JPS60157725A - 磁気記憶媒体 - Google Patents
磁気記憶媒体Info
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- JPS60157725A JPS60157725A JP1256284A JP1256284A JPS60157725A JP S60157725 A JPS60157725 A JP S60157725A JP 1256284 A JP1256284 A JP 1256284A JP 1256284 A JP1256284 A JP 1256284A JP S60157725 A JPS60157725 A JP S60157725A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気記憶媒体、符に面湿度朱件下に暴露された
恢でも耐摩耗性のすぐれた録1i!II川、録廿用ある
いは゛畦算磯に用いられるテーク0状、ドラム状あるい
はディスク状の磁気記憶媒体に関する。
恢でも耐摩耗性のすぐれた録1i!II川、録廿用ある
いは゛畦算磯に用いられるテーク0状、ドラム状あるい
はディスク状の磁気記憶媒体に関する。
近年、記録密度の向上の目的のもとに、鉄、コバルト、
ニッケルまたはこれらの合金からなる強磁性金塊薄膜を
真空蒸着、スパッタリングまたはメッキ法で基体上に付
した磁気記憶媒体が提案さガている。こ4らの金塊磁気
記憶媒体は誦密度記録性に優れているが、記録再生装置
に使用すると磁気ヘッド寺と物理的に接触しながら高速
度走行をするので、耐摩耗性が優れていなげれば実用的
でない。
ニッケルまたはこれらの合金からなる強磁性金塊薄膜を
真空蒸着、スパッタリングまたはメッキ法で基体上に付
した磁気記憶媒体が提案さガている。こ4らの金塊磁気
記憶媒体は誦密度記録性に優れているが、記録再生装置
に使用すると磁気ヘッド寺と物理的に接触しながら高速
度走行をするので、耐摩耗性が優れていなげれば実用的
でない。
耐摩耗性を向上させるために、強個性体金属の表面に液
体または固体のパラフィンなどの炭化水素類からなる@
滑剤を塗布するか、又は真空蒸涜法により薄膜を形成す
ることが提案されている。
体または固体のパラフィンなどの炭化水素類からなる@
滑剤を塗布するか、又は真空蒸涜法により薄膜を形成す
ることが提案されている。
これらの塗布方法あるいは真空煮層法で形成された炭化
水素9f:峡膜は架橋されて赴らず浴剤に可溶であるの
で、常態での耐摩耗性はを九でいるが、尚湿度条件下に
暴露した後ではその1ltl’l岸耗訃が者しく劣化す
るという欠点かある。
水素9f:峡膜は架橋されて赴らず浴剤に可溶であるの
で、常態での耐摩耗性はを九でいるが、尚湿度条件下に
暴露した後ではその1ltl’l岸耗訃が者しく劣化す
るという欠点かある。
本兄明者らは、これら欠点乞改筈するために檎棟の研究
を行なった精米、磁気記憶媒体の保護扱換として高置に
架橋した炭化水素族か尚湿度条件下に暴胤しても耐摩耗
性が劣化しないという知見に基づいて本発明に到達した
ものであする。
を行なった精米、磁気記憶媒体の保護扱換として高置に
架橋した炭化水素族か尚湿度条件下に暴胤しても耐摩耗
性が劣化しないという知見に基づいて本発明に到達した
ものであする。
すなわち、本発明は基体の上に強磁性釡属薄族を設けた
磁気記憶媒体の表面に架橋した炭化水素保護膜を形成さ
せてなる8B気記憶媒体である。
磁気記憶媒体の表面に架橋した炭化水素保護膜を形成さ
せてなる8B気記憶媒体である。
以下さらに本発明の詳細な説明する。
本発明において、架橋した炭化水素保H1模(以下保護
膜という)とは飽和炭化水素ガスのイメーン化プラズマ
分解重合、あるいは炭化水素ガスを含む雰囲気中でカー
ボンターゲットを/マイアススノ七ツタリングする寺の
方法で形成することかできる。
膜という)とは飽和炭化水素ガスのイメーン化プラズマ
分解重合、あるいは炭化水素ガスを含む雰囲気中でカー
ボンターゲットを/マイアススノ七ツタリングする寺の
方法で形成することかできる。
本発明に係る保護膜は浴剤に不浴であり、その赤外分光
分析によるとC−H結会の吸収ビークカタ存在し、その
元素分析ではO/ [(のモル比で50150以下の水
系が言有さハて℃・るもQ)である。
分析によるとC−H結会の吸収ビークカタ存在し、その
元素分析ではO/ [(のモル比で50150以下の水
系が言有さハて℃・るもQ)である。
水系の含有量が少なくなると、膜の硬度は増加すると共
にその円部応力および動摩際保数も増加する。従って、
磁気記憶媒体の保護族として(よ、C/Hのモル比で5
0150から98/2の範囲0.)ものが好ましく、特
