JPS60196677A - チツプ形電子部品の検査用端子 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明はチップ形電子部品の電気的特性を測定。

検査する端子の構造に関する。

（従来技術） 近年、電子部品の小型化、高集積化にともない。

抵抗、コンデンサなどの集積化しにくい部品も、小型化
され、かつ自動実装可能なチップ形へと移行しつつある
。そのため従来のリード線を有した形状の′電子部品で
は突出したリード線をわに口状の測定端子ではさんだり
、リード線全ソケ、トに挿入したりする手段で端子と容
易に接続し、その電気的特性を測定することができた。

しかし、チップ形電子部品（以後チップ部品と略称は、
外部に突出したリード線がなく、その端子接続部の大き
さが電極部分を含め１ｍｍから数ｍｍｌ、かないため、
半田伺は実装勺・段をとらずにこのチップ部品の電気的
特性を測定することｉｌ″Ｊ：。

かなりの精度を要する困難な作業となった０通常。

チップ部品の電気的特性を測定するには％（イ）ビンセ
ットあるいは箸状の二本の測定用端子でチップ部品の陽
極および陰極全固足支持し、同時に接触をとって測定す
る手段、（ロ）絶縁性の平面上に配設された導電性パタ
ーン電極に直接チップ部品を押し付けて測定する手段、
（／→絶碌性の平面上に板バネ等で被測足キラプ部品に
対口する電極を絶縁性の平面から突出して設け、これに
チップ部品を押し付けて測定する手段などがあった。（
イ）、（ハ）の手段では、チップ部品が小さいことから
取扱いが困難であり％（ロ）の手段では、測定用端子と
チップ部品の゛小極端子との間の接触抵抗が大きくなる
ことがある等の欠点があった。

（目白り） 本発明の目的はかかる従来欠点を解消し、チップ部品の
電気的特性をより容易に、より確実に測定できるチップ
部品の検査用端子を提供するものである。不発明によれ
ば、被測足チ、ブ形甫子部品の宙、極端子の配設位置と
対間する位置に上記電極端子とほぼ同面積の導電性パタ
ーンを表面に有する絶縁基板と、上記絶縁基板上に埋み
方向にのみ導電性を有する異方導電性のゴムシートなど
の弾力性シートを載置した構造の部分を有することを特
徴とするチップ形電子部品の検査用端子が得られる。

以下に実施例を示し％計測に説明する。

〔実施例１〕 第１図に示すように、セラミック基板１の上面に幅それ
ぞれ５ｍｍの陽極用の導電パターン２と陰極用の導電パ
ターン３を間隙１ｍｍ’（ｉ７設けて被着する０両導電
パターン２，３のそれぞれに、電気的特性測定用のり一
白）Ｊ４．５ｒ半田当で接続する。

次に、第２図に断面図として示′！ように１両導電パタ
ーン２，３に厚み方向にのみに導電性葡有する厚み１ｍ
ｍの異方導電性の弾力性シート６を重ねて固定する。こ
こで用いた異方寺電性弾力性シート６は、直径約０．０
２ｍｍのステンレス製の針金ケ厚み方向に、１ｍｍ　当
シ約２０不埋込んだシリコンゴムを用いた。この異方導
電性コムシート６り上に、チップ型タンタル固体電解コ
ンデンザ（以後コンデンサと称す）７を乗せ、コンデン
サ７の陽極８および陰極９がそれぞれ導電性ゴムシート
６を弁しセラミック基板１上の導電パターン２および導
電１パターン３の上にくるように配し、上部より圧力金
加えおさえつける。コンデンサ７の電極と異方４電性ゴ
ムシート６とが活着し、コンデンサ７の陽極８．陰極９
のそれぞれが異方導電性ゴムシート６全弁して、セラミ
ック基板１の導電パターン２および導電パターン３と接
続させた。セラミック基板ｌの４電パターン２および導
電パターン３に接続したリード線４，５をそれぞれＬ　
、　０　、１（メーターの測定用端子の陽極および陰極
と接続し、静電容量および誘電損失を測定した。

測定益金かえることにより、同様の測定端子を用いて漏
れ電Ｒｋも測定することができる。

つぎに、上記の手段で特性を測定したコンデンサ７の陽
＋＃、８および陰極９にそれぞれリード線（図示省略）
を半田付けし、従来のわに口状の測定端子を用いて静市
容址、誘電損失および漏れ電流全測定した。この測定値
と、不発明の測定端子を用いて測定した値とは一致した
。

