JPS60104203A - 半導体位置検出素子の信号処理回路 - Google Patents

半導体位置検出素子の信号処理回路

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JPS60104203A
JPS60104203A JP58211901A JP21190183A JPS60104203A JP S60104203 A JPS60104203 A JP S60104203A JP 58211901 A JP58211901 A JP 58211901A JP 21190183 A JP21190183 A JP 21190183A JP S60104203 A JPS60104203 A JP S60104203A
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psd
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signal
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Ryoichi Suzuki
良一 鈴木
Hideo Ko
秀夫 高
Shuichi Tamura
秀一 田村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光半導体装置検出素子の信号処理回路に関する
、特に半導体装置検出器(PSD)を用いたカメラの測
距装置に関する。
従来所定の距離(基線長)を隔てた投光素子と受光素子
を設けて投光素子から放射された光の被写体による反射
光を受光素子で受けるように投光素子もしくは受光素子
のいずれかをスキャンさせて前記基線長と投光素子およ
び受光素子の角度から三角測量の原理を用いて測距を行
9測距装置は広く知られている。しかしながらこの方法
は投光素子又は受光素子をスキャンさせる機械的機構が
必要であるばかりか、カメラに前述の測距装置を応用し
た場合には撮影レンズの距離環の駆動と、前述のスキャ
ンを同期させて行うことが必要であり、シャッターレリ
ーズ動作前に前もって測距1H報を知ることが出来なか
った。そのためシャッターレリーズ動作前に前もってフ
ァインダー視野枠内の任意の被写体の測距を行ってから
構図を直して撮影を行ういわゆるブリフォーカス撮影が
難かしいという欠点があった。
この欠点に鑑−みてスキャン機構を必要としないプリフ
ォーカス可能な測距装置としてスキャン−4−る代りに
投光素子もしくは受光素子を複数連べて配置し、前述と
同様に三角測斌の原理かり測距を行う技術も知られてい
る。しかしながら投光素子もしくは受光素子を複数設け
ることはコストが大きいばかりか、それら複数の投光素
子を設けた場合には駆動させる回路が複雑となり、仮数
の受光素子を設けた場合には該素子の信号を検出する検
出回路が仮雑になるという欠点があり、小型カメラに適
用することは難かしかった。
この点に鑑みて特開昭58−9521 (1号公報のよ
うに被写体に光を投光する投光素子と、該投光素子の光
の被写体による反射光の入射位置に応じた相互電流比を
有する第1および第2の゛電流出力を得る半導体装置検
出器(以下PSDと称す)を用い、前記第1、第2の電
流出力から測距を行う測距装置を組み込んだカメラも現
((ミ知られている。
この測距装置はPSDが比較的安価であり、それらの処
理回路も前述の如く受光素子を複数設ける場合に比して
簡単になる等の利点があるが以下に述べる欠点を有して
いた。
従来の方法においてはPSDの出力電流が、PSDに入
射するスポット光の強さに影響され、投光素子の光の被
写体による反射光が強いときには出力電流が大きくなり
、投光素子の光の敲写体に」:る反射光が弱いときには
出力tb’Lは小さくなるしたがってPSDの出力電流
値を例えばPSDの第1、第2の電流出力の和で除舅、
して規格化することが必要でありそのために信号処理回
路が複雑になるという欠点があるばかりか、従来の方法
においてはPSDの出力′電流を例えばPSDの第1、
第2の出力電流の和で規格化するにせよ前述の如(PS
Dの出力電流は入射スポット光の強さにより大幅に変化
するため信号処理回路のダイナミックレンジは大きいこ
とが要求される。したがって、例えばディスクリートな
部品で信号処理回路を構成すればOPアンプ等の素子の
選定の11〕が狭くなったり、モノシリソフな構成にし
てもダイナミックレンジを大きくするため信号圧縮回路
を設けたりしなければならず回路が更に複雑となること
があるという欠点があった。
本発明は仁の点に鑑み従来のI) S Dの1+を号処
理回路の欠点を;蜂消し、簡単な構成により精度の高い
P S J)の信号処理回路を提供せんとするものであ
る。
以下図曲金用いて本発明を詳述する。第1図(a)、(