に好ましい範囲としては60/4Llから91J/10
である。
にその円部応力および動摩際保数も増加する。従って、
磁気記憶媒体の保護族として(よ、C/Hのモル比で5
0150から98/2の範囲0.)ものが好ましく、特
に好ましい範囲としては60/4Llから91J/10
である。
保護膜は高湿度条件下に暴露した後でも非常に硬く、な
おかつ非常に小さな摩擦係数をもって℃するので、磁気
記憶媒体上に積層された場合、保護族として特に優れた
ものである。本発明品以外θつものは高湿度条件下使用
する場合実用Ill′シでQまなX、1゜保@膜の厚み
としては、好ましくは20口O又以下、特に好ましくは
10口OXg下であり、それ以上の厚みになるとスペー
シングロスが太きくなる。
おかつ非常に小さな摩擦係数をもって℃するので、磁気
記憶媒体上に積層された場合、保護族として特に優れた
ものである。本発明品以外θつものは高湿度条件下使用
する場合実用Ill′シでQまなX、1゜保@膜の厚み
としては、好ましくは20口O又以下、特に好ましくは
10口OXg下であり、それ以上の厚みになるとスペー
シングロスが太きくなる。
本発明品を装造する方法について説明する。
本発明に係る保護族の作成する装置としては具捧的には
イオン化プラズマ分屏厘合装置やバイヤススパッタリン
グ装置があけしれる。
イオン化プラズマ分屏厘合装置やバイヤススパッタリン
グ装置があけしれる。
第1図はイオン化プラズマ分解厘合装置の説明図である
。反応容器4は反応容器台の上に気槽か保持され心よう
に構成されたもので、反応容器台5には炭化水素ガス供
給口6及び排気ポンプに接続された排気−1f7が設け
られている。また、反応容器4内には電極2,3によっ
てプラズマ乞発生させ、前記電極2上に設置した保護膜
の板層さ7Lる磁気記憶媒体には電極2と同じ電位が印
加されており、この磁気記憶媒体上でイオン化フ0ラズ
マ分解重合により保護膜な形成させるように構、=され
たものである。
。反応容器4は反応容器台の上に気槽か保持され心よう
に構成されたもので、反応容器台5には炭化水素ガス供
給口6及び排気ポンプに接続された排気−1f7が設け
られている。また、反応容器4内には電極2,3によっ
てプラズマ乞発生させ、前記電極2上に設置した保護膜
の板層さ7Lる磁気記憶媒体には電極2と同じ電位が印
加されており、この磁気記憶媒体上でイオン化フ0ラズ
マ分解重合により保護膜な形成させるように構、=され
たものである。
第2図はバイアススパッタリング装置の説明Qである。
反応容器14は気密が保持されるように構成されたもの
で、反応容器14には炭化水素ガス供給口15及び排気
ポンプに接続された排気管16が設けられている。また
反応容器14円にはバイアス′亀#t12に接続された
磁気ディスク8及びディスクホルダー9が配置され、更
に上記磁気ディスク8と適当な間隔を介してスパッタリ
ング屯Wに接続されたカーボンターゲット1u及びター
ゲットホルダー11が配置されている。この装置Kより
、スパッタリングされたカーボン粒子か炭化水系を含む
プラズマ中で反応し、磁気ディスク表面に保護膜が形成
される。
で、反応容器14には炭化水素ガス供給口15及び排気
ポンプに接続された排気管16が設けられている。また
反応容器14円にはバイアス′亀#t12に接続された
磁気ディスク8及びディスクホルダー9が配置され、更
に上記磁気ディスク8と適当な間隔を介してスパッタリ
ング屯Wに接続されたカーボンターゲット1u及びター
ゲットホルダー11が配置されている。この装置Kより
、スパッタリングされたカーボン粒子か炭化水系を含む
プラズマ中で反応し、磁気ディスク表面に保護膜が形成
される。
このような装置に原料ガスとしてC2H2r C2H4
+02H6,O[(4,C!、Hloなどの飽和あろい
ば不飽第1の炭化水素、C6H6,C6H工、などの常
温・電圧で液体の炭化水素乞ガス化したもの、又はこれ
らのガス状炭化水系とAr、He、Ne、H2などの炭
化水素以外のガスとの混合ガスを供箔し、装置内に設け
た磁性層を具えた磁気記憶媒体の表向に保護膜を形成さ
せることができる。
+02H6,O[(4,C!、Hloなどの飽和あろい
ば不飽第1の炭化水素、C6H6,C6H工、などの常
温・電圧で液体の炭化水素乞ガス化したもの、又はこれ
らのガス状炭化水系とAr、He、Ne、H2などの炭
化水素以外のガスとの混合ガスを供箔し、装置内に設け
た磁性層を具えた磁気記憶媒体の表向に保護膜を形成さ
せることができる。
なお、本発明において、保護膜は磁性層の上に直接形成
しても良いが、Au 、Pt 、NニーP 、Or 。
