JPH04213007A - 円形物体の形状測定方法及びこの方法を用いた形状測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、硬貨等の円形物体の径
その他の形状を検出してその円形物体の選別を行うため
の方法及びこの方法を用いた装置に関し、特に、光を円
形物体に照射した際の光の遮断状態を検知する光電変換
手段の出力信号を信号処理することにより円形物体の形
状を計測する技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光学的に円形物体の外径を測定す
る方法としては、円形物体の通過方向に対して直角の方
向に配列されたフォトダイオード等からなる多数の画素
列を有するイメージセンサを設置し、円形物体の上から
画素列上に向けて光を照射し、円形物体によって光が遮
られることによって、上記画素列の上に形成された影の
部分の画素数を検出し、この総画素数から円径物体の外
径を測定していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の外径測定方法においては、円形物体が光を遮る部分
の総画素数によって円形物体の外径を求めるものである
ため、円径物体に穴が形成されている場合には、この穴
により総画素数が減少して正確な外径測定が不可能とな
るという問題点があった。

【０００４】これに加えて、円形物体の穴の有無及びそ
の内径を検出することも不可能であり、円形物体の外周
縁の欠け、歪み、凹凸を探知して不良品を選別すること
は到底できなかった。したがって、円形物体の種類を判
別することも困難であり、細かな異常を発見して選別す
ることができないという問題点もあった。

【０００５】そこで、本発明は、上記問題点を解決する
ものであり、その課題は、円径物体の遮光によって形成
される影の領域にある画素数ではなく、その領域の境界
部分の画素位置を検出することにより、穴の有無に拘わ
らず円径物体の正確な外径測定を可能とし、更に、円径
物体の穴の有無、その内径及び真円度を検出できる方法
及び装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明が講じた手段として、まず、形状測定方法
としては、円形物体の通過する通路上に光を照射し、こ
の通路に対して直交する所定方向に配列された複数の画
素に光が照射されたか否かを光電変換手段により電気信
号として検出し、その所定方向に沿って光の非遮蔽部か
ら遮蔽部に転ずる第１の臨界領域に存在する画素の第１
のアドレスと、同所定方向に沿って光の遮蔽部から非遮
蔽部に転ずる第２の臨界領域に存在する画素の第２のア
ドレスと、を検出し、円形物体の通過に従い変動する第
１のアドレスと第２のアドレスの差の最大値に基づいて
円形物体の径を算出するものである。

【０００７】この場合に、複数組の第１のアドレス及び
第２のアドレスが検出されるか否かに基づいて円形物体
に穴が存在するか否かを検知するとともに、複数組の第
１のアドレス及び第２のアドレスが検出された場合には
、それらの複数組のうち最も離間した第１のアドレスと
第２のアドレスの差の最大値に基づいて円形物体の外径
を測定するものである。

【０００８】また、複数組の第１のアドレス及び第２の
アドレスを検出し、これらの複数組のうち最も離隔した
第１のアドレスと第２のアドレスから円形物体の外径を
算出し、その他の１又は複数組の第１のアドレスと第２
のアドレスの差に基づいて円形物体の内径を算出するも
のである。

【０００９】ここで、円形物体の通過に伴って変化する
複数の第１のアドレスと第２のアドレスの差を真円弦長
の基準値と比較して円形物体の真円度を判定する場合が
ある。この場合、真円弦長の基準値は、算出された円形
物体の径ｙと直径からの距離ｘとを用いて、関数Ｆ（ｘ
）＝ｙ・ｓｉｎ（ｃｏｓ−１（２ｘ／ｙ））を算出して
得られた値とすることが望ましい。

【００１０】上記各手段においては、円形物体が硬貨で
ある場合がある。

【００１１】一方、円径物体の形状測定装置としては、
円形物体の通過する通路上に光電変換手段を有し、この
光電変換手段には、円形物体の通過方向に対して直交す
る所定方向に光を検出すべき複数の画素が配列され、そ
の所定方向に向かって非遮蔽部から遮蔽部に転ずる第１
の臨界領域に位置する画素の第１のアドレスと、同所定
方向に向かって遮蔽部から非遮蔽部に転ずる第２の臨界
領域に位置する画素の第２のアドレスと、を検出すべき
アドレス検出手段と、第１のアドレスと第２のアドレス
の差の最大値に基づいて円形物体の径を算出すべき演算
手段と、を設けるものである。

