JPS5981949A - デ−タ伝送装置 - Google Patents
デ−タ伝送装置Info
- Publication number
- JPS5981949A JPS5981949A JP57192149A JP19214982A JPS5981949A JP S5981949 A JPS5981949 A JP S5981949A JP 57192149 A JP57192149 A JP 57192149A JP 19214982 A JP19214982 A JP 19214982A JP S5981949 A JPS5981949 A JP S5981949A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test code
- switching circuit
- data
- code
- interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 210000003127 knee Anatomy 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自己診断機能として試験符号発生器、試験符号
照合器を内蔵し、データ通信システムの試験を行うデー
タ伝送装置に関する。
照合器を内蔵し、データ通信システムの試験を行うデー
タ伝送装置に関する。
データ伝送装置は自己の用いられているシステムの試験
のため、内蔵の試験符号発生器及び試験符号照合器を動
作させ、システムのビット誤シを監視することにより、
システムの良否を判定することを行っている。この機能
は自己診断機能と称され、従来より用いられているが、
第１図を用いてその方法を説明する。
のため、内蔵の試験符号発生器及び試験符号照合器を動
作させ、システムのビット誤シを監視することにより、
システムの良否を判定することを行っている。この機能
は自己診断機能と称され、従来より用いられているが、
第１図を用いてその方法を説明する。
データ端末装置（以降ＤＴＥと称す）ｌよジインターフ
エース入力線１−１を経由し、データ伝送装置（以降Ｄ
ＣＥと称す）２に送信符号が送出され１選択回路２−２
を経て変調器２−３に入り。
エース入力線１−１を経由し、データ伝送装置（以降Ｄ
ＣＥと称す）２に送信符号が送出され１選択回路２−２
を経て変調器２−３に入り。
変調された信号が線路５によシ相手側ＤＣＥ３に到達し
、ＤＣＥ ３によシ復調され、ＤＴＥ４に供給される。
、ＤＣＥ ３によシ復調され、ＤＴＥ４に供給される。
ここて選択回路２−２はＪ）ＴＥＩよシ入力した符号と
符号発生器２−１で発生した符号とを切替選択するもの
である。逆にＤＴＥ ４よシ送信された符号はＤＣＥ３
によシ変調され線路６を経由してＤＣＥ ２の復調器２
−４へ到達し復調された符号が選択回路２−５を経由し
、インターフェース出力線１−２を経てＤＴＥ １へ到
達する。
符号発生器２−１で発生した符号とを切替選択するもの
である。逆にＤＴＥ ４よシ送信された符号はＤＣＥ３
によシ変調され線路６を経由してＤＣＥ ２の復調器２
−４へ到達し復調された符号が選択回路２−５を経由し
、インターフェース出力線１−２を経てＤＴＥ １へ到
達する。
ここで選択回路２−５は復調符号をＤＴＥ ＩＯ方へ送
出するか、試験符号照合器２−６へ送出するか選択する
ものである。
出するか、試験符号照合器２−６へ送出するか選択する
ものである。
さて、データ伝送中に障害が発生した場合、障害発生か
所を探知して速かに復旧させる必要がある。この場合選
択回路２−２及び２−５を切替て。
所を探知して速かに復旧させる必要がある。この場合選
択回路２−２及び２−５を切替て。
試験符号発生器２−（及び試験符号照合器２−６を各々
変調器２−３の入力側及び復調器２−４の出力側に接続
し、例えば自己の線路側にて自局へ向けて折返し７′！
ｉｌ−行うこと、相手ＤＣＥの線路側にて自局へ向けて
折返し８を行うこと、相手ＤＣＥの直３１ｒ、側にて自
局へ向けて折返し９を行うとと及び相手ＤＴＥの直流側
にて自局へ向けて折返し１０を行うことをそれぞれ実施
すれば、試験符号発生器２−１で発生した符号が試験符
号照合器２−６へ戻ってくることとなり、この照合器に
て符号誤シの有無を検出することによシ、１）ＣＥ２．
伝送路５または６．ＤＣＥ３．及びＤＣＥ３とＤ’ｌ’
Ｅ４間のいずれの障害であるか判定できる。
変調器２−３の入力側及び復調器２−４の出力側に接続
し、例えば自己の線路側にて自局へ向けて折返し７′！
ｉｌ−行うこと、相手ＤＣＥの線路側にて自局へ向けて
折返し８を行うこと、相手ＤＣＥの直３１ｒ、側にて自
局へ向けて折返し９を行うとと及び相手ＤＴＥの直流側
にて自局へ向けて折返し１０を行うことをそれぞれ実施
すれば、試験符号発生器２−１で発生した符号が試験符
号照合器２−６へ戻ってくることとなり、この照合器に
