JPS60149985A - 光波測距装置 - Google Patents

光波測距装置

Info

Publication number
JPS60149985A
JPS60149985A JP59005469A JP546984A JPS60149985A JP S60149985 A JPS60149985 A JP S60149985A JP 59005469 A JP59005469 A JP 59005469A JP 546984 A JP546984 A JP 546984A JP S60149985 A JPS60149985 A JP S60149985A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
correction
emitting element
optical
shutter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59005469A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0378948B2 (ja
Inventor
Koji Tsuda
浩二 津田
Shinichi Suzuki
新一 鈴木
Atsumi Kaneko
敦美 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP59005469A priority Critical patent/JPS60149985A/ja
Publication of JPS60149985A publication Critical patent/JPS60149985A/ja
Publication of JPH0378948B2 publication Critical patent/JPH0378948B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光波を用いて距離を測定する光波測距装置の光
学的構造に関するものである。光波測距装置は周知のよ
うに、ある規定の周波数で変調された発光ダイオード等
の発光素子からの光を送光光学系を用いて測点に置かれ
たコーナーキューブ等の反射器に向けて放射し、該反射
器より返された光を受光光学系を用いて受光素子に結像
させ、電気信号に変換し、基準変調光に列する反fl=
1変調光の位相遅れを検出することによって距離を測定
する装置である。この様な光波測距装置の場合、距離の
測定誤差は重要な性能ヒの問題であり、その誤差に起因
するものに光学的原因や電気的原因が種々存在する。
本発明は前記の光学的原因のうち発光部の位相むらによ
る影響を除去し、測定誤差を小さくする光学的構造に関
するものである。
通常、光波測距装置においては、装置内の光路長及び電
子回路部の位相ずれに基く測定誤差を補正するために、
測定光とは別に補正光を設けているが、この補正光のと
らえ方として発光部の光軸付近の放射光を利用する測定
光とは異なり、光軸より大きくはなれた放射角度範囲の
光を使用する方法が機構上よくとられる。しかしこの場
合放射角度のちがいにより位相むらがあると、測定光と
補正光の位相差が光路の機械的な設定位置の経II庁変
化又は発光素子の温度特性により変化することによって
、距離の測定誤差が大きくなるとし1う問題がある。そ
して、この位相むらは、光波測距装置からの出射光が大
きくとれることで非常に有効な高指向性形の発光素子に
おいては、光軸付近での位相むらは小さく許容できる範
囲であるが、光軸より大きくはなれた放射角度に椙)て
は、角度に対する位相むらが非常に大きい傾向にある。
前記放射角度に対する位相むらの影響を減少させろため
の従来の装置としては、発光素子とオプティカルファイ
バーを結合し、このオプティカルファイバーを屈曲させ
て光路内に配置する構成、発光素子として放射角度に対
する位相むらの少ないものを用いる構成、発光素子から
の逆光光路内にハーフミラ−を固定して補正光として5
光軸イ1近の光を利用する構成、送光部と送光光学系の
間に設けたシャッターと光学系により光軸付近の光を利
用する構成などがある。
しかし、オプティカルファイバーを屈曲させる構成は極
端に曲げてやらないと目的を達成することは困難であり
、その屈曲がオプティカルファイバーの破断につながり
光波測距装置の経時的信頼性を損ない、また、放射角に
対する位相むらの少ない発光素子を用いる構成は、発光
素子として光の放射特性が無指向性に近いものを選択す
る必要があり、このような発光素子は無視向性であるが
ゆえに実際に使用する狭い放射角度範囲での光出力が小
さく、さらにオプティカルファイバー等と光結合して使
用する場合は、それらとの結合効率が非常に悪く、その
結合損失を補うためにより多くの電力を発光素子に供給
して放射光14を増さなければならないという欠点があ
る。さらに、ノ1−フミラーを用いて補正光を取り出す
構成は、光波測距装置からの出射光量がその分減少して
しまし)、飛距離が短くなってしまう欠点があり、送光
部と送光光学系の間に設けたシャッターと光学系により
補正光を取り出す構成は、送受光光学系等で混雑した場
所にシャッター及びシャッター駆動装置等を配置しなけ
ればならず、構造−]−不利になることがある。
本発明の目的は、前記した従来の欠点を解決し、位相む
らによる不都合を除去した光波測距装置を提供すること
