JPS6016088A - Crt表示画像の検査装置 - Google Patents

Crt表示画像の検査装置

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JPS6016088A
JPS6016088A JP58122701A JP12270183A JPS6016088A JP S6016088 A JPS6016088 A JP S6016088A JP 58122701 A JP58122701 A JP 58122701A JP 12270183 A JP12270183 A JP 12270183A JP S6016088 A JPS6016088 A JP S6016088A
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JP
Japan
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pattern
test pattern
crt display
observation
display device
Prior art date
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Application number
JP58122701A
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English (en)
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JPH059995B2 (ja
Inventor
Yukiko Yamaguchi
由紀子 山口
Koya Fujita
藤田 孝弥
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 囚 発明の技術分野 本発明はCRT(陰極線管)表示装置の表示画像の集束
不良・振幅不足・傾き・偏り・非直線性および輝度異常
等の複数種の画質異常を同一のテストパターンによって
自動的に検査できるようにしたCRT表示画像検査シス
テムに関する。
ω)技術の背景 CRT表示装置は、表示すべき文字等の画像情報によっ
て変調された電子ビームをラスク走査しCRT表示面に
文字等の画像を表示するものであり、表示面全域にわた
って鮮明で歪のない画像が表示されるように各種の補正
装置あるいは調整装置が設けられている。
しかし、これらの装置による補正あるいは調整の不完全
、もしくは、これらの装置の故障等によって、電子ビー
ムの集束不良による表示画像の鮮明度の低下、電子ビー
ムの主走査方向あるいは副走査方向の振幅不足による表
示画像の縮小あるいは偏り、CRTの設置不良による表
示画像の傾き、電子ビーム偏向回路の非直線性による表
示画像の歪、走査線の終端における反射あるいは折返し
による輝度異常など各種の画質異常が生ずることがあり
、したがって製品の出荷に先立って表示画像の画質の異
常1(対し7綿密な検査をおこなっている。
(0従来技術と問題点 CRT表示画像の検査は、はじめ、目視によっておこな
われていたが、その後、検査の自動化あるいは定量化等
のため検査装置が用いられるようになった。。
しかし、従来の検査装置は、前記のような各種の検肴項
目に対し、それぞれ専用のテストパターンを用(へてお
り、したがって、検査項目毎にテストパターンを1択し
なければならないという不便があった。
(D) 発明の目的 本発明の目的は、複数種の検査項目に対し同一のテスト
パターン金用いることによっ−C1検食の能率を向上す
ることにめる。
(ト)発明の構成 本発明になるCRT表示画面の検査装置は、CRT表示
装置と、該CR’I”表示装Mの画面の少なくとも一つ
の隅部と略中夫に表示される縦縞と最大輝度測定用の幅
広の集束不良検査用パターンと画面の左右の少なくとも
一方に所定幅領域をもって表示される輝度異常検査用パ
ターンと非直線性検査用の複数本の直線パターンとから
なるテストパターンを発生するパターン発生装置と、前
記テストパターンが表示されるCRT表示装置の表示面
を観測す観測装置と、該観測装置によって得られる観測
テストパターンの検査をおこなう検査装置とを備え、前
記CRT表示装置の複数種の画質異常を前記一つのテス
トパターンを用いて検査するようにしたものである。
■ 発明の実施例 次に本発明の要旨を実施例によって具体的に説明する。
第1図は本発明一実施例の構成図を示し、1は被検査対
象であるCRT表示装置、2はCRT表示装置の表示面
を観測する観測装置、3は観測装置2によって得られる
観測テストパターンの画質を検査する検査装置、4は第
2図のようなテストパ3− ターンを発生するテストパターン発生装置、5は観測装
置2の観測位置および観測視野を制御する制御装置であ
る。
第2図はテストパターン発生装置4が発生するテストパ
ターンの一実施例を示し、AとBは表示画像の集束不良
検査用パターンであり、Aは面状パターン、Bは縞状パ
ターン、Cは表示画像の主走査方向の非直線性検査用の
等間隔複数本の平行線パターン、Dは表示画像の副走査
方向の非直線性検査用の等間隔複数本の平行線パターン
、Eは表示画像の振幅不足・傾きおよび偏りを検査する
パターンである。
面状パターンAと縞状パターンBとよりなる集束不良検
査用パターンは、第3図に示すように表示面の四隅付近
と中心付近に表示されるように設け−〔いる。これはC
RTX示装置においては、その他の点における集束状態
は隅部における集束状態と中心部における集束状態の中
間となることによる。
平行線パターンCおよび平行線パターンDはい一4= ずれも表示面の中心部には設けていない、これは、CR
T示品製品装置いては、たとえば副走査方向の非直線性
は第4図1a)のように現われるものであってfb)の
ように現われることがないためである。
また輝度異常は左上隅の縞パターンBをはさむ面状パタ
ーンAの対と左上隅の縞パターンBをはさむ面状パター
ンAの対とによって検査する。これはCRT表示装置に
おける輝度異常は走査線の折返しあるいは反射によって
走査線の終端部に生ずるものであり、亀5図(alのよ
うに全走査線に対して生じ、(b)のように一部の走査
線にのみ生ずるということがないためである。
第6図は第1図に示す検査装置3の詳細構成図を示し、
6は観測装置2によって得られる観測テストパターンを
格納するバッファ、7−1と7−2と7−3と7−4と