【００１２】この場合に、アドレス検出手段には、複数
組の第１のアドレス及び第２のアドレスを検出するか否
かに基づいて円形物体に穴が存在するか否かを検知させ
るとともに、演算手段には、複数組の第１のアドレス及
び第２のアドレスが存在する場合には、最も離間した第
１のアドレスと第２のアドレスの差に基づいて円形物体
の外径を算出させるものである。

【００１３】また、アドレス検出手段には、複数組の第
１のアドレス及び第２のアドレスを検出させて、演算手
段には、最も離隔した第１のアドレスと第２のアドレス
の差に基づいて円形物体の外径を算出するとともに、そ
の他の１又は複数組の第１のアドレスと第２のアドレス
の差に基づいて円形物体に形成された穴の内径を算出さ
せるものである。

【００１４】ここで、演算手段に、円形物体の通過に伴
って変化する第１のアドレスと第２のアドレスの差を真
円弦長の基準値と比較し、円形物体の真円度を判定させ
る場合があり、この場合、演算手段により、算出された
前記円形物体の径ｙと直径からの距離ｘを用いて、関数
Ｆ（ｘ）＝ｙ・ｓｉｎ（ｃｏｓ−１（２ｘ／ｙ））を算
出し、このＦ（ｘ）の値を真円弦長の基準値として用い
ることが望ましい。

【００１５】上記各装置においても、円形物体が硬貨で
ある場合がある。

【００１６】

【作用】かかる手段によれば、円形物体が通過すると光
電変換手段の複数の画素上には円形物体の影が落ちるの
で、円形物体に覆われない部分には光が到達し、影に覆
われた部分には光が到達しない。したがって、光電変換
手段上には、その画素列の一方向に沿って光の到達する
部分（非遮蔽部）から光の到達しない部分（遮蔽部）に
転ずる臨界領域と、逆に光の到達しない部分（遮蔽部）
から光の到達する部分（非遮蔽部）に転ずる臨界領域と
が形成される。これらの両臨界領域に存在する画素の第
１及び第２のアドレスを検出してこの両者の差を算出し
、円形物体の通過に伴って変化する差の最大値をもって
、円形物体の外径を求めることができる。

【００１７】この方法及びこの方法を利用した測定装置
によれば、影の部分にある総画素数に基づいて径を検出
する従来の方法とは異なり、円形物体に穴が形成されて
いる場合でも、何ら補助的な手段を設けることなく、そ
の穴の存在に全く影響されずに正確に外径を求めること
ができる。

【００１８】また、円形物体に１又は複数の穴が形成さ
れている場合には、複数組の第１及び第２のアドレスが
存在することとなるが、このことを利用して、複数組の
第１及び第２のアドレスの存否に基づいて、円形物体に
穴が存在するか否かを検知することができる。この場合
には、最も離間している第１のアドレスと第２のアドレ
スとの差に基づいて外径を知ることができるが、この外
径の検出は、上記他の第１及び第２のアドレスとは無関
係に算出されるものであり、円形物体に穴が存在するか
否かには全く影響されず全く独立に、外径を精度良く求
めることができる。

【００１９】更に、複数組の第１及び第２のアドレスが
存在する場合には、最も離間した第１及び第２のアドレ
スの組以外の組の第１のアドレスと第２のアドレスの差
に基づいて、円形物体に形成された穴の内径を検出する
ことができる。

【００２０】上記の各手段においては、第１のアドレス
と第２のアドレスとを区別して検出するので、両者の差
に基づいて算出される外径及び内径の測定ミスを防止す
ることができ、測定の確実性及び精度の向上を図ること
ができる。

【００２１】次に、円形物体の通過に伴って変動する第
１のアドレスと第２のアドレスとの差を真円弦長の基準
値と比較する場合には、その比較する両者の差が一定値
を越えた場合、円形物体の真円に対する形状のずれを求
めることができ、外周縁に凹凸、欠け、傷、歪みが生じ
ていることを知ることができる。したがって、これらの
外周縁形状の全体像を把握することができ、細かな異常
を発見することが可能となる。

【００２２】その真円弦長の基準値として最初の手段に
よって求めた外径値から求めたＦ（ｘ）を用いる場合に
は、予め形状を知るための基準値を設定しておく必要が
なく、任意の径をもつ円形物体に対応できる。

