JPS60200104A - 反射光測定用フアイバアレイ - Google Patents

反射光測定用フアイバアレイ

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Publication number
JPS60200104A
JPS60200104A JP5644584A JP5644584A JPS60200104A JP S60200104 A JPS60200104 A JP S60200104A JP 5644584 A JP5644584 A JP 5644584A JP 5644584 A JP5644584 A JP 5644584A JP S60200104 A JPS60200104 A JP S60200104A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
fiber
receiving
light receiving
fiber array
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Pending
Application number
JP5644584A
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English (en)
Inventor
Yasuji Hattori
服部 保次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP5644584A priority Critical patent/JPS60200104A/ja
Publication of JPS60200104A publication Critical patent/JPS60200104A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は対象物を観測する送光用ファイバと受光用ファ
イバからなる反射光測定用ファイバアレイに係る。
〈従来技術〉 単純な反射光測定用ファイバとして従来から第1図に示
す距離測定用のものが知られている。
第1図において、一対の送光用ファイバ1と受光用ファ
イバ2が平行して配置されている。送光用ファイバ1は
光源3と、受光用ファイバ2は受光素子4と結合されて
いる。光源3の光は送光用ファイバlを伝搬し、送光用
ファイバlの端面から対象物7に向って開口角2θで拡
散され、照明光51 + s、で限界される円錐状の照
明領域S1は対象物上では照明領域8..8.となる。
また対象物7上の視野9m、9.を臨む開口角2θの範
囲の反射光6□、62で限界される円錐状の受光領域R
1が受光用ファイバ2の端面に結合される。
そこで、第1図では視野91+92の内、照明領域S、
で照明されている部分9□、93のみが観測できる。こ
の場合、対象物7と光ファイバ端の距離りによって受光
量が特定的に変化するので、受光量観測によって、対象
物7までの距離りを測定することができる。
第1図のものでは対象物までの距離を検出するだけであ
るが、対象物の凹凸の集合による情報、例えば自動車の
エンジンの製造番号のプレートに刻印された文字等を認
識しようとする場合は、第1図に示すような一対の送光
用ファイバと受光用ファイバを第2図に示すように一次
元的に複数組配列し、これを対象物の凹凸を覆うように
走査し、受光情報を処理して凹凸部のもつ情報を認識す
ることができる。あるいは第2図に示す一次元的配列の
送・受光用ファイバアレイを更に2次元的に配列して電
子走査でファイバアレイの情報を読取ることができる。
第2図において1..1.は開口端で開口角2θを有す
る平行に配列された送光用ファイバ、2□。
22は開口端で開口角2θを有するDなる間隔で平行に
配列された受光用ファイバである。受光用ファイバ2.
.22は送光用ファイバ”I+”tの照明による対象物
70反射光を受光する。送光用ファイバ1.と送光用フ
ァイバ1.は共に同一の開口角2θをもち、Dなる間隔
で平行に配列されている。対象物7と7アイバアレイの
間の距離りによって対象物7上での照明領域S、 、 
S、は変化し、距#Loから照明領域S、 、 S、は
重畳し始める。又受光用ファイバ2. 、2tは共に同
一の開口角2θをもち、Dなる間隔で平行に配列されて
いて、それぞれ受光領域R,、R,をもつ。受光領域I
t、、 、 R,もLと共に変化し、距離L0以上にお
いて重畳する。
しかし、受光領域R8,R,が重なると、双方の受光用
ファイバは共に同一受光領域部分の情報をもつことにな
り、受光ファイバの配列のピッチに基づく原理的な分解
能を達成できなくなる。
また、距離り。において照明領域S、 、 S、と受光
領域R1,R,は共に重畳し始め、受光領域R,、R1
内で照明領域S、 、 S、が重畳した部分、重畳しな
い部分、ダークスペースが占める領域に区分され、これ
らの領域が距離りと共に変化する。従って受光領域R,
、R,の照明分布は均一でない。
このため受光用ファイバの受光量と距離の関係が単純で
なく対象物の凹凸の検出に不適である。
第3図は第2図と同一の配列の送・受光用ファイバアレ