にあり、その特徴は次のようである。
一般に放射角度に対する位相むらとは別に、発光素子の
発光面の場所による位相むらが距離d1す定誤差を増大
させるという問題があり、オプティカルファイバー又は
棒状の透光物質(以後、オプティカルロッドという。)
を使用して光を混合することによって発光面の場所によ
る位相むらは混合均一され、この問題は解決されること
がすでに知られており、本発明においても、送光部とし
ては、発光素子と、オプティカルファイバー又はオプテ
ィカルロッド等の透光部材と、この発光素子と透光部材
の光結合をなす光学系とを組み合わせたものとしている
。そして本発明では、この送光部において前記発光素子
と透光部材の間の送光光路1−に受光部に入射する光が
測定光と補正光で’=7Jり換えられるように反射部材
を出し入れし、発光素子の光軸を含む測定光として用い
る光とほぼ同一の放射角度範囲の光、又は光軸部分の光
を補正光として用いるようにしており、こうすることに
よって送光部の光軸に対して大きな角度の光を補正光と
して用いる場合と異なり、測定誤差に結びつく放射角度
に対する位相むらの影響を受けずに済み、測定誤差が小
さく押さえられ、正確な測距ができるようになる。そし
て、前記した高指向性形発光素子を使用することも同時
に可能となる。従って、前述したように、オプティカル
ファイバーを屈曲させたり、放射角に対する位相むらは
小さいが、光波測距装置としては効率が悪い無指向性形
の発光素子を使用して大電力を供給しなければならない
という不都合は生じなくなる。又、ハーフミラ−を固定
して使用せず、測定光が選択される時は送光光路上に反
射部材が位置しないようにしているため、補正光を取り
出すために光波測距装置からの出射光叩゛が減少し飛距
離が犠牲になるということもない。さらに測定光と補正
光の切り換えのための反射部材及びその駆動装置を送光
部の発光素子イ1近に配置でき、送受光光学系等で混雑
した場所に配置する必要がなくなり、構造−1鑞何利で
ある。
以下図面に基いて本発明の一実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例である光波測距JA置の送光
部を示す光学系の配置図である。
lの符号で示したものは送光部の光学系を示した配置図
であり、測距光を発光する発光素子2の光束トに集光レ
ンズ3が配されており、この集光レンズ3の結像点にオ
プティカルファイバー4を設置しである。
この測距光光路上で集光レンズ3と第1オプテイカルフ
アイバー4の間に円板状のシャッター5を設けその一部
は略45°の角度に反射部材6、又他の一部は透孔7部
が穿設されていてシャッター5の回動により反射部材6
と透孔7は測距光光路」ニに出入可能に切替えられる。
この切替えには駆動軸8を介してモーター9により駆動
される。
測距光光路上に反射部材6が切替えられている時には発
光素子2から集光レンズ3を経て反射部材6により反射
された光束は補正光として結像されるが、その結像点に
別の補正光伝達用の第2オプテイカルフアイバー10を
設けである。
以上が光波測距計の送光部1であり、第2図ではその全
体構成図を光学系を主体に簡略に示した図である。
この第2図では従来から公知のビームスプリッタ−11
,対物しンズ12.コーナーキューブ13及び受光部1
4で構成される測距光光路の光学的構造を示したもので
あり、他方補正光光路上には前記第2オプテイカルフア
イバーの出射端面側には集光レンズ15.NDフィルタ
ー16.駆動軸17の配置した状況を示したものである
次に第1図と第2図を使ってこれらの作用を説明する。
第1図において、今シャッター5を無視して考えると、
発光素子2からの変調光は、放射角度に対する位相むら
が小さく許容範囲内である角度の光が、集光レンズ3に
より集光され、第1オプテイカルフアイバー4の入射端
面4aに結像し、この変調光は第1オプテイカルフアイ
バー4により伝達され、出射端面4bより放射される。
こIlが送光部1からの放射光つまり測定光となる。こ
の送光部にシャッター5等の周辺機構を加えたものが第
1図の状態であり、シャッター5は受光部14に入射す
る光を測定光と補正光のいずれかに切り換える切り換え
シャッターであり、測定光の時のシャッター位置には測
定光が通過するように送光光路用の透孔7を有し、補正
光の時のシャッター位置には反射部材6が取り付けであ
る。そしてこのシャッター5はモーター9の駆動軸8に
固定されていて、測定光と補正光に応じてモーター9に
より回転され、測定光が選択される時は集光レンズ3を
通過した光はそのシャッター位置に反射部材6がないた
めにそのままシャッター5を通過して第1オプテイカル
フアイバー4の入射端面4aに入射するが、補正光が選
択される時は反射部材6により反射され補正光伝達用の
第2オプテイカルフアイバー10に入射するようにしで
ある。
ここで測定光が選択される時は反射部材6が送光光路内
にセットされないために、第2オプテイカルフアイバー
10には光は入射せず、補正光は存在しないし補正光が
選択される時は、反射部材が送光光路内にセットされて
測定光光路が遮断されるため、第1オプテイカルフアイ
バー4には光は入射せず測定光は存在しない。つまり、
選択された光路に対して他方の光路は遮断されるように
しである。
以上のことを含め、さらに詳述すると、まず測定光が選
択された場合を考えると、発光素子2からの放射光は集
