JPS599849B2 - スチ−ルコ−ドイリタイヤノケンサソウチ - Google Patents
スチ−ルコ−ドイリタイヤノケンサソウチInfo
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- JPS599849B2 JPS599849B2 JP50157264A JP15726475A JPS599849B2 JP S599849 B2 JPS599849 B2 JP S599849B2 JP 50157264 A JP50157264 A JP 50157264A JP 15726475 A JP15726475 A JP 15726475A JP S599849 B2 JPS599849 B2 JP S599849B2
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- JP
- Japan
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- tire
- circuit
- radiation
- cords
- steel
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
- G01N23/185—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter in tyres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
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-
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスチールコード入りの自動車用タイヤにスチー
ルコードが等間隔に埋設されているかどうかを検査する
装置に関する。
ルコードが等間隔に埋設されているかどうかを検査する
装置に関する。
大型自動車用のタイヤには補強層と呼ばれるタイヤの層
の一部にタイヤの横断面形状と同形状に１〜１．２ｍｍ
φ程度のスチールコード（以下コードという）を等間隔
に埋設したものがある。
の一部にタイヤの横断面形状と同形状に１〜１．２ｍｍ
φ程度のスチールコード（以下コードという）を等間隔
に埋設したものがある。
このようなスチールコード入りのタイヤは製造工程にお
いて必ずしもコードが１本づつ正確に埋め込まれるとは
限らず、コードが重なり合つたりまたコードか１本抜け
ていたりすることがある。コードが重なり合うことは問
題はないのであるが、コードが１本抜けることはタイヤ
の強度上に問題があるので、タイヤにコードが正確に埋
設されているかどうかを検査をする必要がある。従来こ
のようなタイヤの検査は、Ｘ線テレビジョンまたはＸ線
写真等によつてタイヤに埋設されたコードの映像を目視
することにより行なわれていた。
いて必ずしもコードが１本づつ正確に埋め込まれるとは
限らず、コードが重なり合つたりまたコードか１本抜け
ていたりすることがある。コードが重なり合うことは問
題はないのであるが、コードが１本抜けることはタイヤ
の強度上に問題があるので、タイヤにコードが正確に埋
設されているかどうかを検査をする必要がある。従来こ
のようなタイヤの検査は、Ｘ線テレビジョンまたはＸ線
写真等によつてタイヤに埋設されたコードの映像を目視
することにより行なわれていた。
しかしこの従来の方法では人手がかゝること、作業能率
が悪いこと等の種々の欠点があつた。本発明はこのよう
な従来の方法における欠点を除去し、スチール入りのタ
イヤの検査を自動的に行なうことのできる検査回路を得
ることを目的とする。本発明は等間隔に埋設された複数
のスチールコードを有するタイヤの側壁を挾んで対向配
設した放射線発生装置および放射線検出装置と、この放
射線発生装置と放射線検出装置の間に配設され前記各ス
チールコード間の間隔より狭い幅のスリットを有する放
射線しやへい板と、前記タイヤを保持して一定速度で回
転させる回転装置と、前記放射線検出装置より得られる
前記タイヤの各スチールコードの埋設位置を示す信号間
の間隔を測定し、その測定値を予め設定した基準値と比
較する回路とを設け、各スチールコード間の間隔を検査
するようにすることにより前記目的を達成するものであ
る。
が悪いこと等の種々の欠点があつた。本発明はこのよう
な従来の方法における欠点を除去し、スチール入りのタ
イヤの検査を自動的に行なうことのできる検査回路を得
ることを目的とする。本発明は等間隔に埋設された複数
のスチールコードを有するタイヤの側壁を挾んで対向配
