JPS60195933A - 位置検出装置 - Google Patents
位置検出装置Info
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- JPS60195933A JPS60195933A JP59051146A JP5114684A JPS60195933A JP S60195933 A JPS60195933 A JP S60195933A JP 59051146 A JP59051146 A JP 59051146A JP 5114684 A JP5114684 A JP 5114684A JP S60195933 A JPS60195933 A JP S60195933A
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- JP
- Japan
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- alignment
- position detection
- data
- wafer
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- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P95/00—Generic processes or apparatus for manufacture or treatments not covered by the other groups of this subclass
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(R明・の分野)
本発明は、被検物体上の位置検出用マークを検出するた
めの装置に関し、特に半導体集積回路のパターン焼付は
工程でウェハあるいはマスク(またはレチクル)を位置
合せする場合、Ii像管あるいはCOD等の撮像手段で
1録して得た画像信号かうウェハあるいはマスク上の位
置検出用マークすなわちパターン位置を正確に検知する
ための装置に関するものである。
めの装置に関し、特に半導体集積回路のパターン焼付は
工程でウェハあるいはマスク(またはレチクル)を位置
合せする場合、Ii像管あるいはCOD等の撮像手段で
1録して得た画像信号かうウェハあるいはマスク上の位
置検出用マークすなわちパターン位置を正確に検知する
ための装置に関するものである。
従来の半導体焼付は装置においては、ウェハのオリエン
テーション・フラット(以下、オリ°フラという)を利
用して機械的に位置合せくプリアライメント)を行ない
、続いてウェハおよびマスクにそれぞれ形成されている
アライメントマークを利用してより高精度の位置合せく
ファイン・アライメント)を行なっていた。このような
ファイン・アライメントに際しては、調整範囲すなわち
視野範囲が狭い程高速または高精度の位置合せ(アライ
メント)が可能となる。そこで、機械的なプリアライメ
ントに続いて、さらに、撮像管あるいはCOD等の撮像
手段を用いてウェハ上の位置検出用パターンを検出する
テレビ・プリアライメントを行ない、プリアライメント
の精度をより高くしてファイン・アライメントの範囲を
狭くし、これにより、ファイン・アライメントの時間を
短縮し、延いてはアライメント全体の所要時間を短縮す
るようにした装置が提案されている。
テーション・フラット(以下、オリ°フラという)を利
用して機械的に位置合せくプリアライメント)を行ない
、続いてウェハおよびマスクにそれぞれ形成されている
アライメントマークを利用してより高精度の位置合せく
ファイン・アライメント)を行なっていた。このような
ファイン・アライメントに際しては、調整範囲すなわち
視野範囲が狭い程高速または高精度の位置合せ(アライ
メント)が可能となる。そこで、機械的なプリアライメ
ントに続いて、さらに、撮像管あるいはCOD等の撮像
手段を用いてウェハ上の位置検出用パターンを検出する
テレビ・プリアライメントを行ない、プリアライメント
の精度をより高くしてファイン・アライメントの範囲を
狭くし、これにより、ファイン・アライメントの時間を
短縮し、延いてはアライメント全体の所要時間を短縮す
るようにした装置が提案されている。
ところで、この種の装置では、従来、1IilI管ある
いはCOD等の撮像手段が持つ幾何学的図形ひずみの影
響を無視していたため、被検物体の検出用パターンが画
面周辺部にある場合は、前記パターン位置の検出精度が
不十分であるという欠点があった。
いはCOD等の撮像手段が持つ幾何学的図形ひずみの影
響を無視していたため、被検物体の検出用パターンが画
面周辺部にある場合は、前記パターン位置の検出精度が
不十分であるという欠点があった。
(発明の目的および概要)
本発明は、上述の従来形における問題点に鑑み、撮像手
段により物体上の位置検出マークを検出する位置検出装
置において、撮像手段の持つ幾何学的図形ひずみの影響
がほとんど現われない領域に位置検出用マークを撮像し
てその位置を検出するという構想に基づき、マーク位置
をより高精度に検出することを目的とする。
段により物体上の位置検出マークを検出する位置検出装
置において、撮像手段の持つ幾何学的図形ひずみの影響
がほとんど現われない領域に位置検出用マークを撮像し
てその位置を検出するという構想に基づき、マーク位置
をより高精度に検出することを目的とする。
(実施例の説明)
