JPS6020801B2 - 狭トラツク磁気ヘツドのバイアス方法 - Google Patents

狭トラツク磁気ヘツドのバイアス方法

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JPS6020801B2
JPS6020801B2 JP614176A JP614176A JPS6020801B2 JP S6020801 B2 JPS6020801 B2 JP S6020801B2 JP 614176 A JP614176 A JP 614176A JP 614176 A JP614176 A JP 614176A JP S6020801 B2 JPS6020801 B2 JP S6020801B2
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JP
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magnetic
high permeability
magnetic material
bias
permeability magnetic
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JP614176A
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潤 木下
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は基体上に積層された平板型磁気ヘッドであって
磁路内に磁気抵抗効果素子を含む構造の狭トラック磁気
ヘッドのバイアス方法に関する。
磁気ヘッドのトラック中は現在最も多く用いられている
フェライトヘッドでは主として大きい寸法の材料から精
密研摩によって所定のトラック中を得る方法が探られ、
一方薄膜ヘッドでは基板上に析出された磁性体をフオト
マスクを使って所定の中にエッチングし、得られた磁性
体の中をトラック中とする方法が探らげている。最も安
定に、従って比較的再現性よくトラック中が決められる
のは、研摩法では100ミクロン以上であり、薄膜ヘッ
ドのエッチング法では20ミクロン以上である。20ミ
クロン以下のトラック中を決める有効な手段の1つは析
出された磁性体の厚さによって決める方法である。
トラック中を磁路を形成する磁性体の厚さによって決め
、検出信号を大きくする磁気ヘッドの1構成例として第
1図の如く滋路を形成する磁性体を分割し、分割された
磁路の層間に信号検出用に磁気抵抗効果素子を挿んだ構
造が考えられる。
第1図において、4は基本、5は磁気空隙、6は励磁用
導体、7は磁気抵抗効果素子により信号を検出すべき信
号用導体である。周知の様に磁気抵抗効果素子(以下M
R素子と称する。)を再生ヘッドとした磁気ヘッドは再
生信号が大きく、従来の誘導型磁気ヘッドが単位巻線当
りlrv/rm程度の再生信号なのに対し、MR素子を
使った磁気ヘッドでは20〜40rv/ムmと1桁以上
大きな再生信号を得る能力がある。さて第1図に示した
構造の磁気ヘッドが有効に機能する為には、付加すべき
1つの条件がある。
それは何らかの方法で前記MR素子の磁化の向きを磁路
の長さ方向から預けておかねばならないことである。即
ちMR素子においては検知すべき磁気記録媒体からの漏
洩磁界によるMR素子の磁化状態の変化を電気抵抗の変
化として検知するのであるが、第1図の如きMR素の形
状では明らかに中方向の寸法が磁路の長さ方向に沿った
寸法に比して小さく検知すべき漏洩磁界が印加されない
状態でも、MR素子の磁化は磁路に沿った長さ方向に向
いており、検知すべき漏洩磁界が印加した状態でもMR
素子内の磁化は磁路の長さ方向に沿った方向を向く為、
MR素子の亀気抵抗は検知すべき漏洩磁界の印加前後に
おいて変化を生ぜず、再生ヘッドとして機能しない。磁
路の長さ方向からMR素子の磁化を懐ける周知の1方法
として高抗磁力磁性体による方法が考えられる。
しかしながらかかる方法は第1図の礎造の磁気ヘッドに
おいては、即ち磁路の殆ど全長にわたってMR素子が存
在する構造においては、M旧素子の全長にわたってMR
素子の磁化を滋略の長さ方向から一定の角度を煩ける様
に高抗磁力磁性体の残留磁化を設定することは必ずしも
容易ではない。本発明の目的はかかる欠点を改善した優
れたバイアス方法を提供することである。
即ち本発明に成るバイアス方法においては、基体上に、
基体表面に平行に滋路を形成すべき高透磁率磁性体を例
えば2層に分割し、分割された高透磁率磁性体の少くと
も1層を導鰭性の高透磁率磁性体で形成し、この導電性
高透磁率磁性体に電流を流すことによって、前記2層に
分割された高透磁率磁性体間にはさまれたMR素子にバ
イアス磁界を加える様に構成される。以下本発明を図面
を用いて説明する。
第2図は本発明に成るバイアス方法の1実施例である。
第2図においては基体11の上に磁路を形成すべき高透
磁率磁性体12,13が積層これ、12,13の間にM
R素子14、絶縁体15がはざまつている。本実施例に
おいては高透磁率磁性体12,13の中、12は導鰭性
であり、13は絶縁性である。
端子16,17はMR素子14の出力を検知すべき導体