設した放射線発生装置および放射線検出装置と、この放
射線発生装置と放射線検出装置の間に配設され前記各ス
チールコード間の間隔より狭い幅のスリットを有する放
射線しやへい板と、前記タイヤを保持して一定速度で回
転させる回転装置と、前記放射線検出装置より得られる
前記タイヤの各スチールコードの埋設位置を示す信号間
の間隔を測定し、その測定値を予め設定した基準値と比
較する回路とを設け、各スチールコード間の間隔を検査
するようにすることにより前記目的を達成するものであ
る。
次に本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第１図ないし第３図はそれぞれ本発明の一実施例を示す
図である。
図である。
第１図に示すものにおいて、１は測定タイヤを示し、２
はコード２０の埋め込まれた補強層部分を有する側壁を
示す。コード２０は測定タイヤの断面形状と同形状に埋
め込まれている。３はタイヤ１を定速にて回転させるた
めの回転装置を示す。
はコード２０の埋め込まれた補強層部分を有する側壁を
示す。コード２０は測定タイヤの断面形状と同形状に埋
め込まれている。３はタイヤ１を定速にて回転させるた
めの回転装置を示す。
測定タイヤ１の側壁２に対しその内部と外部に放射線発
生装置４と放射線検出装置５とが対向配置されている。
放射線発生装置４および放射線検出装置５とタイヤ１と
の間にはタイヤ１に埋め込まれたコード２０の間隔より
も狭い幅のスリツトを有する放射線しやへい板６が設け
られている。放射線発生装置４より発せられた放射線は
第２図に示すように放射線しやへい板６のスリツト６１
の幅の線束でタイヤ１の側壁部分２を透過し放射線検出
装置５によつて検出される。放射線検出装置５の出力は
微分回路またはシユミツト回路等で構成されるコード位
置検出回路７に入れられコードの埋設位置を示す、パル
ス信号Ｐに変換される。８はゲート回路１０および積分
回路１１を制御するためのコントロール回路であり、コ
ード位置検出回路７の出力パルスＰを受けるたびに、こ
の出力パルスが継続する間の期間だけゲート回路１０が
閉じ積分回路１１がりセツトされるようにこれらに信号
を送る。
生装置４と放射線検出装置５とが対向配置されている。
放射線発生装置４および放射線検出装置５とタイヤ１と
の間にはタイヤ１に埋め込まれたコード２０の間隔より
も狭い幅のスリツトを有する放射線しやへい板６が設け
られている。放射線発生装置４より発せられた放射線は
第２図に示すように放射線しやへい板６のスリツト６１
の幅の線束でタイヤ１の側壁部分２を透過し放射線検出
装置５によつて検出される。放射線検出装置５の出力は
微分回路またはシユミツト回路等で構成されるコード位
置検出回路７に入れられコードの埋設位置を示す、パル
ス信号Ｐに変換される。８はゲート回路１０および積分
回路１１を制御するためのコントロール回路であり、コ
ード位置検出回路７の出力パルスＰを受けるたびに、こ
の出力パルスが継続する間の期間だけゲート回路１０が
閉じ積分回路１１がりセツトされるようにこれらに信号
を送る。
９は定電流の基準信号を発信する基準信号発信回路でゲ
ート回路１０を介して積分回路１１に定電流信号を与え
る。
ート回路１０を介して積分回路１１に定電流信号を与え
る。
１２は測定タイヤに埋設されたコード２０の規定の間隔
を示す基準値が手動または自動にて設定されている基準
値設定回路、１３は比較回路を示し、この比較回路１３
は、積分回路１２の積分値と基準値設定回路１３の基準
値とを比較し、積分回路１２の積分値が基準値設定回路
１３の基準値よりも大きい場合に出力信号を発するよう
に作用する。
を示す基準値が手動または自動にて設定されている基準
値設定回路、１３は比較回路を示し、この比較回路１３
は、積分回路１２の積分値と基準値設定回路１３の基準
値とを比較し、積分回路１２の積分値が基準値設定回路
１３の基準値よりも大きい場合に出力信号を発するよう
に作用する。
次に動作について説明する。
第１図において回転装置３によりタイヤ１を一定速度で
回転させると、放射線しやへい板６のスリツト幅をタイ
ヤ１に埋め込まれたコード２０の隣接するコード間の間
隔より狭くしていることにより、第２図ａおよびｂに示
すように放射線発生装置４より発せられた放射線束はタ
イヤ１の側壁２のコード２０の埋設された位置およびコ
ード２０の埋設されない位置を交互に透過することにな
る。タイヤ１の側壁２を透過する放射線束は、側壁２の
コード２０の埋設された位置おいて、コード２０の埋設
されない位置におけるより、より大きく減衰するので放
射線検出装置５からは第３図ａに示すように、大きさが
交互に変化する出力信号が得られる。第３図ａの出力信