て符号誤シの有無を検出することによシ、１）ＣＥ２．
伝送路５または６．ＤＣＥ３．及びＤＣＥ３とＤ’ｌ’
Ｅ４間のいずれの障害であるか判定できる。
しかし従来の構成ではＤＴＥ １方向へ試験符号を送出
できないため、ＤＴＥｌとＤＣＥ２間の診断が不可能で
あった。通常この個所はインターフェースケーブルで接
続されておシ、ケーブル自体の特性として、波形歪、温
償の現象が発生するため、データ伝送の障害要因となる
ことが多々あった。
できないため、ＤＴＥｌとＤＣＥ２間の診断が不可能で
あった。通常この個所はインターフェースケーブルで接
続されておシ、ケーブル自体の特性として、波形歪、温
償の現象が発生するため、データ伝送の障害要因となる
ことが多々あった。
従って従来の構成ではかかる場合の障害要因が探知でき
ず、障害復旧が速やかに行なわれなかった。
ず、障害復旧が速やかに行なわれなかった。
本発明の目的は前記の欠点を排除し、ＤＴｆ！ニーＤＣ
Ｅ間の診断をも行えるようにしたデータ伝送装置を提供
することにある。
Ｅ間の診断をも行えるようにしたデータ伝送装置を提供
することにある。
本発明のデータ伝送装置は、所定のデータ符号を発生さ
せる試験符号発生器と、前記データ符号と入力されたデ
ータ符号との相違を検出する試験符号照合器と、変調器
と、復調器と、前記試験符号発生器出力とデータ端末装
置からデータを入力するインターフェース入力線とのい
ずれか一方を選び前記変調器に接続する第一の切替回路
と、前記復調器出力を前記試験符号照合器へか前記デー
タ端末装置へデータを出力するインターフェース出力線
へかの一方を選び接続する第二の切替回路とを有するデ
ータ伝送装置において、前記インターフェース入力線と
前記第一の切替回路との接続を切離し、前記第二の切替
回路と前記インターフェース出力線との接続を切離し、
前記試験符号発生器の出力を前記インターフェース出力
線へ接続し、前記試験符号照合器入力を前記インターフ
ェース入力線に接続する回路を有することを特徴とする
。
せる試験符号発生器と、前記データ符号と入力されたデ
ータ符号との相違を検出する試験符号照合器と、変調器
と、復調器と、前記試験符号発生器出力とデータ端末装
置からデータを入力するインターフェース入力線とのい
ずれか一方を選び前記変調器に接続する第一の切替回路
と、前記復調器出力を前記試験符号照合器へか前記デー
タ端末装置へデータを出力するインターフェース出力線
へかの一方を選び接続する第二の切替回路とを有するデ
ータ伝送装置において、前記インターフェース入力線と
前記第一の切替回路との接続を切離し、前記第二の切替
回路と前記インターフェース出力線との接続を切離し、
前記試験符号発生器の出力を前記インターフェース出力
線へ接続し、前記試験符号照合器入力を前記インターフ
ェース入力線に接続する回路を有することを特徴とする
。
以下１図面を参照して本発明の実施例につき説明する。
＠２図は本発明によるデータ伝送装置の実施例を示し、
第１図と同一部分は同一符号で示し、その説明は省略す
る。第２図に示すデータ伝送装置。
第１図と同一部分は同一符号で示し、その説明は省略す
る。第２図に示すデータ伝送装置。
Ｉ２においては試験符号発生器２−１が切替回路２−８
によシデータ出力＃ｌ−２に接続され、試験符号照合器
２−６が切替回路２−７によシデータ入力線１−１に接
続されている。障害探知のだめＤＴＥＩの直流側にてＤ
ＣＥ２へ向けて折返し１１を実施した後、試験符号発生
器２−１よ逆符号を送出すれば、切替回路２−８、イ／
ター７エース出力線１−２．及びインターフェース入力
線ｌ−１及び切替回路２−７を経由して符号照合器２−
６へ試験符号が戻ってくるため、ビット誤シチェックが
行なえ、ＤＴＥＩとＤＣＥ２との間の良否判定が可能と
なる。壕だ従来の自己診断機能も、切替回路２−２を切
替えて、試験符号発生器２−１を変調器２−ジに接続し
また切替回路２−５を切替て、復調器２−４を試験符号
照合器２−６に接続することを行えば前述の如〈実施で
きる。
によシデータ出力＃ｌ−２に接続され、試験符号照合器
２−６が切替回路２−７によシデータ入力線１−１に接
続されている。障害探知のだめＤＴＥＩの直流側にてＤ
ＣＥ２へ向けて折返し１１を実施した後、試験符号発生
器２−１よ逆符号を送出すれば、切替回路２−８、イ／
ター７エース出力線１−２．及びインターフェース入力
線ｌ−１及び切替回路２−７を経由して符号照合器２−
６へ試験符号が戻ってくるため、ビット誤シチェックが
行なえ、ＤＴＥＩとＤＣＥ２との間の良否判定が可能と
なる。壕だ従来の自己診断機能も、切替回路２−２を切
替えて、試験符号発生器２−１を変調器２−ジに接続し
また切替回路２−５を切替て、復調器２−４を試験符号
照合器２−６に接続することを行えば前述の如〈実施で
きる。
以上述べてきたように、本発明によれば、データ伝送装
