JPS6016409A - 垂直磁化膜 - Google Patents
垂直磁化膜Info
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- JPS6016409A JPS6016409A JP58125113A JP12511383A JPS6016409A JP S6016409 A JPS6016409 A JP S6016409A JP 58125113 A JP58125113 A JP 58125113A JP 12511383 A JP12511383 A JP 12511383A JP S6016409 A JPS6016409 A JP S6016409A
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- cobalt
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- samarium
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
- G11B5/65—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition
- G11B5/656—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition containing Co
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、厚み方rtJの磁化を信号として記憶して酷
い妃録紹反を達成することができる半I1i磁化膜に開
する。
い妃録紹反を達成することができる半I1i磁化膜に開
する。
従来η・らのこのような垂直嫉化映龜コバルトc。
とクロムCr とから成る合金である。クロムは人体に
伺書であり、好°ましくない。
伺書であり、好°ましくない。
本発明の目的は、人体に無害である祠刺から成る垂直磁
化膜を提供することである。
化膜を提供することである。
本発明は、サマリツムSm とコバルトCOとから成る
合金であってサマリツムは20〜30%でアリ、残余m
1.かコバルトである。この東部磁化膜はスパッタリン
グ法によって製造され、その垂直(71;、化膜かjし
1戊される基板の温度は約50〜180゜Cに煎ばれる
。このようなす直硫化映は、その厚み方向の磁化を信号
として+dr度で8己録することかでき、しかもその組
成であるサマリツムとコバルトとは人体に無害であって
好ましい。
合金であってサマリツムは20〜30%でアリ、残余m
1.かコバルトである。この東部磁化膜はスパッタリン
グ法によって製造され、その垂直(71;、化膜かjし
1戊される基板の温度は約50〜180゜Cに煎ばれる
。このようなす直硫化映は、その厚み方向の磁化を信号
として+dr度で8己録することかでき、しかもその組
成であるサマリツムとコバルトとは人体に無害であって
好ましい。
第1区1eよ本づれ明の一実施例の垂直磁化膜を)し成
するためのマグネトロンスパッタリング装動の断面図で
ある。谷g、s l内にはサマリツムSmのターゲット
2と、コバルトのターゲット3とがi&l−Jられる。
するためのマグネトロンスパッタリング装動の断面図で
ある。谷g、s l内にはサマリツムSmのターゲット
2と、コバルトのターゲット3とがi&l−Jられる。
鉛I目−回1隘輛保を慣するホルダ4はターゲット2.
3と、60mmの間隔をあけて配揃さnてkす、50〜
120rpm で回転部製される。クーグツト2には、
交流源5Vこよって実効値1tlO■の父viう電圧か
印加される。堤だターゲット3には交流廊6によって実
効値300Vの父ぴし電圧が印加される。これらの交i
fi+、妃5,6の固波牧は、たとえは13゜6MHz
である。ホルダ4には、直BF、 ?lL妃7によっ
て直流バイアス電圧か重畳される。
3と、60mmの間隔をあけて配揃さnてkす、50〜
120rpm で回転部製される。クーグツト2には、
交流源5Vこよって実効値1tlO■の父viう電圧か
印加される。堤だターゲット3には交流廊6によって実
効値300Vの父ぴし電圧が印加される。これらの交i
fi+、妃5,6の固波牧は、たとえは13゜6MHz
である。ホルダ4には、直BF、 ?lL妃7によっ
て直流バイアス電圧か重畳される。
ホルダ4には、基板8か画定されており、この基板8V