b)は本発明の原理を6兄明する7こめの原理図である
、第1図(a)、(b)において10はPSDで、I 
Oi r、J: N型半導体層、102はP型半導体層
でP lqQ半1g1体は等価的に横方向に抵抗値を有
しでいる。103〜111はPSDIUの一方の出力端
子Bに直列接続された抵抗で、全て同一の抵抗値をもつ
、112I−t、PSDloの他方の出力端子Aに接続
された抵抗である。PSDのコモン入力端子には基準電
圧Vcが印加されている。
ここでPSDIOのa点の位置に投)[素子の光の被写
体による反射光が入力していたとすると、このスポット
光により抵抗112を介して端子Aから流れる電流の値
は前記スポット光によりa点に発生した′電圧をPSD
IOのa点から端子At。
でのP型半導体層の抵抗値と抵抗112の抵抗値の和で
除した恒に相当するから直線121の傾きにより表現で
きる。
同様に端子Bから流れ出る電流の値は端子Bからの出力
電流を抵抗109と110の接続点からとり出すとする
と、3の値は直線123の傾きにより表現される。ここ
で第1図に示す直線121の1頃きは図から3 / 8
.75となる。また直+w123の傾@は図から378
.25であるから電流Inの値はIAの値より大である
。次に出力電流IBを抵抗110と111の接続点から
取り出すと、その値は直線120の傾きすなわち3 /
 9.25に対応することになり、′電流IBの値はI
AO値よりも小さくなる。つまり、出力端子Bに接続す
る抵抗の値により、電流IBを電流IAに対して大きく
も小さくもできるものである。このことは逆に一―えば
、出力端子Bに徐々に抵抗を接続していき、出力電流I
AとIBが一致したときあるいは抵抗を接続したことに
より出力電流IAとIBとの大小関係が反転したときの
抵抗の値によりa点の位置がs’++出できるというこ
とヲ扁味している。
例えば第1図(blにボすようにP S I) 1. 
IJのb点上に投光話子の被写体による反射光が人!、
rJ t、ているとすると前述の方法と同様に抵抗1(
)4と105との接続点から電流113をとり出ずと、
fBの屯1J1シ値はIAの電流値よりも大きくなる。
仄に抵抗105と106との接続点から電流113をと
り出せば、反対にIBの゛電流値はIAの′電流1直よ
りも小さくなる。
反射光の入射位置により出力電流IA、’−IBの大小
関係が反転する出力端子Bに接続する抵抗値がわ 変れるので、該抵抗値から反射光の入射位1fLkRす
ることができる。史に正確に反射光の入射光を算出する
にはIAとIBの電ηL値が完全に等しくなるように前
記抵抗の抵抗値を変化させ、その抵抗値から算出すれば
よい。またこの方法によれは信号処理回路のダイナミッ
クレンジは従来のPSDの信号処理回路のように大きな
ダイナミックレンジをもつ必要はない。なぜならばこの
方法では出力電流IAとIBの大小関係を比較し、出力
電流IAとIBの値が等しくなったか、あるいはほぼ等
しくなったことを検出したときの抵抗値から反射光の入
射位置を算出しているためyX理的には信号処理回路と
して出力電流IAとよりに相応する大小関係を判別する
のみで充分であり、上述の如く抵抗を切り換える場合で
も信号の両者の差が小さくなったときのみ正確な情報を
出力すれはよいからでるる。
第2図は本発明を応用したカメラの一実施例の回路図で
ある。第2図において、10は前記PSDで、共通電極
には後述する基準電圧VCが印加されていると共に、出
力端子Aには各々4R12R。
Rの抵抗値を有する抵抗11.12及び13が並列に接
続されており、その各々の抵抗にアナログスイッチ14
.15及び16が接続され各々のアナログスイッチのゲ
ートには後述のカウンター74のQlO+ Qo 1 
Qtz出力が接続されている。
この構成により本実施例には第1図の原理図とは異なり
、出力端子Aに並列接続する抵抗の数を変えて、等測的
に出力端子Aに接続された抵抗の抵抗値を変化させてい
る。
17は前記PSDI Oの出力端子Bに接続された調漿
用ボIJ、−ム、18はOPアンプで、周波数ネットワ
ークを形成する抵抗19.20.22、コンデンサ21
とともにノ)イバスフィルターを構成する。30は直流
分カット用のコンデンサー、33は後述する基準′1(
を圧・KVCに接続された抵抗、32はバッファを構成
するOPアンプである。
27はOPアンプ18と同様に周波数ネットワークを形
成する抵抗23.24.26とコンデンサー25と共に
)・イバスフィルターk 4?9成する。34は抵抗3
5.36.37.38と共に減算器を構成−4゜るOP
アンプである。39,40はOPアンプ34の出口に接
続されたアナログスイッチで、それぞれ後述の投光素子
95の点灯、非点灯に同期して父互にオンオフされる。
コンデンサ42.44はそれぞれアナログスイッチ39
.40の出力をホールドするためにそハそれ抵抗41.
