JPS6010639A - ウエ−ハ着脱装置 - Google Patents

ウエ−ハ着脱装置

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JPS6010639A
JPS6010639A JP58117948A JP11794883A JPS6010639A JP S6010639 A JPS6010639 A JP S6010639A JP 58117948 A JP58117948 A JP 58117948A JP 11794883 A JP11794883 A JP 11794883A JP S6010639 A JPS6010639 A JP S6010639A
Authority
JP
Japan
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wafer
holes
detachment
attachment
grooves
Prior art date
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Pending
Application number
JP58117948A
Other languages
English (en)
Inventor
Sumio Yabe
矢部 純夫
Shiro Nishiyama
西山 史郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58117948A priority Critical patent/JPS6010639A/ja
Publication of JPS6010639A publication Critical patent/JPS6010639A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/04Apparatus for manufacture or treatment
    • H10P72/0428Apparatus for mechanical treatment or grinding or cutting
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/50Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for positioning, orientation or alignment

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はウェーハを着脱するウェーハ着脱装置に係り、
特に半導体装置のダイシング工程で用いられるウェーハ
着脱装置に関する。
〔発明の技術的背景とその゛問題点〕
半導体装置の製造工程のひとつであるダイシング工程と
は、第1図に示すように、完成したウェーハ1をウェー
ハ着脱装置のウェーハ着脱板2上に載せ、回転するダイ
ヤモンドブレード4により、ウェーハ1上のダイシング
ライン3に沿ってダイシングする工程であり、半導体チ
ップ5毎に分離し易くするための工程である。ウェーハ
を載せるウェーハ着脱板2は、第2図、第3図に示すよ
うに、その表面に同心円状の溝11と十字型の直線状の
溝12が刻まれている。そして同心円状の溝11と直線
状の溝12との交点と中心に貫通孔13 、14が形成
されている。ウェーハ着脱板2の裏面には、貫通孔13
 、14をおおうようにして形成された吸引装置15が
設けられている。
ウェーハ1をウェーハ着脱板2に載せると、吸引装置1
5により貫通孔13 、14を介して真空吸引する。真
空吸引されるとウェーハ1はウェーハ着脱板2に吸着さ
れて固定される。ウェーハ1のダイシングが終了すると
、吸引装置15に図示しない外部圧縮空気形成系より圧
縮空気を送りダイシング終了後のウェーハ1を離脱させ
る。
このような従来のウェーハ着脱装置では、ウェーハ1の
ダイシングライン3と直線状の溝12とが一致しており
、また貫通孔13 、14がダイシングライン3に沿っ
て並んでいる。このためダイシング後のウェーハ1と、
貫通孔13 、14からの圧縮空気により離脱させる場
合には、ダイシングにより薄くなった部分に応力の集中
が生じ、ウェーッ・1がダイシングラインにそって、破
壊されるおそれがある。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情を考慮してなされたものでウェーハが
、ダイシングラインにそって破壊されるおそれのないウ
ェーハ着脱装置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために本発明によるウェーハ着脱装
置は、ウェーハ着脱板表面に形成する溝を、ウェーハ着
脱板表面の中心から外側に向かつて曲線状に形成し、ウ
ェーハ着脱板を貫通する貫通孔を、ウェーハ着脱板表面
に載せられるウェーハにおける直交するダイシングライ
ンの方向にひとつだけ存在するようにして設けたことを
特徴とする。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例によるウェーハ着脱装置を第4図、第
5図に示す。このウェーハ着脱装置は、 1ウ工−八着
脱板2の中心から外側に向かってらせん状の溝が形成さ
れている。このらせん状の溝は4本ずつ3g類の長さが
ある。これは、ウェーハ着脱板2に着脱されるウェーハ
の有効径に対応させたものである。すなわちウェーハ外
径が小さいウェーハIに対しては、そのウェーハ外径内
におさまるようにらせん状の溝2]、22,23.24
が形成され、それぞれの溝21 、22 、3 、24
に対して貫通孔2.5 、26 、27 、28が設け
られている。同様に、ウェーハ外径が中位のウェーハ3
0に対しては、らせん状の溝31 、32 、33 、
34と貫通孔35 、36 、37 、38が設けられ
、ウェーハ外径が大きいウェーハ40に対しては、らせ
ん状の溝41 、42 、43 、44が設けられてい
る。このとき、貫通孔はダイシングラインの方向には絶
対に2つ以上並ばないように形成する。ダイシングライ
ンは通常ウェーハのオリエンテーションフラットの方向
およびそれに直角な方向である。したがって第4図に示
すようにその方向には2つ以上並ばないようにし、斜め
の方向に並ぶよりKする。
貫通孔を介して真空吸引したり圧縮空気を送ったりする
吸引装置も3系統設けられている。すなわち、貫通孔2
5 、2f’i 、 27 、28に対しては吸引装置
29が、貫通孔35 、36 、37 、38に対して
は吸引装置39が、貫通孔45 、46 、47 、4
8に対しては吸引装置49が設けられている。
ウェーハ外径が小さいウェーハかの場合に□は、吸引装
置29により、貫通孔25 、26 、27 、28を
介して真空吸着する。吸着後、ダイシング等の加工をお
こなう際、加工中佐ずる切子を除去するため通常ジェッ