【００２３】以上の各手段を硬貨の選別方法又は選別装
置として用いる場合には、穴の形成されている硬貨の選
別のための別個の手段を講じる必要がなく、この穴或い
は悪戯によって開けられた穴の存否、その内径及び外周
縁の凹凸、傷、欠け、歪み等の形状を精度よく検知する
ことができ、細かな異常も検出可能となり、従来よりも
硬貨の選別能力が大幅に高められる。

【００２４】

【実施例】次に、本発明に係る円形物体の形状測定方法
及びこの方法を用いた形状測定装置の実施例を添付図面
により説明する。

【００２５】 （第１実施例） 図１は、本発明に係る実施例における第１実施例の装置
の全体構成を示したブロック図である。この第１実施例
は硬貨の外径、内径等を検出するためのものである。検
出部１には、円形物体２の通路の上方に設置されたＬＥ
Ｄ３と、イメージセンサ駆動回路４とが設けられており
、イメージセンサ駆動回路４には、通路方向に対して直
角方向に配列された複数の画素５ａを備えた受光部５が
通路の下方に設置されている。円形物体は、図３に示す
ように、通路上を搬送ベルト４０により移動するように
なっており、円形物体が受光部５にさしかかると、搬送
ベルト４０のみによって形成されていた影が円形物体に
より拡大し、その直径部分が通過する際に、受光部５に
最大幅の影が形成される。

【００２６】このイメージセンサ駆動回路４からは、受
光部５に配列された各画素５ａを走査するクロック信号
ＶＤＣＬＫとともに、このクロック信号ＶＤＣＬＫに基
づいて走査されたシリアルデータがビデオ信号ＶＤＳと
して出力される。このビデオ信号ＶＤＳがシフトレジス
タＨ７ａとシフトレジスタＬ７ｂとに入力される一方で
、クロック信号ＶＤＣＬＫが遅延回路６に入力されて遅
延クロックＣＬＫＣが形成され、この遅延クロックＣＬ
ＫＣもシフトレジスタＨ７ａとシフトレジスタＬ７ｂに
入力されている。これらのシフトレジスタＨ７ａとシフ
トレジスタＬ７ｂの出力信号は、２つのＮＡＮＤ回路８
ａ及び８ｂに入力され、立ち上がりエッジ信号ＵＦＬＧ
及び立ち下がりエッジ信号ＤＦＬＧとなってラッチ回路
１０に導入される。このラッチ回路１０は、遅延クロッ
クＣＬＫＣを入力して画素アドレスを特定すべきカウン
タ回路９の信号を受けて立ち上がりエッジ信号ＵＦＬＧ
及び立ち下がりエッジ信号ＤＦＬＧに対応するアドレス
信号を入力ポート１１に転送し、このアドレス信号は、
データバス１２を介してＣＰＵ１４に送られて演算処理
の対象となる。この演算処理されたデータはＲＡＭ１３
に送られて一時的に記憶されるとともに、ＣＰＵ１４に
再度送出されて演算処理される。

【００２７】図２には、円形物体２が有効総画素数２５
９２をもつ受光部５上の画素アドレス０１１２から画素
アドレス２５２１までの範囲に影を形成している状態に
おいて、上記の各構成部分における信号波形を示す。図
２（ａ）に示すスキャン開始信号ＳＳＴＡＲＴがイメー
ジセンサ回路４に入力されると、図２（ｂ）に示すビデ
オ信号転送クロック信号ＶＤＣＬＫに同期して画素５ａ
が配列順に走査され、図２（ｃ）に示すように、立ち上
がりエッジを画素アドレス０１１２に対応する時点に、
立ち下がりエッジを画素アドレス２５２１に対応する時
点に、それぞれ備えたビデオ信号ＶＤＳが出力される。 このビデオ信号ＶＤＳ中にシリアルデータとして包含さ
れた各画素５ａの受光状態は、シフトレジスタＨ７ａ，
シフトレジスタＬ７ｂに入力され、遅延クロックＣＬＫ
Ｃに同期してパラレルデータとして出力されるが、立ち
上がりエッジと立ち下がりエッジがそれぞれ図２（ｅ）
に示す状態となるタイミングで、ＮＡＮＤ回路８ａから
、図２（ｆ）に示す立ち上がりエッジフラグＵＦＬＧが
出力され、ＮＡＮＤ回路８ａからは、図２（ｇ）に示す
立ち下がりエッジフラグＤＦＬＧが出力される。この立
ち上がりエッジフラグＵＦＬＧと立ち下がりエッジフラ
グＤＦＬＧのパルスタイミングで、遅延クロックＣＬＫ
Ｃが入力されて画素アドレスを表示するカウンタ回路９
の出力信号をラッチし、入力ポート１１に送出する。 この信号は、前記の画素アドレス０１１２及び２５２１
をデータ内容とするものであり、データバス１２を通し
てＣＰＵ１４に送られる。