43 と共にサンプルアンドホールド回路を構成してい
る。
45.46はそれぞれバッファを構成する。Pアンプ、
47は抵抗48.49と共に反転増巾器を構成する。p
アンプ、50は抵抗51.52.53と共にopアンプ
45.47の出力を加のする加算器を構成するOPアン
プである。54は後述の基準圧KVCと前記OPアンプ
5oの出力とを比PすO 較するためのコンパレータ、55は後述のl;信号でリ
セットされ、コンパレータ54の出力によりセットされ
るRSフリップ(以下R8−FFと称す)で、出力Qか
らはオートフA−カスが終了することを示すA F E
 N D信号、出力4がらは反転信号AFEND信号が
出力される。60i;[源?tM、61はカメラのシャ
ッターボタンの第1ストローフで閉成Jる8w1スイツ
チ、62は基準電圧VCの発生回路、63はVc分圧用
のポリニーム、64はバッファを構成するOPアンプで
前記ポリニームによりVCが分圧された基準電圧KVc
を出力する。抵抗65、コンデンサ66及びインは発振
回路でコンデンサ69、可変J1(抗70は発振周波数
を決める回路である。71は分周器で、投光素子95を
駆動するt R’ON (ri号ヲ発生スル。
72はインバータで、1RON信号を反転させ1RON
信号を出力する。73は7’R’j)鉤イri”iジと
前記R8−FF55のAP・E N D信号とのアンド
を出力するアンドゲート、74はカウンターでアン1ゲ
ート73の出力するパルス数すなわち1則距光了i11
に投光素子95が何回点(戊したかf:Mi数する。
75Q1不図示のレンズ鏡筒の移動に伴っ゛Cバルスコ を発生するための外−ド板、7Gはチャタリング吸収回
路、77はカウンター、78し1一致回路で、前記カウ
ンター74と77のh1数値が一致したとき出力がHレ
ベルからLレベルに反転する。
79は一致回路78の出口により駆*Iff+されるト
ランジスタで、コレクタにはレンズ鏡筒制御用のマグネ
シト80が接続し、該マグネットの通+llt開始でレ
ンズ鏡筒は移動を開始し、辿電1v「除でレンズ鏡筒の
移!11]は停止するように構成されている1、す 90は前記投光素子95に常に定電圧が加灯るように投
光素子95と並列に接続されている抵抗96の分圧点が
反転入力端子に、基準電圧KVCが非反転入力端子に接
続されているopアンプ、94は前記OPアンプ90の
出力により駆動され投光素子95に流れる′電流を制御
するトランジスタである。
91は前記で「πδR信号とAFENDの信号のオアを
出力するオアゲートで、その出力t;t #A抗を介し
てトランジスタ93のペースに接続されている。
又、トランジスタ93のコレクタけoPアンプ90の出
力に接続されているためトランジスタ93がオンするこ
とによりトランジスタ94はオフするように構成されで
いる。
尚=iJ記PUc信号は分周回路71、カウンター74
.77、一致回路78及びR8−FF55のリセット端
子に入力している。
以上の如く構成された本発明の実施例の動作について説
明する。
まずカメラのシャッターボタンの第1ストロークにより
SW1スイッチ61が閉成すると、各回路に電源が供給
され、基準電圧VC及びK V Cが発生する。又、コ
ンデンサー66のチャージmが所定値に達するまで反転
回路67の出力rj I!4 IIレベルになりPUC
信号が発生する。該P U Cイn号により分周回路7
1、カウンター74.77、一致回路78及びRSフリ
ップフロッグ55は初期状態にセットされる。発振器6
8の動作が1jii始すると、分周回路71はそのパル
スを分周していく。
R8−FF55は初期リセットされているので、出力可
はHレベルになっておりAFENI)イ占号は発生して
ない。よってANDゲート73からはその分周出力が出
力され、それがカウンター74でカウントされていく、
そのカウント動作が進行するとQIO出力がHレベルに
反転し、J9 )’(: X子95アナログスイッチ1
4がオンし、抵抗11を通しての被写体による反射光の