以下、図面に従って本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明が適用されるパターン焼付は装置の外
観を示す。同図において、1は集積回路パターンを具え
たマスクで、他のマスクセツティングマークやファイン
・アライメントマークを具えるものとする。2はマスク
・チャックで、マスク1を保持してマスク1を平面内並
びに回転方向に移動させる。3は縮小投影レンズ、4は
感光層を具えるウェハで、ファイン・アライメントマー
クとブリ・アライメントマークを具えるものとする。5
はウェハ・ステージである。ウェハ・ステージ5はウェ
ハ4を保持してそれを平面内並びに回転方向に移動させ
るものであり、またウェハ焼付は位置(投影野内)とテ
レビ・プリアライメント位胃間を移動する。6は、テレ
ビ・アリアライメント用検知装置の対物レンズ、7は撮
像管(または固体m機素子)、8は影像観察用のテレビ
受像器である。9は双眼ユニットで、投影レンズ3を介
してウェハ4の表面を観察するために役立つ。
観を示す。同図において、1は集積回路パターンを具え
たマスクで、他のマスクセツティングマークやファイン
・アライメントマークを具えるものとする。2はマスク
・チャックで、マスク1を保持してマスク1を平面内並
びに回転方向に移動させる。3は縮小投影レンズ、4は
感光層を具えるウェハで、ファイン・アライメントマー
クとブリ・アライメントマークを具えるものとする。5
はウェハ・ステージである。ウェハ・ステージ5はウェ
ハ4を保持してそれを平面内並びに回転方向に移動させ
るものであり、またウェハ焼付は位置(投影野内)とテ
レビ・プリアライメント位胃間を移動する。6は、テレ
ビ・アリアライメント用検知装置の対物レンズ、7は撮
像管(または固体m機素子)、8は影像観察用のテレビ
受像器である。9は双眼ユニットで、投影レンズ3を介
してウェハ4の表面を観察するために役立つ。
10は、光源10aを発したマスク照明光を収束させる
ための照明光学系並びにファイン・アライメント用の検
知装置を収容する上部ユニットである。
ための照明光学系並びにファイン・アライメント用の検
知装置を収容する上部ユニットである。
ウェハ・ステージ5は図示しないウェハ搬送手段により
搬送されたウェハを所定の位置で保持し、まず、テレビ
・プリアライメント用対物レンズ6の視野内にウェハ上
のアライメント・マークが入る位置まで移動する。この
時の位置精度は機械的なプリアライメント精度によるも
のであり、対物レンズ6の視野はおよそ直径1〜211
程度である。
搬送されたウェハを所定の位置で保持し、まず、テレビ
・プリアライメント用対物レンズ6の視野内にウェハ上
のアライメント・マークが入る位置まで移動する。この
時の位置精度は機械的なプリアライメント精度によるも
のであり、対物レンズ6の視野はおよそ直径1〜211
程度である。
この視野内のアライメント・マークはl像管7で検知さ
れ、テレビ・プリアライメント視野内での7ライメント
・マークの座標位置が検出される。
れ、テレビ・プリアライメント視野内での7ライメント
・マークの座標位置が検出される。
ここで、投影光学系のファイン・アライメント用検知位
置と前述のテレビ・プリアライメントにおける座標の原
点はあらかじめ設定されているのでこの2点の位置と、
テレビ・プリアライメントマークの座標位置からファイ
ン・アライメント位置へのウェハ・ステージ5の送り込
み量が決められる。
置と前述のテレビ・プリアライメントにおける座標の原
点はあらかじめ設定されているのでこの2点の位置と、
テレビ・プリアライメントマークの座標位置からファイ
ン・アライメント位置へのウェハ・ステージ5の送り込
み量が決められる。
テレビ・プリアライメントの位置検出精度は±5μ以下
であり、テレビ・プリアライメント位置からファイン・
アライメント位置までのウェハ・ステージ5の移動で発
生する誤差を考慮に入れても、±10μ程度である。従
ってファイン・アライメントは約±10μの範囲で行な
えばよく、これはテレビ・プリアライメントを行なわな
い場合のファイン・アライメントの視野範囲の1/10
0以下の範囲であり、ファイン・アライメントがより高
速で行なえることになる。、しかし、機械的にプリアラ
イメントされたウェハのマーク位置をそのまま検出する
従来のテレビ・プリアライメントにおいては、第6図に
示すように、テレビ・プリアライメントマークPMが撮
像管7の画面の周辺部に撮像された場合、前述のように
、撮像手段7の持つ幾何学的図形歪あるいは観察光学系
の光学的な歪曲による誤差が生じ、このため、ファイン
・アライメント位置へのウェハ・ステージ5の送り込み
量が不正確となって、ファイン・アライメントの視野が
拡大し、ファイン・アライメントの高速化が妨げられて
いた。
であり、テレビ・プリアライメント位置からファイン・
アライメント位置までのウェハ・ステージ5の移動で発
生する誤差を考慮に入れても、±10μ程度である。従
ってファイン・アライメントは約±10μの範囲で行な
えばよく、これはテレビ・プリアライメントを行なわな
い場合のファイン・アライメントの視野範囲の1/10
0以下の範囲であり、ファイン・アライメントがより高
速で行なえることになる。、しかし、機械的にプリアラ
イメントされたウェハのマーク位置をそのまま検出する
従来のテレビ・プリアライメントにおいては、第6図に
示すように、テレビ・プリアライメントマークPMが撮
像管7の画面の周辺部に撮像された場合、前述のように