置よシ自局のデータ端末装置側に向けての診断が可能と
な９、従来発見できなかったＤＴＥ−Ｄ ＣＥ間の障害
も探知できる。
置よシ自局のデータ端末装置側に向けての診断が可能と
な９、従来発見できなかったＤＴＥ−Ｄ ＣＥ間の障害
も探知できる。
第１図は従来のデータ伝送装置を示すブロック図、第２
図は本発明のデータ伝送装置の実施例を示すブロック図
である。 １．４・・・・・・データ端末装置％ ２，３．１２・
・・・・・データ伝送装置、５．６・・・・・・線路、
７・・・・・・自局ＤＣＥ線路側折返し、８・・・・・
・相手局ＤＣＥ線路側折返し。 ９・・・・・・相手局Ｊ） ＣＥ直流側折返し、１０・
・・・・・相手局ＤＴＥ直流側折返し。 １−１・・・・・・インターフェース入力＃ｉ！％ ｌ
−２・・・・・・インターフェース出力線、２−１・・
・・・・試験符号発生器、２−２．２−５・・・・・・
切替回路、２−３・・・・・・変調器、２−４・・・・
・・復調器、２−６・・・・・・試験符号照合器、２−
７．２−８・・・・・・選択切替回路。
図は本発明のデータ伝送装置の実施例を示すブロック図
である。 １．４・・・・・・データ端末装置％ ２，３．１２・
・・・・・データ伝送装置、５．６・・・・・・線路、
７・・・・・・自局ＤＣＥ線路側折返し、８・・・・・
・相手局ＤＣＥ線路側折返し。 ９・・・・・・相手局Ｊ） ＣＥ直流側折返し、１０・
・・・・・相手局ＤＴＥ直流側折返し。 １−１・・・・・・インターフェース入力＃ｉ！％ ｌ
−２・・・・・・インターフェース出力線、２−１・・
・・・・試験符号発生器、２−２．２−５・・・・・・
切替回路、２−３・・・・・・変調器、２−４・・・・
・・復調器、２−６・・・・・・試験符号照合器、２−
７．２−８・・・・・・選択切替回路。
Claims (1)
- 所定のデータ符号を発生させる試験符号発生器と、前記
データ符号と入力されたデータ符号との相違を検出する
試験符号照合器と、変調器と、復調器と、前記試験符号
発生器出力とデータ端末装置直からデータを入力するイ
ンターフェース入力線とのいずれか一方を選び前記変調
器に接続する第一の切替回路と、前記復調器出力を前記
試験符号照合器へか前記データ端末装置へデータを出力
するインターフェース出力線へかの一方を選び接続する
第二の切替回路とを有するデータ伝送装置において、前
記インターフェース入力線と前記第一の切替回路との接
続を切離し、前記第二の切替回路と前記インターフェー
ス出力線との接続を切離し、前記試験符号発生器の出力
を前記インターフェース出力線へ接続し、前記試験符号
照合器入力を前記インターフェース入力線に接続する回
路を有すること？特徴とするデータ伝送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57192149A JPS5981949A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | デ−タ伝送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57192149A JPS5981949A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | デ−タ伝送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5981949A true JPS5981949A (ja) | 1984-05-11 |
Family
ID=16286509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57192149A Pending JPS5981949A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | デ−タ伝送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5981949A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02260838A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Nec Corp | 保守試験システム |
-
1982
- 1982-11-01 JP JP57192149A patent/JPS5981949A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02260838A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Nec Corp | 保守試験システム |
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