JPS6013117Y2 - 磁気記憶装置 - Google Patents
磁気記憶装置Info
- Publication number
- JPS6013117Y2 JPS6013117Y2 JP15558380U JP15558380U JPS6013117Y2 JP S6013117 Y2 JPS6013117 Y2 JP S6013117Y2 JP 15558380 U JP15558380 U JP 15558380U JP 15558380 U JP15558380 U JP 15558380U JP S6013117 Y2 JPS6013117 Y2 JP S6013117Y2
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- Japan
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- loop
- magnetic
- storage
- circuit
- defective
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、オルソフェライト等の磁性薄板に形威される
円筒形磁区(Bubble domain)を用いた磁
気記憶装置、特に円筒形磁区の記憶回路(以下単に蓄積
ループと称する。
円筒形磁区(Bubble domain)を用いた磁
気記憶装置、特に円筒形磁区の記憶回路(以下単に蓄積
ループと称する。
)として予備の蓄積ループを設けた磁気記憶装置に関す
るものである。
るものである。
円筒形磁区を用いた磁気記憶装置は、第1図に示すよう
に、オルソフェライト等の如く、その面に垂直方向に磁
化容易軸を有する磁性薄板1に、一定のバイアス磁界を
その面に垂直に加えることにより、磁性薄板1の大部分
はその方向に磁化するが、一部は逆方向に磁化されたま
ま円筒形磁区2を形成する。
に、オルソフェライト等の如く、その面に垂直方向に磁
化容易軸を有する磁性薄板1に、一定のバイアス磁界を
その面に垂直に加えることにより、磁性薄板1の大部分
はその方向に磁化するが、一部は逆方向に磁化されたま
ま円筒形磁区2を形成する。
この磁区2はバイアス磁界の加わっている状態では、エ
ネルギ的に極めて安定であるが、磁性薄板1の面に平行
に一定以上の磁場勾配の方向に自由に移動することにな
る。
ネルギ的に極めて安定であるが、磁性薄板1の面に平行
に一定以上の磁場勾配の方向に自由に移動することにな
る。
この磁性薄板1の上面にT、 Iパー・パターン3を
パーマロイ等の高透磁率材料によって形威し、磁性薄板
1の面に平行に回転する回転磁界HRを加えると、T、
Iパー・パターン3は符号十、−で示すように磁化され
て、磁区2は吸引或は反発され、磁区2は回転磁界HR
の回転方向に応じた方向のT、 Iパー・パターン3
に沿って移動する。
パーマロイ等の高透磁率材料によって形威し、磁性薄板
1の面に平行に回転する回転磁界HRを加えると、T、
Iパー・パターン3は符号十、−で示すように磁化され
て、磁区2は吸引或は反発され、磁区2は回転磁界HR
の回転方向に応じた方向のT、 Iパー・パターン3
に沿って移動する。
この磁区2の移動を利用して論理動作や記憶動作を行な
わせるものである。
わせるものである。
第2図は従来の円筒形磁区を用いた磁気記憶装置の説明
図であり、磁性薄板1に前述の如きT。
図であり、磁性薄板1に前述の如きT。
■パー・パターンによたって形成した蓄積ループ4を複
数個設ける。
数個設ける。
又伝播母線6も蓄積ループ4と同様にして設け、蓄積ル
ープ4と伝播母線6との間はゲート回路5により結合し
、このゲート回路5の制御により磁区の転入、転出を行
なう。
ープ4と伝播母線6との間はゲート回路5により結合し
、このゲート回路5の制御により磁区の転入、転出を行
なう。
7は磁区の存在を検出する為のパーマロイ薄膜、ホール
素子等の検出器、8は磁区の書込消去器である。
素子等の検出器、8は磁区の書込消去器である。