7−5と7−6と7−7は表示画像の集束不良を検査す
るために用いるものであり、7−1は観測テストパター
ン中の走査線終端側(第2図において最右端)を除く面
状パターンAの最高輝度を測定する輝度測定部、7−2
は前記面状パターンAの最低輝度を測定する輝度測定部
、7−3は縞状パターンBにおける最高輝度を測定する
輝度測定部、7−4は縞状パターンにおける最低輝度を
測定する輝度測定部、7−5は輝度測定部7−1によっ
て得られる輝度と輝度測定部7−2によって得られる輝
度との差を計算する減算部、7−6は輝度測定部7−3
によって得られる輝度と輝度測定部7−4によって得ら
れる輝度との差を計算する減算部、7−7は減算部7−
5によって得られる輝度差と減算部7−6によって得ら
れる輝度差との比を計算する除算部、8−1と8−2と
8−3と8−4は表示画像の振幅不足と傾きと偏りとを
検査するために用いるものであり、8−1はCRT表示
装置の表示面の外枠の寸法を測定する枠寸法測定部、8
−2は観測テストパターン中のパターンEによって前記
表示面の外枠に対する表示画像の相対外形寸法を測定す
る画像寸法測定部、8−3は表示画像の実外形寸法を測
定する実寸法計算部、8−4は表示画像の傾きと偏りを
計算する傾き偏り計算部、9−1と9−2と9−3と9
−4と9−5は表示画像の非直線性を検査するために用
いるものであり、9−1は観測テストパターン中の左側
の平行線パターンCあるいは上側の平行線パターンDの
各々の線の間隔を測定する間隔測定部、9−2は観測テ
ストパターン中の右側の平行線パターンDあるいは下側
の平行線パターンDの各々の線の間隔を測定する間隔測
定部、9−3は間隔測定部9−1によって得られる複数
の値の平均値を計算する平均値計算部、9−4は間隔測
定部9−2によって得られる複数の値の平均値を計算す
る平均値を計算する平均値計算部、9−5は平均値計算
部9−3によって得られる平均値と平均値計算部9−4
によって得られる平均値との比を計算する除算部、10
−1と10−2と10−3は表示画像の輝度異常を検査
するために用いるものであり、10−1は観測テストパ
ターン中の左上隅あるいは右上隅の縞パターンBの左側
の面状パターンAにおける輝度を測定する輝度測定部、
10−2は観測テストパターン中の左上隅あるいは右上
隅の縞パターンBの右側の7− 面状パターンAにおける輝度を測定する輝度測定部、1
0−3は輝度測定部10−1によって得られる輝度と輝
度測定部10−2によって得られる輝度との比を計算す
る除算部、11は集束不良・振幅不足・傾き・偏り・非
直線性および輝度異常の検査基準値を格納するメモリ、
12は表示画像の画質異常の有無を判定する判定部であ
る。
以上のような構成によって、テストパターン発生装置4
が発生する第2図のようなテストパターンをCRT表示
装置1に表示する。制御装置5はCRT表示装置1の表
示面に対する観測装置2の観測位置および観測視野を制
御し、検査項目に応じて、所要のパターンを視野に入れ
て観測する。
すなわち、集束不良の検査においては第7図(al・(
b)あるいはfc)に例示するように、面状パターンA
と縞状パターンBとを拡大して観測する。同様に、輝度
異常の検査においても第7図(b) 、 (C1に例示
するように面状パターンAと縞状パターンBとを拡大し
て観測する。また振幅不足と傾きおよび偏りの検査にお
いてはCRT表示装置1の表示画8− の外枠とともにテストパターン全体を観測し、非直線性
および輝度異常の検査においてはテストパターン全体を
観測する。
それぞれにおいて観測された観測画像は−たんバッファ
6に格納され、それぞれの検査項目に対し前記のような
測定および計算がおこなわれ、判定部12において、そ
れぞれの計算結果とメモリ11に予め格納した検査基準
値とを比較することによって合否の判定をおこなう。
(へ)発明の詳細 な説明したように、本発明によればCRT表示装置の表
示画像の複数種の画質異常の検査を同一のテストパター
ンを用いて実施し、したがって検査の能率を向上するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例の構成図、第2図は本発明一実
施例に用いるテストパターン、第3図・第4図および第
5図は画質異常の現われかたの説明図、第6図は検査装
置の詳細構成図、第7図はテストパターンの部分拡大観
測画像の例を示す。 図中、1はCRT表示装置、2は観測装置、3は検査装
置、4はテストパターン発生装置である。 11− 丞 I 図 菓 2 図 第 7 図 (a> (A) 515− (C)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. CRT表示装置と、CRT表示装置の画面の少なくとも
    一つの隅部と略中夫に表示される縦縞と最大輝度測定用
    の幅広の集束不良検査用パターンと画面の左右の少なく
    とも一方に所定幅領域をもって表示される輝度異常検査
    用パターンと非直線性検査用の複数本の直線パターンと
    からなるテストパターンを発生するパターン発生装置と
    、前記テストパターンが表示されるCRT表示装置の表
    示面を観測す観測装置と、該観測装置によって得られる
    観測テストパターンの検査をおこなう検査装置とを備え
    、前記CRT表示装置の複数種の画質異常を前記一つの
    テストパターンを用いて検査するようにしたことを特徴
    とするCRT表示画像の検査装置。
JP58122701A 1983-07-06 1983-07-06 Crt表示画像の検査装置 Granted JPS6016088A (ja)

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JPH059995B2 JPH059995B2 (ja) 1993-02-08

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03160310A (ja) * 1989-11-20 1991-07-10 Fujitsu Ltd 画質検査装置
JPH0437896A (ja) * 1990-06-04 1992-02-07 Nippon Avionics Co Ltd モニタ画像検査装置

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