JPS60103827A - 電圧変換回路 - Google Patents
電圧変換回路Info
- Publication number
- JPS60103827A JPS60103827A JP58212083A JP21208383A JPS60103827A JP S60103827 A JPS60103827 A JP S60103827A JP 58212083 A JP58212083 A JP 58212083A JP 21208383 A JP21208383 A JP 21208383A JP S60103827 A JPS60103827 A JP S60103827A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- load
- transistor
- vcc
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/24—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
- G05F3/242—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H11/00—Networks using active elements
- H03H11/02—Multiple-port networks
- H03H11/24—Frequency-independent attenuators
- H03H11/245—Frequency-independent attenuators using field-effect transistor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、電源電圧の中間レベルを出力する電圧変換回
路に関する。
路に関する。
従来技術と問題点
ダイナミックRAMのメモリセルの一部を構成するキャ
パシタ電極へは電源電圧(5■)の中間レベル例えば2
.5Vを与えたりするが、丈積回路で電源電圧の中間レ
ベルを必要するケースはま\ある。中間し今ルば簡単に
は第1図に示すように抵抗分圧回路を使用して得られる
。この図でR1゜R2ば電源電圧Vccを分圧して中間
レベルの電圧■cc′を得、これを負荷回路りへ与える
抵抗である。R1=R2ならV cc′−V cc/
2であるが、負荷回路りが電流をとるものであるとこの
関係はくずれる。また本例では+5Vの電源VccとO
Vの電源Vssの間に抵抗R1,R2が直列になって接
続され、常時VccからVssへ向う電流を流し、電力
消費を伴なう点もこの回路の欠点である。該電力消費を
小にするには抵抗R1,I’;!2のイ1?(を人にす
ればよいが、抵抗値が犬であると負荷電流によるノード
Nの電圧V cc′の上記変動か犬きくな常時消費電力
を少なくしかつ負荷電流による負荷電圧V cc′ の
変動を少なくするには第2図の回路が有効である。この
回路では抵抗R1,R2による電源Vccの分圧電圧を
Mlst−ランジスタQ1のゲートに与え、負荷回路り
は該トランジスタQ1を通して電源Vcc、へ接続する
。従って負荷電流はトランジスタQ1のトレイン、ソー
スを流れ、分圧回路R1R2には流れないので負荷電流
による負荷電圧■cc′の変動はなく、しかも分圧回路
はM I S +−ランジスタQ1のゲートに電圧を与
えるだk)なので高抵抗にしてよく、消費電力は少ない
。ノードN1の電圧VNと負荷電圧Vcc′ との間に
ばVN −Vtb=Vcc’ の関係があるので、Vc
c′−Vccが要求されるならVH=Vth+Vcc/
2に選定する。しかしこの回路ではトランジスタQ1の
しきい値電圧■E11が負荷電圧■cc′に直接影響し
、Vtbは集積回路製造プロセスで変るので製品毎に負
荷電圧Vcc′ のハラつきがあるという問題を有する
。
パシタ電極へは電源電圧(5■)の中間レベル例えば2
.5Vを与えたりするが、丈積回路で電源電圧の中間レ
ベルを必要するケースはま\ある。中間し今ルば簡単に
は第1図に示すように抵抗分圧回路を使用して得られる
。この図でR1゜R2ば電源電圧Vccを分圧して中間
レベルの電圧■cc′を得、これを負荷回路りへ与える
抵抗である。R1=R2ならV cc′−V cc/
2であるが、負荷回路りが電流をとるものであるとこの
関係はくずれる。また本例では+5Vの電源VccとO
Vの電源Vssの間に抵抗R1,R2が直列になって接
続され、常時VccからVssへ向う電流を流し、電力
消費を伴なう点もこの回路の欠点である。該電力消費を
小にするには抵抗R1,I’;!2のイ1?(を人にす
ればよいが、抵抗値が犬であると負荷電流によるノード
Nの電圧V cc′の上記変動か犬きくな常時消費電力
を少なくしかつ負荷電流による負荷電圧V cc′ の
変動を少なくするには第2図の回路が有効である。この
回路では抵抗R1,R2による電源Vccの分圧電圧を
Mlst−ランジスタQ1のゲートに与え、負荷回路り
は該トランジスタQ1を通して電源Vcc、へ接続する
。従って負荷電流はトランジスタQ1のトレイン、ソー
スを流れ、分圧回路R1R2には流れないので負荷電流
による負荷電圧■cc′の変動はなく、しかも分圧回路
はM I S +−ランジスタQ1のゲートに電圧を与
えるだk)なので高抵抗にしてよく、消費電力は少ない
。ノードN1の電圧VNと負荷電圧Vcc′ との間に
ばVN −Vtb=Vcc’ の関係があるので、Vc
c′−Vccが要求されるならVH=Vth+Vcc/
2に選定する。しかしこの回路ではトランジスタQ1の
しきい値電圧■E11が負荷電圧■cc′に直接影響し
、Vtbは集積回路製造プロセスで変るので製品毎に負
荷電圧Vcc′ のハラつきがあるという問題を有する
。
発明の目的
本発明はか−る点を改善し、負荷電圧VCC’がドライ
バトランジスタQ1のVtbの影響を受けないようにし
ようとするもの−である。