又WEは書込消去回路、SSはセンス回路、CCは制御
回路、CDはゲート駆動回路、RHDは回転磁界駆動回
路である。
回路、CDはゲート駆動回路、RHDは回転磁界駆動回
路である。
磁性薄板1は回転磁界駆動回路RHDの出力により常に
一定の回転磁界が加えられ、蓄積ループ4内の磁区即ち
情報はその閉ループ内を循環している。
一定の回転磁界が加えられ、蓄積ループ4内の磁区即ち
情報はその閉ループ内を循環している。
例えば1情報ブロツクをNビットにより構成する場合、
N個の蓄積ループ4に並列的に情報が蓄積され、各情報
ブロックの番地は、回転磁界に従ってその位置が順次移
動することになり、唯その情報ブロンのビット位置は蓄
積ループ4の配置位置に対応して固定されている。
N個の蓄積ループ4に並列的に情報が蓄積され、各情報
ブロックの番地は、回転磁界に従ってその位置が順次移
動することになり、唯その情報ブロンのビット位置は蓄
積ループ4の配置位置に対応して固定されている。
成る情報ブロック番地が指定されると、その情報ブロッ
ク番地が各ゲート回路5の直前に到達した時点で、制御
回路CCからゲート駆動回路CDに信号を送り、それに
よってゲート回路5を開き、その情報を伝播母線6に誘
導する。
ク番地が各ゲート回路5の直前に到達した時点で、制御
回路CCからゲート駆動回路CDに信号を送り、それに
よってゲート回路5を開き、その情報を伝播母線6に誘
導する。
その伝播母線6に誘導された情報即ち磁区は直列的に回
転磁界により矢印方向に移動し、読出しは読出器7に於
いて磁区の接近による磁界変化を用いて検出し、センス
回Hsから出力情報として処理装置等へ送る。
転磁界により矢印方向に移動し、読出しは読出器7に於
いて磁区の接近による磁界変化を用いて検出し、センス
回Hsから出力情報として処理装置等へ送る。
又書込みは、例えば公知の磁区消去回路より戒る書込消
去器8に於いて磁区を一旦消去した後、入力情報に応じ
て動作する書込消去回路WE例えば公知の磁区発生回路
より成る回路により磁区を形成し、伝播母線6に沿って
移動して行き、各ビット位置に到達した時点でゲート回
路5を開いて、各蓄積ループ4内に導入し、これが終了
するとゲート回路5を閉じ、以後は書込まれた情報は蓄
積ループ4内を循環する。
去器8に於いて磁区を一旦消去した後、入力情報に応じ
て動作する書込消去回路WE例えば公知の磁区発生回路
より成る回路により磁区を形成し、伝播母線6に沿って
移動して行き、各ビット位置に到達した時点でゲート回
路5を開いて、各蓄積ループ4内に導入し、これが終了
するとゲート回路5を閉じ、以後は書込まれた情報は蓄
積ループ4内を循環する。
前述の如き磁気記憶装置は、複数の蓄積ループ4に対し
て共通の伝播母線6を設けているので、検出器7及び書
込消去器8はそれぞれ1個で良いことになる。
て共通の伝播母線6を設けているので、検出器7及び書
込消去器8はそれぞれ1個で良いことになる。
しかし、磁性薄板1は、現在数ミクロンから数十ミクロ
ンの厚さが必要であるから、完全で大きな磁性薄板を製
作するのは可成り困難である。
ンの厚さが必要であるから、完全で大きな磁性薄板を製
作するのは可成り困難である。
−力検出器、書込消去器及び周辺回路は、1枚の磁性薄
板に対して共通にすることができるので、大きな磁性薄
板を製作する程、記憶単位当りの単価を安くすることが
できる。
板に対して共通にすることができるので、大きな磁性薄
板を製作する程、記憶単位当りの単価を安くすることが
できる。
従って、本考案の目的は、大きな磁性薄板を製作し、そ
れによって生ずる欠陥部分が例え存在したとしても、そ
の部分に対する予備部分を予め形成として代替させ、磁
性薄板の歩留りを実質的に向上して、廉価な磁気記憶装
置を提供することにある。
れによって生ずる欠陥部分が例え存在したとしても、そ
の部分に対する予備部分を予め形成として代替させ、磁
性薄板の歩留りを実質的に向上して、廉価な磁気記憶装
置を提供することにある。
以下実施例について詳細に説明する。
