JPS6017735Y2 - Ｘ線応力測定装置 - Google Patents
Ｘ線応力測定装置Info
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- JPS6017735Y2 JPS6017735Y2 JP9582177U JP9582177U JPS6017735Y2 JP S6017735 Y2 JPS6017735 Y2 JP S6017735Y2 JP 9582177 U JP9582177 U JP 9582177U JP 9582177 U JP9582177 U JP 9582177U JP S6017735 Y2 JPS6017735 Y2 JP S6017735Y2
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- JP
- Japan
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- rays
- incident
- measurement point
- ray
- measuring device
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
金属のような多結晶試料にＸ線を照射して回折角を測定
することにより残留応力を知ることができる。
することにより残留応力を知ることができる。
すなわち試料の表面に直角にＸ線を入射させた場合の回
折角と、その入射Ｘ線を所望の方向へ傾けた場合の回折
角とから上記方向の残留応力を求めるものである。
折角と、その入射Ｘ線を所望の方向へ傾けた場合の回折
角とから上記方向の残留応力を求めるものである。
従って例えば第１図に示したように金属材料１に金属材
料２を直角に溶接した部分３における紙面と直角な方向
の残留応力を測定する場合は、上記測定点ｐに対して材
料２の表面に直角な方向からＸ線を入射させることによ
り回折角を測定し、更にその入射Ｘ線を紙面に直角な平
面内で傾斜させて回折角を測定する必要がある。
料２を直角に溶接した部分３における紙面と直角な方向
の残留応力を測定する場合は、上記測定点ｐに対して材
料２の表面に直角な方向からＸ線を入射させることによ
り回折角を測定し、更にその入射Ｘ線を紙面に直角な平
面内で傾斜させて回折角を測定する必要がある。
しかし、Ｘ線管４は一般に相当大型であるために、これ
が図のように材料１に突当ってＸ線Ｘを材料２の表面に
対して直角に入射させることができない。
が図のように材料１に突当ってＸ線Ｘを材料２の表面に
対して直角に入射させることができない。
本考案は例えば上述のように残留応力を測定しようとす
る材料の表面に対してその測定点の垂直上方にある障碍
物にＸ線管が突き当って、上記表面へＸ線を直角に入射
させることができない場合に、その偏倚角αを小さくし
て出来るだけ正確な測定を行うことを目的とするもので
ある。
る材料の表面に対してその測定点の垂直上方にある障碍
物にＸ線管が突き当って、上記表面へＸ線を直角に入射
させることができない場合に、その偏倚角αを小さくし
て出来るだけ正確な測定を行うことを目的とするもので
ある。
第２図は本考案実施例の一部を縦断した側面図、第３図
は第２図におけるＡ−ＡＡ矢視正面図である。
は第２図におけるＡ−ＡＡ矢視正面図である。
このように金属材料２の上に載置される基台５には測定
点ｐを通り第３図において紙面と直角な直線ｑを軸とす
る円弧状の案内面６および案内溝７を形成し、保持台８
を上記案内面および案内溝に沿って移動させることがで
きるように取付けである。
点ｐを通り第３図において紙面と直角な直線ｑを軸とす
る円弧状の案内面６および案内溝７を形成し、保持台８
を上記案内面および案内溝に沿って移動させることがで
きるように取付けである。
この保持台８にＸ線管４およびＸ線回折結晶９を固定す
ることにより、Ｘ線管４から投射されたＸ線Ｘが孔１０
を通り結晶９に入射し前記直線ｑを含む平面内で回折し
て測定点ｐに入射するようにしである。
ることにより、Ｘ線管４から投射されたＸ線Ｘが孔１０
を通り結晶９に入射し前記直線ｑを含む平面内で回折し
て測定点ｐに入射するようにしである。
また保持台６８には前記直線ｑを軸とする円弧状の案内
溝１１を設けてＸ線検出器１２を摺動自在に嵌合し、か
つ該検出器に取付けたモータ１３で駆動されるウオーム
１４を上記保持台８の縁に形成した円弧状のラック１５
に噛合せである。
溝１１を設けてＸ線検出器１２を摺動自在に嵌合し、か
つ該検出器に取付けたモータ１３で駆動されるウオーム
１４を上記保持台８の縁に形成した円弧状のラック１５
に噛合せである。
従ってモータ１３を回転すると、検出器１２が前記案内
溝１１に沿って移動するもので、この検出器１２は点ｐ
の方向を向いているから１、該測定点ｐで回折したＸ線
が検出される。
溝１１に沿って移動するもので、この検出器１２は点ｐ
の方向を向いているから１、該測定点ｐで回折したＸ線
が検出される。
上述の装置を用いて、第２図のように材料２に材料１を
直角に溶接し、た部分３における紙面と直角な方向の残
留応力を測定するものとすると、前述の測定点ｐが上記
溶接部３の表面に配置されるように装置を設定する。
直角に溶接し、た部分３における紙面と直角な方向の残
留応力を測定するものとすると、前述の測定点ｐが上記
溶接部３の表面に配置されるように装置を設定する。
つぎに保持台８を第３図の実線で示したような位置に配
置して、Ｘ線管４から放射されて結晶９で回折したＸ線
Ｘが溶接部３の表面に出来だけ直角に近い角度で入射す
るように、第２図の設定ねじ１６を調整して結晶９を材
料１に接近させる。
置して、Ｘ線管４から放射されて結晶９で回折したＸ線
Ｘが溶接部３の表面に出来だけ直角に近い角度で入射す
