JPS60143754A - 乾燥機における穀粒の含水率測定方法 - Google Patents
乾燥機における穀粒の含水率測定方法Info
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- JPS60143754A JPS60143754A JP25150083A JP25150083A JPS60143754A JP S60143754 A JPS60143754 A JP S60143754A JP 25150083 A JP25150083 A JP 25150083A JP 25150083 A JP25150083 A JP 25150083A JP S60143754 A JPS60143754 A JP S60143754A
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- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 3
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
乾燥中の穀粒の含水率の変化を測定する方法として、含
水率計を周期的に作動し、その測定出力を移動平均する
方法は測定値の偶然変動すなわち測定むらを解消するの
に有効であるが１反面、平均的な含水率からかけ離れた
試料をたまたま測定してしまうと、その測定値の影響が
後に長く残り測定精度を落すことになる。
水率計を周期的に作動し、その測定出力を移動平均する
方法は測定値の偶然変動すなわち測定むらを解消するの
に有効であるが１反面、平均的な含水率からかけ離れた
試料をたまたま測定してしまうと、その測定値の影響が
後に長く残り測定精度を落すことになる。
特に乾燥初期の穀粒は含水率が不均一であるため、初期
の測定結果が乾燥終期の測定精度に悪影響を与えること
が多い。
の測定結果が乾燥終期の測定精度に悪影響を与えること
が多い。
本発明はこのような移動平均法に派生し勝ちな弊害を解
消゛するもので、乾燥の進展に伴い含水（ｌが下がり、
ある程度の値までに乾燥したらそれまでに測定した移動
平均法による含水率を一旦消去し、以後はその後の測定
出力により改めて移動平均を算出することを特徴とし、
これにより含水（ぺが不均一でそれ故に含水率計の測定
出′力に大巾なばらつきを生じ勝ちな乾燥初期の測定結
果を、後続の含水率の移動平均に算入させないで、乾燥
終期の測定精度を向上することを目的とする。
消゛するもので、乾燥の進展に伴い含水（ｌが下がり、
ある程度の値までに乾燥したらそれまでに測定した移動
平均法による含水率を一旦消去し、以後はその後の測定
出力により改めて移動平均を算出することを特徴とし、
これにより含水（ぺが不均一でそれ故に含水率計の測定
出′力に大巾なばらつきを生じ勝ちな乾燥初期の測定結
果を、後続の含水率の移動平均に算入させないで、乾燥
終期の測定精度を向上することを目的とする。
図面に示す本発明の実施例について説明すると。
ｌは乾燥機の調質室Ｃ１その機壁に抵抗式自動含水率計
Ａを取付ける。
Ａを取付ける。
２は調質室ｌの底部に連通ずる乾燥室で２枚の平行な多
孔板３により形成する。
孔板３により形成する。
モして調質室１に張込んだ穀粒を徐々に乾燥室２に流出
し、その途中で乾燥室２を横断するバーナ４の熱風によ
り穀粒の表面を強く乾燥する。
し、その途中で乾燥室２を横断するバーナ４の熱風によ
り穀粒の表面を強く乾燥する。
八−す４の熱風は乾燥室２を横断したのち、吸引排気フ
ァン５により機外に排出する。
ァン５により機外に排出する。
乾燥室２の下端のロークリ八ルブ６をゆっくり回転して
乾燥後の穀粒を機底部に排出し、これを集穀ラセン７、
エレベータ８および船殻ラセン９を経由して再び調質室
１の上部に戻す。
乾燥後の穀粒を機底部に排出し、これを集穀ラセン７、
エレベータ８および船殻ラセン９を経由して再び調質室
１の上部に戻す。
このように穀粒を循環させながら調質室ｌで穀粒内部の
水分を表面に拡散し穀粒全体を均一に乾燥するのである
。
水分を表面に拡散し穀粒全体を均一に乾燥するのである
。
本発明では、前記含水率計Ａの測定出力回路１０を、ブ
イクロコンピユータの中央処理部（ＣＰＵ）１１におけ
る第１人カポート１２に、Ａ／Ｄコン八−へ１３を介し
て接続する。
イクロコンピユータの中央処理部（ＣＰＵ）１１におけ
る第１人カポート１２に、Ａ／Ｄコン八−へ１３を介し
て接続する。
１４は中央処理部１１における制御部で、これにメモリ
１５およびカウンタ１６を接続する。
１５およびカウンタ１６を接続する。
１７は中央処理部１１における出力ポートで、これにデ
ジタル出力回路工８を介し、含水率計Ａの測定指令信号
入力回路１９および自動測定開始信号入力回路２０をそ
れぞれ接続する。
ジタル出力回路工８を介し、含水率計Ａの測定指令信号
入力回路１９および自動測定開始信号入力回路２０をそ
れぞれ接続する。
２１は中央処理部１１における第２人力ポートで、これ
にデジタル入力回路２２を介し乾燥始動スイッチ２３を
接続する。
にデジタル入力回路２２を介し乾燥始動スイッチ２３を
接続する。
そして乾燥始動スイッチ２３を押して閉じ、そのオン信
号を第２人力ボート２１を経て制御部１４により読み込
む。そしてメモリ１５にあらかしめセットされている初
期含水率測定間隔時間ＴＯ（たとえばＴＯ−２分）の時
間設定のデータのアドレスを指定し、制御部１４にその
データを読み出したのち、カウンタ１６をそのデータに
従い時間ＴＯにセットする。
号を第２人力ボート２１を経て制御部１４により読み込
む。そしてメモリ１５にあらかしめセットされている初
期含水率測定間隔時間ＴＯ（たとえばＴＯ−２分）の時
間設定のデータのアドレスを指定し、制御部１４にその
データを読み出したのち、カウンタ１６をそのデータに
従い時間ＴＯにセットする。
