。

この後、マイクロメータ１６のシンプル２０を回転操作
して目盛２３．２４をＯに合せる。

次にクランプネジ８を緩めると、アンビル４をコイルス
プリング７のばね力により右方．に変位させて、アンビ
ルヘッド６の球面状部６ａをスピンドル２１の先端に当
接させた後、クランプネジ８を締め付けてアンビル４を
固定する。

このような設定後、シンプル２０を回転操作してスピン
ドル先端をアンビル４から離反させて、アンビル４とス
ピンドル２１との間にブロックゲージ（図示せず）を挾
持させ、このときの目盛２３．２４の指示値とブロック
ゲージの寸法値とが合っているか否かを判別する。

このブロックゲージは、小さなものから大きなものに順
次交換して行って、規定長さごとに送り誤差を判別測定
する。

本考案は、以上説明したように、進退動調整可能なアン
ビルと、相対接近・離反操作可能な一対のフレーム扶持
用のクランプアームを本体の両端部にそれぞれ設けたの
で、一対のクランプアームでマイクロメータのフレーム
端部を扶持させることによりマイクロメータヘッド部に
簡易に取り付けて、マイクロメータヘッドのスピンドル
の送り誤差の測定に用いることができる。

そして、本体の基端部に一対のクランプアームを、アン
ビルの軸方向においてフレーム当接面の両側に配設し、
本体の基端部に螺合した移動ネジの外側に操作軸を枢着
したので、フレームの着脱を容易に行うことができると
ともに、マイクロメータ本体が邪魔になることなく操作
軸を容易に操作できる。

また、アンビルのヘッド側を球面状に形威しているので
、フレームに対する本体の取付が精巧でなくとも、スピ
ンドルとアンビルがゲージブロックの両端面に適切に当
接し、もってより正確な送り誤差検査が得られる。

さらに、アンビルは、球面状ヘッドが本体の基端部側に
近接する方向へ弾発付勢されているので、アンビルのス
トローク決定の際、押圧力過大の如き不具合を起こすこ
となく、アンビルをクランプネジにて精度良く位置固定
できる。

このことは、アンビルとスピンドルとを当接させて零合
わせを行う場合についても同様である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例であるマイクロメータヘッ
ドの送り誤差測定装置とマイクロメータの関係を示す部
分断面平面図。 第２図は、第１図の側面図。 第３図は、第１図に示したマイクロメータヘッドの送り
誤差測定装置の側面図。 第４図は、第３図の底面図。 第５図は、第３図の右側面図。第６図よ、第３図の左側
面図。 ・・・・・・本体、２・・・・・・アンビル取付部、３
・・・・・・保持孔、４・・・・・・アンビル、８・・
・・・・クランプネジ、１０．１４・・・・・・クラノ
プアーム、１１・・・・・・クランプネジ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 一方向に延びる本体の基端部に、検査すべきマイクロメ
   ータのフレームを受けるフレーム当接面を形或するとと
   もに、前記本体の先端部には屈曲するアンビル取付部を
   設け、 このアンビル取付部に、球面状ヘッドを有するアンビル
   を前記本体の延びる方向に摺動自在に嵌合すると共に、
   該アンビルを、球面状ヘッドが前記本体の基端部に対し
   て接近する方向にスプリングによって付勢し、かつ、前
   記アンビル取付部に、前記アンビルを圧接するためのク
   ランプネジを螺合し、 前記本体の基端部に、前記フレーム当接面を前記アンビ
   ルの軸線方向の両側より挾むようにして一対のクランプ
   アームを配設するとともに、前記アンビルに対し遠い側
   のクランプアームを、前記本体の基端部に進退動可能に
   螺合されかつ外側に操作軸が枢着された移動ネジにより
   、前記アンビルの軸線方向に移動可能に設けたことを特
   徴とするマイクロメータヘッドの送り誤差測定装置。