JPH0437896A - モニタ画像検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、モニタ画面上における表示図形の諸元を測
定するモニタ画像検査装置に関するものである。

［従来の技術］ 例えばオシロスコープのように、モニタ画面上に表示さ
れた図形に基づいて各種の測定を行う装置が従来から用
いられている。この装置は製造時点で表示図形に関する
各種諸元、例えば所定の図形を表示したときの寸法、表
示位置等が所定の規格に適合しているか否かを調整、検
査するものである。この検査は従来、ノギス等の測定装
置を画面に当てることによって、表示像の寸法等を直接
測定していた。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながらこのような従来の方法は熟練を要し測定効
率が悪いばかりでなく、読取誤差も発生し易いという課
題があった。

［ＲＭを解決するための手段］ このような課題を解決するためにこの発明は、表示面を
ＣＣＤセンサによって撮像し、その撮像データを基に表
示画像の諸元を測定するようにしたものである。

［作用コ 表示面の情報がＣＣＤセンサに取り込まれ、電気信号と
して出力されるので、その信号の座標、輝度階調等から
所定の測定が行われる。

［実施例コ 第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図である０
図において、１はテストパターン発生器、２は被試験装
置であるモニタ装置、３はそのモニタ装置３の画面を撮
像するＣＣＤカメラ、４は画像処理装置、５は演算装置
、６は表示器、７はプリンタ、８はキーボードである。

このように構成された装置は第２図のステップ１００に
示すように、モニタ装Ｗ２にＣＣＤカメラを取り付は画
面の撮像が可能な状態にした後、キーボード８を操作し
て表示器６にメニュー画面を表示させる。

そして、キーボード８の指示によってステップ１０２に
示すように自動計測を開始するとともに、ステップ１０
３に示すように演算装置５からモニタ装置２へ試験用の
コマンドを出力する。なお、ステップ１０２において自
動計測を開始するとき、モニタ画面には計測項目によっ
て第３図または第４図に示すパターンが表示される。

次にステップ１０４において検査結果によってデータが
規格値に適合していればステップ１０５に示すようにそ
の結果をプリンタフにプリントアウトして処理を終了す
る。しかし、ステップ１０４で検査結果が規格外である
と判断されると、ステップ１０７に示すように調整モー
ド検査が行われ再度ステップ１０２以降の検査を繰り返
す。

第３図は輝度測定以外の検査を行う場合にモニタ装置２
の画面に表示される画面である。但し、Ａ〜Ｈの文字は
説明の都合上付した記号であり、管面上には表示されな
い、また、各点の座標は画像処理装Ｗ４によって求めら
れる。

（４）傾きの測定 第３図のＡ点の座標を（ＸＩ、Ｙｌ）、Ｂ点の座標を（
χ２．Ｙ２）とすると演算装Ｗ５で第１式の演算を行う
ことによって求められる。

（ロ）横長寸法の測定 画像処理装置４かち得られた信号を基に演算装置５で０
点とＤ点間のドツト数を数え、第２式の演算を行うこと
によって求められる。

横長寸法＝ａ（ドツト）×に１・・−・・・　■但し、
Ｋ１は横方向の分解能定数でありミリ／ド・ントの単位
を有している。

（ハ）縦長寸法の測定 画像処理装置４から得られた信号を基に演算装置５でＥ
点とＦ点間のドツト数を数え、第３式の演算を行うこと
によって求められる。

縦長寸法＝ｂ（ドツト）×に２・・・・・・・・・［３
）但し、Ｋ２は縦方向の分解能定数でありミリ／ド”ｙ
　）の単位を有している。

（ニ）横位置の測定 ０点のＸ座標をＸ３とし、横位置原点データをＨＬとす
ると（２）式の演算を行うことにより求められる。

横位置＝Ｘ１−ＨＬ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・（４）（ホ）縦位置の測定 Ｅ点のＹ座標をＹ７とし、縦位置原点データをＶとする
と＋５１式の演算を行うことにより求められる。

横位置＝Ｘ７−Ｖ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・（９（へ）横リニアリティの測定 第５図に示すように横中央ラインである線分ＣＤ上の隣
接する交点の幅をＨ１〜Ｈ６、横リニアリティをＨ１７
、交点の幅Ｈ１〜Ｈ６の平均値をＨＡＶ、幅Ｈ１〜Ｈ６
の代表値をＨとすると代表値Ｈは第１６）式あるいは第
（７）式によって、横リニアリティＨ１１，は第８式の
演算を行うことによって求められる。

