JPS5985552A - マイクロ診断回路 - Google Patents

マイクロ診断回路

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Publication number
JPS5985552A
JPS5985552A JP57195741A JP19574182A JPS5985552A JP S5985552 A JPS5985552 A JP S5985552A JP 57195741 A JP57195741 A JP 57195741A JP 19574182 A JP19574182 A JP 19574182A JP S5985552 A JPS5985552 A JP S5985552A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
control
register
microinstruction
circuit
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57195741A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Miyajima
宮島 信一
Takeya Okazaki
岡崎 健也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP57195741A priority Critical patent/JPS5985552A/ja
Publication of JPS5985552A publication Critical patent/JPS5985552A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明に、電子計算機tはじめとする機器の制御マイ
クロプログラムで行なうマイクロプログラムHilJ 
IIM1方式の電子a器におけるマイクロ10グラム診
断回路に関するものである。
電子WU算機をにじめとする電子機器の動作に。
機械命令の組み合わせ[工り規定されているため電子機
器の制御回路は機械命令毎に)−−ドウエア各部に対し
て遂次制御信号を発生する様に構成されている。時間的
に同時に発生される制御信号の情報をまとめて一つのマ
イクロ命令とし、このマイクロ命令を遂次実行する事に
Jり上記機械命令の制御信号を発生させる方式をマイク
ロプログラム制御方式といい、マイクロ命令ケ機械命令
毎に運べたものをマイクロプログラムという。この種の
制御方式では機器の回路の動作が正常であるかどうかの
診断に0診断に必要な命令をマイクロプログラムで準備
しておくことにニジ可1距である。
従来この棟マイクロ診断回路として、第1図に示すもの
があった。
図において、は)に電子機器の動作を規定する機械命令
が格納された主メモV、(2+に主メモす山から読み出
された機械命令を保持する命令レジスタ。
+31 riマイクロ命令の実行1臆序を制御するマイ
クログログラムシーケンス制御回路、(4)はマイクロ
10グラムを格納するコントロールメモL151flコ
ントロールメモリ(4)上に格納されたa械命令のマイ
クロ10グラムの先頭アドレスをテーブル形式に記録さ
れたマツプメモ!1.t61はコントロールメモリ(4
)から読み出されたマイクロ命令を保持するマイクロ命
令レジスタ、 +71iマイクロ命令から制動信号全発
生きせるデコーダ等の制御回路、  C1〜Cn  に
制御回路(7)から電子機器各部に出力される制(財)
信号、(8)はマイクロプログラムによる電子機器回路
の診断全制御するマイクロ診断制御プロセッサ、(9)
[診断に必要なマイクロ命令を格納しておく魯き込み可
能なコントロールメモ9(以下WC8と呼ぶ〕である。
次に動作について説明する。
通常の動作では機械命令が王メモ9山から読み出され、
命令レジスタ(2)に入れられると、その機械命令を看
り(卸するマイクロプログラムが格納されているコント
ロールメモリ(4)の先頭アドレスがマツプメモ9(5
)から読み出され、マイクロプログラム7−ケンス鞘部
j回路(3)ヲ介してコントロールメモリ(4)へ出力
され、コントロールメモ9(4)かう(−の機械命令全
制動する先頭のマイクロ命令が読み出され、マイクロ命
令レジスタ(6)へセットされ。
制御回路(7)を介して各tax Niυ御信号C1〜
cn  として出力すれる。マイクログラムシーケンス
制御回路もマイクロ命令にLシ制画されており、マイク
ロ命令レジスタ(6)にセットさ′!″したマイクロ命
名からマイクロゾログラムシーケンス制御回路は次に※
行−rべきマイクロ命令のアドレス?r−17トロール
メモリ(4)に出力し、コントロールメモリ(4)から
読み出された次のマイクロ命令が次の夕1εングでマイ
ク0命令レジスタ(6)ヘセットされ、制御回路(7)
から制御信号01〜Cnとして出力される。以下同様に
実行され、命令レジスタ(2)りこセントされたイ幾械
命令の制御が終rした後1次の機械命令金玉メモリ山か
ら読み出し、命令レジスタ(2)に入れるという順で電
子t′I′n機をはじめとする電子機?5のマイクロプ
ログラムによるMiJ l+IIIが行なわtL6゜マ
イクロプログラムによる電子機器の診断を行なう場合は
診断のシーケンスの制御に、マイクD 7 L7グラム
ンーケンス制α回路f31 Kにzらず、マイクロ診断
制御プロセラf(8)で行なう。診#Ir (Dための
マイクロプログラムにマイクロ診断鞘付プロセッサ(8
)からW CS i9)に書き込んでおき0診断の実行
時にはマイクロ診断制御プロセッサ(8)が次に実行す
るマイクロ命令が格納されているWO2(9]のアドレ
スを出力し、WO2(91から読み出された 次のマイ
クロ命令が9次のタイミングで、マイクロ命令レジスタ
(6)にセットされ、制御回路(7)から制御信号C1
〜Cnとして出力される。マイクロ診断制御プロセッサ
はこの制御信号C1−Cn f読み取シ。
回路の動作が正常かどうかt−判断する。また、マイク
ロ命令レジスタ(6)に次のマイクロ命令がセットされ
たら、マイクロ診断制御プロセッサにさらに次のマイク
ロ命令の格納されているWO2+91のアドレスを出力