そして測定指令信号を時間１０間隔で出力ポート１７よ
り出力し、含水率計Ａにより初期含水イ１Ｍ ｓ ｏを
測定し、各測定回数毎にカウンタ１６の初期測定カウン
タに１を加算すると共に、初期含水率計Ｍｓｏを中細平
均し、その計算結果Ｍ ｓ 。
り出力し、含水率計Ａにより初期含水イ１Ｍ ｓ ｏを
測定し、各測定回数毎にカウンタ１６の初期測定カウン
タに１を加算すると共に、初期含水率計Ｍｓｏを中細平
均し、その計算結果Ｍ ｓ 。
を図示しない表示器にデジタル表示する。
このように初期含水率Ｍ ｓ ｏを所定回数（たとえば
５回）測定してカウントアツプしたら、次にメモリー５
にセットされている含水率′Ａ１１１定間隔時間Ｔａ（
たとえばＴａ＝８または４分）のデータを読み出し、カ
ウント１６をそのデータに従いセットする。これにより
測定指令信号を時間Ｔａ間隔で出力し、制御部１４にお
いて含水率を次のような移動平均法に従って算出し、表
示器に表示する。
５回）測定してカウントアツプしたら、次にメモリー５
にセットされている含水率′Ａ１１１定間隔時間Ｔａ（
たとえばＴａ＝８または４分）のデータを読み出し、カ
ウント１６をそのデータに従いセットする。これにより
測定指令信号を時間Ｔａ間隔で出力し、制御部１４にお
いて含水率を次のような移動平均法に従って算出し、表
示器に表示する。
ここでＭｓｎはｎ回目の測定により移動平均した含水率
であり。
であり。
Ｍｓｎ−１はｎ−１回目」の測定により移動平均した含
水率であり、 Ｍｓｎはｎ回目の測定による含水率計の測定出力である
。
水率であり、 Ｍｓｎはｎ回目の測定による含水率計の測定出力である
。
そしてこのように算出した含水率Ｍｓｎの伯をあらかし
めデータとしてメモリー５に害き込んだ所定の基準値Ｍ
ｓｃ（たとえばＭ ｓ ｃ ＝ ２０％）と比較する。
めデータとしてメモリー５に害き込んだ所定の基準値Ｍ
ｓｃ（たとえばＭ ｓ ｃ ＝ ２０％）と比較する。
そして乾燥時間が経過して含水率Ｍ ｓ ｎが基準値Ｍ
ｓ ｃ以下になったら、いままで移動平均してきた含
水率の計算結果を全て消去（クリア）し、改めて前述の
初期含水率Ｍ ｓ ｏの測定行程から移動平均の算出を
やり直す。
ｓ ｃ以下になったら、いままで移動平均してきた含
水率の計算結果を全て消去（クリア）し、改めて前述の
初期含水率Ｍ ｓ ｏの測定行程から移動平均の算出を
やり直す。
従ってそれ以後の含水率には乾燥初期の誤差の多い含水
率が算入されない。
率が算入されない。
これを要するに本発明においては、移動平均に従い算出
した含水率の値が基準値Ｍ Ｓ Ｃ以下になったらそれ
以前に算出した含水率の値を全部消去し、改めて移動平
均し直して含水率を算出するので、乾燥初期の不均一な
含水率に起因する測定のばらつきによる悪影響を断ち、
乾燥仕上り時における含水率の測定精度が向上するとい
う効果を生ずる。
した含水率の値が基準値Ｍ Ｓ Ｃ以下になったらそれ
以前に算出した含水率の値を全部消去し、改めて移動平
均し直して含水率を算出するので、乾燥初期の不均一な
含水率に起因する測定のばらつきによる悪影響を断ち、
乾燥仕上り時における含水率の測定精度が向上するとい
う効果を生ずる。
第１図は本発明を実施した循環式穀粒乾燥機の縦断正面
図、第２はその１１−１１線に沿う横断平面図、第３図
は木′発明実施例のブロー２り図、第４図はそのフロー
チャートである。 第 １ 図 第２図 第３図 し−−−−−−−＋ ＋ ＋ ＋ Ｊ 間 − ｂ
図、第２はその１１−１１線に沿う横断平面図、第３図
は木′発明実施例のブロー２り図、第４図はそのフロー
チャートである。 第 １ 図 第２図 第３図 し−−−−−−−＋ ＋ ＋ ＋ Ｊ 間 − ｂ
Claims (1)
- 含水率計を周期的に作動し、その測定出力を移動平均し
て乾燥中の穀粒の含水率をその都度算出するものにおい
て、乾燥の進行に伴い前記算出した含水率が所定の基準
値を下回ったらそれ以前に算出した含水率の値を消去し
、消去後の含水率計の測定出力を新規に移動平均し直し
て含水率を算出することを特徴とする乾燥機における穀
粒の含水率測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25150083A JPS60143754A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 乾燥機における穀粒の含水率測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25150083A JPS60143754A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 乾燥機における穀粒の含水率測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60143754A true JPS60143754A (ja) | 1985-07-30 |
Family
ID=17223725
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25150083A Pending JPS60143754A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 乾燥機における穀粒の含水率測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60143754A (ja) |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP25150083A patent/JPS60143754A/ja active Pending
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