光レンズ3により集光され、シャッター5の送光光路透
孔7を通過した後、第1オプテイカルフアイバー4の入
射端面4aに結像する。ここで入射部において発光素子
2の光軸と第1オプテイカルフアイバー4の光軸は一致
するようにしてあり、入射端面4aへの入射角度は光軸
に対して片側01度とする。そして第1オプテイカルフ
アイバー4で伝達された測定光は出射端面4bからほぼ
光軸に刺して片側01度の角度で放射される。次にこの
測定光はビームズブリッター11の第1反射面?1aに
より反射され5対物レンズ】2を通り、平行光束となっ
て外部へ放射される。さらにこの放射光は距離測定点に
設置されたコーナーキューブ13により反射されその反
射光は再び対物レンズ12を通過し、光ビーム分割器1
1の第2反射面] 1 bにより反射され、受光部■4
に入射して距N1測定情報となる。
ここで出射端面4b及び受光部14は対物レンズ12の
焦点位置にあり、第1オプテイカルフアイバー4の光軸
に対して片側01度の角度の光が対物レンズ12より放
射及び入射するようにしである。又、補正光が選択され
た場合には、発光素子2からの放射光は集光レンズ3に
より集光され、シャッター5に取り伺けられた反射部材
6により反射され、第、2オプテイカルフアイバー10
の入射端面10aに結像する。ここで発光素子2の光軸
と第2オプテイカルフアイバー10の光軸は一致するよ
うにしてあり、入射端面10aへの入射角度は測定光の
時の角度範囲と同じく光軸に対して片側01度としであ
る。さJ)に第2オプテイカルフアイバー10により伝
達された補正光は出射端面tobからほぼ光軸に対して
L1側。1度の角度で放射され、その角度範囲の光が集
光レンズ15により集光されて受光部14に入射し、装
置内の光路長及び電子回路部の位相ずれに基く測定誤差
の補正情報となる。
さらに、受光部14の前面には回転角に応じて濃度が変
化するNDフィルター16が設けられており、モーター
等(図示せず)の駆動軸I7により回転されて測定光の
コーナーキューブ13がらの反射入射光量と集光レンズ
15により集光された補正光量の調整を行なうようにし
ている。
本実施例においては、反射部材6をシャッター5に取り
付け、このシャッター5をモーター9により回転してい
るが、シャッターを用いずに直接反射部材を測定光と補
正光に応じて光路に出し入れする構造でもなんらさし・
つかえない。第3図はその一例であり1反射部材6はモ
ーター9の駆動軸8により測定光、補正光に応じて回転
され、光路に出し入れされる。このように反射部材6の
駆動手段は、測定光と補正光が切換えられればいかなる
手段でもさしつかえない。さらに本実施例では、反射部
材6による反射光を第2オブテ、イカルファイバー10
により伝達しているが、オプティカルファイバーを用い
ず、集光レンズ、ミラー等の光学部品を用いる構成でも
かまわない。又、本実施例では、測定光及び補正光とし
て発光素子の光軸に対して同じ角度範囲の光を利用して
いるが。
放射角度に対する位相むらはこの角度範囲では小さく許
容できるので、反射部材6の寸法を小さくし光軸部分の
光のみを反射して補正光として使用してもさしつかえな
い。ただしこの補正光選択時には、光軸部分以外の光は
測定光路にゆかないように遮光さtLることが必要であ
る。
第4図は本発明の他の実施例であって、発光素子2は集
光レンズ18の焦点位置に、又入射端面4aは集光レン
ズ19の焦点位置に、入射端面]Oaは集光レンズ20
の焦点位置にあり、発光素子2からの放射光は集光レン
ズ18により平行光束となり、この平行光束は測定光の
時は送光光路用の透孔7を通過して焦光レンズ19によ
り集光され第1オプテイカルフアイバー4の入射端面4
aに結像し、補正光の時は反射部材6で反射した後、集
光レンズ20により集光して、第2オプテイカルフアイ
バー10の入射端面]、 Oaに結像する。この実施例
では、平行光束部分で光の結合。
切り換えが行なえるので発光素子2と集光レンズ18、
第1オプテイカルフアイバー4と集光レンズ19、第2
オプテイカルフアイバー10と集光レンズ20、シャッ
タ一部分等がユニツ1−化できるようになり、調整もや
りやすくなる。
以上説明したように本発明によれは、送光部の発光素子
と透光部材の間の送光光路上に測定光と補正光に応じて
反射部材を出し入れし、測定光として用いる光とほぼ同
一の放射角度範囲の光、又は光軸部分の光を補正光とし
て用いることによって、透光部光軸とは大きくはなれた
角度の光を補正光として利用する場合と異り、放射角度
に対する位相むらによる影響が除去できる。従って、透
光物質を屈曲する必要もなく、又放射光量が大きくとれ
ることで光波測距儀への応用として非常に有効な高指向
性形の発光素子を使用することが可能となり、放射角度
に対する位相むらが小さい発光素子を選択し、その発光
素子に大電力を供給してその出射効率の悪さを補うこと
によって必要な放射光量を確保するという不都合がなく
なり、その種の発光素子に比べ、数分の−の供給電力で
それ以上の放射光量を得ることが可能となる。従って、
光波測距装置の低消費電力化及び電気的誤差の減少をH
する上でも非常に有効である。さらに、送光光路上に反
射部材を出し入れする構成であるので、測定光が選択さ
れる時、その光量が減衰するという不都合もなく、光路
上にハーフミラ−を固定して用いる場合に比べ飛距離も