、撮像手段7の持つ幾何学的図形歪あるいは観察光学系
の光学的な歪曲による誤差が生じ、このため、ファイン
・アライメント位置へのウェハ・ステージ5の送り込み
量が不正確となって、ファイン・アライメントの視野が
拡大し、ファイン・アライメントの高速化が妨げられて
いた。
本実庫例においては、先ず、従来と同様にしてテレビ・
プリアライメントマークPMの座標位置検出を行ない、
次にこの位置座標値に基づきこの、マークPMがlll
1管7の画面における上記各歪曲の少ない部分例えば画
面中央部で撮像されるようにウェハ・ステージ5を駆動
した後、再度、マークPMのJ!揮位置検出を行ない、
ウェハ・ステー2ジ5のファイン、・アライメント位置
へ1の送り込みはこの再検出値に従って行なう。
プリアライメントマークPMの座標位置検出を行ない、
次にこの位置座標値に基づきこの、マークPMがlll
1管7の画面における上記各歪曲の少ない部分例えば画
面中央部で撮像されるようにウェハ・ステージ5を駆動
した後、再度、マークPMのJ!揮位置検出を行ない、
ウェハ・ステー2ジ5のファイン、・アライメント位置
へ1の送り込みはこの再検出値に従って行なう。
第2図はテレビ・アリアライメント用検知装置の実施例
°を示してお?、図中の縮小投影レンズ3、ウェハ4、
対物レンズ6、WaIlt! 7は第1図と同一である
。
°を示してお?、図中の縮小投影レンズ3、ウェハ4、
対物レンズ6、WaIlt! 7は第1図と同一である
。
他方、11体照明川用源で、例えばハロゲンランプを使
用する。12はコンデンサーレンズ、13は絞りで、レ
ンズ12は光源11を絞り13上に結像する。
用する。12はコンデンサーレンズ、13は絞りで、レ
ンズ12は光源11を絞り13上に結像する。
14は照明用リレーレンズ、15は接合プリズムで、接
合プリズム15は照明系の光軸と受光系の光軸を共軸に
する機能を持ち、内側反射面15aと半透過反射面15
bを備える。こζで光源11、コンデンサーレンズ12
、絞り13、照明リレーレンズ14、接合プリズム15
および対物レンズ6は照明系を構成し、対物レンズ6を
射出した光束はウェハ4上を落射照明する。
合プリズム15は照明系の光軸と受光系の光軸を共軸に
する機能を持ち、内側反射面15aと半透過反射面15
bを備える。こζで光源11、コンデンサーレンズ12
、絞り13、照明リレーレンズ14、接合プリズム15
および対物レンズ6は照明系を構成し、対物レンズ6を
射出した光束はウェハ4上を落射照明する。
次に、16はリレーレンズ、17は光路を折曲げる鏡、
19は撮像レンズで、上に述べた対物レンズ6、接合プ
リズム15、リレーレンズ16.1117および撮像レ
ンズ19は、撮像管7と共に受光系を構成する。
19は撮像レンズで、上に述べた対物レンズ6、接合プ
リズム15、リレーレンズ16.1117および撮像レ
ンズ19は、撮像管7と共に受光系を構成する。
この受光系において、対物レンズ6を通る光束は□接合
プリズム15の内側反射面15aで反射して半透過面1
5bで反射し、さらに内側反射面15aで再度反射して
リレーレンズ16へ向う。これによ□す、ウェハ4上の
プリアライメントマーク像は撮像管7の撮像面に結像す
る。
プリズム15の内側反射面15aで反射して半透過面1
5bで反射し、さらに内側反射面15aで再度反射して
リレーレンズ16へ向う。これによ□す、ウェハ4上の
プリアライメントマーク像は撮像管7の撮像面に結像す
る。
他方、第3図(A)に・例示したテレビ・プリアライメ
ントマークはウェハのスクライブライン中に設けるのが
望ま′しいが、ウェハ上の特定のチップパターンの位置
に設けてもよい。図示のマークはスクライプライン内に
設けた。十字形状のマ、−りで、十字パターンの方向が
II像管の走査方向とほぼ平行および垂直・になるよう
に配列する。またもし、十字バター、ンを例えば図示し
たように走査方・向に45°の傾きを持つ・微小なバー
状突起の集合で構成し、この突起に直角な方向から照明
光が当るように暗視野照明すれば極めて明瞭なパターン
形状を撮像できる。この場合は、明視野絞り13の代り
に暗視野絞り13Bを装着して使用する。
ントマークはウェハのスクライブライン中に設けるのが
望ま′しいが、ウェハ上の特定のチップパターンの位置
に設けてもよい。図示のマークはスクライプライン内に
設けた。十字形状のマ、−りで、十字パターンの方向が
II像管の走査方向とほぼ平行および垂直・になるよう
に配列する。またもし、十字バター、ンを例えば図示し
たように走査方・向に45°の傾きを持つ・微小なバー
状突起の集合で構成し、この突起に直角な方向から照明
光が当るように暗視野照明すれば極めて明瞭なパターン
形状を撮像できる。この場合は、明視野絞り13の代り
に暗視野絞り13Bを装着して使用する。
、第2図へ戻ってプリアライメントマークの検知作用を
述べるが、検知したビデオ信号の電気処理については後
述する。照明用光源11からの光束はコンデンサーレン
ズ12で収斂されて絞り13(または暗視野絞り13B
)の同口を通過し、さらに照明リレーレンズ14および
接合プリズム15の半透過面15bを透過して反射面1
5aで反射し、対物レンズ6を通ってウェハ4を照明す
る。
述べるが、検知したビデオ信号の電気処理については後
述する。照明用光源11からの光束はコンデンサーレン
ズ12で収斂されて絞り13(または暗視野絞り13B
)の同口を通過し、さらに照明リレーレンズ14および
接合プリズム15の半透過面15bを透過して反射面1