ためにPSDI Oから生じる光電流がOPアンプ18
のフィードバノクルーグに流れ込んでいく。
一方、分周回路71の1RON信号Q、[側アゲート9
1を介してトランジスタ93をオン、オフし、それと同
期してドライブ用のトランジスタ94もオン、オフし投
光素子95は点滅動作を行っている。
カウンタ−740カウント動作が更に進行するとQIQ
出力はHレベルからLレベルに反転し、Qll出力はL
レベルからHレベルに反転するためアナログスイッチ1
5がオンする。尚、更にカウンター74のカウント動作
が進行するとQIO及びQllの出力がHレベルになり
、アナログスイッチ14,15がオンする。更にカウン
ト動作が進行するとQ12出力のみが1ルベルVCなり
、アナログスイッチ1Gがオンするように構成されてお
り、抵抗11〜13が2進数的に順次opアンプ18の
反転入力端子に並列接続されることになる。したがって
前述の原理と同様に時間が経過するにつれてOPアンプ
18に流れ込むPSDloからの電流の割合が徐々に大
きくなり、反対にOPアンプ27に流れ込むPSDIO
からの電流の割合は徐々へ小さくなる。
OPアンプ18の出力はiμ流カット用のコンテンサ3
0を介してバッファ回路32に入力し、その出力は一キ
t#;ネ唯坤=享#零4−ぞ一=瑚:4二を一肴tt差
動増巾器34の反転入力端子に入力し、OPアング27
の出力は直流カット用コンテンザ31を介して等動増巾
器34の非反転入力端子に入力する。したがってOPア
ンプ34N両大入力差すなわちPSDIOの2つの端子
から出力される電流の差を出力する。
アナログスイッチ39.40により投光素子95が点灯
している期間のOPアンプ34の信号はコンデンサ44
にサンプルホールドされ、投光素子95が消灯している
期間のOPアンプ34の信号はコンデンサ42にサンプ
ルホールドされる。
コンデンサ42.44にホールドされた信号はバッファ
アンプ45及び46を介して出力され、OPアンプ46
の出力1lStopアンプ47で反転された後にOPア
ンプ50で加算される。したがってOPアンプ50の出
力信号はOPアンプ34の出力を投光素子95の点滅に
同期して検波されることになる。すなわち投光素子95
0点灯時および非点灯時のPSDIQの出力の差がop
アンプ50かち出力され、交流的な外光成分も除去され
る。
一方前述の如く時間が経過するにつれてPSDloの端
子Aから出力される111.流が増加していき、PSD
IOの端子Bから出力される電流は減少していくため、
PSDの端子A及び端子Bに出力される1流の差を出力
する。pアンプ34の出力は減少していく。したがって
OPアンプ50の出力が基準レベルKVCにまで減少し
たときにコンノくレータ54はLレベルからHレベルに
反転する。
そのためR8−FF55はセットされ出力Qt−tLレ
ベルからHレベルに反転してAFgND(g号が発生す
る。反対に大、vmhv信号はl(レベルからLレベル
に反転するためアンドゲート73は閉じ分周器71の出
力パルスはカウンター74に入力されなくなる。したが
ってL) S D 10の両出力端子の出力′電流が等
しくなったときのアナログスイッチ14〜16の状態が
カウンター74に保持されることになる。
AFENI)信号が発生すると同時にオアゲート91の
出力はHレベルになり、トランジスタ91まオンしつづ
けるためトランジスタ94はオフし、投光素子95は消
灯する。
次に不図示の機構によりレリーズ動作を行うとマグネッ
ト80に通電が行われ不図示の撮影レンズが移動を開始
する。その移動動作に連動してコード板75からパルス
列が発生し、該パルス列はチャタリング吸収回路76を
介してカウンター77に入力する。カウンター77のカ
ウント数と、カウンター74に保持されたカウント数が
一致したときに一致回路78の出力がHレベルからLレ
ベルに反転し、トランジスタ79 rJ’オフし、マグ
ネット800通電が停止され不図示の撮影レンズの移動
が終了する。