大きくとれるようになる。又、送光部のオプティカルフ
ァイバー出射端面ば対物レンズの焦点に位置し、測定光
補正光切り換えシャッター及びその駆動装置等は、オプ
ティカルファー−バーで光結合されている発光素子イ]
近へ位置しているので、送受光光学系で混雑した場所に
配置する場合に比べ構造上有利となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は送光部及びその周辺機構に関する本発明の一実
施例を示す図であり、第2図は第1図に示す送光部及び
その周辺機構を含む光波測距装置の光学系に関する本発
明の一実施例を示す図であり、第3図は反射部材の駆動
部の別実施例を示す図であり、第4図は第1図の送光部
及びその周辺機構に関する本発明の他の実施例を示す図
である。 ■・・・送光部 2・・・発光素子 3 ・集光レンズ
4・・・第1オプティカルファイバー 5・・シャッター 6・・反射部材 7・・透孔8・・
駆動軸 9・・・モーター 10・・・第2オプティカルファイバー11 ビー11
スプリツター 12 ・対物レンズ 13 ・コーナーキューブ14・
受光部 15 ・集光レンズ 16・・NDフィルター 17 ・駆動軸18.19.
20・・・集光レンズ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 送光部からの放射変調光を送光光学系を用いて反射器に
    向けて放射し、該反射器からの反射変調光を受光光学系
    を用いて受光部に結像させ、前記放射変調光と反射変調
    光との位相差により距離を測定する光波測距装置におい
    て、前記送光部を発光素子と透光部材とそれらの間の光
    結合をなすv16学系とし、該発光素子と透光部材の間
    の送光光路上に測定光と補正光に応じて出し入れされる
    反射部材を設け、発光素子の光軸部分の光、又は、光軸
    を含み、測定光として用いる光とほぼ同一の放射角度範
    囲の光を、補正光として用いることによって、前記放射
    変調光の放射角度に対する位相むらの影響を除去したこ
    とを特徴とする光波測距装置。
JP59005469A 1984-01-14 1984-01-14 光波測距装置 Granted JPS60149985A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59005469A JPS60149985A (ja) 1984-01-14 1984-01-14 光波測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59005469A JPS60149985A (ja) 1984-01-14 1984-01-14 光波測距装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60149985A true JPS60149985A (ja) 1985-08-07
JPH0378948B2 JPH0378948B2 (ja) 1991-12-17

Family

ID=11612096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59005469A Granted JPS60149985A (ja) 1984-01-14 1984-01-14 光波測距装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60149985A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01304380A (ja) * 1988-06-02 1989-12-07 Sokkisha Co Ltd 光波距離計
JPH0221282A (ja) * 1988-07-11 1990-01-24 Sokkisha Co Ltd 光波測距装置
JPH02118284U (ja) * 1989-03-07 1990-09-21
JPH05312951A (ja) * 1990-12-19 1993-11-26 Asahi Seimitsu Kk 測距光学系
JPH08292258A (ja) * 1995-04-21 1996-11-05 Nikon Corp 測距装置
WO2006132060A1 (ja) * 2005-06-06 2006-12-14 Kabushiki Kaisha Topcon 距離測定装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5234999U (ja) * 1975-09-04 1977-03-11
JPS5270867A (en) * 1975-11-28 1977-06-13 Mitetsuku Moderune Ind Tech Gm Photoelectric measuring method of dot restricted in distance under influence of enviroment and apparatus for executing same
JPS55144567A (en) * 1979-04-27 1980-11-11 Tokyo Optical Co Ltd Optical fiber device for light wave range finder