こはホルダ4に画定された水久螺ろ9によってその基板
8の厚み方向(第1図の上下刃向)にIIユL流(欧界
か与えられる。各器1内は、・hlr VCダマリクツ
ム酸化を防ぐために6〜8XIU Torrに十分に仙
気し、その後、アルゴンカスを)が入して、たとえは7
.6 X I U ′l’orr とする。ターゲット
2,3に供給される父(fiLω、ξ5,6の1]」、
力Qよ、た々えi、i Z 7/iL IJ+’、 5
にbJ して30〜2 (l U Wテ、I、jす、X
IjIL (1’;4(6に閃して140〜600
VvでB /l 。ターゲット2,3とホルダ4との間
には、ILJI方向に向隔全ありてjしj戊された妙i
孔奮1Jするシャンク18か設けられゐ。このシャッタ
18はスパッタリング製胎初明1’(、基板8にサマリ
ツムおよびコバルトが飛敵することを防き、また基板8
への垂直磁化膜の形成時には、その膜厚か均一となるよ
うに回転駆動される。
こはホルダ4に画定された水久螺ろ9によってその基板
8の厚み方向(第1図の上下刃向)にIIユL流(欧界
か与えられる。各器1内は、・hlr VCダマリクツ
ム酸化を防ぐために6〜8XIU Torrに十分に仙
気し、その後、アルゴンカスを)が入して、たとえは7
.6 X I U ′l’orr とする。ターゲット
2,3に供給される父(fiLω、ξ5,6の1]」、
力Qよ、た々えi、i Z 7/iL IJ+’、 5
にbJ して30〜2 (l U Wテ、I、jす、X
IjIL (1’;4(6に閃して140〜600
VvでB /l 。ターゲット2,3とホルダ4との間
には、ILJI方向に向隔全ありてjしj戊された妙i
孔奮1Jするシャンク18か設けられゐ。このシャッタ
18はスパッタリング製胎初明1’(、基板8にサマリ
ツムおよびコバルトが飛敵することを防き、また基板8
への垂直磁化膜の形成時には、その膜厚か均一となるよ
うに回転駆動される。
第2図は基板8のターゲット2,3側から見た斜視図で
あり、第3図はその分解斜視図である。
あり、第3図はその分解斜視図である。
基板81−J:、平坦な表向を有するポリイミド樹脂、
エホキシ相脂やガラスの板lO上に、基板のrlnl
展を検出するためにサーモカップル11か11.=成さ
れて構成きれる。このサーモカッグル1lidクロメル
12とアルメル13とから成り、このサーモカップル1
1の電圧は電圧計14によって′61j定される。こう
して基板8上の止曲轍化膜か形成される人聞IM度かI
J+11定される。こうして第4図に2J<されるよう
に基’Alx B上には、たとえは膜厚3000A程度
の沖:1破化膜15が形成される。アルゴンイオンは、
ターゲット5.6に鈎芙し、サマリツムとコバルトとを
たたき出し、このたたき出されたサマリツムとコバルト
とは基板8上V(衝突して垂直(み化膜15か1+>廓
1される。
エホキシ相脂やガラスの板lO上に、基板のrlnl
展を検出するためにサーモカップル11か11.=成さ
れて構成きれる。このサーモカッグル1lidクロメル
12とアルメル13とから成り、このサーモカップル1
1の電圧は電圧計14によって′61j定される。こう
して基板8上の止曲轍化膜か形成される人聞IM度かI
J+11定される。こうして第4図に2J<されるよう
に基’Alx B上には、たとえは膜厚3000A程度
の沖:1破化膜15が形成される。アルゴンイオンは、
ターゲット5.6に鈎芙し、サマリツムとコバルトとを
たたき出し、このたたき出されたサマリツムとコバルト
とは基板8上V(衝突して垂直(み化膜15か1+>廓
1される。
交び1嶋5,6の電比などを制御することによって、%
11−14bン、化112! 15のサマリツムとコ
パルl・トの組成比を磁化することかでき心。木釦明に
従えV、へザマリクムi;i 20〜30つ2台唸れ、
残余↓11はコバルトである。ツーマリツムは好1L、
<は24〜27%青、−まれ、j−も好ましくはサマリ
ツムは25tA2含まtLでいる。サマリツムが20%
未7両および30%を超えるときには、圭10イ(、化
物1qの灰用上必多゛な飽和値化や保持力か召Jられな
い。甘たサマリツムt124〜2”1tAo含まれてい
るときには大川上十分なJi!:+Mi、 6戸・化生
り性かイF+・られ、その動性はサマリツムか25%介
まれているときに最も艮好てを)つた。
11−14bン、化112! 15のサマリツムとコ
パルl・トの組成比を磁化することかでき心。木釦明に