5aで反射し、対物レンズ6を通ってウェハ4を照明す
る。
、ウェハ4の表面で反射した光束は対物レンズ6で結像
作用を受け、接合プリズム15へ入射して反射面15a
で反射し、次いで半透過面15b1反射面15aで反射
してこれを射出し、リレーレンズ16でリレーされて鏡
11で反射し、撮像レンズ19により撮像管7上に結像
する。撮像管7から出力される画像信号は、後述のテレ
ビ・プリアライメント検;知回路に送出される。ウェハ
・ステージ5は、この検知四路における電気的処理によ
り検出されたプリアライメントマークPMの位置に応じ
てウエハ4が投影レンズ3の投影野牛の規定位114′
を占めるように移動して停止する。なお、ウェハ4を一
旦標準位置にアライメントし、その俊、投影野牛へ移動
させるように変形してもよい。
作用を受け、接合プリズム15へ入射して反射面15a
で反射し、次いで半透過面15b1反射面15aで反射
してこれを射出し、リレーレンズ16でリレーされて鏡
11で反射し、撮像レンズ19により撮像管7上に結像
する。撮像管7から出力される画像信号は、後述のテレ
ビ・プリアライメント検;知回路に送出される。ウェハ
・ステージ5は、この検知四路における電気的処理によ
り検出されたプリアライメントマークPMの位置に応じ
てウエハ4が投影レンズ3の投影野牛の規定位114′
を占めるように移動して停止する。なお、ウェハ4を一
旦標準位置にアライメントし、その俊、投影野牛へ移動
させるように変形してもよい。
第4図はテレビ・プリアライメント検知回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
第3図Aに示したテレビ・プリアライメントマークを検
知する方法はいろいろあるが、第4図に示した実施例は
テレビの画像を画素に分解し、この画素の濃度をX方向
(水平方向)およびY方向(垂直方向)にそれぞれ加算
するものである。
知する方法はいろいろあるが、第4図に示した実施例は
テレビの画像を画素に分解し、この画素の濃度をX方向
(水平方向)およびY方向(垂直方向)にそれぞれ加算
するものである。
加算づることによる利点は、■加算によりランダム・ノ
イズが平均化されS/N比がよくなる。
イズが平均化されS/N比がよくなる。
■X方向とY方向の位置検知を独立に行なうことができ
検知が簡単になる。0画像データを格納するメモリの容
量が少なくなる等があげられる。
検知が簡単になる。0画像データを格納するメモリの容
量が少なくなる等があげられる。
第4図のブロック図において破線で囲まれたブロックX
は、X方向の画素の濃度を加算するブロック、ブロック
YはY方向の画素の濃度を加算するブロックである。
は、X方向の画素の濃度を加算するブロック、ブロック
YはY方向の画素の濃度を加算するブロックである。
第4図において、31はビデオ・アンプ、32はアナロ
グ・デジタル変換器、33はラッチであり、図示しない
テレビカメラコントロール部から送られるビデオ信号(
Ili像管7からの画像信号に同期信号を付加する等の
電気的処理を施したもの)はビデオアンプ31で増幅さ
れ、アナログ・デジタル変換器32でデジタル化された
後ラッチ33に格納される。ラッチ33の出力データは
X方向の加算ブロックXとY方向の加nブロックYへ出
力される。ブロックYにおいて、34はY方向にデータ
を加算する加算器、35は加算器34の出力データをラ
ッチする加算出力ラッチ、36は加算出力ラッチ35の
データを格納するY方向積算メモリ、37はメモリ36
の出力データをラッチする加算入力ラッチである。
グ・デジタル変換器、33はラッチであり、図示しない
テレビカメラコントロール部から送られるビデオ信号(
Ili像管7からの画像信号に同期信号を付加する等の
電気的処理を施したもの)はビデオアンプ31で増幅さ
れ、アナログ・デジタル変換器32でデジタル化された
後ラッチ33に格納される。ラッチ33の出力データは
X方向の加算ブロックXとY方向の加nブロックYへ出
力される。ブロックYにおいて、34はY方向にデータ
を加算する加算器、35は加算器34の出力データをラ
ッチする加算出力ラッチ、36は加算出力ラッチ35の
データを格納するY方向積算メモリ、37はメモリ36
の出力データをラッチする加算入力ラッチである。
ブロックXにおいて、38はX方向にデータを加算する
加算器、39は加算器38の出力をラッチづるラッチ、
40はラッチ39の出力データを格納するX方向積算メ
モリである。
加算器、39は加算器38の出力をラッチづるラッチ、
40はラッチ39の出力データを格納するX方向積算メ
モリである。
これらの回路におけるデジタル・データのビット数に特
に限定はないが、例えばアナログ・デジタル変換器32
が8ビツト、加算器34.38およびメモリ36.40
が16ビツト構成である。
に限定はないが、例えばアナログ・デジタル変換器32
が8ビツト、加算器34.38およびメモリ36.40
が16ビツト構成である。
一方、41はテレビ・プリアライメント検知回路のタイ
ミングやシーケンスを制御し、またメモリ36のリード
・ライトおよびチップセレクトをコントロールするシー
ケンス/メモリコントロール回路、42はブロックX中
のメモリ40を制御するメモリコントロール回路である
。43はシーケンス/メモリコントロール回路41をマ
イクロプロセッサ(不図示)が制御するためのコントロ
ールレジスタで、レジスタ43の入力はマイクロプロセ
ッサのデータバス44に接続されている。また、マイク