号波形において、極小点はコード２０の埋設された位置
を示し、極大点はコードの埋設されない位置を示す。こ
のような放射線検出装置５の出力信号を、例えば第３図
ａ＆ＣＥｃで示すような比較レベルを有し、入力信号が
この比較レベルより小さい間だけ一定レベルの出力信号
を発生する比較器により構成したコード位置検出回路７
に加えると、このコード位置検出回路７からは第３図ｂ
に示すようなパルス信号Ｐが得られる。
回転させると、放射線しやへい板６のスリツト幅をタイ
ヤ１に埋め込まれたコード２０の隣接するコード間の間
隔より狭くしていることにより、第２図ａおよびｂに示
すように放射線発生装置４より発せられた放射線束はタ
イヤ１の側壁２のコード２０の埋設された位置およびコ
ード２０の埋設されない位置を交互に透過することにな
る。タイヤ１の側壁２を透過する放射線束は、側壁２の
コード２０の埋設された位置おいて、コード２０の埋設
されない位置におけるより、より大きく減衰するので放
射線検出装置５からは第３図ａに示すように、大きさが
交互に変化する出力信号が得られる。第３図ａの出力信
号波形において、極小点はコード２０の埋設された位置
を示し、極大点はコードの埋設されない位置を示す。こ
のような放射線検出装置５の出力信号を、例えば第３図
ａ＆ＣＥｃで示すような比較レベルを有し、入力信号が
この比較レベルより小さい間だけ一定レベルの出力信号
を発生する比較器により構成したコード位置検出回路７
に加えると、このコード位置検出回路７からは第３図ｂ
に示すようなパルス信号Ｐが得られる。
この各パルス信号Ｐは、タイヤ１の側壁２に埋設された
コード２０の位置を示す。したがつてこのパルス信号Ｐ
は、コード２０が正常に等間隔で埋設されている場合に
は等間隔のパルス列となるがコード２０が途中で抜けて
いる場合には例えば第３図のＴａ時点において検出され
るべきコード２０が検出されないため、Ｔａ−，時点で
パルスが発生してから次にパルスが発生するのはＴａ＋
，時点となり、この間のパルス間隔は通常の間隔の２倍
となる。コントロール回路８は検出装置７からパルス信
号Ｐを受けるたびに第３図Ｃに示すようなゲート信号Ｇ
および第３図ｄに示すようなりセツト信号Ｒを発生し、
それぞれゲート回路１０および積分回路１１に与える。
コード２０の位置を示す。したがつてこのパルス信号Ｐ
は、コード２０が正常に等間隔で埋設されている場合に
は等間隔のパルス列となるがコード２０が途中で抜けて
いる場合には例えば第３図のＴａ時点において検出され
るべきコード２０が検出されないため、Ｔａ−，時点で
パルスが発生してから次にパルスが発生するのはＴａ＋
，時点となり、この間のパルス間隔は通常の間隔の２倍
となる。コントロール回路８は検出装置７からパルス信
号Ｐを受けるたびに第３図Ｃに示すようなゲート信号Ｇ
および第３図ｄに示すようなりセツト信号Ｒを発生し、
それぞれゲート回路１０および積分回路１１に与える。
このためゲート回路１０は第３図ｅに示すようにパルス
信号が継続する期間は開き、隣合うパルス信号の間で閉
じるようになる。ゲート回路１０が閉じると、基準信号
発信回路９で発生される定電流信号Ｓがゲート回路１０
を介して積分回路１１に与えられ、ここで積分される。
この積分回路１１の積分動作は、パルス信号の１つのパ
ルスが発生してから、次にパルスが発生するまで各期間
毎に行なわれるので、この積分回路１１の積分値１ｓは
、パルス信号の発生間隔に対応した値となる。したがつ
てコード２０が等間隔で埋設されているとすると、積分
回路１１の積分値１ｓは、タイヤ１の径、エンド数（５
０１１ｇｔ内に埋設されたコード２０の数）、回転装置
３の回転数および基準信号発信回路の定電流信号Ｓの大
きさによつて決まる一定の値となる。もし途中でコード
２０が１本抜けているとするとその個所におけるパルス
信号の発生間隔が通常の２倍に延びるので積分回路１１
の積分値も通常の値の２倍の値となる。積分回路１１の
積分値Ｅ１は遂次、基準値設定回路１２に予め設定され
た前記諸条件によつて決められた基準値Ｅｓと、比較回
路１３によつて比較される。
信号が継続する期間は開き、隣合うパルス信号の間で閉
じるようになる。ゲート回路１０が閉じると、基準信号
発信回路９で発生される定電流信号Ｓがゲート回路１０
を介して積分回路１１に与えられ、ここで積分される。
この積分回路１１の積分動作は、パルス信号の１つのパ
ルスが発生してから、次にパルスが発生するまで各期間
毎に行なわれるので、この積分回路１１の積分値１ｓは
、パルス信号の発生間隔に対応した値となる。したがつ
てコード２０が等間隔で埋設されているとすると、積分
回路１１の積分値１ｓは、タイヤ１の径、エンド数（５
０１１ｇｔ内に埋設されたコード２０の数）、回転装置