バトランジスタQ1のVtbの影響を受けないようにし
ようとするもの−である。
発明の構成
本発明の電圧変換回路は負荷と直列になって電源間に接
続されるMlst・ランジスタと、該M+s1−ランジ
スタのゲートに、電源電圧を分割しかつ該MIS)ラン
ジスタのしきい値電圧を補償して負荷に該電源電圧を分
割した電圧を供給させる、インピーダンス手段とMIS
I−ランジスタからなるゲート電圧制御回路とを備える
ことを特徴とするが、次に実施例を参照しながらこれを
説明する。
続されるMlst・ランジスタと、該M+s1−ランジ
スタのゲートに、電源電圧を分割しかつ該MIS)ラン
ジスタのしきい値電圧を補償して負荷に該電源電圧を分
割した電圧を供給させる、インピーダンス手段とMIS
I−ランジスタからなるゲート電圧制御回路とを備える
ことを特徴とするが、次に実施例を参照しながらこれを
説明する。
発明の実施例
第3図は本発明の実施例を示し、全図を通してそ・うで
あるが第1図、第2図などと間し部分には同じ符号が付
しである。第2図と比較すれば明らかなように第3図で
は分圧回路(ゲート電圧制御回路)にMOSトランジス
タQ2.Q3を挿入した点が異なる。第3図の回路てば
ノートN2の電位はVLl+、ノードN3の電位は2
V Lhであり、R1=R2とするとノードN1の電位
は(V cc −2V th)/ 2+2Vth=Vc
c/2+Vthである。なおトランジスタQ1〜Q3は
同じ半導体基板上に同じ工程で作られるので、同じしき
い値電圧を持つとしてよい。ノードN1が上記電位を持
つなら負荷電圧Vcc′ はそれよりvthだげ低い電
圧、従ワてVcc/2である。こうして1〜ランジスタ
のしきい値に無関係な電圧Vcc’を負荷りに供給する
ことができる。
あるが第1図、第2図などと間し部分には同じ符号が付
しである。第2図と比較すれば明らかなように第3図で
は分圧回路(ゲート電圧制御回路)にMOSトランジス
タQ2.Q3を挿入した点が異なる。第3図の回路てば
ノートN2の電位はVLl+、ノードN3の電位は2
V Lhであり、R1=R2とするとノードN1の電位
は(V cc −2V th)/ 2+2Vth=Vc
c/2+Vthである。なおトランジスタQ1〜Q3は
同じ半導体基板上に同じ工程で作られるので、同じしき
い値電圧を持つとしてよい。ノードN1が上記電位を持
つなら負荷電圧Vcc′ はそれよりvthだげ低い電
圧、従ワてVcc/2である。こうして1〜ランジスタ
のしきい値に無関係な電圧Vcc’を負荷りに供給する
ことができる。
第4図は本発明の第2の実施例を示す。第3図の回路は
負荷りが電流を取込む(V cc−Q I L−Vss
の経路で電流が流れる)ことを前提としており、負荷り
から電流が流出することは想定していない。第4図は負
荷tが電流を流出させる場合にも対処するものである。
負荷りが電流を取込む(V cc−Q I L−Vss
の経路で電流が流れる)ことを前提としており、負荷り
から電流が流出することは想定していない。第4図は負
荷tが電流を流出させる場合にも対処するものである。
この第4図の回路でR1,R2,Q2.Q3.Qlの経
路は第3図と同しであり、負荷電圧V cc′をVLb
に無関係にVcc/2に保持する。MISトランジスタ
Q4.、Q5゜Q6、抵抗R3,R4は、負荷りから1
−ランジスタQ4を通って電源Vssへ電流が流れる場
合に負荷電圧■cc′をV cc/ 2に保持する回路
である。
路は第3図と同しであり、負荷電圧V cc′をVLb
に無関係にVcc/2に保持する。MISトランジスタ
Q4.、Q5゜Q6、抵抗R3,R4は、負荷りから1
−ランジスタQ4を通って電源Vssへ電流が流れる場
合に負荷電圧■cc′をV cc/ 2に保持する回路
である。
ここでQ a Q 5 Q 6ばPチャネルトランンス
タである。即ち、ノードN6の電位はV cc −V
tb、ノードN5の電位はV cc−2V thであり
、ノードN4の電位はR3=R4なら(V cc −2
V Lh) / 2−VCC/2 Vむhである。1−
ランジスタQ4ば1〕チャネル1−ランジスクとすると
ノート’N4の電位はVcc’よりQ4のVtt+だけ
低いから、結果V cc′はVcc/2になる。こうし
て第4図の回路では、負荷へ電流が流入する場合でもま
た負荷から電流が流出する場合でも、負荷電圧をvth
に無関係に一定にできる。
タである。即ち、ノードN6の電位はV cc −V
tb、ノードN5の電位はV cc−2V thであり
、ノードN4の電位はR3=R4なら(V cc −2
V Lh) / 2−VCC/2 Vむhである。1−
ランジスタQ4ば1〕チャネル1−ランジスクとすると
ノート’N4の電位はVcc’よりQ4のVtt+だけ
低いから、結果V cc′はVcc/2になる。こうし
て第4図の回路では、負荷へ電流が流入する場合でもま
た負荷から電流が流出する場合でも、負荷電圧をvth
に無関係に一定にできる。
第5図および第6図は本発明の第3.第4の実施例を示
し、前省は負荷電圧V cc′をV cc/ 3に、後
者ば負荷電圧Vcc′を2 V cc/ 3に保つ。即
ち第5図でノードN7の電位は3 V tl+、抵抗R
1゜R2ば2R1=Iマ2に選ふのでノートN1の′電
位は(Vcc−3Vth) /3+3’Vtl+=Vc
c/’3+2V th、 i荷重圧Vcc′ はこれよ
りV12段落ちであるからVcc/3である。また第6
図ではノードN7の電位は3 V th、 R1= 2
R2としてノードN1の電位は2 (Vcc 3 V
th) / 3 +3 V Lh=2 V cc/
3 + V、tl+、負荷電圧Vcc’ はそれよりv
th1段落ちであるから2 V cc/ 3である。
し、前省は負荷電圧V cc′をV cc/ 3に、後
者ば負荷電圧Vcc′を2 V cc/ 3に保つ。即
ち第5図でノードN7の電位は3 V tl+、抵抗R
1゜R2ば2R1=Iマ2に選ふのでノートN1の′電