しても良いが、Au 、Pt 、NニーP 、Or 。
Ni、5i02. Si、Ti、Ti−C,Eli3N
4等の非磁性下地層を介して形成させることもできる。
4等の非磁性下地層を介して形成させることもできる。
イオン化プラズマ分解重合装置の操作条件としては反応
器ビタの圧力’v o、o o i〜I CI Tor
rとし、電極間に200〜2000 ’Vの直びLある
いは交流の電圧を印加するか又は200〜2UtllL
IVの100 KH2〜29 MH2の尚周V屯圧乞印
加することが好ましい。
器ビタの圧力’v o、o o i〜I CI Tor
rとし、電極間に200〜2000 ’Vの直びLある
いは交流の電圧を印加するか又は200〜2UtllL
IVの100 KH2〜29 MH2の尚周V屯圧乞印
加することが好ましい。
又、バイヤススパッタリング装置の操作条件の要因とし
てはガス圧力、スパッタリング電源、デバイス電圧及び
反応時間などあるか、これらの条件は装置の形状、犬ぎ
さなどによって変るので、特定は困難であるか通常用い
られている条件で行えばよい。
てはガス圧力、スパッタリング電源、デバイス電圧及び
反応時間などあるか、これらの条件は装置の形状、犬ぎ
さなどによって変るので、特定は困難であるか通常用い
られている条件で行えばよい。
以上説明したように本発明は磁気6己憬媒俸のべ而に炭
素/水素の割合がモル比で50150〜98/2である
架橋した炭化水素買保護族を形成させてなる磁気記憶媒
体であって、本発明によれば高湿度条件下に暴露しても
l111t摩耗性が劣化しないというすぐれた効果を有
するものである。
素/水素の割合がモル比で50150〜98/2である
架橋した炭化水素買保護族を形成させてなる磁気記憶媒
体であって、本発明によれば高湿度条件下に暴露しても
l111t摩耗性が劣化しないというすぐれた効果を有
するものである。
以下実施例をあげてさらに評しく説明する。
実施例1
直゛径9cnlX 厚み2 rruπの鏡面研摩したア
ルミ板上に非磁性N1−pを50μm厚に無′亀屏メッ
キした後、60μm厚まで説面仙摩し、史にその上に1
記のようなメッキ液、メッキ条件でco−nl−p (
ao : 80%。
ルミ板上に非磁性N1−pを50μm厚に無′亀屏メッ
キした後、60μm厚まで説面仙摩し、史にその上に1
記のようなメッキ液、メッキ条件でco−nl−p (
ao : 80%。
Ni : 15%、P:5%)の磁性NAk 0.1
μm犀となるように無電解メッキした。無電解メッキの
前処理としては日本カニゼン(株)の1シユーマセンシ
タイず−」及び[シューマアクチベータ−」を使用した
。
μm犀となるように無電解メッキした。無電解メッキの
前処理としては日本カニゼン(株)の1シユーマセンシ
タイず−」及び[シューマアクチベータ−」を使用した
。
〔メッキ条件〕pHニア、5、液温: 75 ’C該メ
ッキディスクをメッキディスクAとして試料に供した。
ッキディスクをメッキディスクAとして試料に供した。
磁気記憶媒体の製造
第1図に示す構造のイオン化プラズマ分屏厘合装置を用
いて、各檎炭化水素ガスを原料とし、第2衣に示す条件
でメッキディスクA上に800X厚の尚度に架倫した炭
化水素#馨形成した。
いて、各檎炭化水素ガスを原料とし、第2衣に示す条件
でメッキディスクA上に800X厚の尚度に架倫した炭
化水素#馨形成した。
比較のために、融虞50〜70″Cのバラフィンヲシク
ロヘキサンヲ浴妹としてスビ7コ h(Hでメンキディ
スクA上に80o X厚で施したものを作成したく実験
A67)。
ロヘキサンヲ浴妹としてスビ7コ h(Hでメンキディ
スクA上に80o X厚で施したものを作成したく実験
A67)。
第2 表
(注)Do・・・直流、AC・・交流の略第6表
また\央験/161ゝ加0と原料ガス、ガスの圧力、印
加電圧を同乗性にし長比1時+jliJたけン艮くして
厚膜を作成し、c、g元系分夕「馨した精米ゼ第4次に
示す。
加電圧を同乗性にし長比1時+jliJたけン艮くして
厚膜を作成し、c、g元系分夕「馨した精米ゼ第4次に
示す。
第4表
実施例2
第2図に示すバイアススパッタリング装置〔(休)徳田
製作P9I製マグ坏トロン型スパッタIJ 7グ装置(
商品名「0FS−8ESJ) 〕を用い、またターケ゛
ソトとしては高純度カーボン(日立化成(休)商品名[
カーボンHOB−18J)を用い、第5表に示す条件下
でスパッタリングを竹ない、メッキディスクA上に炭化
氷菓保護膜を800!厚に形成した。
製作P9I製マグ坏トロン型スパッタIJ 7グ装置(
商品名「0FS−8ESJ) 〕を用い、またターケ゛
ソトとしては高純度カーボン(日立化成(休)商品名[