るように、第２図の設定ねじ１６を調整して結晶９を材
料１に接近させる。
この状態で測定点ｐにＸ線を照射すると共にモータ１３
を起動してＸ線検出器１２を矢印ａのように移動させる
ことにより、点ｐにおけるＸ線の回折角θを測定する。
を起動してＸ線検出器１２を矢印ａのように移動させる
ことにより、点ｐにおけるＸ線の回折角θを測定する。
つぎに保持台８を第３図に鎖線で示したように移動させ
て、Ｘ線Ｘ′を溶接部３の表面に例えば４５度で入射さ
せると共に検出器１２を回動させて回折角θ′を求める
。
て、Ｘ線Ｘ′を溶接部３の表面に例えば４５度で入射さ
せると共に検出器１２を回動させて回折角θ′を求める
。
このようにして測定された回折角θおよびθ′から、点
ｐにおける第２図の紙面と直角な方向の残留応力を知る
ことができる。
ｐにおける第２図の紙面と直角な方向の残留応力を知る
ことができる。
以上実施例について説明しように本考案の装置はＸ線管
から放射されたＸ線を一旦回折結晶に入射させて、該結
晶で回折したＸ線を試料の測定点に入射させるもので、
上記回折結晶はこれをＸ線管に比較して極め小型に形威
し得る。
から放射されたＸ線を一旦回折結晶に入射させて、該結
晶で回折したＸ線を試料の測定点に入射させるもので、
上記回折結晶はこれをＸ線管に比較して極め小型に形威
し得る。
従って前述のように、例えば金属材料１および２を直角
に溶接した部分における隅肉の残留応力を測定する場合
等において、第２図に示したように入射Ｘ線の偏倚角α
を極めて小さくすることができる。
に溶接した部分における隅肉の残留応力を測定する場合
等において、第２図に示したように入射Ｘ線の偏倚角α
を極めて小さくすることができる。
すなわち測定点の近傍に障害物らある場合でも試料面に
対して充分直角に近い角度を有する平面内でＸ線の入射
角を例えば９０度と４５度とに変換して、各入射角にお
ける該平面内の回折角を測定し得る。
対して充分直角に近い角度を有する平面内でＸ線の入射
角を例えば９０度と４５度とに変換して、各入射角にお
ける該平面内の回折角を測定し得る。
従って測定誤差が小さく正確な応力を求め得るものであ
る。
る。
第１図は従来のＸ線応力測定装置を用いた場合における
欠点を説明する図、第２図は本考案実施例の一部を縦断
した側面図、第３図は第２図のＡ−Ａ矢視正面図である
。 なお図において、１，２は金属材料、３は溶接部、４は
Ｘ線管、５は基台、６は案内面、７は案内溝、８は保持
台、９は回折結晶、１０は孔坑、１１は案内溝、１２は
Ｘ線検出器、１３はモータ、１４はウオーム、１５はラ
ック、１６は設定ねじである。
欠点を説明する図、第２図は本考案実施例の一部を縦断
した側面図、第３図は第２図のＡ−Ａ矢視正面図である
。 なお図において、１，２は金属材料、３は溶接部、４は
Ｘ線管、５は基台、６は案内面、７は案内溝、８は保持
台、９は回折結晶、１０は孔坑、１１は案内溝、１２は
Ｘ線検出器、１３はモータ、１４はウオーム、１５はラ
ック、１６は設定ねじである。
Claims (1)
- 試料面の測定点を通る直線を軸として回動し得るように
基台に取付けられた保持台にＸ線管および上記Ｘ線管か
ら投射されるＸ線を前記直線を含む平面内で回折させて
前記測定点に入射させる回折結晶を固定し、更に上記測
定点で回折したＸ線の検出器を前記直線を軸として回動
し得るように上記保持台に取付けたＸ線応力測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9582177U JPS6017735Y2 (ja) | 1977-07-20 | 1977-07-20 | Ｘ線応力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9582177U JPS6017735Y2 (ja) | 1977-07-20 | 1977-07-20 | Ｘ線応力測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5423784U JPS5423784U (ja) | 1979-02-16 |
| JPS6017735Y2 true JPS6017735Y2 (ja) | 1985-05-30 |
Family
ID=29029130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9582177U Expired JPS6017735Y2 (ja) | 1977-07-20 | 1977-07-20 | Ｘ線応力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6017735Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12436118B2 (en) * | 2020-09-10 | 2025-10-07 | Kobe Steel, Ltd. | Measurement system and measurement method |
-
1977
- 1977-07-20 JP JP9582177U patent/JPS6017735Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12436118B2 (en) * | 2020-09-10 | 2025-10-07 | Kobe Steel, Ltd. | Measurement system and measurement method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5423784U (ja) | 1979-02-16 |
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