【００２８】ところで、例えば、図３に示すように通過
経路の中央に搬送ベルト４０が配置されている場合には
、硬貨の通過しない時点では搬送ベルト４０の影による
一定周期のエッジ検出申告信号がＣＰＵ１４に送信され
、言わば、待機状態となっている。ここで、硬貨が受光
部５上にさしかかると、立ち上がりエッジフラグＵＦＬ
Ｇと立ち下がりエッジフラグＤＦＬＧのパルスのタイミ
ングが変わるので、エッジ検出申告信号のパルスタイミ
ングも変化し、この変化を契機に、ＣＰＵ１４は入力ポ
ート１１を介して導入されるデータに基づいて外径測定
を開始する。即ち、そのデータから得られる２つの画素
アドレスの差（２５２１−０１１２＝２４０９）が一時
的な外径値として計算され、この外径値とともにＲＡＭ
１３に送られて記憶される。この外径値は、円形物体の
移動に伴って、順次より大きな外径値と置き換えられる
か、若しくは順番に蓄積されて、最終的に円形物体が通
過した時点でそれらのうちの最大値が円形物体の真の外
径値として記憶される。

【００２９】なお、図１中のＯＲ回路１５は、図２（ｈ
）に示すエッジ検出申告信号ＥＤＧＥをラッチ回路１０
及びＣＰＵ１４に出力し、ラッチタイミングをとる。ま
た、ＮＡＮＤ回路１６は、総画素数のカウント終了時を
ＣＰＵ１４に伝達するとともに、カウンタ回路９の出力
をクリアするためのものである。

【００３０】図４に示すように、穴４１が形成された円
形物体２′をも計測する場合には、予め搬送ベルト４０
を通路の中央部から外れた位置に設置しておくことによ
り、受光部５上に穴４１に基づく非遮蔽部が形成され、
この非遮蔽部により、ビデオ信号ＶＤＳにもう１組の立
ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジが発生するので、
検出される画素アドレスは、図５に示すように、Ｂ，Ｃ
，Ｄ，Ｅの合計４つとなる。この場合には、画素アドレ
スの最小値Ｂと最大値Ｅの差に基づいて円形物体の外径
を算出し、中間の画素アドレスＣとＤの差からは、円形
物体の内径を算出することができる。

【００３１】上記の搬送ベルト４０を受光部５上にかか
らないように配置すれば、円形物体に形成された穴の位
置に依らず、常に穴の存否及びその内径を測定すること
ができる。

【００３２】本実施例によれば、円形物体の外径は常に
最も離間した画素アドレスの差によって算出されるので
、円形物体に穴が形成されている場合でも、その穴の存
在に全く影響されずに、円形物体の外径を測定すること
ができる。また、ビデオ信号ＶＤＳの立ち上がりエッジ
と立ち下がりエッジとがそれぞれ別個に区別して検出さ
れることから、外径算出のエラーを防止することができ
、従来よりも確実に外径測定を行うことができる。

【００３３】また、円形物体に穴が形成されている場合
には外径に対応する１組の画素アドレスの他に、その１
組の画素アドレスの中間に１又は複数組の画素アドレス
が検出されるので、穴の存否を容易に知ることができ、
更に、その１又は複数組の画素アドレスから、１又は複
数の穴の内径を算出することができる。

【００３４】これらの穴の内径も、別個に取り出された
ビデオ信号ＶＤＳの立ち下がりエッジと立ち上がりエッ
ジに基づいて得られることから、他の組の画素アドレス
との誤認混同を回避し、内径算出エラーを防止すること
ができる。