第3図は本考案の実施例の説明図であり、第2図と同一
符号は同一部分を示すものであって、第2図と相違する
円℃はパルス列変換回路、LNMは不良ループ記憶回路
である。
符号は同一部分を示すものであって、第2図と相違する
円℃はパルス列変換回路、LNMは不良ループ記憶回路
である。
前述の如く情報ブロックがNビット樹皮の場合、陽、1
〜No、Nの蓄積ループ4を磁性薄板1に形成すると共
に、任意個所別えばNo、Nの蓄積ループ4に隣接して
予備ループ4aを形成する。
〜No、Nの蓄積ループ4を磁性薄板1に形成すると共
に、任意個所別えばNo、Nの蓄積ループ4に隣接して
予備ループ4aを形成する。
蓄積ループ4が総て完全なものであれば、従来例と同様
にし動作し、予備ループ4aは遊びとする。
にし動作し、予備ループ4aは遊びとする。
しかし、大きな磁性薄板1を製作することによって一部
に欠陥部分が生じた場合、その欠陥蓄積ループの番号を
不良ループ記憶回路LNMに記憶させて予備ループ4a
に情報を記憶させるものであり、それに伴なって入出力
パルス列を変換させるのである。
に欠陥部分が生じた場合、その欠陥蓄積ループの番号を
不良ループ記憶回路LNMに記憶させて予備ループ4a
に情報を記憶させるものであり、それに伴なって入出力
パルス列を変換させるのである。
例えば陽、3の蓄積ループ4の一部に欠陥があり、簡単
化の為書込或は読出情報が総て“1゛′であるとすると
、情報書込みの場合、第4図に示すように、クロックC
Lに同期した入力信号パルス列は第4図aのようになる
。
化の為書込或は読出情報が総て“1゛′であるとすると
、情報書込みの場合、第4図に示すように、クロックC
Lに同期した入力信号パルス列は第4図aのようになる
。
しかし、第3ビツトを書込むべきNo、3の蓄積ループ
4が不良であるから、第4図すに示すパルス列にならな
ければならない。
4が不良であるから、第4図すに示すパルス列にならな
ければならない。
従ってパルス列変換回路内℃に於いて、不良ループ記憶
回路LNMからの情報に基いて第3ビツト以降は1クロ
ック分遅らせれば良いことになる。
回路LNMからの情報に基いて第3ビツト以降は1クロ
ック分遅らせれば良いことになる。
又読出しの場合は、センス回路SSの出力は第4図すに
示すように動、3の蓄積ループ4からの情報が抜けてい
ることになるから、第1、第2ビツト目を1クロック分
の時間遅らせて、第4図Cに示すようなパルス列にパル
ス列変換回路PTCに於いて変換すれば良いことになる
。
示すように動、3の蓄積ループ4からの情報が抜けてい
ることになるから、第1、第2ビツト目を1クロック分
の時間遅らせて、第4図Cに示すようなパルス列にパル
ス列変換回路PTCに於いて変換すれば良いことになる
。
第5図はパルス列変換回路PTCの一例を示すもので、
FFI、FF2はフリップフロップ、ND1〜ND3は
ナンド回路、NRはノア回路、CLはクロック、csl
、cs2は制御信号である。
FFI、FF2はフリップフロップ、ND1〜ND3は
ナンド回路、NRはノア回路、CLはクロック、csl
、cs2は制御信号である。
読出しの場合、不良ループ以前のビットに対しては制御
信号C82をナンド回路ND3に加え、フリップフロッ
プFF2の出力を取出すことにより1クロック分遅らせ
、不良ループ以後のビットに対しては制御信号C81を
ナンド回路ND2に加え、フリップフロップFFlの出
力を取出すことにより、第4図Cに示すようなパルス列
が得られる。
信号C82をナンド回路ND3に加え、フリップフロッ
プFF2の出力を取出すことにより1クロック分遅らせ
、不良ループ以後のビットに対しては制御信号C81を
ナンド回路ND2に加え、フリップフロップFFlの出
力を取出すことにより、第4図Cに示すようなパルス列
が得られる。
又書込みの場合、不良ループ以前のビットに対して制御
信号C51をナンド回路ND2に加え、フリップフロッ
プFFlの出力を取出し、不良ループ以後のビットに対
して制御信号C32をナンド回路ND3に加え、フリッ