従えV、へザマリクムi;i 20〜30つ2台唸れ、
残余↓11はコバルトである。ツーマリツムは好1L、
<は24〜27%青、−まれ、j−も好ましくはサマリ
ツムは25tA2含まtLでいる。サマリツムが20%
未7両および30%を超えるときには、圭10イ(、化
物1qの灰用上必多゛な飽和値化や保持力か召Jられな
い。甘たサマリツムt124〜2”1tAo含まれてい
るときには大川上十分なJi!:+Mi、 6戸・化生
り性かイF+・られ、その動性はサマリツムか25%介
まれているときに最も艮好てを)つた。
−r−モカソゾル11によって゛]更出されるスパッタ
リング1lH7)青11.:1における基41〈8のF
in! l’jJ (□AJJ 50°C〜180°C
でΔタリ、好1シ<eま100°Cである。
リング1lH7)青11.:1における基41〈8のF
in! l’jJ (□AJJ 50°C〜180°C
でΔタリ、好1シ<eま100°Cである。
この+11,1度か、約50°C木11:1σおよび1
80°Cを、lイ1えるときにrよ、丼L1自働、化膜
Qijし1次、されない0俣4し8の6・+i’1度か
100°Cであるときvctよ、j2も恒れた(σ?化
特性か得られた。サーモカップルllI′i、省略し得
る。
80°Cを、lイ1えるときにrよ、丼L1自働、化膜
Qijし1次、されない0俣4し8の6・+i’1度か
100°Cであるときvctよ、j2も恒れた(σ?化
特性か得られた。サーモカップルllI′i、省略し得
る。
水久伍め9によって、基相8Vこ与えられる1j41丸
11欠〆界1−jl、サマリツムかたとえは25%τ、
11;えて含−丁れているとき、そのシに4及8に几(
1ト1に距J 1,000LJeである。ザマリクムが
25%木71iln 7こけ含まれている叩1u li
&化+1’415をjし展するとさには、この水久磁ろ
9Qよ14′=、去され、直びL碩、界は加えられない
。
11欠〆界1−jl、サマリツムかたとえは25%τ、
11;えて含−丁れているとき、そのシに4及8に几(
1ト1に距J 1,000LJeである。ザマリクムが
25%木71iln 7こけ含まれている叩1u li
&化+1’415をjし展するとさには、この水久磁ろ
9Qよ14′=、去され、直びL碩、界は加えられない
。
この1自jfiL (1蒜界は、サマリクムの組l戊比
が少なくなるQ′仁つれて小さくするように磁化される
。
が少なくなるQ′仁つれて小さくするように磁化される
。
1自l〕IL電源7による++′177i+、バイアス
ミ0フ圧しよ、30〜100Vであり、好ましくCよ6
0Vである。lJ’l流ノくイアス屯圧か、30■未7
1i’ijおよび100Vを超えるときには、歩1jj
化ケ化Vよ1し11元されず、ぞの【白v1シバイアス
電圧が60Vであるときにrよ、沖−旧(Ii化In、
: 15の硫化斗漬性か最も良好であった。
ミ0フ圧しよ、30〜100Vであり、好ましくCよ6
0Vである。lJ’l流ノくイアス屯圧か、30■未7
1i’ijおよび100Vを超えるときには、歩1jj
化ケ化Vよ1し11元されず、ぞの【白v1シバイアス
電圧が60Vであるときにrよ、沖−旧(Ii化In、
: 15の硫化斗漬性か最も良好であった。
本発明に従う最良の半ll:l磁化膜の((・化稿性は
、弗5ト1に示されている。物性llは実損ii (I
Iであり、特性129ま反磁界袖・正を行なったときの
特性を示ず。飽相砿束hisけ400ガウス以上あり、
また、保持力Hcは約500〜70 (LOeであり、
従って、夫1躬上充分な(1b化ら性か拘られる。
、弗5ト1に示されている。物性llは実損ii (I
Iであり、特性129ま反磁界袖・正を行なったときの
特性を示ず。飽相砿束hisけ400ガウス以上あり、
また、保持力Hcは約500〜70 (LOeであり、
従って、夫1躬上充分な(1b化ら性か拘られる。
こうして得られた圭直破化膜15が乗置磁化を形成する
ことができることを悔謁するために、第4]61に/]
=されるように看!−1−1缶、l化饅゛15の11ν
1曲(′こ甲111力同に、たとえば、第4凶の」―力
から十同き(′こllひしくQ、昇任jじ成し、ヤこで
その[−1,1,7i[、イ1.′;島゛−レC朴11
L1、な[iす11森171わりに、巣If、J、伽化
1jン、15をy、+友イ+7.するときに、その境1
1.1. m化膜15か几の9鴨に仄ろうとするトルり
Qま、第6し1にン」〈されている。’!P llll