〔実施例２〕 第３図にボ丁ように、セラミック基板ＩＪの上面に幅そ
れぞれ１ｍｍの３本の電極用４電パターン１２，１３お
よび２１を間隙ｉｍｍ設けて被着する。４電パターン１
２，１３および２１のそれぞれに、電気的特性測定用の
リードｉ１４．１５゜２４全半田付は等で接続する１次
に、＄４図の断面図に示すように、４電パターン１２，
１３および２１の上に、実施例１で用いたと同様な、厚
み方向にのみＶＣ導電性と有する異方導電性ゴムシート
１６全重ねて固定する。この異方４電性ゴムシート１６
の上に、チップ型半固足抵抗器（以後。

抵抗器と称す）１７を乗せ、抵抗器１７のそれぞれの電
極１８，１９．２８がそれぞれ導電性ゴムシート１６を
介しセラミック基板１１上の尋η１パターン１２．１３
．２１の上に米るように配し、上部より圧力を加えて押
えつけた。抵抗器１７の１極と異方導電性ゴムシート１
６とが密着し、抵抗器１７の電極１８．１９，２８のそ
れぞれが異方ｉ’を性ゴムシート１６を介して、セラミ
ック基板１１の導電パターン１２，１３．２１と接続さ
れた。セラミック基板１１の４電パターン１２および１
３に接続したリード線１４．１５Ｔｈ抵抗測定器に接続
し、抵抗器１７の電極１８．１９間の抵抗を測定した。

さらに、セラミック基板３１の導電パターン１３および
２１をそれぞれ抵抗測定器に接続し、抵抗器１５０電極
１９．２８間の抵抗を０１１４足した。

つぎに、上記の手段で特性を測定した抵抗器１７のそれ
ぞれの′れ極１８，１９，２８にリード線全直接牛田付
けし、従来りわに口状の測定端子を用いて抵抗器１７の
電極１８．１９問および１９゜２８間の抵抗全測定した
。この測定値と不発明の測定端子を用いて測定した値と
は一致した。

なお、異方ｎ’、ｔｔ性ゴムシートの抵抗は、接触抵抗
を含めておよそ０．０１Ω・ｃｍ　であった。

本発明のチップ部品検査用端子を用いれば、電極が弾力
性を有するので、被測定チップ部品の形状に沿って変形
し接触面ｆｌ＊全広けられることから、ＭＥＬＦ型のチ
ップ部品のような電極面が曲面である場合にも電気的特
性測定に応用できる。

さらに、パーツフィーダーなどの部品の自動供給装置１
部品の位置決め保持治具、測定器および不発明の検査用
端子を用いることにより、チップ抵抗、チップ型セラミ
ックコンデンサ等の無極性部品の検査を連続、自動化す
ることができる。

以上、本発明により次の効果がある。

（１）　チップ部品の電気的特性のｌ１４１１足、検査
が容易に、かつ、ｉ笑となった。

（１１）チップ部品の電気的特性の測定、検査の連続。

自動化が容易になった・

【図面の簡単な説明】

第１図は不発明の第１実施例の検査用端子を構成するセ
ラミック基板を示す平面図。第２図は本発明の第１芙施
例の検査用端子の断面図。第３図は不発明の＠２芙雄側
の検査用端子を構成するセラミック基板？示す平面図。 第４図は本発明の第２実施例の検査用端子の断面図であ
る。 １．１１・・・・・セラミック基板、２．３，１２゜１
３．２１・・・・・・導電パターン、４，５，１４，１
５゜２４・・・・・リードｍ、６．１６・・・・・異方
導電性ゴムシート、７・・・・・・コンデンサ、８・・
・・・陽極、９・・・・・・陰極、１７・・・・・・抵
抗器、１８，１９．２８・・・・・・電極− 第７図 第乙図 第５図 第４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被側足チップ形電子部品の電極端子の配設位置と対向す
   る位置に前記電極端子とほぼ同面積の導電性パターンを
   表面に有する絶縁基板と、前記絶縁基板上に厚み方向に
   のみ４電性を有する異方得電性の弾力性シートヶ載置し
   た構造の部分全有することを特徴とＴるチップ形電子部
   品の検査用端子。