JPS60178657A - 半導体増幅装置 - Google Patents
半導体増幅装置Info
- Publication number
- JPS60178657A JPS60178657A JP3426384A JP3426384A JPS60178657A JP S60178657 A JPS60178657 A JP S60178657A JP 3426384 A JP3426384 A JP 3426384A JP 3426384 A JP3426384 A JP 3426384A JP S60178657 A JPS60178657 A JP S60178657A
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- JP
- Japan
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- chip
- power supply
- circuit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は、高利得、高周波の増幅を行う半導体ICに関
するものである。
するものである。
(従来の技術分野)
第1図は従来例であって、1はICチップ外の高電位電
源供給端子、2はICチップ外の低電位電源供給端子、
3はICチップ内の入力信号端子、4はICチップ内の
出力信号端子、5はICチップ内の高電位電源供給端子
、6はICチップ内の八 低電位電源供給端子、7,8はICチップ内外を結ぶボ
ンディングワイヤおよびIC外部での電源供給用ライン
の寄生インダクタンス、9はICチップの内と外の境界
を示す破線、A、〜AllはICチップ内で構成される
受動素子または能動素子によりなる増幅回路網である。
源供給端子、2はICチップ外の低電位電源供給端子、
3はICチップ内の入力信号端子、4はICチップ内の
出力信号端子、5はICチップ内の高電位電源供給端子
、6はICチップ内の八 低電位電源供給端子、7,8はICチップ内外を結ぶボ
ンディングワイヤおよびIC外部での電源供給用ライン
の寄生インダクタンス、9はICチップの内と外の境界
を示す破線、A、〜AllはICチップ内で構成される
受動素子または能動素子によりなる増幅回路網である。
このような回路網の高電位電源ラインおよび低電位電源
ラインをICチップ内の電源供給端子5,6に一括し、
寄生インダクタンス7.8の要因であるICチップ外の
ボンディングワイヤおよび電源供給用ラインを介して電
源を供給する従来の手法では、寄生インダクタンス7.
8により交流接地が不完全となり、出力段の回路(例え
ばA11)の信号成分がICチップ内の’JLj[ライ
ンを介して入力段の回路(例えばA、)にまわり込み、
発振等の不安定動作を生じ易い。
ラインをICチップ内の電源供給端子5,6に一括し、
寄生インダクタンス7.8の要因であるICチップ外の
ボンディングワイヤおよび電源供給用ラインを介して電
源を供給する従来の手法では、寄生インダクタンス7.
8により交流接地が不完全となり、出力段の回路(例え
ばA11)の信号成分がICチップ内の’JLj[ライ
ンを介して入力段の回路(例えばA、)にまわり込み、
発振等の不安定動作を生じ易い。
第2図は、さらに具体的な従来例 であって、第1図で
説明した信号の他、10,11.14は抵抗R,+ R
2+ R=、、12 、 J3はトランジスタである。
説明した信号の他、10,11.14は抵抗R,+ R
2+ R=、、12 、 J3はトランジスタである。
第1図の構成に基づくこのような従来のICチップ内部
への電曽供給法では、例えば出力信号端子4の不整合等
により、出力信号端子4に信号が入力したとするとトラ
ンジスタ13はベース接地動作となり、寄生インダクタ
ンス7が負荷となり、端子5に利得を生じ、工Cチップ
内の電源ラインを介して抵抗10.’11により分圧さ
れ、入力信号端子3に帰還されたり、端子4からの信号
が抵抗14、ICチップ内のミノライン、抵抗11を介
して帰還がかかり、発振等の不安定動作を生じ易くなる
。
への電曽供給法では、例えば出力信号端子4の不整合等
により、出力信号端子4に信号が入力したとするとトラ
ンジスタ13はベース接地動作となり、寄生インダクタ
ンス7が負荷となり、端子5に利得を生じ、工Cチップ
内の電源ラインを介して抵抗10.’11により分圧さ
れ、入力信号端子3に帰還されたり、端子4からの信号
が抵抗14、ICチップ内のミノライン、抵抗11を介
して帰還がかかり、発振等の不安定動作を生じ易くなる
。
特にマイクロ波帯に及ぶ高利得、高周波増幅回路ICで
は、僅か数111(のインダクタンスで回路動作が不安
定となり、発振を生じてしまうという問題があった。
は、僅か数111(のインダクタンスで回路動作が不安
定となり、発振を生じてしまうという問題があった。
これを解決するには、端子6,6をμFオーダ以上の大
容量で交流接地すれば良いが、ICチップ内では数十p