イを示す。ただし送・受光用ファイバの開口角は共に2
θ′で狭い場合を示している。
この場合、ファイバアレイの端面からの距離LKある対
象物上で照明領域S、 、 S、と受光領域RI。
R1は図示の如く配列され、隣接照明領域SIとS。
の間にはダークスペースが存在し、受光領域RI。
R7内にダークスペースが存在する。またダークスペー
スの受光ファイバ21.2□の対象物7上の受光領域内
に占める割合いが対象物7とファイバアレイ端までの距
離りとともに変化するため、受光パワーが受光用ファイ
バアレイと対象物の距離の自乗に逆比例するという単純
な受光量と距離の関係が成立せず、凹凸の検出において
支障が起る。
〈発明の目的〉 本発明は以上のような従来技術の不具合な点に鑑みてな
されたもので、ファイバアレイ配列に基づく分解能が阻
害されず、対象物の凹凸を正しく検出する反射光測定用
ファイバアレイを提供することを目的とするものである
。
〈問題点解決の手段〉 かかる目的を達成した本発明による反射光測定用ファイ
バアレイの構成は、対象物を照明する送光用ファイバと
特定な分解能を得る間隔で配列された受光用ファイバと
を交互に配列した反射光測定用ファイバアレイにおいて
、上記送光用ファイバの開口角20Iを上記受光用ファ
イバの開口角2θ、よシ太きくシ、上記送光用ファイバ
による均一な照明領域でかつ上記受光用ファイバの受光
領域が重畳することなく、上記対象物を検出することを
特徴とするものである。
〈実施例〉 本発明による反射光測定用ファイバアレイの一実施例に
つき図面を参照しながら説明する。
第4図は本発明による反射光測定用ファイバアレイの一
実施例の構成図である。第4図において”l+1!・・
・は送光用ファイバ、2..2.・・・は受光用ファイ
バ、7は観測対象物、S、 、 S、・・・は照明領域
、R,、R,・・・は受光領域、2θ、は送光用ファイ
バの開口角、2θ、は受光用ファイバの開口角である。
第4図に示す本発明の一実施例では、開口角2θ、をも
つ送光用ファイバ”I+h・・・と、開口角2θ、をも
つ受光用フアイバ2.,2.・・・とが所定の分解能を
得る間隔りで一次元的あるいは二次元的に、平行に配列
されている。
ここに、送元用ファイバの開口角2θ、と受光用ファイ
バの開口角2θ2とでは、 θ、〉07、 ・・・・・・・・(1)の関係がある。
従って実録で示す照明領域SI + S2・・・と点め
で示す受光領域R,、112・・・は、第4図に示す如
く配列される。ファイバアレイの先端と対象物の距離り
がLMとJJPの範囲において、照明領域は重畳されて
均一の照明が与えられ、受光領域は重畳することはない
。距離Lpにおける照明領域S、。
S2・・・と、受ブC領域R,、R,・・・との関係を
第5図に示す。また距離LMにおける照明領域8B 、
 S2・・・と、受光領域R,、l(、・・・との関係
を第6図に示す。
従ってLpは、 LMは、 従って対象物の検出範囲は以下に示される。
Lp (L < ’LM ・・・・・・・・(4)第4
図に示す本発明による反射光測定用ファイバアレイの具
体的な数値例として、 送光用ファイバ1..1.・・・はコア径100μm1
外径150μ「nの多成分系光コアイノ(でその開口数
sinθ冨は・ sinθ、=0.6、 受光用ファイバ2..2.・・・は開口数sinθ、=
0.15であってコア径50μm1外径150μmの純
粋石英コア、弗素ドープ石英のクラッドをもつファイバ
が所望の分解能を得る間隔D=300μmで一次元的あ
るいは二次元的に配列されている。
またファイバアレイと凹凸をもった対象物7の距1?I
ILは 0、45 mm±0.05mm 即ちLは凹凸に対応してり、= 0.4 mm%L、=
0.5o+mとに変化をする。このとき、L、およびり
、の照明領域S、 、 S、・・・と受光領域rL、 
、 R,・・・は第5図と第6図に示されるLpとLM
の範囲にある。また受光用ファイバアレイ2..2.・
・・の他端にはそれぞれ受光素子が結合されておp1受
光鼠の変化から対象物との距離りの情報を得ることがで
きる。
第4図ないし第6図に示す如く、本発明による反射光測
定用ファイバアレイにおいては、Lp < L < L
Mの範囲において、送光用ファイバ1、.1.・・・は
対象物7上の受光領域11. 、 It、・・・を均一
に照明し、かつ対象物7上で受光領域It、 、 R2
・・・は重畳することがない。したがって対象物の凹凸
に基づく距離の情報を正しく検出することができる。
また、第4図ないし第6図に示すように、本発明による
反射光測定用ファイバアレイにおいてはDなる間隔で配
列されている受光用ファイバの受光領域R,、R,・・
・は重畳しないため、受光用ファイバの分解能を損なう
ことなく、Dなる分解能間隔で対象物の凹凸の情報を抽
出識別することができる。なお、通常開口数はsinθ
I”+ 2 sinθ。
とすれば良い。
本発明による一次元配列した反射光測定用ファイバアレ
イの具体的栴造を第7出に示す。第7図において、−次
元配列された反射光測定用ファイバアレイの端末10は
送光用ファイツクl、。
12・・・と受光用ファイバ2..2.・・・が交互に
かつ平行に所望の分解能を与える間隔りの半分の間隔を