JPS5855471A (ja) * 1981-09-07 1983-04-01 バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト 置換された6−アルコキシ−タ−シヤリ−−ブチル−1,2,4−トリアジン−5−オン類、それらの製造方法及び除草剤としてのそれらの使用
JPS60133381A (ja) * 1983-12-22 1985-07-16 Asahi Optical Co Ltd 光波測距装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5234999U (ja) * 1975-09-04 1977-03-11
JPS5270867A (en) * 1975-11-28 1977-06-13 Mitetsuku Moderune Ind Tech Gm Photoelectric measuring method of dot restricted in distance under influence of enviroment and apparatus for executing same
JPS55144567A (en) * 1979-04-27 1980-11-11 Tokyo Optical Co Ltd Optical fiber device for light wave range finder
JPS5855471A (ja) * 1981-09-07 1983-04-01 バイエル・アクチエンゲゼルシヤフト 置換された6−アルコキシ−タ−シヤリ−−ブチル−1,2,4−トリアジン−5−オン類、それらの製造方法及び除草剤としてのそれらの使用
JPS60133381A (ja) * 1983-12-22 1985-07-16 Asahi Optical Co Ltd 光波測距装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01304380A (ja) * 1988-06-02 1989-12-07 Sokkisha Co Ltd 光波距離計
JPH0221282A (ja) * 1988-07-11 1990-01-24 Sokkisha Co Ltd 光波測距装置
JPH02118284U (ja) * 1989-03-07 1990-09-21
JPH05312951A (ja) * 1990-12-19 1993-11-26 Asahi Seimitsu Kk 測距光学系
JPH08292258A (ja) * 1995-04-21 1996-11-05 Nikon Corp 測距装置
WO2006132060A1 (ja) * 2005-06-06 2006-12-14 Kabushiki Kaisha Topcon 距離測定装置
JP2006337302A (ja) * 2005-06-06 2006-12-14 Topcon Corp 距離測定装置
US7474388B2 (en) 2005-06-06 2009-01-06 Kabushiki Kaisha Topcon Distance measuring device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0378948B2 (ja) 1991-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5760905A (en) Distance measuring apparatus
JP3151595B2 (ja) 同軸型光波測距計
US6384944B1 (en) Integral transmitter-receiver optical communication apparatus
KR100264761B1 (ko) 광학 스캐닝 장치
JP2017072466A (ja) 光波距離測定装置
JPS60149985A (ja) 光波測距装置
US4611911A (en) Electro-optical distance measuring device
JP2000329517A (ja) 距離測定装置
JP3681198B2 (ja) レーザ測量機
JP2000205858A (ja) レ―ザ式測距装置
JP2002196270A (ja) レーザー描画装置
US4533226A (en) Still or motion picture camera
JP2000275043A5 (ja)
JPH07333544A (ja) 光偏向器
JPS60133381A (ja) 光波測距装置
JP2939413B2 (ja) 対象反射物体検出装置
JP2001159681A (ja) 光波距離計
RU2346393C1 (ru) Терминал для системы открытой оптической связи
JPH027035B2 (ja)
JPS6298320A (ja) フエ−ズドアレ−半導体レ−ザ光学系
JP2001133232A (ja) 被検物の傾き測定装置
JP2000035546A (ja) マルチビーム走査装置およびその光源ユニット
JP2003185836A (ja) 偏光ビームスプリッタ及び光アイソレータ光学系
JPS6337827A (ja) 光ピツクアツプ装置
JPS5921514B2 (ja) 光波距離計の光学系