カーボンHOB−18J)を用い、第5表に示す条件下
でスパッタリングを竹ない、メッキディスクA上に炭化
氷菓保護膜を800!厚に形成した。
また比較例としてArガス単独でスパッタリングを行な
いメッキディスクA上に800久の炭系膜を得た(実験
414) 以下にその形成条件およびその評価結果ケそれぞれ第5
表及び第6表に示す。
いメッキディスクA上に800久の炭系膜を得た(実験
414) 以下にその形成条件およびその評価結果ケそれぞれ第5
表及び第6表に示す。
第5表
(注) RF−・Radio Frequencyの陥
第6表 また、実験/168〜A14と雰囲気ガス、ガス圧力、
スパッタリング電蝕、バイアス電圧は同条件にし、反応
時間だけを長くして厚膜乞作晟し、OH元元方分析行な
った結果をM7表に示す。
第6表 また、実験/168〜A14と雰囲気ガス、ガス圧力、
スパッタリング電蝕、バイアス電圧は同条件にし、反応
時間だけを長くして厚膜乞作晟し、OH元元方分析行な
った結果をM7表に示す。
第7表
第6表及び第6表に示す物性者の測定は次のようにして
行なった。
行なった。
1)動摩擦係数測定
装置は第6図に示す構造の摺動物性測定装置を用い、ヘ
ッドは2 mmφサファイア球、ヘッド荷重5Iとし、
相対速に5III//secの条件下で動摩擦係数を測
定した。
ッドは2 mmφサファイア球、ヘッド荷重5Iとし、
相対速に5III//secの条件下で動摩擦係数を測
定した。
2)摺動回数測定
第6図に示す摺動物性測定装置を用い、ヘッドは2朋φ
サファイア球、ヘッド荷重10Jとし、相対速度10w
″SeCの条件下で保護膜が破壊するまでの回数な摺動
回数とした。
サファイア球、ヘッド荷重10Jとし、相対速度10w
″SeCの条件下で保護膜が破壊するまでの回数な摺動
回数とした。
3)ass(コンタクト・スタート・ストップ)テスト
ヘッドはよりyh−5350タイプ、ヘッド荷重9.8
夕とし、回転速度3600 r、p、m、、oN−oF
F30秒サイクルの条件下でヘッドクラッシュが発生す
るまでのサイクル数Y O8Sテスト回数とした。
ヘッドはよりyh−5350タイプ、ヘッド荷重9.8
夕とし、回転速度3600 r、p、m、、oN−oF
F30秒サイクルの条件下でヘッドクラッシュが発生す
るまでのサイクル数Y O8Sテスト回数とした。
図面は本発明の実施例を示すものであって、第1図はイ
オン化プラズ′マ分解、!!会装置の説明図、第2図は
バイアススパッタリング装置の説明図、第6図は盾動物
性両足装置の説明図である。 何カ 1:磁気ディスク 2:電極 3:電極 4:反応容器 5:反応容器台 6:ガス供給口 ア:排気管 8二磁気デイスク 9:ディスクホルダー 10:カーボンターゲット 11:ターグントホルダー 12:バイアス電源 13ニスバツタリング電源 14:反応容器 15:ガス供給口 16:排気官 17:磁気ディスク 18:ホルダー 19:サファイア球 20:板バネ 21:歪ケ゛−ジ 22:XYステージ 23:ディヌク回転用モーター 24:架台 特許出願人 電気化学工業株式会社
オン化プラズ′マ分解、!!会装置の説明図、第2図は
バイアススパッタリング装置の説明図、第6図は盾動物
性両足装置の説明図である。 何カ 1:磁気ディスク 2:電極 3:電極 4:反応容器 5:反応容器台 6:ガス供給口 ア:排気管 8二磁気デイスク 9:ディスクホルダー 10:カーボンターゲット 11:ターグントホルダー 12:バイアス電源 13ニスバツタリング電源 14:反応容器 15:ガス供給口 16:排気官 17:磁気ディスク 18:ホルダー 19:サファイア球 20:板バネ 21:歪ケ゛−ジ 22:XYステージ 23:ディヌク回転用モーター 24:架台 特許出願人 電気化学工業株式会社
Claims (1)
- 基体の上にgi磁性金属博族を設けた磁気記憶媒体の表
面に炭素/水素の割合がモル比で50150から98/
2の範囲である架橋した炭化水素X保護族を形成させて
なる磁気記憶媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59012562A JP2549361B2 (ja) | 1984-01-26 | 1984-01-26 | 磁気記憶媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59012562A JP2549361B2 (ja) | 1984-01-26 | 1984-01-26 | 磁気記憶媒体 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23206592A Division JPH0664733B2 (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 磁気記憶媒体の製造方法 |