３の回転数および基準信号発信回路の定電流信号Ｓの大
きさによつて決まる一定の値となる。もし途中でコード
２０が１本抜けているとするとその個所におけるパルス
信号の発生間隔が通常の２倍に延びるので積分回路１１
の積分値も通常の値の２倍の値となる。積分回路１１の
積分値Ｅ１は遂次、基準値設定回路１２に予め設定され
た前記諸条件によつて決められた基準値Ｅｓと、比較回
路１３によつて比較される。
比較回路１３は積分値Ｅ１が基準値Ｅｓより大きくなつ
たときだけ出力信号０を発生する。このため比較回路１
３は、正規の間隔でパルス信号Ｐの発生する第３図にお
けるＴａ−３〜ＴａおよびＴａ＋１〜Ｔａ＋２の各時点
間では第３図ｆに示すように積分回路１１の積分値Ｅ１
は基準値Ｅｓより大きくなることがないので、出力信号
を発生することはないがコード２０の抜けによつてパル
ス信号の欠けたＴａ−Ｔａ七時点間で、積分値Ｅ１が基
準値Ｅｓより大きくなるので、第３図ｇに示すように出
力信号０ｓを発生する。このように積分回路１１の積分
値Ｅ１が基準値Ｅｓより大きくなることは、コード２０
が抜けて、パルス信号Ｐの発生間隔が大きくなつたこと
を示すので、比較回路１３の出力信号０ｓによりコード
２０の抜けを検出することができる。前記実施例におい
ては基準信号発信回路９に定電流信号発信回路を用いて
いるが、これの代りに定周波パルス信号発信回路を用い
ることもできる。
たときだけ出力信号０を発生する。このため比較回路１
３は、正規の間隔でパルス信号Ｐの発生する第３図にお
けるＴａ−３〜ＴａおよびＴａ＋１〜Ｔａ＋２の各時点
間では第３図ｆに示すように積分回路１１の積分値Ｅ１
は基準値Ｅｓより大きくなることがないので、出力信号
を発生することはないがコード２０の抜けによつてパル
ス信号の欠けたＴａ−Ｔａ七時点間で、積分値Ｅ１が基
準値Ｅｓより大きくなるので、第３図ｇに示すように出
力信号０ｓを発生する。このように積分回路１１の積分
値Ｅ１が基準値Ｅｓより大きくなることは、コード２０
が抜けて、パルス信号Ｐの発生間隔が大きくなつたこと
を示すので、比較回路１３の出力信号０ｓによりコード
２０の抜けを検出することができる。前記実施例におい
ては基準信号発信回路９に定電流信号発信回路を用いて
いるが、これの代りに定周波パルス信号発信回路を用い
ることもできる。
この場合は積分回路１１にパルス計数回路を用いて、定
周波パルス信号をデイジタル的に積分するようにする。
そして、基準値設定回路１２および比較回路１３もデイ
ジタル回路に変更すればよいのである。前記したように
、本発明によれば、タイヤに等間隔で埋設されるべきス
チールコードがタイヤに正しく埋設されているかどうか
を、タイヤの製造後、自動的に検査を行なうことができ
るので、この種のタイヤの検査を能率よく、かつ省力的
に行なうことができる効果がある。
周波パルス信号をデイジタル的に積分するようにする。
そして、基準値設定回路１２および比較回路１３もデイ
ジタル回路に変更すればよいのである。前記したように
、本発明によれば、タイヤに等間隔で埋設されるべきス
チールコードがタイヤに正しく埋設されているかどうか
を、タイヤの製造後、自動的に検査を行なうことができ
るので、この種のタイヤの検査を能率よく、かつ省力的
に行なうことができる効果がある。
なお、本発明装置において放射線発生装置を上下両方向
に放射線を発するようにし、放射線検出装置をタイヤの
外部の上下に１対設け、その他の検査回路も２系統設け
るようにすればタイヤの上下両側壁のスチールコードの
配列を同時に検査することが可能となり、便利である。
に放射線を発するようにし、放射線検出装置をタイヤの
外部の上下に１対設け、その他の検査回路も２系統設け
るようにすればタイヤの上下両側壁のスチールコードの
配列を同時に検査することが可能となり、便利である。
第１図は本発明の実施例を示すプロツク構成図、第２図
Ａ，ｂは放射線の透過過程を示す図、第３ノ図は第１図
の各プロツクの信号波形図である。 １：タイヤ、２０：スチールコード、４：放射線発生器
、５：放射線検出装置、６：放射線しやへい板、７リコ
ード位置検出回路、８：コントロール回路、９：基準信
号発信回路、１０：ゲートτ回路、１１：積分回路、１
２：基準値設定回路、１３：比較回路。
Ａ，ｂは放射線の透過過程を示す図、第３ノ図は第１図
の各プロツクの信号波形図である。 １：タイヤ、２０：スチールコード、４：放射線発生器
、５：放射線検出装置、６：放射線しやへい板、７リコ
ード位置検出回路、８：コントロール回路、９：基準信
号発信回路、１０：ゲートτ回路、１１：積分回路、１
２：基準値設定回路、１３：比較回路。
Claims (1)