【００３５】検出部１の構造に関しては、上記実施例に
よるものの他に、図６に示すような等倍レンズアレイ５
０を用いたものとすることもできる。

【００３６】この実施例を硬貨選別方法又は選別装置と
して用いる場合には、硬貨に穴があるか否かに拘わらず
、同一の手段で外径及び穴の有無もしくは内径を求める
ことができるので、硬貨選別の確実性及び対応性の向上
を図ることができる。更に、この場合には、硬貨に悪戯
による穴が形成されている等の異常をも検出することが
できる。この硬貨選別においては、本実施例に材質セン
サ等の他の選別手段を組合せて使用することができるこ
とは勿論である。

【００３７】 （第２実施例） 次に、本発明に係る第２実施例を説明する。この第２実
施例は、硬貨等の外周縁の真円度を判定するものであり
、装置全体の構成は、第１実施例と同様に図１に示すも
のと同一である。この実施例では、円形物体の通過に伴
って順次得られていく画素アドレスの差の全て又は一部
をＲＡＭ１３に収納しておき、画素アドレスの差の最大
値が得られると、これを通過物体の外径値ｙとして確定
する。この外径値ｙの得られた時点を基準として、その
前後で対称的な時間間隔を複数設定し、各時点で得られ
ていた画素アドレスの差を取り出す。この様子を表１に
示す。

【００３８】

【表１】

【００３９】ここで、距離ｘとは、画素アドレスの差が
得られた時点と硬貨の搬送速度とから算出したものであ
り、外径値ｙの得られた時点における硬貨の位置からの
移動量を示すものである。

【００４０】次に、上記外径値ｙを用いて、以下の式か
らＦ（ｘ）の値を計算する。

【００４１】 Ｆ（ｘ）＝ｙ・ｓｉｎ（ｃｏｓ−１（２ｘ／ｙ））ここ
で、式中のｘには、先に取り出した表１に示すデータの
距離ｘを代入する。この式でＦ（ｘ）は、図７に示すよ
うに、直径ｙの真円において、この直径と平行で距離ｘ
離れた弦の長さを表すものである。この結果、各距離ｘ
の値に対して真円の弦長が算出され、以下の表２に示す
ようになる。

【００４２】

【表２】

【００４３】このようにして算出した真円の弦長と実際
に検出された画素アドレスの差とを比較することによっ
て、通過した硬貨形状の真円からのずれを判定すること
ができる。例えば、約２６．５ｍｍの外径値ｙを持つ５
百円硬貨を通過させた場合、この実施例では１画素が１
１μｍの幅を持っているので、画素アドレスの差の最大
値が２４０９画素となるが、この値を基準として直径か
ら＋／−５ｍｍ、＋／−１０ｍｍ離れた弦長を算出する
と、真円弦長Ｆ（ｘ）は図８に示すようになる。これに
対して、同様の外径値ｙが検出される１０角形、楕円、
及び一部外周に欠けと突起が形成された３種類の５百円
硬貨を通過させた場合には、図９（ａ）から（ｃ）まで
に示す、検出される画素アドレスの差と、この画素アド
レスの差から前記真円弦長Ｆ（ｘ）を減算した値Ｓ（ｘ
）とが得られる。このＳ（ｘ）の絶対値や分散に基づい
て硬貨の良不良を判定することができるので、従来より
も格段に細かな硬貨の選別が可能になるとともに、その
形状自体を精度良く検出し再現することができる。 この際の判定に使用される比較データの数は、特別に回
路構成、算出プログラムの変更をせずとも増加すること
が可能であり、その増加によって、例えば硬貨の外周縁
に形成された凹凸（ぎざぎざ）の有無をも判定すること
ができる。

【００４４】本実施例では、検出した外径値を基に真円
度を判定するものであり、任意径の物体に対する形状把
握を可能としたものであるが、画素アドレスの差の最大
値によって得られた外径値を基に真円弦長を算出する代
わりに、予め１種若しくは複数種類の直径を有する真円
弦長のデータを保持しておき、これらのデータと画素ア
ドレスの差との比較を行うこともできる。また、この場
合、画素アドレスの差の最大値によって得られた外径値
によって複数種類の中から１つのデータを選択し、この
データとの比較をすることも可能である。