| JP4232064A Division JP2552799B2 (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 磁気記憶媒体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60157725A true JPS60157725A (ja) | 1985-08-19 |
| JP2549361B2 JP2549361B2 (ja) | 1996-10-30 |
Family
ID=11808781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59012562A Expired - Lifetime JP2549361B2 (ja) | 1984-01-26 | 1984-01-26 | 磁気記憶媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2549361B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61117727A (ja) * | 1984-11-13 | 1986-06-05 | Nec Corp | 磁気記憶体及びその製造方法 |
| JPS634068A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-09 | Nec Corp | ダイヤモンド状カ−ボン膜 |
| US4778582A (en) * | 1987-06-02 | 1988-10-18 | International Business Machines Corporation | Process for making a thin film metal alloy magnetic recording disk with a hydrogenated carbon overcoat |
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| US5397644A (en) * | 1990-02-01 | 1995-03-14 | Komag, Incorporated | Magnetic disk having a sputtered hydrogen-doped carbon protective film |
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| CN110194371A (zh) * | 2018-02-27 | 2019-09-03 | 派亚博股份公司 | 输送机系统 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5778632A (en) * | 1980-10-30 | 1982-05-17 | Sekisui Chem Co Ltd | Manufacture of magnetic recording medium |
| JPS57135443A (en) * | 1981-02-16 | 1982-08-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | Manufacture of magnetic recording medium |
| JPS57145979A (en) * | 1981-03-04 | 1982-09-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Formation of protective film |
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| JPS6069826A (ja) * | 1983-09-26 | 1985-04-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録媒体 |
-
1984
- 1984-01-26 JP JP59012562A patent/JP2549361B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2549361B2 (ja) | 1996-10-30 |
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