- １ 等間隔に埋設された複数のスチールコードを有する
タイヤの側壁を間に挾んで対向配設した放射線発生装置
および放射線検出装置と、この放射線発生装置と放射線
検出装置の間に配設され前記スチールコードの間隔より
狭い幅のスリットを有する放射線しやへい板と、前記タ
イヤを保持し定速度で回転させる回転装置と、前記放射
線検出装置の出力より得られる前記タイヤの各スチール
コードの埋設位置を示す信号間の間隔を測定し、その測
定値を予め設定した基準値と比較する回路とを設けてな
ることを特徴とするスチールコード入りタイヤの検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50157264A JPS599849B2 (ja) | 1975-12-26 | 1975-12-26 | スチ−ルコ−ドイリタイヤノケンサソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50157264A JPS599849B2 (ja) | 1975-12-26 | 1975-12-26 | スチ−ルコ−ドイリタイヤノケンサソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5280082A JPS5280082A (en) | 1977-07-05 |
| JPS599849B2 true JPS599849B2 (ja) | 1984-03-05 |
Family
ID=15645843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50157264A Expired JPS599849B2 (ja) | 1975-12-26 | 1975-12-26 | スチ−ルコ−ドイリタイヤノケンサソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS599849B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61102566U (ja) * | 1984-12-10 | 1986-06-30 | ||
| US11422379B2 (en) | 2019-10-30 | 2022-08-23 | Seiko Epson Corporation | Head-mounted display apparatus and display method adopting interpupillary distance based image modification |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5838992Y2 (ja) * | 1979-07-13 | 1983-09-02 | 株式会社 ニフコ | 管形ヒユ−ズ用着脱、保持装置 |
| JPS58110846U (ja) * | 1982-01-25 | 1983-07-28 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 放射線測定装置用自動しきい値電圧設定装置 |
| JPS59143284U (ja) * | 1983-03-17 | 1984-09-25 | 松下電器産業株式会社 | 氷削り兼氷粉砕機 |
| JPH01132950A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Sumitomo Rubber Ind Ltd | ゴム引コード布の検査方法および装置 |
-
1975
- 1975-12-26 JP JP50157264A patent/JPS599849B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61102566U (ja) * | 1984-12-10 | 1986-06-30 | ||
| US11422379B2 (en) | 2019-10-30 | 2022-08-23 | Seiko Epson Corporation | Head-mounted display apparatus and display method adopting interpupillary distance based image modification |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5280082A (en) | 1977-07-05 |
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