位は(Vcc−3Vth) /3+3’Vtl+=Vc
c/’3+2V th、 i荷重圧Vcc′ はこれよ
りV12段落ちであるからVcc/3である。また第6
図ではノードN7の電位は3 V th、 R1= 2
R2としてノードN1の電位は2 (Vcc 3 V
th) / 3 +3 V Lh=2 V cc/
3 + V、tl+、負荷電圧Vcc’ はそれよりv
th1段落ちであるから2 V cc/ 3である。
−膜化すると、Vcc′−mVcc/nなる負荷電圧を
(UるにはゲーI・電圧制御回路の抵抗分圧回路に挿入
されるトランジスタQ2.Q、3.・・・・・・として
n個のトランジスタを用い、負荷回路に挿入される1−
ランジスタQ1のゲート回路に挿入されるトランジスタ
Q8・・・・・・として+1− rn (lfjのトラ
ンジスタを用い抵抗比R2/(R1+R2)をm /
nにすればよい。こうしてvthの影3を受げない種々
の負荷電圧■CC′を得ることができる。但しrn。
(UるにはゲーI・電圧制御回路の抵抗分圧回路に挿入
されるトランジスタQ2.Q、3.・・・・・・として
n個のトランジスタを用い、負荷回路に挿入される1−
ランジスタQ1のゲート回路に挿入されるトランジスタ
Q8・・・・・・として+1− rn (lfjのトラ
ンジスタを用い抵抗比R2/(R1+R2)をm /
nにすればよい。こうしてvthの影3を受げない種々
の負荷電圧■CC′を得ることができる。但しrn。
r)ば共に整数で、m<nである。
第1図のような抵抗分圧回路で消費電力を小にするため
抵抗値を大にすると、時定数が大になるから負荷電圧の
立上りは第7図(a+に示すように緩やかになる。第3
図などのようにトランジスタQ1等を使用すると負荷電
圧VCC′ の立上りは第7図(blの如く迅速になり
、電源投入で直らに動作状態に入ることができる。
抵抗値を大にすると、時定数が大になるから負荷電圧の
立上りは第7図(a+に示すように緩やかになる。第3
図などのようにトランジスタQ1等を使用すると負荷電
圧VCC′ の立上りは第7図(blの如く迅速になり
、電源投入で直らに動作状態に入ることができる。
第3図などの回路で抵抗R2はし1示位置ではなく、例
えばQ3とVss間に移してもよく、結果は同じである
。なおこの方が、トランジスタのVthはバンクバイア
ス効果を受けるので、Q2. Q3のソース電位が上っ
てQlのそれに近すき、等しいvthにするという点で
有利である。
えばQ3とVss間に移してもよく、結果は同じである
。なおこの方が、トランジスタのVthはバンクバイア
ス効果を受けるので、Q2. Q3のソース電位が上っ
てQlのそれに近すき、等しいvthにするという点で
有利である。
更に第7図は第3図における抵抗R+、Rxをデプレシ
ョントランジスタ’f” +〜Tn、T1′〜T n
′ で置換えた実施例である。同一トランンノ、夕、同
一〕−ドは同じ記号で示しである。一般にMISダイナ
ミックメモリで使用されるポリシリコン層、拡散層の抵
抗は数10Ω/口程度と低い。
ョントランジスタ’f” +〜Tn、T1′〜T n
′ で置換えた実施例である。同一トランンノ、夕、同
一〕−ドは同じ記号で示しである。一般にMISダイナ
ミックメモリで使用されるポリシリコン層、拡散層の抵
抗は数10Ω/口程度と低い。
これら抵抗層を使用しここで必要とされる数100にΩ
の抵抗を得るためには、数10万μ2の面積が必要とさ
れる。これを避けるために抵抗のかわりに1個又は複数
個のデプレショントランジスタを直列に接続して使用す
ると良い。これにより少ない面積でかつ電流を少なく押
える事かできる。
の抵抗を得るためには、数10万μ2の面積が必要とさ
れる。これを避けるために抵抗のかわりに1個又は複数
個のデプレショントランジスタを直列に接続して使用す
ると良い。これにより少ない面積でかつ電流を少なく押
える事かできる。
発明のタノ果
ツ、゛上説明したように本発明によれば消費電力が少な
く、負荷電流による電圧降下が少なく、負荷1−ランジ
スタのvthの影曾を受けない高安定度の電圧変換回路
がiMられる。
く、負荷電流による電圧降下が少なく、負荷1−ランジ
スタのvthの影曾を受けない高安定度の電圧変換回路
がiMられる。
第1図および第2図は従来回路の例を示ず回路図、第3
図〜第7図は本発明の実施例を示す回路図、第8図ば1
−ランシスタ使用効果を示すグラフである。 図面でVcc、Vssは電源電圧、Lは負荷、Qlは負
(■jと直列なMISI−ランジスタ、R1,R2゜Q
2.Q3.Q8・・・・・・は制御電圧回路である。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第1図 第8図 第4図 A′;5図 第01隠i 第′7図 手続、補正1勺(自発) IJ目Δ・1」59年11月22日 1芋d干庁艮′目′ 志 賀 字 殿 −:1 一゛−1 1、A11f−1−の表示 11目+u 5 8 !llに(ヶ。fl−ル5(第
212083 季少2、発明の名イ9Ji 屯土変侯回路 3、 f+Ii正奮する者 4j件との関祇 z1今、rF出願人 IJE ノツ[円1茅川示川1’lid市中jJi l
I−1=小田中1015 lj地名称 (522)IA
士通体式+2社 代次省 山 本 早 與 4、K 埋 人 T101 1五 ノツ「 来示4+3士lC用区宕4−1j”J’
3J″14m5夛第−米ヒルL1.6 (7υ17)計
理± [(゛ 柳 □・ :イ、ざ・、lI 5、イ山正+ji箭の日刊 な し 6、 +’+lLn二Vこより工胃刀■する元・力の奴
な し8捕旧の内存 (1)明l1lIII書第6負18行のr2R1=RZ
J勿「R1−2R2」に補正する。 (2)同第7貞2行の自宅1=2■尤2」trzlζ1
=R2Jに袖IEする。 (3)同747Jll何の「n−InJをl−n −m
l Jに補正する。
図〜第7図は本発明の実施例を示す回路図、第8図ば1
−ランシスタ使用効果を示すグラフである。 図面でVcc、Vssは電源電圧、Lは負荷、Qlは負