の端子、端子18,19は導電性高透磁率磁性体12に
バイアス電流を流すべき導体の端子である。第2図の構
造において導電性高透磁率磁性体に流す電流による磁界
は磁路の中方向を向いており、この磁場によってMR素
子14の磁化Mは磁路の長さ方向から角度0だけ懐き、
かかる磁化状態でのMR素子14の電気抵抗と、検知す
べき磁界によってMの懐き角8が変った状態でのMR素
子14の電気抵抗の差が当該MR素子の出力として電圧
に変換されて検知される。第2図の構成においては、端
子18,19間に流す電流の大きさによってMR素子1
4の磁化Mの懐き角8は異なる。もし0が略90度であ
れば、磁気記録媒体に記録された情報が2方向性の情報
であっても得られる再生信号は同一符号を持った1方向
性の波形としてしか現われないが、aが略45度であれ
ば、記録媒体の2方向性情報に対応して、得られる再生
信号は異なる符号をもつ2方向性の出力波形として現わ
れる。本発明に成るバイアス方法の他の利点の1つは、
信号を検知する為にMR素子に流す信号用電流自体をバ
イアス電流として使用でき、従って端子は最低限の本数
で済む点にある。
例えば第2図においては、端子16と18を互いに結合
させることにより端子は17,19の2本で済む。本発
明のバイアス方法の他の実施例は第3図の如く、分割さ
れた滋路を形成すべき高透磁率磁性体のMR素子24を
はさむ両側の高透磁率磁性体22,23をともに導母性
高透磁率磁性体として、これら導電性高透磁率磁性体2
2,23にバイアス電流を流す構造のものである。この
場合もちろんMR素子24の両側に絶縁体25,26が
必要である。第3図において、21は基体、27,28
,29,30は各々電流用端子である。第3図において
、導電性高透磁率磁性体22及び23に別々にバイアス
電流を流しても良いが、その場合は端子が余分に必要で
あり、図の如く、直列に結合した方が端子が少〈て済む
。更に第2図に関連して述べた如く、第3図において、
端子28,29を互いに結合して、MR素子24の信号
用鰭流を以つててバイアス電流とする方法により、端子
は27と30の2本のみで済む。即ち第2図、第3図何
れの構成においても端子は最少の2本で済む利点が明ら
かである。なお、第2図と第3図においては、磁路の形
成すべき高透磁率磁性体の分割数は2の場合を図示した
が、更に多層に分割し、その各々の層間にM旧素子をは
さむ構成ももちろん可能で、かつ分割数を増しても、電
流端子は2本で済むことは上述の説明で明らかである。
第2図、第3図を用いて、本発明に成るバイアス方法及
び磁気記録媒体からの信号再生について述べたが、磁気
記録媒体に磁気的情報を記録する際は、励磁用導体6に
記録すべき情報に応じた電気信号を通電することにより
、高透磁率磁性体12,13及び22,23更にはMR
素子14及び24の磁化を励磁せしめ、磁気的に不連続
な磁気空隙部分に発生する漏洩磁界を磁気記録媒体に転
写することいより情報が記録される。
尚、励磁用導体を形成する為に高透磁率磁性体と基体と
の間に導体層及び絶縁体層が入り得ることは明らかであ
る。
以上述べた如く、本発明は高抗磁力磁性体等の余力な構
成層を入れることなく、バイアス印加が可能で更に、外
部回路との接続端子は常にMR素子の信号検出用の2端
子のみでバイアス印加が可能な優れた構造の狭トラック
磁気ヘッドを与えるものである。
【図面の簡単な説明】 第1図はバイアス構成を持たない構造の1例を、第2図
、第3図は夫々実施例を示す。 4,11,21……基体、1,2,12,13,22,
23・・・・・・高透磁率磁性体、3,1 4,24…
…MR素子、15,25,26…・・・絶縁体、6・・
・・・・励磁用導体、7,16,17,18,0 19
,27,28,29,30・・・・・・導体端子。 オー図多2図 髪3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 一部に磁気的に不連続な磁気空隙を有し、かつ基本
    表面に平行に磁路を形成した高透磁率磁性体と当該高透
    磁率磁性体を励磁するための励磁用導体を備え、当該高
    透磁率磁性体が2層以上に分割され、当該分割された高
    透磁率磁性体層の層間の少くとも1個所の層間に導電性
    高透磁率磁性体から成る磁気抵抗効果素子を含む構造を
    有する狭トラツク磁気ヘツドにおいて、当該分割された
    磁路を形成すべき高透磁率磁性体層の少くとも1層を導
    電性高透磁率磁性体で形成し、当該導電性高透磁率磁性
    体に電流を流して発生する磁界によつて前記磁気抵抗効
    果素子にバイアス磁界を付加することを特徴とする狭ト
    ラツク磁気ヘツドのバイアス方法。
JP614176A 1976-01-21 1976-01-21 狭トラツク磁気ヘツドのバイアス方法 Expired JPS6020801B2 (ja)

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JPS5289903A JPS5289903A (en) 1977-07-28
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