プフロップFF2の出力を取出すことにより、第4図す
に示すようなパルス列が得られる。
信号C51をナンド回路ND2に加え、フリップフロッ
プFFlの出力を取出し、不良ループ以後のビットに対
して制御信号C32をナンド回路ND3に加え、フリッ
プフロップFF2の出力を取出すことにより、第4図す
に示すようなパルス列が得られる。
第6図は伝播母線により第5図に示すパルス列の変換を
行なわせる実施例を示すものであり、伝播母線6に沿っ
て矢印方向に磁区が移動するものとすると、検出器7側
にゲート回路9と遅延回路10を設け、書込消去器8側
にゲート回路11と高速伝送回路12とを設ける。
行なわせる実施例を示すものであり、伝播母線6に沿っ
て矢印方向に磁区が移動するものとすると、検出器7側
にゲート回路9と遅延回路10を設け、書込消去器8側
にゲート回路11と高速伝送回路12とを設ける。
前述の場合と同様に動、3の蓄積ループ4が不良である
とすると、読出しの場合、NO,1とNo、2の蓄積ル
ープ4に蓄積されている磁区は、伝播母線6に誘導され
てゲート回路9に到達したとき、ゲート回路9を閉じて
遅延回路10を通るようにして、1クロック分遅らせ、
No、4以降の蓄積ループ4に蓄積されている磁区に対
しては、ゲート回路9を開いて通常のように検出器7へ
誘導する。
とすると、読出しの場合、NO,1とNo、2の蓄積ル
ープ4に蓄積されている磁区は、伝播母線6に誘導され
てゲート回路9に到達したとき、ゲート回路9を閉じて
遅延回路10を通るようにして、1クロック分遅らせ、
No、4以降の蓄積ループ4に蓄積されている磁区に対
しては、ゲート回路9を開いて通常のように検出器7へ
誘導する。
従って検出器7により読出されたパルス列は第4図Cに
示すものとなる。
示すものとなる。
又書込みの場合、第1、第2ビツトに対してはゲート回
路11を閉じて高速伝送回路12を誘導し、lクロック
分加速し、第3ビツト以降はゲート回路11を開いて通
常の伝播母線6に沿って誘導する。
路11を閉じて高速伝送回路12を誘導し、lクロック
分加速し、第3ビツト以降はゲート回路11を開いて通
常の伝播母線6に沿って誘導する。
従って第4図すに示すパルス列に変換されたことになり
、不良ループに対する情報は常に440 ttとなる。
、不良ループに対する情報は常に440 ttとなる。
このようなゲート回路9,11の制御は第3図に於ける
ものと同様に不良ループ記憶回路LNM及び制御回路C
Cによって行なうものである。
ものと同様に不良ループ記憶回路LNM及び制御回路C
Cによって行なうものである。
即ちゲート回路9,11、延焼回路1゜及び高速伝送回
路12によりパルス列変換回路を構成しているものであ
る。
路12によりパルス列変換回路を構成しているものであ
る。
もちろん高速伝送回路12と遅延回路10の配置は実施
例に限定されるものではなく、例えば第6図において高
速伝送回路12と遅延回路10を入れ換えることも可能
であり、この場合にはゲート回路9,11の制御をかえ
ればよい。
例に限定されるものではなく、例えば第6図において高
速伝送回路12と遅延回路10を入れ換えることも可能
であり、この場合にはゲート回路9,11の制御をかえ
ればよい。
すなわち読出しにおいては、不良ループ以前の蓄積ルー
プの情報は通常と同様に伝送し、不良ループ以後の蓄積
ループの情報を高速伝送回路12により1クロツク加速
させ、書込みの場合には不良ループ以前のビットの情報
は通常と同様に伝送し、不良ビット以後のビットの情報
を遅延回路10により1クロツク遅延させるようゲート
回路9.11を不良ループ記憶回路LMNの情報に基づ
いて制御すればよい。
プの情報は通常と同様に伝送し、不良ループ以後の蓄積
ループの情報を高速伝送回路12により1クロツク加速
させ、書込みの場合には不良ループ以前のビットの情報
は通常と同様に伝送し、不良ビット以後のビットの情報
を遅延回路10により1クロツク遅延させるようゲート