ロプロセッサは、このデータバス44を介して、メモリ
36.40にアクセスすることが可能である。45゜4
6、47.48はそのためのバッフ1であり、バッファ
45.47はマイクロプロセッサがメモリにデータをラ
イトする時、またバッファ46.48はデータをリード
する時動作する。49はクロック回路、50゜51はY
方向積算メモリ36のライト・アドレスおよびリード・
アドレスを発生する、メモリ・ライト・アドレス回路お
よびメモリ・リード・アドレス回路である。52はメモ
リのリード・アドレスとライト・アドレスを切換えるア
ドレスセレクタ、53はマイクロプロセッサがメモリ3
6をアクセスする時のアドレスバッフ1であり、マイク
ロプロセッサがアクセスする時以外は、アドレスセレク
タ52の出力が選択されており、バッファ53の出力は
禁止されている。54はX方向積算メモリ40のアドレ
スを発生するメモリ・アドレス回路、55はメモリアド
レス回路54のアドレスとマイクロプロセッサがメモリ
40をアクセスする時発生するアドレスの切換えをする
アドレスセレクタである。56はクロック回路49のク
ロックを基準にTVの水平同期信号、垂直同期信号、ブ
ランキング信号等を発生するTV同期信号発生回路であ
る。57.58はマイクロプロセッサのデータバス44
に接続されたそれぞれX位置表示レジスタ、Y位置表示
レジスタ、59はマーカ表示回路であり、マーカ表示回
路59は、テレビ・アリアライメントにおいて検出した
アライメントマークの位置をマイクロプロセッサがX位
置表示レジスタ51およびY位置表示レジスタ58に出
力することにより、ミックス信号を作成してTVカメラ
コントロール部のビデオ入力端子へ送出する。
ミングやシーケンスを制御し、またメモリ36のリード
・ライトおよびチップセレクトをコントロールするシー
ケンス/メモリコントロール回路、42はブロックX中
のメモリ40を制御するメモリコントロール回路である
。43はシーケンス/メモリコントロール回路41をマ
イクロプロセッサ(不図示)が制御するためのコントロ
ールレジスタで、レジスタ43の入力はマイクロプロセ
ッサのデータバス44に接続されている。また、マイク
ロプロセッサは、このデータバス44を介して、メモリ
36.40にアクセスすることが可能である。45゜4
6、47.48はそのためのバッフ1であり、バッファ
45.47はマイクロプロセッサがメモリにデータをラ
イトする時、またバッファ46.48はデータをリード
する時動作する。49はクロック回路、50゜51はY
方向積算メモリ36のライト・アドレスおよびリード・
アドレスを発生する、メモリ・ライト・アドレス回路お
よびメモリ・リード・アドレス回路である。52はメモ
リのリード・アドレスとライト・アドレスを切換えるア
ドレスセレクタ、53はマイクロプロセッサがメモリ3
6をアクセスする時のアドレスバッフ1であり、マイク
ロプロセッサがアクセスする時以外は、アドレスセレク
タ52の出力が選択されており、バッファ53の出力は
禁止されている。54はX方向積算メモリ40のアドレ
スを発生するメモリ・アドレス回路、55はメモリアド
レス回路54のアドレスとマイクロプロセッサがメモリ
40をアクセスする時発生するアドレスの切換えをする
アドレスセレクタである。56はクロック回路49のク
ロックを基準にTVの水平同期信号、垂直同期信号、ブ
ランキング信号等を発生するTV同期信号発生回路であ
る。57.58はマイクロプロセッサのデータバス44
に接続されたそれぞれX位置表示レジスタ、Y位置表示
レジスタ、59はマーカ表示回路であり、マーカ表示回
路59は、テレビ・アリアライメントにおいて検出した
アライメントマークの位置をマイクロプロセッサがX位
置表示レジスタ51およびY位置表示レジスタ58に出
力することにより、ミックス信号を作成してTVカメラ
コントロール部のビデオ入力端子へ送出する。
続いて第4図のテレビ・プレアライメント検知回路の機
能および動作について説明する。
能および動作について説明する。
テレビ・プリアライメント検知回路の機能は、■X方向
のデータの積算、■Y方向のデータの積算、■プリアラ
イメントマーク検知位置のTVモニタ上への表示である
。
のデータの積算、■Y方向のデータの積算、■プリアラ
イメントマーク検知位置のTVモニタ上への表示である
。
このうち、X方向のデータの積算およびY方向のデータ
の積算は、テレビ・プリアライメント検知回路のハード
ウェアが加算を実行し、その加算データをメモリに格納
する。データの加算はテレビ信号の1フレ一ム単位で行
なわれ、後述するように必要に応じて、1フレームの加
算で終了してもよいし、あるいは複数のフレームの加算
を行なってもよい。いずれの場合でも、加算中は、メモ
リ36.40のデータ舎バスおよびアドレス・バスはマ
イクロプロセッサのデータ・バス44およびアドレス・
バスから電気的に切り離されており、メモリ36のアド
レスはアドレスセレクタ52、メモリ40のアドレスは
アドレス回路54から供給され、シーケンス/メモリコ
ントロール回路41、およびメモリコントロール回路4
2からハード的に発生するリードライト信号およびチッ
プセレクト信号の制御のもとに加算が実行される。
の積算は、テレビ・プリアライメント検知回路のハード
ウェアが加算を実行し、その加算データをメモリに格納
する。データの加算はテレビ信号の1フレ一ム単位で行
なわれ、後述するように必要に応じて、1フレームの加
算で終了してもよいし、あるいは複数のフレームの加算