し、 WC8i91から読み出されたマイクロ命令が次
のタイミングでマイクロ8令レジスタ(6)にセットさ
れる。以下同様にして、マイクロプログラムによる電子
機器回路の診断に実行される。
従来のマイクロ給脂回路に以上のように構成されている
ので、マイクロプログラムにJる電子機器回路の診lI
Tを行なうためVC(4WC8というハードウェアの増
設が必要であるという欠点があった。
この発明は、この欠点全改善するためになされたもので
、ハードウェアの増設無しに、マイクロ診断を可能とす
るものである。
以下第2図に示すこの発明の一実施例について説明する
。第2図において、山に電子機器の動作を規定する機械
命令が格納された王メモLi21に王メモリ山から読み
比された機械6〜令を保持する命令レジスタ、 +31
1’Jマイクロ命令の実行順序tmυ御するマイクロプ
ログラムシーケンス制御回路。
(4)にマイクロプログラムを格納するコントロールメ
モLI51i’ffコントロールメモリ(4)上に格納
され7を機械命令のマイクロプログラムの先頭アドレス
をテーブル形式に記録されたマツプメモ!J、(61に
コントロールメモリ(4)から読み出されたマイクロ命
令を保持するシリアルシフト機nk倉待ったマイクロ命
令レジスタ、(7)にマイクロ命令から制御信号を発生
させるデコーダ等の制御回路、 +81riマイクロプ
ログラムによる電子機器回路の診断を制御するマイクロ
診断制御プロセッサ、  C】〜cnはHiU両回路(
7)から電子機器各部に出力される制御信号である。
通常の動作では、制御信号C1〜cnを発生さぜる方式
ぼ従来のマイクロプログラム制御方式と同一であるが1
本発明VCjるマイクロ診断回路は。
マイクロ命令レジスタ(6)にシリアルンフトa能fc
待たせて龜るので、マイクロ診断の実行時に、マイクロ
診断制御プロセッサ(8)から命令レジスタ(6)に9
次に実行するマイクロ命令を命令レジスタ(6)のン9
アルンクト機能ヲ用いて直接にセットでき。
マイクロ診断制御プロセッサに、制御回路(7)から出
力される制御信号C1〜Cn f読み取シ1回路の動作
が正常かどうかを判断する。
さらに次に実行するマイクロ命令に、マイクロ命令レジ
スタ+611c、  シリアルシフトmnEk用いてセ
ットされ、以下同様にしてマイクロ診断は実行される。
なお1以上にマイクロプログラムによる電子機器回路の
診断の場合について説明したが0本発明にこの場合に限
らず、マイクロプログラムのデバッグのために使用して
もよい。また、マイクロ1aグラムによる電子機器回路
の診断の7−ケンスの制御に、マイクロ診断制御プロセ
ッサを用バた例について説明したが1診断用マイクロ砧
令倉マイクロ命令レジスタにセットするのに診断の対象
となって因る電子機器自身の磯tVkオリ用してもよい
以上のように、この発明によるマイクロ診断回路に、マ
イクロ10グラムによる電子機器の回路の回路の診断の
ためにノ・−ドウエアの増設全必要としなAというオ0
点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図に、従来のマイクロ診断回路を説明するための図
、第2図にこの発明によるマイクロ診断回路全説明する
定めの図である。 図中山は生メモ!1.+21に命令レジスタ、(3)に
マイク010グラムンーケンス制御回路、 +411’
fコントロールメモリ、  +51iマツプメモリ、(
6)にマイクロ命令レジスタ、(7)は制御回路、 +
81r1マイクロ診所制御10セッサ、(9)け書き込
み町titEコントロールメモg、WC8である。 なお0区中、同一あるいに相当部分子Cに同一符号を付
しである。 代理人  葛 野 信 −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 機器の動作の制御全マイクロ10グラムで行なうマイク
    ロプログラム制御方式の電子機器において、実行マイク
    ロプログラムを保持するマイクロ命令レジスタ金、シリ
    アルシフト機症を有するレジスタで構成し、シリアルに
    電子Ii&器診断用マイクロプログラムをマイクロ命令
    レジスタに設定することにLシ、電子機器回路の診v#
    I機症を待たせた事を特徴とするマイクロ診断回路。
JP57195741A 1982-11-08 1982-11-08 マイクロ診断回路 Pending JPS5985552A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57195741A JPS5985552A (ja) 1982-11-08 1982-11-08 マイクロ診断回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57195741A JPS5985552A (ja) 1982-11-08 1982-11-08 マイクロ診断回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5985552A true JPS5985552A (ja) 1984-05-17

Family

ID=16346191

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57195741A Pending JPS5985552A (ja) 1982-11-08 1982-11-08 マイクロ診断回路

Country Status (1)

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JP (1) JPS5985552A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62105238A (ja) * 1985-10-31 1987-05-15 Fujitsu Ltd 命令格納装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62105238A (ja) * 1985-10-31 1987-05-15 Fujitsu Ltd 命令格納装置

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