回路9.11を不良ループ記憶回路LMNの情報に基づ
いて制御すればよい。
第7図は前述の遅延回路10の一例を示すもので、T、
■パー・パターンとコイル13とによって構成され、通
常はコイル13に電流が流れていないことにより、磁区
2はa−+b→C→d→e→f→g→h→i→j→にの
径路で回転磁界によって移動するが、磁区2がd点に達
した時点でコイル13に電流を流すと、その磁界により
磁区2はe′点に移動し、その後の回転磁界によりe’
−of’→〆→h′→i′→j′→に′→l′→1−4
j→にの径路で移動し、i点に於いては丁度回転磁界の
1周期分遅れることになる。
■パー・パターンとコイル13とによって構成され、通
常はコイル13に電流が流れていないことにより、磁区
2はa−+b→C→d→e→f→g→h→i→j→にの
径路で回転磁界によって移動するが、磁区2がd点に達
した時点でコイル13に電流を流すと、その磁界により
磁区2はe′点に移動し、その後の回転磁界によりe’
−of’→〆→h′→i′→j′→に′→l′→1−4
j→にの径路で移動し、i点に於いては丁度回転磁界の
1周期分遅れることになる。
又第8図は前述の高速伝送回路12の一例を示すもので
、通常はコイル14に電流が流れていないことにより、
a4b4C→−m−+ n→O→p →qの径路で磁区
2は移動する。
、通常はコイル14に電流が流れていないことにより、
a4b4C→−m−+ n→O→p →qの径路で磁区
2は移動する。
この磁区2がb点に達したとき、コイル14に電流を流
すと、磁区2はb点からe′点に移動し、その後の回転
磁界によす、C′→d′→e′→f′→〆と移動し、コ
ンプレッサ回路15に達する。
すと、磁区2はb点からe′点に移動し、その後の回転
磁界によす、C′→d′→e′→f′→〆と移動し、コ
ンプレッサ回路15に達する。
このコンプレッサ回路15は各パー・パターン間に磁区
が存在しており、磁区2が1点に到達することにより、
コンプレッサ回路15内の磁区は右方に押出されること
になって、押出された磁区はh′→i′→j′→Q +
p −+ qの径路で移動することになり、丁度回転
磁界の1周期分加速されたことになる。
が存在しており、磁区2が1点に到達することにより、
コンプレッサ回路15内の磁区は右方に押出されること
になって、押出された磁区はh′→i′→j′→Q +
p −+ qの径路で移動することになり、丁度回転
磁界の1周期分加速されたことになる。
以上説明した実施例に於いては、不良ループが1個の場
合に対してのものであるが、それ以上不良ループが存在
する場合に対しても、本考案を適用し得るものであり、
例えば第5図に示す実施例に於いてはフリップ70ツブ
を更に追加して、ゲート制御を行なうことにより、不良
ループ数に対したクロック数分だけ遅延させて、不良ル
ープに対するビット間隔を制御することができ、又第7
図及び第8図に示す実施例では、それを不良ループ数縦
続接続するようにすれば良いことになる。
合に対してのものであるが、それ以上不良ループが存在
する場合に対しても、本考案を適用し得るものであり、
例えば第5図に示す実施例に於いてはフリップ70ツブ
を更に追加して、ゲート制御を行なうことにより、不良
ループ数に対したクロック数分だけ遅延させて、不良ル
ープに対するビット間隔を制御することができ、又第7
図及び第8図に示す実施例では、それを不良ループ数縦
続接続するようにすれば良いことになる。
従って本考案によれば、大きな磁性薄板を製作すること
により欠陥部分が生じたとしても、予備ループを形威し
ておくことにより、欠陥部分による不良ループの代替が
可能であり、その代替によるパルス列変換も周辺回路或
は伝播母線により行なうことができ、特に後者は僅かの
パターン追加により行なうことができるので、前述の如
く磁性薄板の実質的歩留り向上と共に極めて経済的な構
成となる。
により欠陥部分が生じたとしても、予備ループを形威し
ておくことにより、欠陥部分による不良ループの代替が
可能であり、その代替によるパルス列変換も周辺回路或