以上の如く本実施例に依れば、P S D 10の端子
Bに接続する抵抗をアナログスイッチ・で切り換えるた
めに分周器71の出力パルスを分周するカウンター74
を設けていることにより従来のPSDの処理回路が、測
距情報をアナログ情報として取り出していたのに対して
、測距情報をデジタル情報として直接得ることができ、
本実施例の如く撮影レンズの移動量をデジタル情報とし
て検知し、撮影レンズの移動量を制御するいわゆるゾー
ンフォーカス式のオートフォーカスカメラに適用する場
−合には効果が大なるものである。
次にPSDの端子に接続する抵抗を切り換える代わりに
FETを設けて該FETのゲート′電圧を制御すること
によりFETのソースドレイン間の抵抗をアナログ的に
変化させることによりPSDloの端子A、Bから出力
される電流の値をバランスさせて投光素子の光の被写体
による反射光がPSDのどの部分に入射しているかを算
出して測距を行う本発明の第2の実施例の装置を第3図
を用いて説明する。第3図において第2図と同じ機能を
有する素子については同じ番号を付し、説明を省略する
。第3図において100はPチャンネルのMOSFET
でソースはOPアンプ18の反転入力端子に、ドレイン
はPSDIOの端子Aに接続している。101は定電流
回路、102及び103、はカレントミラーを構成する
NPNトランジスタ、104Hコンデンサー、105i
、tスイッチングトランジスタでそのベースにヒ1.↓
lt抗106を介して後述のPUC信号が入力している
。コンデンサー104t;j基準電圧KVCとFET1
00のゲート間に接続されている。
107はFETl0(1)ゲートを入力とするA/D変
換器、108はラッチ回路で、ランチ入力には前記A 
F E N D 1@号が入力している。109 +;
l:インバータでPIJC信号を反転した1vτ信月を
出力する。
次に上述の如く構成された本発明の実施例の動作を説明
する。不図示のシャッターボタンの第1ストロークを押
し込むことによりスイッチSW1がオンし、コンデンサ
ー104の初期リセットが行われる。シτ7信号により
コンデンサ−104のりセットが行われた後には、定’
rlV流回路101の出力によりトランジスタ102及
び103を介して充電されていき、FETのゲー) ′
+iL圧は基準電圧KVCより徐々に低下していく。そ
の為FET100のソースドレイン間の抵抗値も徐々に
減少し、第2図の実施例と同じくoPアンプ5oの出力
は徐々に上昇し、コンパレータ54の出方はLレベルか
らHレベルに反転し、RS −FF 55はセットされ
、出力QからA Ii’ F、N D信号が発生する。
一方前記FETのゲート巾:圧はA/D変換器107に
於て遂次A/D変堕され、AFEND信号が発生すると
、その時点でA/D変換器107の出力がランチ回路1
08にラッチされる。シkがってこのラノチイn報が測
距情報となり、レンズ鏡筒の制御は第2の実施例と同じ
であるので説明を省略する。
本実施例においてはFETをインピーダンス手段として
用いているため抵抗を切り換える方法に比して構造が簡
単になるという効果があるばかりか、PETのゲートの
電圧を制御することにより実質的に抵抗を切り換えてい
るため、FETのゲートの電圧を精密に制御することに
より無段階に抵抗値を変え、きわめて精密に反射光の入
射位置を検出することができる。
第4図は本発明の第3の実施例の回路図である。
第4図の回路においては第1の実施例の回路において抵
抗11.12.13を切り換える代わりにFETを設け
てRETI 00のゲートに印加する電圧をカウンター
74の出力ID/A変換するl)/ A変換器110を
設けて該D/A変換器】10の出力により得るように構
成している。
動作は第1、第2の実施例と同じであるから説明全省略
する。
本発明の以上の実施例においてはPSDの出力端子に設
けられたインピーダンス手段として第1の実施例では抵
抗、第2、第3の実施例においてはFETのソースドレ