(■jと直列なMISI−ランジスタ、R1,R2゜Q
2.Q3.Q8・・・・・・は制御電圧回路である。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第1図 第8図 第4図 A′;5図 第01隠i 第′7図 手続、補正1勺(自発) IJ目Δ・1」59年11月22日 1芋d干庁艮′目′ 志 賀 字 殿 −:1 一゛−1 1、A11f−1−の表示 11目+u 5 8 !llに(ヶ。fl−ル5(第
212083 季少2、発明の名イ9Ji 屯土変侯回路 3、 f+Ii正奮する者 4j件との関祇 z1今、rF出願人 IJE ノツ[円1茅川示川1’lid市中jJi l
I−1=小田中1015 lj地名称 (522)IA
士通体式+2社 代次省 山 本 早 與 4、K 埋 人 T101 1五 ノツ「 来示4+3士lC用区宕4−1j”J’
3J″14m5夛第−米ヒルL1.6 (7υ17)計
理± [(゛ 柳 □・ :イ、ざ・、lI 5、イ山正+ji箭の日刊 な し 6、 +’+lLn二Vこより工胃刀■する元・力の奴
な し8捕旧の内存 (1)明l1lIII書第6負18行のr2R1=RZ
J勿「R1−2R2」に補正する。 (2)同第7貞2行の自宅1=2■尤2」trzlζ1
=R2Jに袖IEする。 (3)同747Jll何の「n−InJをl−n −m
l Jに補正する。
Claims (2)
- (1)負荷と直列になって電源間に接続されるMXSト
ランジスタと、 該M I S I−ランジスタのゲートに、電源電圧を
分割しかつ該M I S+−ランジスタのしきい値電圧
を補償して負荷に該電源電圧を分割した電圧を供給さセ
る、インピーダンス手段とMISトランジスタからなる
ゲート電圧制御回路とを備えることを特徴とする電圧変
換回路。 - (2)前記インピーダンス手段が抵抗から成ることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の電圧変換回路。 (311iIJ 記インピーダンス手段がデプレション
トランジスタから成ることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の電圧変換回路。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58212083A JPS60103827A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 電圧変換回路 |
| KR1019840006602A KR890003032B1 (ko) | 1983-11-11 | 1984-10-24 | 전압 변환 회로 |
| DE8484307636T DE3468794D1 (en) | 1983-11-11 | 1984-11-06 | Voltage converting circuit |
| EP84307636A EP0145254B1 (en) | 1983-11-11 | 1984-11-06 | Voltage converting circuit |
| US07/015,529 US4692689A (en) | 1983-11-11 | 1987-02-12 | FET voltage reference circuit with threshold voltage compensation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58212083A JPS60103827A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 電圧変換回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60103827A true JPS60103827A (ja) | 1985-06-08 |
| JPH0578211B2 JPH0578211B2 (ja) | 1993-10-28 |
Family
ID=16616584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58212083A Granted JPS60103827A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 電圧変換回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4692689A (ja) |
| EP (1) | EP0145254B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60103827A (ja) |
| KR (1) | KR890003032B1 (ja) |
| DE (1) | DE3468794D1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0282566A (ja) * | 1988-08-15 | 1990-03-23 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Cmosスタテイツク回路用のバイアス電圧発生装置 |
| JPH07220491A (ja) * | 1993-12-31 | 1995-08-18 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | 電圧調整器 |
| JPH07220490A (ja) * | 1993-12-31 | 1995-08-18 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | 電圧調整器 |