は伝播母線により行なうことができ、特に後者は僅かの
パターン追加により行なうことができるので、前述の如
く磁性薄板の実質的歩留り向上と共に極めて経済的な構
成となる。
そして、本考案においては前述の通り不良ループに対す
る情報が常に“0″となるようにして、円筒形磁区が不
良ループに転入されることを防止しているから、不良ル
ープの中で円筒形磁区が好ましからざる動作をひき起す
こともない。
る情報が常に“0″となるようにして、円筒形磁区が不
良ループに転入されることを防止しているから、不良ル
ープの中で円筒形磁区が好ましからざる動作をひき起す
こともない。
この点を具体的に言えば、もし不良ループが円筒形磁区
を確実に保持できず循環の中途で蓄積ループから脱線さ
せる欠陥を含んでいる場合が最も顕著であり、この場合
蓄積ループから脱離して磁性薄板内を浮遊する円筒形磁
区が多数発生し、近接の蓄積ループに侵入して、蓄積情
報を変化させるとか、或いは近接の蓄積ループ中の他の
円筒形磁区と反発してその円筒形磁区を脱線させやはり
蓄積情報の変化を招来するのである。
を確実に保持できず循環の中途で蓄積ループから脱線さ
せる欠陥を含んでいる場合が最も顕著であり、この場合
蓄積ループから脱離して磁性薄板内を浮遊する円筒形磁
区が多数発生し、近接の蓄積ループに侵入して、蓄積情
報を変化させるとか、或いは近接の蓄積ループ中の他の
円筒形磁区と反発してその円筒形磁区を脱線させやはり
蓄積情報の変化を招来するのである。
このような問題は蓄積ループ間に明瞭な分離手段を形威
し得ない円筒形磁区利用装置の個有の背景に起因するも
のであり、本考案においてはかかる問題を極めて巧みに
解決することができる。
し得ない円筒形磁区利用装置の個有の背景に起因するも
のであり、本考案においてはかかる問題を極めて巧みに
解決することができる。
すなわち、本考案によれば、不良ループに近隣する蓄積
ループまでもが不良動作を招くことを防止できるので、
磁性薄板の実質的歩留りを一層向上し得るものである。
ループまでもが不良動作を招くことを防止できるので、
磁性薄板の実質的歩留りを一層向上し得るものである。
第1図は円筒形磁区を用いた磁気記憶装置の原理説明図
、第2図は従来の磁気記憶装置の説明図、第3図は本考
案の一実施例の説明図、第4図はその動作説明図、第5
図はそのパルス列変換回路の一例、第6図は本考案の他
の実施例の説明図、第7図はその遅延回路の構成説明図
、第8図はその高速伝送回路の構成説明図である。 1は磁性薄板、2は円筒形磁区、4は蓄積ループ、4a
は予備ループ、5はゲート回路、6は伝播母線、7は検
出器、8は書込消去器、9,11はゲート回路、10は
遅延回路、12は高速伝送回路、円゛Cはパルス列変換
回路、LNMは不良ループ記憶回路、CCは制御回路で
ある。
、第2図は従来の磁気記憶装置の説明図、第3図は本考
案の一実施例の説明図、第4図はその動作説明図、第5
図はそのパルス列変換回路の一例、第6図は本考案の他
の実施例の説明図、第7図はその遅延回路の構成説明図
、第8図はその高速伝送回路の構成説明図である。 1は磁性薄板、2は円筒形磁区、4は蓄積ループ、4a
は予備ループ、5はゲート回路、6は伝播母線、7は検
出器、8は書込消去器、9,11はゲート回路、10は
遅延回路、12は高速伝送回路、円゛Cはパルス列変換
回路、LNMは不良ループ記憶回路、CCは制御回路で
ある。
Claims (1)
- 薄板面に垂直な磁化容易軸をもつ磁性薄板と、該磁性薄
板に対して前記磁化容易軸方向のバイアス磁界および薄
板面内で回転する回転磁界を印加する手段とを具え、前
記磁性薄板上に、該バイアス磁界によって生じた円筒形
磁区が該回転磁界によって循環する複数の蓄積ループと
、該複数の蓄積ループに共通に接続され前記回転磁界に
より複数個の円筒形磁区を直列に転送する伝播母線と、
該伝播母線に円筒形磁区を直列に書込む書込手段と、該
伝播母線上の円筒形磁区を検出する検出手段と、前記伝
播母線から各蓄積ループにまたはその逆方向に複数個の