F程度の小容量値の実現が限界であることや、ICチッ
プ外では、チップ近傍に大容量を配置し、交流接地を図
ることが考えられるが、チップと容量との接続をボンデ
ィングワイヤ等で行う必要があるため、数nH程度の寄
生インダクタンスが伺加し−Cしまい、容量とインダク
タンスの等 共振により特性が劣化してしまう問題があった。
容量で交流接地すれば良いが、ICチップ内では数十p
F程度の小容量値の実現が限界であることや、ICチッ
プ外では、チップ近傍に大容量を配置し、交流接地を図
ることが考えられるが、チップと容量との接続をボンデ
ィングワイヤ等で行う必要があるため、数nH程度の寄
生インダクタンスが伺加し−Cしまい、容量とインダク
タンスの等 共振により特性が劣化してしまう問題があった。
△
(発明の目的)
本発明は、この欠点を除去するため、増幅回路ICの全
体回路の電源ラインをいくつかに分割し、各々について
ICチップ内の′電源ラインパクンを構成し、別個にボ
ンディングワイヤやラインを介して電源を供給できるよ
うにして、高利得、高周波増幅回路ICの発振に対する
安定化を図ることのできる半導体増幅装置を提供するも
のである。
体回路の電源ラインをいくつかに分割し、各々について
ICチップ内の′電源ラインパクンを構成し、別個にボ
ンディングワイヤやラインを介して電源を供給できるよ
うにして、高利得、高周波増幅回路ICの発振に対する
安定化を図ることのできる半導体増幅装置を提供するも
のである。
(発明の構成および作用)
以下本発明の詳細な説明する。
第3図は本発明の実施例であって、1はICチップ外の
高電位電源供給端子、2はICチップ外の低電位ih#
供給用端子、3はICチップ内の入力信号端子、4はI
Cチップ内の出力信号端子、5−1〜5−nはICチッ
プ内の高電位電源供給端子、6−1〜6−nはICチッ
プ内の低′亀位電源供給端イ、7−1〜7−11.8−
1〜8−11はICチップ内外を結ぶボンディングワイ
ヤおよび! 諒供給用ライ7テ17)寄生インダクタン
ス、9はICチップの内と外の境界を示す破線、A、〜
AnはICチップ内で構成される受動素子または能動素
子より成る増幅回路網である。
高電位電源供給端子、2はICチップ外の低電位ih#
供給用端子、3はICチップ内の入力信号端子、4はI
Cチップ内の出力信号端子、5−1〜5−nはICチッ
プ内の高電位電源供給端子、6−1〜6−nはICチッ
プ内の低′亀位電源供給端イ、7−1〜7−11.8−
1〜8−11はICチップ内外を結ぶボンディングワイ
ヤおよび! 諒供給用ライ7テ17)寄生インダクタン
ス、9はICチップの内と外の境界を示す破線、A、〜
AnはICチップ内で構成される受動素子または能動素
子より成る増幅回路網である。
本発明は、増幅回路ICを構成する回路について、回路
構成、利得特性、帯域特性、N、諒供給用う・インの寄
生インダクタンス、ICチップ内の端1′・数を考慮し
て、適当KA、〜Anの部分回路に分割し、A1−Al
、各々について、ICチップ内の高電位電源供給端子5
−1〜5−11およびICチップ内の低電位I4源gし
給端子6−1〜6−11を酸レフ、各々、別f1δ1(
1,1、ディングワイヤおよび電源供給用ラインを・I
I、N’l ・j外の15.源供給用端子1,2により
、電源を加え、動作せしめるものである。このため、I
Cチップ外の端子1,2では、容易に大容量で交流接地
を完全に取ることができるので、第1図の従来例 で示
したような、ICチップ内の電源ラインパクンを介して
の部分回路間の結合がなくなり、信号の電源ラインを介
するまわり込みによる発掘等の不安定を改善することが
できる。なお、分割部分でも高利得なほどその部分回路
内での電源ラインパクンを介しての廻り込みが犬きくな
るので、分割はなるべく各分割部分の利得が相等しくな
るようにすることが好ましい。
構成、利得特性、帯域特性、N、諒供給用う・インの寄
生インダクタンス、ICチップ内の端1′・数を考慮し
て、適当KA、〜Anの部分回路に分割し、A1−Al
、各々について、ICチップ内の高電位電源供給端子5
−1〜5−11およびICチップ内の低電位I4源gし
給端子6−1〜6−11を酸レフ、各々、別f1δ1(
1,1、ディングワイヤおよび電源供給用ラインを・I
I、N’l ・j外の15.源供給用端子1,2により
、電源を加え、動作せしめるものである。このため、I
Cチップ外の端子1,2では、容易に大容量で交流接地
を完全に取ることができるので、第1図の従来例 で示
したような、ICチップ内の電源ラインパクンを介して
の部分回路間の結合がなくなり、信号の電源ラインを介
するまわり込みによる発掘等の不安定を改善することが
できる。なお、分割部分でも高利得なほどその部分回路
内での電源ラインパクンを介しての廻り込みが犬きくな
るので、分割はなるべく各分割部分の利得が相等しくな
るようにすることが好ましい。
第4図は、さらに具体的な本発明の実施例であって、第
3図で説明した他に10 、11 、14は抵抗R1+
R2+ RE% 12 + 13はトランジスタである