| US5610550A (en) * | 1993-01-29 | 1997-03-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Intermediate potential generator stably providing an internal voltage precisely held at a predeterminded intermediate potential level with reduced current consumption |
| US5757225A (en) * | 1995-09-04 | 1998-05-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Voltage generation circuit that can stably generate intermediate potential independent of threshold voltage |
| US5847597A (en) * | 1994-02-28 | 1998-12-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Potential detecting circuit for determining whether a detected potential has reached a prescribed level, and a semiconductor integrated circuit including the same |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61221812A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-10-02 | Mitsubishi Electric Corp | 電圧発生回路 |
| US4622476A (en) * | 1985-03-29 | 1986-11-11 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature compensated active resistor |
| US4663584B1 (en) * | 1985-06-10 | 1996-05-21 | Toshiba Kk | Intermediate potential generation circuit |
| US4788455A (en) * | 1985-08-09 | 1988-11-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | CMOS reference voltage generator employing separate reference circuits for each output transistor |
| JPS6370451A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
| US4868416A (en) * | 1987-12-15 | 1989-09-19 | Gazelle Microcircuits, Inc. | FET constant reference voltage generator |
| US4888498A (en) * | 1988-03-24 | 1989-12-19 | Texas Instruments Incorporated | Integrated-circuit power-up pulse generator circuit |
| JPH0673092B2 (ja) * | 1988-04-12 | 1994-09-14 | 日本電気株式会社 | 定電圧発生回路 |
| JPH0229989A (ja) * | 1988-07-19 | 1990-01-31 | Mitsubishi Electric Corp | ダイナミックランダムアクセスメモリ装置 |
| JP2883625B2 (ja) * | 1989-03-30 | 1999-04-19 | 株式会社東芝 | Mos型充電回路 |
| JP2652061B2 (ja) * | 1989-06-06 | 1997-09-10 | 三菱電機株式会社 | 中間電位発生回路 |
| US4994891A (en) * | 1989-06-20 | 1991-02-19 | Advanced Micro Devices | Shielded transistor device |
| JPH043513A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Nec Corp | パワーオンリセット回路 |
| KR0132641B1 (ko) * | 1993-05-25 | 1998-04-16 | 세끼모또 타다히로 | 기판 바이어스 회로 |
| US5614815A (en) * | 1994-03-10 | 1997-03-25 | Fujitsu Limited | Constant voltage supplying circuit |
| JP3123337B2 (ja) * | 1994-03-31 | 2001-01-09 | 富士電機株式会社 | 電圧駆動型半導体素子用のゲート駆動用回路装置 |
| US5786720A (en) * | 1994-09-22 | 1998-07-28 | Lsi Logic Corporation | 5 volt CMOS driver circuit for driving 3.3 volt line |
| JPH09162713A (ja) * | 1995-12-11 | 1997-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