を行なってもよい。いずれの場合でも、加算中は、メモ
リ36.40のデータ舎バスおよびアドレス・バスはマ
イクロプロセッサのデータ・バス44およびアドレス・
バスから電気的に切り離されており、メモリ36のアド
レスはアドレスセレクタ52、メモリ40のアドレスは
アドレス回路54から供給され、シーケンス/メモリコ
ントロール回路41、およびメモリコントロール回路4
2からハード的に発生するリードライト信号およびチッ
プセレクト信号の制御のもとに加算が実行される。
所定のフレーム数の加算が終了すると、シーケンス/メ
モリコントロール回路41からインタラブド信号線IN
T上に加算終了信号が発生する。この加算終了信号の発
生後、マイクロプロセッサは、メモリ36およびメモリ
40にアクセスを行ない、加算データからテレビ・プリ
アライメントマーク位置を検知する。マイクロプロセッ
サがメモリ36゜40をアクセスする時は、当然ながら
メモリのアドレス、リードライト切換、チップセレクト
等はマイクロプロセッサの制御信号によって行なわれる
。
モリコントロール回路41からインタラブド信号線IN
T上に加算終了信号が発生する。この加算終了信号の発
生後、マイクロプロセッサは、メモリ36およびメモリ
40にアクセスを行ない、加算データからテレビ・プリ
アライメントマーク位置を検知する。マイクロプロセッ
サがメモリ36゜40をアクセスする時は、当然ながら
メモリのアドレス、リードライト切換、チップセレクト
等はマイクロプロセッサの制御信号によって行なわれる
。
またメモリ36のデータはバッファ46、メモリ40の
データはバッファ48を経由してデータバス44に送ら
れ、マイクロプロセッサに読み取られる。
データはバッファ48を経由してデータバス44に送ら
れ、マイクロプロセッサに読み取られる。
ところで、第4図中、ブロックXにおけるX方向の加算
、ブロックYにおけやY方向の加算を説明する前に第5
図を参照して画素の分割方法について述べる。第5図は
テレビ画面をX方向にN分割、Y方向にM分割した画素
を表わしている。画素PJiは、行1番目、列1番目の
画素を示す。
、ブロックYにおけやY方向の加算を説明する前に第5
図を参照して画素の分割方法について述べる。第5図は
テレビ画面をX方向にN分割、Y方向にM分割した画素
を表わしている。画素PJiは、行1番目、列1番目の
画素を示す。
Y方向の分割数Mは通常、水平走査ライン数と一致して
おり、したがって画素に分割するためには、−水平同期
信号区間内に、アナログ・デジタル変換@32(第4図
)にてN回すンプリングを行なえばよい。
おり、したがって画素に分割するためには、−水平同期
信号区間内に、アナログ・デジタル変換@32(第4図
)にてN回すンプリングを行なえばよい。
したがってX方向の加算は
Sx + =DATA (P+ + )+DATA (
P+ 2 )十 ・・・・・・ + DATA (P+
N ) 、SX2−DATA (P2 + )+DA
TA (P22 )+ ・・・・・・ +DATA (
P2 N )、SXM−DATA (PMI )+DA
TA (PN2 )+ ・・・・・・ +DATA(P
MN)、Y方向の加算は SYI −DATA (P+ + )+DATA (P
z + )+ ・・・・・・ +DATA (PM +
)、SYz −DATA (P+ 2 ) 十DAT
A (P22 )+ ・・・・・・ +DATA (P
M2 ) 、・・帝e・・f SY N =DATA (P+ N )+DATA (
P2 N )+ ・・・・・・ +DATA (PMN
) 、で表わされる。
P+ 2 )十 ・・・・・・ + DATA (P+
N ) 、SX2−DATA (P2 + )+DA
TA (P22 )+ ・・・・・・ +DATA (
P2 N )、SXM−DATA (PMI )+DA
TA (PN2 )+ ・・・・・・ +DATA(P
MN)、Y方向の加算は SYI −DATA (P+ + )+DATA (P
z + )+ ・・・・・・ +DATA (PM +
)、SYz −DATA (P+ 2 ) 十DAT
A (P22 )+ ・・・・・・ +DATA (P
M2 ) 、・・帝e・・f SY N =DATA (P+ N )+DATA (
P2 N )+ ・・・・・・ +DATA (PMN
) 、で表わされる。
加算が終了した時点で、X方向8に算メモリ40内には
5XllSX2・・・・・・SXMのデータが、Y方向
積算メモリ36内にはSYI、SY2・・・・・・SY
Nのデータが格納される。
5XllSX2・・・・・・SXMのデータが、Y方向
積算メモリ36内にはSYI、SY2・・・・・・SY
Nのデータが格納される。
前述したように、テレビ・プリアライメント位置へのウ
ェハ送り込みはまずウェハのオリフラを検知することに
よってウェハを所定の位置で保持しそれからウェハ・ス
テージを駆動してウェハをテレビ・プリアライメント位
置まで送り込んでいる。そのため、オリフラ検知精度と
ウェハ・ステージのプリアライメントマーク位置へのウ
ェハ送り込み精度によっては第6図に示したように、テ
レビ・プリアライメントマークPMが画面の周辺部に撮
像される場合も多々ある。そのような場合にはマーク開
側を行なった結果求まる位置座標値(XPM、YPM)
には撮像手段のもつ幾何学的図形ひずみ、あるいは観察
光学系の光学的な歪曲による誤差が乗っており、前述し
たファイン・アライメント位置へのウェハ・ステージの
送り込み量が正確には決定できないことになる。