。本発明の場合、例えば出力信号端子4での不整合によ
り、端子4から入力すると、トランジスタ13はベース
接地として動作し、インダクタンス7−nを負荷として
、端子5−nに利得を生じる。しかし、ICチップ内の
電源供給用端子5−1.・・・5−nが分割してあり、
ICチップ外の端子1,2は容易に大容量で交流接地を
とることができるので、第2図で示した従来の手法のよ
うに、ICチップ内の電源ラインを介しての入力部分へ
廻り込みがなくなり、信号の%f、 諒ラインを介して
の廻り込みによる発振等の不安定を改善することができ
る。
3図で説明した他に10 、11 、14は抵抗R1+
R2+ RE% 12 + 13はトランジスタである
。本発明の場合、例えば出力信号端子4での不整合によ
り、端子4から入力すると、トランジスタ13はベース
接地として動作し、インダクタンス7−nを負荷として
、端子5−nに利得を生じる。しかし、ICチップ内の
電源供給用端子5−1.・・・5−nが分割してあり、
ICチップ外の端子1,2は容易に大容量で交流接地を
とることができるので、第2図で示した従来の手法のよ
うに、ICチップ内の電源ラインを介しての入力部分へ
廻り込みがなくなり、信号の%f、 諒ラインを介して
の廻り込みによる発振等の不安定を改善することができ
る。
本発明は、坪に寄生インダクタンスの低減を図ることよ
りも、ICチップへの電源供給用ラインが完全に分離さ
れているため改善効果が大きく、例えば、寄生インダク
タンスを5分の1にするよりも5分割したほうが、発振
等に対する安定性の改善を図ることができる。
りも、ICチップへの電源供給用ラインが完全に分離さ
れているため改善効果が大きく、例えば、寄生インダク
タンスを5分の1にするよりも5分割したほうが、発振
等に対する安定性の改善を図ることができる。
第5図は伝送利得S2. = 66 dB帯域1.5G
H7,を有する広帯域増幅回路を想定したときのICチ
ップ内の’it;源ラインパタンの5分割時と非分割1
10における発振に対する絶対安定性の評価指数である
安定指数(5tability factor ) K
の周波数特性の比較を示したものである。これにより、
L=1nHの時非分割時においては■で示すようにK<
1の領域が存在し、K〉1の絶対安定性を確保すること
ができないが、ICチップ内の電源ラインパタンを5分
割することにより、■のように絶対安定を確保でき、L
の値を1/10 (L=0.1 nH)にした非分割時
の特性■と比較してもさらに安定であり、工Cチップ内
の電源ラインバタン分割の効果が大きいことがわかる。
H7,を有する広帯域増幅回路を想定したときのICチ
ップ内の’it;源ラインパタンの5分割時と非分割1
10における発振に対する絶対安定性の評価指数である
安定指数(5tability factor ) K
の周波数特性の比較を示したものである。これにより、
L=1nHの時非分割時においては■で示すようにK<
1の領域が存在し、K〉1の絶対安定性を確保すること
ができないが、ICチップ内の電源ラインパタンを5分
割することにより、■のように絶対安定を確保でき、L
の値を1/10 (L=0.1 nH)にした非分割時
の特性■と比較してもさらに安定であり、工Cチップ内
の電源ラインバタン分割の効果が大きいことがわかる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明は増幅回路ICにおいて全
体回路の電源ラインを分割し、ICチップ内の電源供給
用ラインパクンを分割部ととに構成して個別に電源を供
給することにより、従来のようなICチップ外の電源供
給用ボンディングワイヤ、ラインの寄生インダクタンス
の影響で、信号がICチップ内の電源ラインパタンを介
してまわり込むことがなくなり、発振などの不安定動作
に対して改善を図ることができる。特に、発振の生じ易
い高利得、高周波増幅回路ICでは、電源を分割して供
給することにより、犬きく安定性を確保することができ
る。
体回路の電源ラインを分割し、ICチップ内の電源供給
用ラインパクンを分割部ととに構成して個別に電源を供
給することにより、従来のようなICチップ外の電源供
給用ボンディングワイヤ、ラインの寄生インダクタンス
の影響で、信号がICチップ内の電源ラインパタンを介
してまわり込むことがなくなり、発振などの不安定動作
に対して改善を図ることができる。特に、発振の生じ易
い高利得、高周波増幅回路ICでは、電源を分割して供
給することにより、犬きく安定性を確保することができ
る。
第1図、第2図は従来の増幅回路1cの電源供給例を示
す回路図、第3図、第4図は本発明の半導体増幅装置I
Cの実施例を示す回路図、第5図は本発明実施例の効果
を示す特性図である。 1・・ICチップ外の高電位電源供給端子、2・・・I
Cデツプ外の低電位電源供給用端子、3・・・ICチッ
プ内の入力信号端子、4・・・ICチップ内の出力信号
端子、5(5−1〜5−n)・・ICチップ内の高電位
電源供給端子、6(6−1〜6−n)・・・ICチップ