ＨＩＩＩＡＸ−ＨＡＶ≧ＨＡＶ−ＨＭＩＮのときＨ＝Ｈ
，ＡＸ・・・・・・・・・（６）ｋＡｘ−ＨＡｖ＜ＨＡ
ｖ−に＋　ＮのときＨ＝Ｈｙｎ＜・＝−・・・−ＣＨＩ
Ａｖ （ト）縦リニアリティの測定 第６図に示すように縦中央ラインである線分ＥＦ上の隣
接する交点の幅をＶ１〜■６、縦リニアリティをＶ目ヨ
、交点の輻Ｖ１〜Ｖ６の平均値をＶＡｖ、幅■１〜■６
の代表値をＶとすると代表値Ｈは第（９）式あるいは第
（１（１式によって、槓すニアリティ■目カは第（１１
）式の演算を行うことによって求められる。

Ｖｍｘｘ−ＶＡｖ≧ＶＡｖ−Ｖ＋　Ｉ　Ｎ（７１ときｖ
＝ｖｌｌｌＡ×・−・−・・・・・（９）ＶｍＡｘ−Ｖ
Ａｖ＜ＶＡｖ−Ｖｍ　Ｉ　Ｎ（’）ときｖ＝ｖ、１．４
・・・・・・・・・（１０）■＾Ｖ （チ〉焦点測定 ＣＣＤカメラに取り込み画像処理装置４で得られた信号
の縦線幅平均値を演算装Ｗ５で計算してその値を焦点測
定値とする。

（す）直角度 Ａ点、Ｂ点、Ｇ点、Ｈ点の座標とその隣り合う２点の座
標から作られる角度を三角関数によって求める。

（ヌ〉輝度 モニタ装置２に第４図に示す市松模様状の白黒パターン
を表示させ、各々の白エリア、黒エリアの映像レベル平
均値を求める。映像信号は階調によって変化するので、
実際にはその階調に対応した映像信号の平均値を求める
ことになる。

［発明の効果］ 以上説明したようにこの発明はモニタ画面上の上方をＣ
ＣＤカメラによって取り込み、その得られた信号に対し
て測定項目に対応する所定の演算を行うことによって、
従来は手作業で検査していた項目を電気的に行うことが
できるので、熟練をしないものでも正確で測定ばらつき
の少ない検査が行えるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
はその動作を示すフローチャート、第３図は輝度側定時
以外のときにモニタ画面上に表示される画像、第４図は
輝度測定時にモニタ画面上に表示される画像、第５図は
横リニアリティ測定時の状態を説明するための、第６図
は縦リニアリティ測定時の状態を説明するための図であ
る。 １・・・・テストパターン発生器、２・・・・モニタ装
置、３・・・・ＣＣＤカメラ、４・・・画像処理装置、
５・・　・演算装置、６・・・・表示器、７・・・・プ
リンタ、８・・・・キーボード。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）モニタ画像上の離れた部分に２つのスポットを表
   示させ、その表示画面をＣＣＤセンサによって検出し、
   ２点間の画素数を計算し、その計算結果から２点間の長
   さを求めるモニタ画像検査装置。
2. （２）モニタ画面上のシステム設定値で決まる位置に縦
   線を表示させ、その縦線上の任意の位置にスポットを表
   示させ、その表示画面をＣＣＤセンサによって検出し、
   スポットを座標と基準座標とのずれ量から横位置ずれを
   求めるモニタ画像検査装置。
3. （３）モニタ画面上のシステム設定値で決まる位置に横
   線を表示させ、その横線上の任意の位置にスポットを表
   示させ、その表示画面をにＣＣＤセンサによって検出し
   、スポットを座標と基準座標とのずれ量から縦位置ずれ
   を求めるモニタ画像検査装置。
4. （４）モニタ画面上の縦方向および横方向に複数の線を
   表示したものをＣＣＤセンサによって検出し、検出結果
   のうち任意の縦線に着目し、その縦線と交わる全ての横
   線との交点の交点間の長さおよび、任意の横線に着目し
   、その横線と交わる全ての縦線との交点の交点間の長さ
   を求め、それぞれの平均値をリニアリティとして測定す
   るモニタ画像検査装置。
5. （５）モニタ画面上の縦方向および横方向に複数の線を
   表示したものをＣＣＤセンサによって検出し、少なくと
   も最も外側の線が交差する部分の座標とその隣り合う２
   点の座標から作られる角度を求め、直角度を測定するモ
   ニタ画像検査装置。
6. （６）モニタ画面上に市松模様状の白黒パターンを表示
   させ、その画面をＣＣＤセンサによって撮像したとき得
   られる画像信号の階調を検出して輝度および明るさを測
   定するモニタ画像検査装置。