2でV溝に配列され、端面10aは平坦に研磨されてい
る。
尚、■溝はシリコン基板にV溝をエツチングによって形
状、間隔共に精密に刻設される。io。
μm程度の径の送・受光用ファイバlI+’4・・・、
21゜22・・・は顕微鏡で観察しながら交互に配列さ
れる。
送光用ファイバ11+1!+・・・は一括して塩化ビニ
ル等で被覆した送光用ファイバ束のケーブル11によっ
て端末12に導出される。端末12の端面12aは円形
に収束され端面は研磨され、キセノンランプや)10ゲ
ンランプの光源に結合される。受光用ファイバ21,2
.・・・は塩化ビニル等で被覆されたフラットケーブル
13で端末14に導出される。端末14にはV溝が設け
られていて、端末10の配列の順番に受光用ファイバ2
+ + let・・・が配列され、端面14aは平坦に
研磨されていて、これらの受光用ファイバはレンズ系を
介しであるいは直接にCCD等の一次元受光センサに個
々に結合される。第7図に示すものは一次元配列の場合
を説明したが二次元配列の場合も同様である。
〈発明の効果〉 本発明による一次元配列あるいは二次元配列された反射
光測定用ファイバアレイによれば、送光用ファイバの開
口角θ1を受光用ファイバの開口角θ2よシ大きくして
あシ、受光領域は照明領域によって均一に照明され、ダ
ークスペースが介在することなく、かつ受光領域が重畳
することのない範囲で、対象物の凹凸の情報を、ファイ
バアレイの分解能を損うことなく識別することができる
。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の単純な送・受光用7アイバア等しい場合
の送・受光用ファイバアレイの構成図、第3図紘送・受
光用ファイバアレイの他の例の構成図、第4図は本発明
による反射光測定用ファイバアレイの構成図、第5図、
第6図は対象物が異る位置にあるときの照明領域と受光
領域の関係を示す図、第7図は本発明による反射光測定
用ファイバアレイの具体的溶成図である。 図面中、 ”I+”!・・・は送光用ファイバ、2..2.・・・
は受光用ファイバ、3は光源、4は受光素子、7は対象
物、lOは端末、11社送光用ファイバ束ケーブル、1
2は端末、13は受光用ファイバ束の7ラツトケーブル
、14は端末、2θ、は送光用ファイバの開口角、2θ
2は受光用ファイバの開口角、 SI、S、・・・は照明領域、R+ 、 馬・・・は受
光領域である。 第1図 第3図 ( 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 対象物を照明する送光用ファイバと特定な分解能を得る
    間隔で配列された受光用ファイバとを交互に配列した反
    射光測定用7アイバアレイにおいて、上記送光用ファイ
    バの開口角20.を上記受光用ファイバの開口角2θ、
    よシ大きくし、上記送光用ファイバによる均一な照明領
    域でかつ上記受光用ファイバの受光領域が重畳すること
    なく上記対象物を検出することを特徴とする反射光測定
    用ファイバアレイ。
JP5644584A 1984-03-24 1984-03-24 反射光測定用フアイバアレイ Pending JPS60200104A (ja)

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JP5644584A JPS60200104A (ja) 1984-03-24 1984-03-24 反射光測定用フアイバアレイ

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JP5644584A JPS60200104A (ja) 1984-03-24 1984-03-24 反射光測定用フアイバアレイ

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JPS60200104A true JPS60200104A (ja) 1985-10-09

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ID=13027284

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JP (1) JPS60200104A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02298808A (ja) * 1989-01-26 1990-12-11 Yoshihiko Takashima ラインセンサーで凸凹面に焦点を合わす撮像方法
JP2007024826A (ja) * 2005-07-21 2007-02-01 Fujikura Ltd 光学式検出センサ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02298808A (ja) * 1989-01-26 1990-12-11 Yoshihiko Takashima ラインセンサーで凸凹面に焦点を合わす撮像方法
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