内の低電位電源供給端子、7(771〜7−n ) 、
8 (8−1〜8−n)・・・ICチップの内外を結
ぶボンディングワ・rヤおよびIC外部の′ル、源供給
用ラインの寄仕インダクタンス、9・・・ICチップの
内と外の境界を示す破線、10,11.14・・・抵抗
、12 、13・・・トランジスタ、A 1− A 1
1・・・増幅回路網。 特許出願人 日本型Gt ill:話公社代理人 白水
常雄 外1名 Ttllo 第20 第3図 第4目
す回路図、第3図、第4図は本発明の半導体増幅装置I
Cの実施例を示す回路図、第5図は本発明実施例の効果
を示す特性図である。 1・・ICチップ外の高電位電源供給端子、2・・・I
Cデツプ外の低電位電源供給用端子、3・・・ICチッ
プ内の入力信号端子、4・・・ICチップ内の出力信号
端子、5(5−1〜5−n)・・ICチップ内の高電位
電源供給端子、6(6−1〜6−n)・・・ICチップ
内の低電位電源供給端子、7(771〜7−n ) 、
8 (8−1〜8−n)・・・ICチップの内外を結
ぶボンディングワ・rヤおよびIC外部の′ル、源供給
用ラインの寄仕インダクタンス、9・・・ICチップの
内と外の境界を示す破線、10,11.14・・・抵抗
、12 、13・・・トランジスタ、A 1− A 1
1・・・増幅回路網。 特許出願人 日本型Gt ill:話公社代理人 白水
常雄 外1名 Ttllo 第20 第3図 第4目
Claims (2)
- (1)高利得、高周波の増幅を行う半導体増幅装置にお
いて、ICチップ内部の高電位電源端子および低電位電
源端子が各々数個に分割され、分割された部分ごとに引
き出されたボンディングワイヤ寸たはラインを介して前
記電源端子により電源が供給されるように構成されたこ
とを9”)′徴とする半導体増幅装置。 - (2)前記の分割はその分割された部分による利得かは
は相等しくなるように行なわれていることを特徴とする
特許請求の範凹第1項記載の半導体増幅装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3426384A JPS60178657A (ja) | 1984-02-27 | 1984-02-27 | 半導体増幅装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3426384A JPS60178657A (ja) | 1984-02-27 | 1984-02-27 | 半導体増幅装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60178657A true JPS60178657A (ja) | 1985-09-12 |
| JPH0476213B2 JPH0476213B2 (ja) | 1992-12-03 |
Family
ID=12409281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3426384A Granted JPS60178657A (ja) | 1984-02-27 | 1984-02-27 | 半導体増幅装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60178657A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02113565A (ja) * | 1988-10-22 | 1990-04-25 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2023106146A (ja) | 2022-01-20 | 2023-08-01 | 株式会社東芝 | 鉄道線路検出装置およびプログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57129530A (en) * | 1981-02-05 | 1982-08-11 | Nec Corp | Integrated circuit |
-
1984
- 1984-02-27 JP JP3426384A patent/JPS60178657A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57129530A (en) * | 1981-02-05 | 1982-08-11 | Nec Corp | Integrated circuit |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02113565A (ja) * | 1988-10-22 | 1990-04-25 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0476213B2 (ja) | 1992-12-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |