JPS6315525B2

JPS6315525B2 -

Info

Publication number: JPS6315525B2
Application number: JP10474280A
Authority: JP
Inventors: Motonobu Matsuda; Yoshihiro Tanaka
Original assignee: Minolta Co Ltd
Current assignee: Minolta Co Ltd
Priority date: 1979-08-10
Filing date: 1980-07-29
Publication date: 1988-04-05
Also published as: JPS5626212A

Description

【発明の詳細な説明】

発明の分野本発明は、測距装置、特に三角測距の原理を利
用した投射光式測距装置において、測距用測光回
路からの信号を適格に処理する論理回路を備えた
測距装置に関する。従来技術従来、光ビーム投射手段と、該光ビーム投射手
段から投射され、測距対象から反射された光を受
光するように並べられた複数の受光素子とを備え
どの受光素子が受光したかを、受光素子に対応す
る測光回路で検出することにより、測距対象の位
置を所定ゾーン別に検出するようにした測距装置
が提案されている。この種従来の装置の原理を第
１図を用いてより具体的に説明すると、図中、１
ａ〜１ｄは測距用受光素子、１０は光ビーム投射
手段であるパルス光投射用の発光素子、Ｌ１，Ｌ
２はレンズである。今、例えば発光素子１０からのパルス光が被測
距物で反射して受光素子１ａで検出されたとき
は、被測距物はゾーンＡに（表１の）、受光素
子１ｂのときはゾーンＣに（表１の）、受光素
子１ｃのときはゾーンＥに（表１の）、受光素
子１ｄのときはゾーンＧに（表１の）、夫々あ
ることになる。また、２個の受光素子１ａと１
abとが検出したときはゾーンＡとＣの間にある
ゾーンＢに（表１の）、同様に、受光素子１ｂ
と１ｃとのときはゾーンＤに（表１の）、受光
信号１ｃと１ｄとのときはゾーンＦに（表１の
）、夫々被測距物があり、さらにどの受光素子
も反射したパルス光を検出しなかつたときは、被
測距物は無限遠のゾーンＨに（表１の）あるこ
とになる。さらに、各受光素子１ａ〜１ｄと発光
素子１１の取り付時のバラツキ等で反射したパル
ス光を３個の受光素子１ａ，１ｂ，１ｃが検出し
たときは、受光素子１ｂに対応するゾーンＣに
（表１の）、同様に、受光素子１ｂ，１ｃ，１ｄ
が検出したときはゾーンＥに（表１の）、夫々
被測距物があることになる。この様子を示したものが表１の〜である。
即ち、表１は各受光素子１ａ〜１ｄがパルス光を
検出した“１”の信号の組合せに対する被測距物
があるゾーンに対する値のみを“１”で、ないゾ
ーンは“０”で示してある。

【表】ところでこのような従来の装置を用いると生じ
る避け難い問題点を、第２図、第３図に従つて説
明する。第２図において、被測距物のαの位置に
光ビームが投射されると、この部分の反射光の一
部が受光素子１ｄに入射される一方、αの部分か
らの反射光の一部はβの部分に入射されて、該β
部分による反射光の一部が受光素子１ｂに入射さ
れると、受光素子１ａ〜１ｄの出力は“0101”と
なつて、表１に示した正常な信号には該当せず、
ゾーンＣとＧの二ケ所に被測距物があるような信
号を出力する。また第３図に示すように、投射ビ
ームの範囲内でゾーンＣとＧの位置に、夫々被測
距物があれば同様にγの部分とδの部分からの反
射光が夫々受光素子１ｂ，１ｄに入射して第２図
と同様に、受光素子１ａ〜１ｄの出力は“0101”
となつて表１に示した正常な信号には該当しない
信号が出力される。このような、正常な信号に該
当しない信号を列挙すると表２のようになる。