| US6670845B1 (en) * | 2002-07-16 | 2003-12-30 | Silicon Storage Technology, Inc. | High D.C. voltage to low D.C. voltage circuit converter |
| JP4927356B2 (ja) * | 2005-07-11 | 2012-05-09 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5693037U (ja) * | 1979-12-19 | 1981-07-24 | ||
| JPS58116817A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-07-12 | モトロ−ラ・インコ−ポレ−テツド | Ttl−cmos入力バツフア |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3823332A (en) * | 1970-01-30 | 1974-07-09 | Rca Corp | Mos fet reference voltage supply |
| SU571800A1 (ru) * | 1976-04-19 | 1977-09-05 | Предприятие П/Я Х-5737 | Стабилизатор посто нного напр жени |
| US4197511A (en) * | 1978-12-18 | 1980-04-08 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Linear load MOS transistor circuit |
| JPS5672530A (en) * | 1979-11-19 | 1981-06-16 | Nec Corp | Semiconductor circuit |
| DE3138558A1 (de) * | 1981-09-28 | 1983-04-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung zur erzeugung eines von schwankungen einer versorgungsgleichspannung freien gleichspannungspegels |
| US4453121A (en) * | 1981-12-21 | 1984-06-05 | Motorola, Inc. | Reference voltage generator |
| JPS59218042A (ja) * | 1983-05-26 | 1984-12-08 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
| JPH0679262B2 (ja) * | 1984-02-28 | 1994-10-05 | シャープ株式会社 | 参照電圧回路 |
-
1983
- 1983-11-11 JP JP58212083A patent/JPS60103827A/ja active Granted
-
1984
- 1984-10-24 KR KR1019840006602A patent/KR890003032B1/ko not_active Expired
- 1984-11-06 DE DE8484307636T patent/DE3468794D1/de not_active Expired
- 1984-11-06 EP EP84307636A patent/EP0145254B1/en not_active Expired
-
1987
- 1987-02-12 US US07/015,529 patent/US4692689A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5693037U (ja) * | 1979-12-19 | 1981-07-24 | ||
| JPS58116817A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-07-12 | モトロ−ラ・インコ−ポレ−テツド | Ttl−cmos入力バツフア |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0282566A (ja) * | 1988-08-15 | 1990-03-23 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Cmosスタテイツク回路用のバイアス電圧発生装置 |
| US5610550A (en) * | 1993-01-29 | 1997-03-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Intermediate potential generator stably providing an internal voltage precisely held at a predeterminded intermediate potential level with reduced current consumption |
| JPH07220491A (ja) * | 1993-12-31 | 1995-08-18 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | 電圧調整器 |
| JPH07220490A (ja) * | 1993-12-31 | 1995-08-18 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | 電圧調整器 |
| US5847597A (en) * | 1994-02-28 | 1998-12-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Potential detecting circuit for determining whether a detected potential has reached a prescribed level, and a semiconductor integrated circuit including the same |
| US6351178B1 (en) | 1994-02-28 | 2002-02-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Reference potential generating circuit |
| US6597236B1 (en) | 1994-02-28 | 2003-07-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Potential detecting circuit for determining whether a detected potential has reached a prescribed level |
| US5757225A (en) * | 1995-09-04 | 1998-05-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Voltage generation circuit that can stably generate intermediate potential independent of threshold voltage |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0145254B1 (en) | 1988-01-13 |
| EP0145254A3 (en) | 1985-07-24 |
| KR890003032B1 (ko) | 1989-08-19 |
| KR850003637A (ko) | 1985-06-20 |
| DE3468794D1 (en) | 1988-02-18 |
| US4692689A (en) | 1987-09-08 |
| EP0145254A2 (en) | 1985-06-19 |
| JPH0578211B2 (ja) | 1993-10-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6363029B1 (en) | Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions | |
| CA1050117A (en) | Sensing circuit for memory cells | |
| DE4402433C2 (de) | Vorrichtung zur Erzeugung eines Zwischenpotentials, insb. geeignet für Halbleiterspeichereinrichtungen | |
| DE68923937T2 (de) | Konstantstromquellenschaltung. | |
| EP0145254B1 (en) | Voltage converting circuit | |
| JPS62282316A (ja) | 半導体集積回路の電源電圧降下回路 | |
| DE19654544C2 (de) | Differenzverstärker | |
| US7787286B2 (en) | SRAM memory with reference bias cell | |
| DE10123879A1 (de) | Substratpotential-Erfassungsschaltung und Substratpotential-Erzeugungsschaltung | |
| JPH02282995A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| US4259729A (en) | Dynamic memory | |
| US6229384B1 (en) | Semiconductor integrated circuit containing power voltage regulating circuit which employs depletion-type transistor | |
| JP2735221B2 (ja) | 半導体装置 | |
| US6285602B1 (en) | Semiconductor memory device provided with I/O clamp circuit | |
| JPH05304426A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2001229676A (ja) | 集積回路 | |
| JPH023161A (ja) | メモリ回路 | |
| JPH0210866A (ja) | 半導体メモリデバイス | |
| DE4447603C2 (de) | Schaltung zum Erzeugen einer Referenzspannung | |
| JPH08162611A (ja) | 半導体回路 | |
| JPS60185293A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| KR970003232B1 (ko) | 내부전압 발생회로를 구비하는 반도체장치 | |
| JP3137454B2 (ja) | 半導体集積回路の電源回路 | |
| JP2580805B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| KR100363768B1 (ko) | 반도체 집적회로 장치 |