、 +My化1反15を台む平曲に狙直な11ζ:Il
りs5かll:、 7j11. Il*・界の同きとな
す)1」度を参l(、!勾−〇で小してい/、)。第6
図を姿IMすると、角度θか90反および270反イ・
」近においてトルクの同さの大きなズ化か生じる。1.
[つて1A!:+l;j磁化映1化膜歩1トI−イ1に
り化かハ〉1戊されることか14」る。
ことができることを悔謁するために、第4]61に/]
=されるように看!−1−1缶、l化饅゛15の11ν
1曲(′こ甲111力同に、たとえば、第4凶の」―力
から十同き(′こllひしくQ、昇任jじ成し、ヤこで
その[−1,1,7i[、イ1.′;島゛−レC朴11
L1、な[iす11森171わりに、巣If、J、伽化
1jン、15をy、+友イ+7.するときに、その境1
1.1. m化膜15か几の9鴨に仄ろうとするトルり
Qま、第6し1にン」〈されている。’!P llll
、 +My化1反15を台む平曲に狙直な11ζ:Il
りs5かll:、 7j11. Il*・界の同きとな
す)1」度を参l(、!勾−〇で小してい/、)。第6
図を姿IMすると、角度θか90反および270反イ・
」近においてトルクの同さの大きなズ化か生じる。1.
[つて1A!:+l;j磁化映1化膜歩1トI−イ1に
り化かハ〉1戊されることか14」る。
以上のようeこ本発明によれは、人体に91、(害なツ
マリクムとコバルトとを用いて、沖−++’、:、 <
i、y、 (tZ ’xハ〉成する1模を製造すること
か0J fLVtL 1.cつ7こ。
マリクムとコバルトとを用いて、沖−++’、:、 <
i、y、 (tZ ’xハ〉成する1模を製造すること
か0J fLVtL 1.cつ7こ。
4、図山jの1rij、tl:+−なn5(+明第1図
は本ざ【;明の一実施例の年商(1,l化膜を1し1祝
するためのマグネトロンスパッタリング”A I?fの
1g1曲図、第2図は基板8のターケラ)2,1111
11から見た斜視図、第3囚Qよその基板8の幻igイ
釧祝ト1.9.4凶はh(A入8上に年I口、砒化11
j+ 15カ・jヒ1戊された状憑を下す斜視図、兇5
凶は本丸明の一人す中、例の峻化特性を4ぐずグラフ、
XA′36区1eよその抵IL価化+11.315力・
車直磁化全Jし1戊することケ不ずトルク曲線を小ナグ
ラフでりる。
は本ざ【;明の一実施例の年商(1,l化膜を1し1祝
するためのマグネトロンスパッタリング”A I?fの
1g1曲図、第2図は基板8のターケラ)2,1111
11から見た斜視図、第3囚Qよその基板8の幻igイ
釧祝ト1.9.4凶はh(A入8上に年I口、砒化11
j+ 15カ・jヒ1戊された状憑を下す斜視図、兇5
凶は本丸明の一人す中、例の峻化特性を4ぐずグラフ、
XA′36区1eよその抵IL価化+11.315力・
車直磁化全Jし1戊することケ不ずトルク曲線を小ナグ
ラフでりる。
l・・・容器、2・・・サマリウムクーフット、3・・
・コバルトターゲット、4・・・ホルタ、5,6父(A
t QJ17 ・・’ llニーj−UIL ′CLf
、 1II3L、8・・・基板、9・・・水六侮、右、
I O・・・カラスatt、l 1・・・サーモカッグ
ル、15′・・・4挟1目イ1;ン化膜 代坤人 弁坤士 四叔圭−即 第1図 s2図 第4図 第3図
・コバルトターゲット、4・・・ホルタ、5,6父(A
t QJ17 ・・’ llニーj−UIL ′CLf
、 1II3L、8・・・基板、9・・・水六侮、右、
I O・・・カラスatt、l 1・・・サーモカッグ
ル、15′・・・4挟1目イ1;ン化膜 代坤人 弁坤士 四叔圭−即 第1図 s2図 第4図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +1120〜30%のサマリウムSmと残余量のコバル
トcoとの合金であって、スパッタリンク製造時の生部
磁化膜が形成される基板の温度が約50〜180°Cと
したことを特徴とする供直磁化映。 12+サマリクムSmVi24〜27%含まれているこ
とを特徴とする特♂に請求の範1741負S1項記載の
坐「1磁化膜。 (3)サマリウムSmは25%含まれていることを楠欲
とする稲ii’i’ 請求の組曲第1項配板の仲直的、
化l俟。 (4)ii+記スパッタリング製造時における基板の温
度は100°Cであることを特徴とする特許d1゛1水
の暢1741律・1榎記載の坐曲憔化膜。 (51スパッタリング製造時に基板伺近にその基板Ic