【００４５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、円形物
体の影を光電変換手段の画素列によって検出し、その影
の臨界部分の第１の画素アドレスと第２の画素アドレス
とを検出することにより、この１又は複数組の第１及び
第２のアドレスから円形物体の外径及びその穴の有無若
しくは内径その他の形状を求めることに特徴を有するの
で、以下の効果を奏する。

【００４６】■　　円形物体の外径を穴の有無とは無関
係な方法で、第１のアドレスと第２のアドレスのみに基
づいて算出し、しかも、第１のアドレスと第２のアドレ
スとは区別して検出することが可能であるから、外径測
定の精度向上及び算出エラーの防止を図ることができる
。

【００４７】■　　別個の手段を設けることなく、円形
物体の穴の有無又はその内径を外径測定と同時平行して
求めることが可能であり、穴の内径を外径測定と同様に
高精度かつ確実に行うことができる。

【００４８】■　　順次測定した画素アドレスの差のデ
ータを真円弦長のデータと比較することにより、円形物
体の全体像の情報を得ることができ、外周縁における凹
凸、欠け、傷、変形等を細かく検知して、選別精度の向
上を図ることができる。ここで、真円弦長のデータを測
定した外径値を基に算出して比較する場合には、任意径
の物体に対して判定を行うことが可能となる。

【００４９】■　　上記各手段を硬貨選別方法又は選別
装置として用いる場合には、例えば、悪戯による穴あき
、欠け、傷、変形その他細部の異常をも検出することが
可能であり、選別の確実性及び対応性の向上を図ること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る円形物体の径測定方法又は測定装
置の実施例の全体構成を示すブロック図である。

【図２】図１における各ブロックの動作を説明するため
の波形図である。

【図３】円形物体が通路を移動する状態を示す平面図で
ある。

【図４】穴の形成された円径物体が通路を移動する状態
を示す平面図である。

【図５】検出データがＲＡＭ内に記憶された状態を示す
概念図である。

【図６】検出部の別の例を示す斜視図である。

【図７】測定された外径値から真円の弦長Ｆ（ｘ）を算
出する式を説明するための説明図である。

【図８】５百円硬貨を通過させた場合に、その測定デー
タと比較すべき真円弦長Ｆ（ｘ）の値を示す説明図であ
る。

【図９】（ａ）は１０角形状を備えた５百円硬貨、（ｂ
）は楕円形状を備えた５百円硬貨、（ｃ）は一部外周に
欠け及び突起を備えた５百円硬貨について、それぞれ測
定された画素アドレスの差とこの画素アドレスの差から
真円弦長Ｆ（ｘ）を減算した値Ｓ（ｘ）とを示す説明図
である。

【符号の説明】

１　　検出部 ２　　円形物体（硬貨） ３　　ＬＥＤ ４　　イメージセンサ駆動回路 ５　　受光部 ６　　画素 ７ａ　　シフトレジスタＨ ７ｂ　　シフトレジスタＬ ８ａ，８ｂ　　ＮＡＮＤ回路 ９　　カウンタ回路 １０　　ラッチ回路 １１　　入力ポート １３　　ＲＡＭ １４　　ＣＰＵ。