ト水流を用いる。このためダイシング加工終了後、吸引
を中止しても水の粘着力によりウェーハ加はウェーハ着
脱板2にくっついたままである。したがってウェーハ頷
をウェーハ着脱板2より離脱させるために、吸引装置穴
より逆に圧縮空気を噴出させ、ウェーハ20をウェーッ
1着脱板2よりホバーアップさせる。ウェーッー外径が
中位のウェーハ(ト)の場合には、吸引装置穴とともに
吸引装置39を用いる。吸引装置29 、39により貫
通孔5゜26 、27 、28.35.36 、37 
、38を介して真空吸着する。ウェーハ外径が大きいウ
ェーッS40の場合には、吸引装置29 、39ととも
に吸引装置49を用いる。吸別装置29 、39 、4
9によりすべての貫通孔25 、26 。
27 、28 、35 、36 、37 、38 、4
5 、46 、47 、48を介して真空吸着する。
このように本実施例によれば、ダイシングラインにそっ
て貫通孔が2つ以上並ぶことがないため、ダイシング後
のウェーハがダイシングラインにそって破壊することは
ない。また、溝もらせん状でありダイシングラインとは
交差しており溝が、ダイシングラインに対し、平行に一
致することがないためウェーハは、ダイシングラインに
そって破壊することがない。溝をらせん状にすることに
より吸着有効面精を広くすることができ、吸着力が強く
なる。さらに吸引装置を複数系設けることにより、外径
が異なる複数種類のウェーハを吸着離脱させることがで
きる。
なお先の実施例では、ウェーハ着脱板上に4本ずつ3系
統の吸着溝を股げたが、4本と限らず何本ずつでもよい
。また吸着系も、ウェーハ着脱板に着脱するウェーハの
有効径に応じて、1系統、2系統あるいは、4系統以上
の複数系であってもよい。また溝の形状は、らせん形状
に限らず曲線状であればよい。
〔発明の効果〕
以上の通り本発明によれば、ウェーハ吸着板に形成する
溝の形状と貫通孔の配置を変えるだけで、ウェーハがダ
イシングラインにそって破壊される現象を防止すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は半導体装置のダイシング工程を示す図、第2図
は従来のウェーハ着脱装置の平面図、第3図は同装置の
A−A’断面図、第4図は本発明の一実施例によるウェ
ーハ着脱装置の千拘図、第5図は同装置のB−B’断面
図である。 1・・・ウェーハ、2・・・ウェーハ着脱装置、3・・
・ダイシングライン、4・・・ダイヤモンドブレード、
5・・・半導体チップ、11.12・・・溝、13 、
14・・・貫通孔、15−・・吸引装置、20.30.
40・・・ウェーハ、21,22,3. ’冴、 31
 、32 、33 、34. 、41 、42 、43
 、44・・・溝、25,26.27゜28 、35 
、36 、37 、38 、45 、46 、47 、
48・・・貫通孔、29 、39 。 4つ・・・吸引装置。 出願人代理人 猪 股 清 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 、1.ウェーハを載せるウェーハ着脱板表面において、
    ウェーハ着脱板表面に対し垂直方向に貫通する複数の貫
    通孔を設け、前記ウェーハ着脱板表面に、前記複数の貫
    通孔にそれぞれ連なる複数の溝を形成し、前記複数の貫
    通孔および前記複数の溝を介して、ウェーハを真空によ
    り吸着させ、圧縮空気により離脱させるウェーハ着脱装
    置において、 前記複数の溝は、前記ウェーハ着脱板表面の中心から外
    側に向かって曲線状に形成され、前記複数の貫通孔は、
    前記ウェーハ着脱板表面に載せられるウェーハの直交す
    るダイシングラインの方向にひとつだけ存在するように
    設けられていることを特徴とするウェーハ着脱装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記複
    数の溝の曲線の最外端と前記ウェーハ着脱板表面の中心
    との直線距離を、ウェーハの外径の種類に応じて、複数
    種類設けたことを特徴とするウェーハ着脱装置。 、
JP58117948A 1983-06-29 1983-06-29 ウエ−ハ着脱装置 Pending JPS6010639A (ja)

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JP58117948A JPS6010639A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 ウエ−ハ着脱装置

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JPS6010639A true JPS6010639A (ja) 1985-01-19

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ID=14724191

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JP58117948A Pending JPS6010639A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 ウエ−ハ着脱装置

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JP (1) JPS6010639A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1193738A3 (en) * 2000-09-22 2005-08-24 Ishii Tool & Engineering Corporation Method and apparatus for manufacturing chips
JP2013219201A (ja) * 2012-04-09 2013-10-24 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
JPWO2013100149A1 (ja) * 2011-12-28 2015-05-11 古河電気工業株式会社 基板切断用治具、加工装置および基板切断方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1193738A3 (en) * 2000-09-22 2005-08-24 Ishii Tool & Engineering Corporation Method and apparatus for manufacturing chips
JPWO2013100149A1 (ja) * 2011-12-28 2015-05-11 古河電気工業株式会社 基板切断用治具、加工装置および基板切断方法
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