1,000 (Je木7+1liiの曲流磁界を形成
することを特徴とする請求 の一りKli己載された率直有蚊化候。 ill +]++記直流娠界はサマリウムSmのえれ酸
比が少なくなるにつれ1小さくすることケも)徴と1−
る輪針rlfJ氷の馳v」1弟5櫨記載の歩直憾化腺。 (71 スパッタリンク製造時にサマリウムsmとコバ
ルトcoとのターゲットと、暴状との11”1jに、父
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58125113A JPS6016409A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | 垂直磁化膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58125113A JPS6016409A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | 垂直磁化膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6016409A true JPS6016409A (ja) | 1985-01-28 |
Family
ID=14902164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58125113A Pending JPS6016409A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | 垂直磁化膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6016409A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5187022A (en) * | 1989-03-08 | 1993-02-16 | Yamaha Corporation | Magnetic recording medium for encoders |
| JP2012216735A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Showa Denko Kk | 半導体素子の製造方法 |
| JP2012216734A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Showa Denko Kk | 半導体素子の製造方法 |
| JP2012216736A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Showa Denko Kk | 半導体素子の製造方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5518097A (en) * | 1978-07-21 | 1980-02-07 | Xerox Corp | Magnetic recording medium and method of manufacturing same |
| JPS5717114A (en) * | 1980-07-07 | 1982-01-28 | Seiko Epson Corp | Magnetic medium for vertical magnetic recording |
-
1983
- 1983-07-08 JP JP58125113A patent/JPS6016409A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JP2012216735A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Showa Denko Kk | 半導体素子の製造方法 |
| JP2012216734A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Showa Denko Kk | 半導体素子の製造方法 |
| JP2012216736A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Showa Denko Kk | 半導体素子の製造方法 |
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