円筒形磁区を一斎に転入・転出させるゲート手段とを配
設してなる磁気記憶装置において、前記ゲート手段を介
して前記伝播母線に前記複数の蓄積ループと共通に接続
された予備ループと、前記蓄積ループおよびおよび予備
ループのうちの不良ループの位置を記憶する不良ループ
記憶回路と、該不良ループ記憶回路と、該不良ループ記
憶回路の内容に基いて書込時には連続書込情報を構成す
る円筒形磁区群のうち不良ループを越えない位置の各蓄
積ループに転入すべき円筒形磁区の伝播母線への書込ま
たは伝播母線上の直列転送を前記回転磁界に同期し所定
時間遅延させると共に、続取時には不良ループ位置に対
応する読取情報を間引いて連続読取情報の配列を詰める
パルス列変換回路とを設け、不良ループには常に円筒形
磁区を転入させないようにしたことを特徴とする磁気記
憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15558380U JPS6013117Y2 (ja) | 1980-10-30 | 1980-10-30 | 磁気記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15558380U JPS6013117Y2 (ja) | 1980-10-30 | 1980-10-30 | 磁気記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5672397U JPS5672397U (ja) | 1981-06-13 |
| JPS6013117Y2 true JPS6013117Y2 (ja) | 1985-04-26 |
Family
ID=29385914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15558380U Expired JPS6013117Y2 (ja) | 1980-10-30 | 1980-10-30 | 磁気記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013117Y2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9233724B2 (en) | 2009-10-14 | 2016-01-12 | Raytheon Company | Hull robot drive system |
| US9254898B2 (en) | 2008-11-21 | 2016-02-09 | Raytheon Company | Hull robot with rotatable turret |
| US9440717B2 (en) | 2008-11-21 | 2016-09-13 | Raytheon Company | Hull robot |
-
1980
- 1980-10-30 JP JP15558380U patent/JPS6013117Y2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9254898B2 (en) | 2008-11-21 | 2016-02-09 | Raytheon Company | Hull robot with rotatable turret |
| US9440717B2 (en) | 2008-11-21 | 2016-09-13 | Raytheon Company | Hull robot |
| US9233724B2 (en) | 2009-10-14 | 2016-01-12 | Raytheon Company | Hull robot drive system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5672397U (ja) | 1981-06-13 |
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