イン間の抵抗としたが抵抗値を制御できる素子であれば
適用できるのは勿論である。又、PSDの出力電流を検
出する検出手段として、OPアンプ34とした。インピ
ーダンス手段のインピーダンスを変化させPSDの出力
電流がバランスしたときの前記検出手段の出力から入射
スポットの位置を検出する手段として、本実施例におい
てはOPアンプ54.T’5−Fl”55およびR8−
FF55の出力によりカウントが停止するカウンタ74
とした。またインピーダンス手段のインピーダンスを変
化させるため第1の実施例においては抵抗を切り換える
アナログスイッチ、第2の実施−例では定電流源101
トランジスタ102.103、及びコンデンサー104
から成る回路とし、第3の実施例においてはカウンター
74の出力をD/A変換するD/A変換器とした。
また本実施例においては1次元のPSDの信号処理回路
を示したが、2次元のPSDに応用するためには本実施
例に示した48号処理回路を2組設ければよい。
以上説明した如く本発明に依れば、入射スポットの位置
に応じて連続的に出力が変化するPSDの入射スポット
光の位置を検出する信号処理回路において、1次元のP
SD素子の場合には2本1対の出力端子、2次元、の・
P’SDの場合には4本2対の出力端子のそれぞれ対に
なった少なくとも一方の端子に設けられたインピーダン
ス手段と、該インピーダンス手段のインピーダンスを変
化させる変化手段と、前記出力端子の出力電流を検出す
る検出手段とを設け、前記インピーダンス手段のインピ
ーダンスを前記変化手段により変化させ前記検出手段に
より検出された前記対の出力端子の出力がバランスした
ときの前記インピーダンス手段のインピーダンスに応じ
て入射スポット光の位11?′を検出する手段とを具備
したので従来のPSDの信号処理回路の如く規格化のた
めの回路も必要なく簡単な構成で入射スポットの位置を
高精度で検出でき更に信号処理回路のダイナミックレン
ジを小さくできるために回路構成を簡単にすることがで
き極めて効果大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図fa)、(b)は本発明の原理を示す原理+g+
、第2図は本発明を応用したカメラの第一の実施例の回
路図、 第3図は本発明の第2の実施例の回路1・に1、第4図
は本発明の第3の実施例の回路図である。 10・・・・・・半導体装置検出器 11.12.13・・・・・・抵抗 18.27.34.50・・・・・・オペアンプ74・
・・・・・カウンタ 100・・・・・・FET 出願人 キャノン株式会社 、官L1λi4!4

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 入射スポットの位置に応じて連続的に出力が変化する半
    導体装置検出素子の入射スポット光の位置を検出する信
    号処理回路において、1次元の半導体装置検出素子の場
    合には2本1対の出力端子、2次元の半導体装置検出素
    子の場合には4本2対の出力端子のそれぞれ対になった
    少なくとも一方の端子に設けられたインビニダンス手段
    と、該インピーダンス手段のインピーダンスを変化させ
    る変化手段と、前記出力端子の出力′電流を検出する検
    出手段とを設け、前記インピーダンス手段のインピーダ
    ンスを前記変化手段により変化させ前記検出手段によシ
    検出された前記対の出力端子の出力が略バランスしたと
    きの前記インピーダンスのインピーダンスに応じて入射
    スポット光の位置を検出する手段とを具備したことを特
    徴とする半導体装置検出素子の信号処理回路。
JP58211901A 1983-11-11 1983-11-11 半導体位置検出素子の信号処理回路 Pending JPS60104203A (ja)

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