【表】発明の目的この発明はこのような従来装置で発生する問題
点に対処するようなされたものであり、前述のよ
うな正常でない信号が受光素子１ａ〜１ｄから出
力されたときは、撮影レンズの最も使用頻度の高
い焦点位置（常焦点）に対応したゾーンの信号が
出力される論理回路を設けたものである。即ち、
この発明にかかる測距装置は光ビーム投射手段
と、該光ビーム投射手段から投射され、測距対象
から反射された光を受光するように並べられた複
数の受光素子とを備え、どの受光素子が受光した
かを、受光素子に対応する測光回路で検出するこ
とにより、測距対象の位置を所定ゾーン別に検出
するようにした測距装置において、１つ、または
２つ、あるいは３つの測光回路からの夫々対応す
る受光素子の受光信号によつて、当該受光素子に
夫々対応する正規のゾーン位置、または、２つの
正規のゾーンに亘る中間のゾーン位置、あるいは
中央の受光素子に対応した正規のゾーン位置を示
す信号を生じる第１乃至第３の判別手段と、受光
信号が上記のどの測光回路からも出力されないと
きは無限遠のゾーン位置を示す信号を生じる第４
の判別手段と、上記第１乃至第４の判別手段では
判別不可能な受光信号が出力されたときは撮影レ
ンズの常焦点に対応したゾーン位置を示す信号を
生じる第５の判別手段とを有する論理回路を設け
たことを特徴とする測距装置を新規に創作したも
のである。従つて、この発明の装置によれば、正常でない
信号が出力されたときは、常焦点位置の信号が出
力され、撮影レンズ位置が常焦点位置に制御され
ることが可能となり焦点不整合な撮影が行なわれ
る確率が減少するといつた効果が得られる。実施例以下、この発明を図面を示す実施例について詳
細に説明する。第４図はこの発明を適用したレンズの自動焦点
調節装置のシステム図にして、図中、１ａ〜１ｄ
は一端を一定電位Vrに接続された受光素子、２
ａ〜２ｄは具体的構成を第５図に示すパルス入力
検出用の測光回路、３ａ〜３ｄはタイミング端子
Ｔへのパルスの立上りで入力端子Ｄへの信号を記
憶し、出力するラツチ用のＤフリツプ・フロツプ
である。 SW₁は手動で押し下げられるボタン（不図示）
に連動して閉成されるスイツチで、このボタンの
押し下げで、撮影用レンズ（不図示）が撮影可能
な最近接位置よりもさらに近接の位置から無限大
位置に向つて移動を開始する。SW₂は撮影用レン
ズの移動が撮影可能な最近接位置よりも近接な所
定位置に達すると閉成されるスイツチ、６はスイ
ツチSW₁の閉成から一定時間後“ハイ”の信号を
出力する遅延回路で、この一定時間は測距用の回
路、主に測光回路２ａ〜２ｄが電源投入後、安定
するのに要する時間である。 AN₀はアンド回路で、このアンド回路AN₀の
立上りでワンシヨツト回路７，９からは、夫々一
定時間巾のパルスを出力する。この時間巾はワン
シヨツト回路９のパルスがワンシヨツト回路７の
パルスよりも短かく設定してある。８は発光素子
１０の駆動回路で、ワンシヨツト回路７からのパ
ルスに応じて発光素子１０がパルス発光される。４は具体例を第６図に示す論理回路であり、こ
の回路４とアンド回路AN₂、オア回路OR₀で構成
された回路の出力Ａ，Ｂ〜Ｈ，IRのうちでどれ
か１つの端子がＤフリツプ・フロツプ３ａ〜３ｄ
の出力ａ〜にもとずいて“ハイ”になる。 FFはRSフリツプ・プロツプで、上記スイツチ
SW₁の閉成でリセツト、ワンシヨツト回路９のパ
ルス立下りでセツトされる。このRSフリツプ・
フロツプFFのＱ出力は出力制御回路５の制御端
子へ接続されると共に、さらにアンド回路AN₄
〜AN₁₆の１つの入力端子に接続されている。１３は可動接片で、固定電極１１とクシ歯状電
極１２Ａ〜１２Ｇ上を撮影レンズの移動に同期し
て摺接移動する。この可動接片１３の移動にとも
なつてインバータIN₂からはクロツクが出力され
て、このクロツクはカウンタ・デコーダ１４に入
力され、カウンタ・デコーダ１４からはレンズの
移動にともなつて、端子A′〜G′が順次“ハイ”
になつていく。Mgは永久磁石をコアとするマグ
ネツトで、このマグネツトMgが導通すると、こ
れに連動した係止レバー等により従来周知の如く
撮影レンズの移動に係止がかかる。なお、撮影レ
ンズの移動の最終位置で移動が停止するようにス
トツパーが設けられていて、このストツパーによ
つて撮影レンズの移動が停止したときは無限遠に
焦点調整されたことになる。５は出力制御回路で、２入力のアンド回路９個