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　円形物体の通過する通路上に光を照射
   し、該通路に対して直交する所定方向に配列された複数
   の画素上に光が照射されたか否かを光電変換手段により
   電気信号として検出し、前記所定方向に沿って光の非遮
   蔽部から遮蔽部に転ずる第１の臨界領域に存在する前記
   画素の第１のアドレスと、前記所定方向に沿って光の遮
   蔽部から非遮蔽部に転ずる第２の臨界領域に存在する前
   記画素の第２のアドレスと、を検出し、前記円形物体の
   通過に従い変動する前記第１のアドレスと前記第２のア
   ドレスの差の最大値に基づいて前記円形物体の径を算出
   することを特徴とする円形物体の形状測定方法。
2. 【請求項２】　　請求項１に記載の円形物体の形状測定
   方法において、複数組の前記第１のアドレス及び前記第
   ２のアドレスが検出されるか否かに基づいて前記円形物
   体に穴が存在するか否かを検知するとともに、複数組の
   前記第１のアドレス及び前記第２のアドレスが検出され
   た場合には、それらの複数組のうち最も離間した前記第
   １のアドレスと前記第２のアドレスの差の最大値に基づ
   いて前記円形物体の外径を測定することを特徴とする円
   径物体の形状測定方法。
3. 【請求項３】　　請求項１に記載の円形物体の形状測定
   方法において、複数組の前記第１のアドレス及び前記第
   ２のアドレスを検出し、これらの複数組のうち最も離隔
   した前記第１のアドレスと前記第２のアドレスから前記
   円形物体の外径を算出し、その他の１又は複数組の前記
   第１のアドレスと前記第２のアドレスの差に基づいて前
   記円形物体に形成された穴の内径を算出することを特徴
   とする円形物体の径測定方法。
4. 【請求項４】　　請求項１に記載の円形物体の形状測定
   方法において、前記円形物体の通過に伴って変化する複
   数の前記第１のアドレスと前記第２のアドレスの差を真
   円弦長の基準値と比較して前記円形物体の真円度を判定
   することを特徴とする円形物体の形状測定方法。
5. 【請求項５】　　請求項４に記載の円形物体の形状測定
   方法において、前記真円弦長の基準値は、算出された前
   記円形物体の径ｙと直径からの距離ｘを用いて、関数Ｆ
   （ｘ）＝ｙ・ｓｉｎ（ｃｏｓ−１（２ｘ／ｙ））を算出
   して得られた値であることを特徴とする円形物体の形状
   測定方法。
6. 【請求項６】　　請求項１から請求項５までの何れか１
   項に記載の円形物体の形状測定方法において、前記円形
   物体は硬貨であることを特徴とする円形物体の形状測定
   方法。
7. 【請求項７】　　円形物体の通過する通路上に光電変換
   手段を有し、該光電変換手段には、前記円形物体の通過
   方向に対して直交する所定方向に光を検出すべき複数の
   画素が配列され、前記所定方向に向かって非遮蔽部から
   遮蔽部に転ずる第１の臨界領域に位置する前記画素の第
   １のアドレスと、前記所定方向に向かって遮蔽部から非
   遮蔽部に転ずる第２の臨界領域に位置する前記画素の第
   ２のアドレスと、を検出すべきアドレス検出手段と、前
   記第１のアドレスと前記第２のアドレスの差の最大値に
   基づいて前記円形物体の径を算出すべき演算手段と、を
   有することを特徴とする円形物体の形状測定装置。
8. 【請求項８】　　請求項７に記載の円形物体の形状測定
   装置において、前記アドレス検出手段は、複数組の前記
   第１のアドレス及び前記第２のアドレスを検出するか否
   かに基づいて前記円形物体に穴が存在するか否かを検知
   し、前記演算手段は、複数組の前記第１のアドレス及び
   前記第２のアドレスが存在する場合には、最も離間した
   前記第１のアドレスと前記第２のアドレスの差に基づい
   て前記円形物体の外径を算出することを特徴とする円径
   物体の形状測定装置。
9. 【請求項９】　　請求項７に記載の円形物体の形状測定
   装置において、前記アドレス検出手段は、複数組の前記
   第１のアドレス及び前記第２のアドレスを検出し、前記
   演算手段は、最も離隔した前記第１のアドレスと前記第
   ２のアドレスの差に基づいて前記円形物体の外径を算出
   し、その他の１又は複数組の前記第１のアドレスと前記
   第２のアドレスの差に基づいて前記円形物体に形成され
   た穴の内径を算出することを特徴とする円形物体の形状
   測定装置。
10. 【請求項１０】　　請求項７に記載の円形物体の形状測
    定装置において、前記演算手段は、前記円形物体の通過
    に伴って変化する前記第１のアドレスと前記第２のアド
    レスの差を真円弦長の基準値と比較し、前記円形物体の
    真円度を判定することを特徴とする円形物体の形状測定
    装置。
11. 【請求項１１】　　請求項１０に記載の円形物体の形状
    測定装置において、前記演算手段は、算出された前記円
    形物体の径ｙと直径からの距離ｘを用いて、関数Ｆ（ｘ
    ）＝ｙ・ｓｉｎ（ｃｏｓ−１（２ｘ／ｙ））を算出し、
    該Ｆ（ｘ）の値を真円弦長の基準値として用いることを
    特徴とする円形物体の形状測定装置。
12. 【請求項１２】　　請求項７から請求項１１までの何れ
    か１項に記載の円形物体の形状測定装置において、前記
    円形物体は硬貨であることを特徴とする円形物体の形状
    測定装置。