ェハ送り込みはまずウェハのオリフラを検知することに
よってウェハを所定の位置で保持しそれからウェハ・ス
テージを駆動してウェハをテレビ・プリアライメント位
置まで送り込んでいる。そのため、オリフラ検知精度と
ウェハ・ステージのプリアライメントマーク位置へのウ
ェハ送り込み精度によっては第6図に示したように、テ
レビ・プリアライメントマークPMが画面の周辺部に撮
像される場合も多々ある。そのような場合にはマーク開
側を行なった結果求まる位置座標値(XPM、YPM)
には撮像手段のもつ幾何学的図形ひずみ、あるいは観察
光学系の光学的な歪曲による誤差が乗っており、前述し
たファイン・アライメント位置へのウェハ・ステージの
送り込み量が正確には決定できないことになる。
一方、前記要因に起因する誤差はテレビ・プリ7ライメ
ントマークPMが画面中心にあるときにm像されたので
あれば前記送り込みlの許容誤差に対して充分無視でき
るものである。よって、テレビ・アリアライメントマー
クPMが画面周辺部にある場合はマークPMが画面中心
でWillされるようウェハ・ステージ5を駆動し、そ
こで再びマーク位置計測を行なえば前記送り込み優が正
確に決定できる。
ントマークPMが画面中心にあるときにm像されたので
あれば前記送り込みlの許容誤差に対して充分無視でき
るものである。よって、テレビ・アリアライメントマー
クPMが画面周辺部にある場合はマークPMが画面中心
でWillされるようウェハ・ステージ5を駆動し、そ
こで再びマーク位置計測を行なえば前記送り込み優が正
確に決定できる。
第7図のフローチャートを用いて本実施例の焼付は装置
におけるテレビ・プリアライメントマーク検知動作をさ
らに詳しく述べる。
におけるテレビ・プリアライメントマーク検知動作をさ
らに詳しく述べる。
測定が開始されると(ステップ700)、まず位置検知
用のテレビ・プリアライメントマークPMのマーク位置
計測が行なわれる(ステップ701)。
用のテレビ・プリアライメントマークPMのマーク位置
計測が行なわれる(ステップ701)。
この計測は1フレームまたは複数のフレームの画像信号
をX方向、Y方向に加算し、加算終了後加算メモリ内の
データからメモリ・アドレスとしてマーク位置をめるも
のである。
をX方向、Y方向に加算し、加算終了後加算メモリ内の
データからメモリ・アドレスとしてマーク位置をめるも
のである。
次にステップ702において、マーク位置座標計算が行
なわれる。ここでいう座標とは搬像画面中心を原点とす
る座標のことである。加算メモリ・アドレスと撮像画面
中心との対応関係は既に判っているので、マーク位置の
座標値をめることができる。さらにステップ703で撮
像中心からのズレ量を計算する訳であるが、いまステッ
プ102で撮像画面中心を座標系の原点としたのぐ、マ
ーク位置座標値がそのままm像中心からのズレ量を表わ
していることになる。
なわれる。ここでいう座標とは搬像画面中心を原点とす
る座標のことである。加算メモリ・アドレスと撮像画面
中心との対応関係は既に判っているので、マーク位置の
座標値をめることができる。さらにステップ703で撮
像中心からのズレ量を計算する訳であるが、いまステッ
プ102で撮像画面中心を座標系の原点としたのぐ、マ
ーク位置座標値がそのままm像中心からのズレ量を表わ
していることになる。
次のステップ704においては、ステップ703でめた
マークPMの撮像中心からのズレmからマークPMを中
心へ移動するためのウェハ・ステージ駆動量を知り、ウ
ェハ・ステージを駆動する。
マークPMの撮像中心からのズレmからマークPMを中
心へ移動するためのウェハ・ステージ駆動量を知り、ウ
ェハ・ステージを駆動する。
なお、ステップ703でめたプリアライメントマークP
Mの撮像中心からのズレmは前述したような誤差を持っ
ている訳であるが、マークPMを線像中心近辺すなわち
撮像手段の持つ幾何学的歪あるいは観察光学系の光学的
な歪曲による誤差の影響がほとんど及ばない範囲内に移
動することができることは明らかである。
Mの撮像中心からのズレmは前述したような誤差を持っ
ている訳であるが、マークPMを線像中心近辺すなわち
撮像手段の持つ幾何学的歪あるいは観察光学系の光学的
な歪曲による誤差の影響がほとんど及ばない範囲内に移
動することができることは明らかである。
ステップ704でウェハ・ステージを駆動することによ
りプリアライメントマークPMの撮像手段の中心への移
動が完了すると、ステップ705でマークPMの位置を
再計測し、ステップ106でマーク位置の座標を計算し
てステップ701で測定を終了する。この場合、ウェハ
がテレビ・プリアライメント位置へ送り込まれたときア
ライメントマークPMが画面内のいかなる所にあっても
、はとんど撮像中心で再訂1lITJることになり、フ
ァイン・アライメント位置への送り込み精度を向上させ
ることができる。
りプリアライメントマークPMの撮像手段の中心への移
動が完了すると、ステップ705でマークPMの位置を
再計測し、ステップ106でマーク位置の座標を計算し
てステップ701で測定を終了する。この場合、ウェハ
がテレビ・プリアライメント位置へ送り込まれたときア
ライメントマークPMが画面内のいかなる所にあっても
、はとんど撮像中心で再訂1lITJることになり、フ
ァイン・アライメント位置への送り込み精度を向上させ
ることができる。
(発明の効果)
以上のように本発明によると、ウェハがテレビ・プリア
ライメント位置へ送り込まれたときアライメントマーク