で構成され、これらのアンド回路の一方の入力は
RSフリツプ・フロツプFFのＱ端子に接続され、
他方の入力は夫々論理回路４の出力端子Ａ〜Ｈ及
びオア回路OR₀の出力IRに接続されていて、各
アンド回路の出力には夫々発光ダイオードL₁〜
L₉が接続されている。従つて、端子Ａが“ハイ”
であればL₁が、Ｂが“ハイ”であればL₂が、IR
が“ハイ”であればL₉が夫々点灯する。なお、第５図は、第４図の測光回路２ａ〜２ｄ
の１つを具体的に示す回路で、１は受光素子、
IC₁はトランジスタBT₈，BT₁₀，BT₁₂，BT₁₈の
バイアス用定電流源、C₂は遅延用のコンデンサ、
IC₂は定電圧作成用の定電流源、RVはコンパレ
ータACの反転レベル調整用の可変抵抗である。この回路の動作は、受光素子１が定常光のみを
受光している間はトランジスタBT₄，BT₀，
BT₂，BT₆，BT₁₄，BT₁₆を介しての帰還路によ
つて帰還がかかり、トランジスタBT₁₄とBT₁₆の
ベース電位は等しく、コンパレータACの出力V₀
は“ロウ”となつている。また、外光がゆるやか
に変化する場合もコンデンサC₂の容量を小さく
しておけば充分に帰還がかかりトランジスタ
BT₁₄とBT₁₆のベース電位が等しく、コンパレー
タACの出力は“ハイ”に反転することはない。
さらに、外光の変化が比較的速い場合やただちに
帰還がかからない場合でも、回路のバランスが大
きくくずれる前に帰還がかかるので、コンパレー
タACの２入力間の電位の差を可変抵抗RVによ
つて大きくとつておけばコンパレータACの出力
V₀が“ハイ”に反転することはない。ところが、受光素子１が急激に変化するパルス
光を受光した場合は、コンデンサC₂によつてこ
の急激な変化に対応できる帰還がかからなくな
り、回路のバランスが大きくくずれてコンパレー
タACの出力V₀は“ハイ”に反転する。この信号
がパルスを検出した信号となる。また、第６図は、第４図の論理回路４の具体的
回路例である。表１にもとずいて論理回路４の端
子Ａ〜Ｈと入力ａ〜の関係を示す論理式を示す
と以下のようになる。Ａ＝ａ・・・Ｂ＝ａ・ｂ・・Ｃ＝・ｂ・・・＋ａ・ｂ・ｃ・Ｄ＝・ｂ・ｃ・Ｅ＝・・ｃ・＋・ｂ・ｃ・ｄＦ＝・・ｃ・ｄＧ＝・・・ｄＨ＝・・・また、表２に示した信号が入力されたときは、
正常でないのでIR′の端子を“ハイ”にする。こ
こで、IR′は IR′＝IR₁＋IR₂＋IR₃＋IR₄ ＝（ａｂ）・・ｄ＋ａ・ｂ・ｄとなつていて、この論理式を満足する回路例が第
６図に示してあり、その詳細な説明は省略する。
さらに IR＝IR′＋IR₅＋IR₆＝IR′＋ａ・・ｃを満足する回路例は第４図のアンド回路AN₂、
オア回路OR₀で示されている。次に、第４図の動作説明を行なう。スイツチSW₁が閉成されると測距用の回路への
給電が開始し、撮影レンズ（不図示）は撮影可能
な最近接位置よりもさらに近接の位置から無限大
位置に向つて移動し、RSフリツプ・フロツプFF
はリセツトされ遅延回路６は遅延時間のカウント
を開始する。このとき可動電極１３は固定電極１
１，１２上に達してない。測光回路２ａ〜２ｄが安定するのに充分な時間
が経過すると遅延回路６からは“ハイ”の信号が
出力し、撮影レンズが撮影可能な最近接位置より
近接の所定の位置に達したとき、スイツチSW₂は
閉成してアンド回路AN₀の出力は“ハイ”とな
りワンシヨツト回路７，９から夫々一定時間巾の
パルスが出力する。ワンシヨツト回路７からの信号で発光素子１０
はパルス発光し、ワンシヨツト回路９からのパル
スは発光素子１０の発光中に立下る。発光素子１
０による反射光を受光した受光素子１ａ〜１ｄに
対応した測光回路２ａ〜２ｄからの出力は、ワン
シヨツト回路９からのパルスの立下りでＤフリツ
プ・フロツプのＤ入力に取り込まれて出力され、
以後この信号が記憶される。また、ワンシヨツト回路９からのパルスの立下
りでRSフリツプ・フロツプFFはセツトされて、
Ｑ出力端子が“ハイ”になつて、アンド回路
AN₄〜AN₁₆が動作可能となり、さらに出力制御
回路５が動作して論理回路４の出力端子Ａ〜Ｈ又
はオア回路OR₀の出力IRの信号にもとずいて発
光ダイオードL₁〜L₉のどれか一つが点灯して測
距されたゾーンが最近接位置Ａから無限遠位置Ｈ
のどれかであること又は測距不可能であることを
示す表示が行なわれる。なお、受光信号が上記の
どの測光回路からも出力されないときは無限遠の
ゾーン位置Ｈに対応した発光ダイオードL₈が点
灯する。撮影レンズが撮影可能な最近接位置まで達する
と可動接片１３は固定電極１１，１２上を移動し
始める。例えば論理回路４のＥ端子が“ハイ”に
なつていると、ゾーンＥに対応した位置まで撮影
レンズが移動すると可動接片１３はクシ歯状の固
定電極１２と長方形の固定電極１１を５回短絡し
て、反転回路IN₂からは５回パルスが出力されて
カウンタ・デコーダ１４の出力端子E′が“ハイ”
となつたときアンド回路AN₁₂の出力が“ハイ”
となつて、オア回路OR₄の出力が“ハイ”とな
る。これによつて、トランジスタBTが導通しコ
ンデンサC₁の充電電荷はマグネツトMgのコイル
を介して放電され撮影レンズの移動に係止がかか
り、焦点位置はゾーンＥになる。また、オア回路OR₀の出力IRが“ハイ”のと
きは、即ち、Ｄフリツプ・フロツプ３ａ〜３ｄの
信号が正常でないときは、オア回路OR₂の出力
G″が“ハイ”となる。従つて、撮影レンズがゾ
ーンＧに達したときカウンタ・デコーダ１４の出
力G′が“ハイ”となつてアンド回路AN₁₆、オア
回路OR₄の出力が“ハイ”となり、マグネツト
Mgが導通してレンズの移動に係止がかかる。従
つて、このときは最も使用頻度の高いゾーンＧ
（常焦点位置）にレンズ位置がきまる。いいかえ
ると、判別不可能な受光信号が出されたときは、
撮影レンズの常焦点に対応したゾーン位置を示す
信号を生じる。上記実施例に詳記した如く、この発明は光ビー
ム投射手段と、該光ビーム投射手段から投射さ
れ、測距対象から反射された光を受光するように
並べられた複数の受光素子とを備え、どの受光素
子が受光したかを、受光素子に対応する測光回路
で検出することにより、測距対象の位置を所定ゾ
ーン別に検出するようにした測距装置において、
１つまたは２つ、あるいは３つの測光回路からの
夫々対応する受光素子の受光信号によつて、当該
受光素子に対応する正規のゾーン位置、または、
２つの正規のゾーンに亘る中間のゾーン位置、あ
るいは中央の受光素子に対応した正規のゾーン位
置を示す信号を生じる第１乃至第３の判別手段を
備え、さらに、受光信号が上記のどの測光回路か
らも出力されないときは無限遠のゾーン位置を示
す信号を生じる第４の判別手段と、上記第１乃至
第４の判別手段では判別不可能な受光信号が出力
されたときは撮影レンズの常焦点に対応したゾー
ン位置を示す信号を生じる第５の判別手段とを有
する論理回路を設けたことを特徴とするもので、
簡単な構成により、この種測距装置において、上
記第２表に列記した異常な信号が発生した場合に
も、夫々焦点位置の信号が出されて焦点不整合な
撮影が行なわれなくなるものであり、この種測距
装置の用途を一段と拡大する実用的価値の大なる
ものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の装置の原理を説明する図、第２
図及び第３図は従来の装置の問題点を説明する
図、第４図はこの発明を適用した自動焦点調整装
置のシステム図、第５図は第４図の測光回路の具
体例、第６図は第４図の論理回路の具体例であ
る。１ａ〜１ｄ……受光素子、２ａ〜２ｄ……測光
回路、１０……光ビーム投射手段、３ａ〜３ｄ…
…Ｄフリツプ・フロツプ、４，AN₂，OR₀，OR₂
……論理回路。

Claims

【特許請求の範囲】１光ビーム投射手段と、該光ビーム投射手段か
ら投射され、測距対象から反射された光を受光す
るように並べられた複数の受光素子とを備え、ど
の受光素子が受光したかを、受光素子に対応する
測光回路で検出することにより、測距対象の位置
を所定ゾーン別に検出するようにした測距装置に
おいて、１つの測光回路からの受光素子の受光信号によ
つて当該受光素子に対応する正規のゾーン位置を
示す信号を生じる第１の判別手段と、２つの測光
回路からの２つの受光素子の受光信号によつて、
当該各受光素子に対応する２つの正規なゾーンに
亘る中間のゾーン位置を示す信号を生じる第２の
判別手段と、隣接する３つの受光素子による受光
信号が３つの測光回路から出力されたときは、中
央の受光素子に対応した正規のゾーン位置を示す
信号を生じる第３の判別手段と、受光素子が上記
のどの測光回路からも出力されないときは無限遠
のゾーン位置を示す信号を生じる第４の判別手段
と、上記第１から第４の判別手段では判別不可能
な受光信号が出力されたときは撮影レンズの常焦
点に対応したゾーン位置を示す信号を生じる第５
の判別手段とを有する論理回路を設けたことを特
徴とする測距装置。