PMが画面内のいかなる所にあっても、このマークをほ
ぼTsm像中心移動させてから再計測した値により座標
位置を検出するようにしているため、光学系のディスト
ーションおよび撮像管の偏向歪等の影響の少ない高精度
の位置検出を行なうことができる。
ライメント位置へ送り込まれたときアライメントマーク
PMが画面内のいかなる所にあっても、このマークをほ
ぼTsm像中心移動させてから再計測した値により座標
位置を検出するようにしているため、光学系のディスト
ーションおよび撮像管の偏向歪等の影響の少ない高精度
の位置検出を行なうことができる。
第1図は、本発明の1実施例に係る焼付は装置の外観を
示す斜視図、 第2図は、テレビ・プリアライメント検知系の光学系斜
視図、 第3図は、テレビ・プリアライメントマークの平面図(
画面中心にて撮像された場合)、第4図はテレビ・プリ
アライメント検知回路のブロック図、 第5図はテレビ画面の画素分割法を示す説明図、第6図
はテレビ・プリアライメントマークの平面図(画面周辺
部にて撮像された場合)、そして第7図は、テレビ・プ
リアライメントマーク位置検出フロー図である。 図中、1はマスク、2はマスク・チャック、3は縮小投
影レンズ、4はウェハ、5はウェハ・ステージ、6は対
物レンズ、7はmail管、8はテレビ受像機、9は双
眼ユニット、10は光源、11は照明用光源、12はコ
ンデンサレンズである。 特許出願人 キャノン株式会社 代理人 弁理士 伊東辰雄 代理人 弁理士 伊東哲也 第1図 1゜
示す斜視図、 第2図は、テレビ・プリアライメント検知系の光学系斜
視図、 第3図は、テレビ・プリアライメントマークの平面図(
画面中心にて撮像された場合)、第4図はテレビ・プリ
アライメント検知回路のブロック図、 第5図はテレビ画面の画素分割法を示す説明図、第6図
はテレビ・プリアライメントマークの平面図(画面周辺
部にて撮像された場合)、そして第7図は、テレビ・プ
リアライメントマーク位置検出フロー図である。 図中、1はマスク、2はマスク・チャック、3は縮小投
影レンズ、4はウェハ、5はウェハ・ステージ、6は対
物レンズ、7はmail管、8はテレビ受像機、9は双
眼ユニット、10は光源、11は照明用光源、12はコ
ンデンサレンズである。 特許出願人 キャノン株式会社 代理人 弁理士 伊東辰雄 代理人 弁理士 伊東哲也 第1図 1゜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、可動支持体上に載■された物体上の位置検出用マー
クの位置を撮像手段にとり検出する位置検出装置におい
て、 ゛ 前記1III1手段から出力され企画−信号により前記
位置検出用マークの位*牽計揮する・1手段、前記計測
値に基づいて前記位置検出マーク置を前記撮像手段の視
野の所定範囲内でm−すべく前記可動支持体を駆動する
手段、弗よび、・前記可動支持体を駆動した後前記位置
検出用マークの位!を再計測1F+ する手段を具備し、再計測による座標計量*を前記位置
検出用マークの現在位置として検出することを特徴とす
る位置検出装−0 2、前記計測手段が前記再計測手段を兼ねている特許請
求の範囲第1項記載1の装置検出装置。 3、#記駆動手段は、前記座−計測値の前記所定範囲内
に予め設定された基準点からのずれ最に応じて前記位置
検出用マークを移動させる特許請求の範囲第1≠たは2
項記載の位置検出装置。 4、前記撮像手段の視野の中央部に前記所定範囲を設定
し、前記視野の中心を前記J1*点および前記座標の原
点に設定した特許請求の範囲第3項記載の位置検出装置
。 5、前記駆動手段は、前記現在位置検出優、さらに、所
定の目標位置と前記現在位置との位置関係に応じ前記位
置検出マークを前記目標位aへ移動させるべく前記可動
支持体を駆動する特許請求の範囲第1.2.3または4
項記載の位置検出装置。 。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59051146A JPS60195933A (ja) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | 位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59051146A JPS60195933A (ja) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | 位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60195933A true JPS60195933A (ja) | 1985-10-04 |
Family
ID=12878681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59051146A Pending JPS60195933A (ja) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | 位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60195933A (ja) |
-
1984
- 1984-03-19 JP JP59051146A patent/JPS60195933A/ja active Pending
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