JPS60221776A - 放電装置 - Google Patents

放電装置

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JPS60221776A
JPS60221776A JP7660984A JP7660984A JPS60221776A JP S60221776 A JPS60221776 A JP S60221776A JP 7660984 A JP7660984 A JP 7660984A JP 7660984 A JP7660984 A JP 7660984A JP S60221776 A JPS60221776 A JP S60221776A
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JP
Japan
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electrode
power source
current
charged
discharge device
Prior art date
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Pending
Application number
JP7660984A
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English (en)
Inventor
Masahide Nakatani
正秀 中谷
Seiichi Miyagawa
宮川 誠一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/02Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for laying down a uniform charge, e.g. for sensitising; Corona discharge devices
    • G03G15/0266Arrangements for controlling the amount of charge
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/02Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for laying down a uniform charge, e.g. for sensitising; Corona discharge devices
    • G03G15/0291Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for laying down a uniform charge, e.g. for sensitising; Corona discharge devices corona discharge devices, e.g. wires, pointed electrodes, means for cleaning the corona discharge device

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Elimination Of Static Electricity (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は複写機のコロナ放電装置、ファクシミリ、プリ
ンタなどの除帯電装置、あるいは電気集塵機などに応用
される放電装置に関する。
(従来技術) 第i 図に示t 様1tC,コロトロン、スコロトロン
等の細線式・コロナ放電器を用いた放電装置は広く知ら
れている。この装置において、コロトロンチャージャ1
のワイヤー2に高圧電源3から高電圧が印加されると、
コロナ放電が起こり、イオンが発生し、感光体4を帯電
する。高圧電源3では出力電流Id、を抵抗Rで検出し
、安定化している。
これにより感光体4をほぼ一定の電位に帯電する。
この従来例の欠点は、感光体の帯電電位を左右する帯電
電流1dとシールド電流ICの比が、コロトロンチャー
ジャ1の汚れや、周囲の環境条件の変化で変動する為、
所望の帯電を行なえない時があることである。尚、I 
o = I d +I cという関係式が成立する。
また帯電電流を安定化するためには、感光体4を接地よ
りフロートしなければならず、構造が非常に複雑になる
欠点もある。さらに、ワイヤー2に紙粉やほこりが付着
するため、定期的に清掃する必要があるが、ワイヤー4
が細線であるため取り扱いが難かしい。
この様な従来例の欠点を解消するため、電界カーテンに
より被帯電体を帯電する、固体放電器に関する出願がな
されている(%1昭58−108559 )。
これは誘電体中に埋設した第1と第2の電極間に交流電
界を印加すると共に、一方の電極と被帯電体間に直流電
界を加え、被帯電体を帯電するものであるが、誘電体を
介して直流電界を印加しているため、誘電体がチャージ
アップし、帯電効率が悪いという欠点がある。
(目的) 本発明はこの様な従来例の欠点に鑑みてなされたもので
あり、固体放電器を用いた放電装置において、環境変動
などに影響されずに均一な除帯電を行なう改良された放
電装置を提供する事を目的とする。
(構成) 以下本発明の構成を図示の実施例に基づき説明する。
第2図は一実施例に係る回路図を示すものである。
固体放電器5は、誘電体6に埋設した第2電極7と第3
電極8及びこれら電極と独立に誘電体6上に設けた第1
電極9から成る。第2と第3電極の間には交流電源10
が接続しである。接地した導体基板を持つ被帯電体4と
第1電極9の間には直流電源11と被帯電体4を流れた
帯電電流1dを検出する検出器12 (Sl)が接続し
である。検出器S1は、制御回路C0NTlに接続しで
ある。
この様に構成された回路の作用を次に説明する。
第2と第3電極7.80間に、交流電流を印加すると、
夫々の電極と誘電体6を介した第1電極9の間に強電界
が形成され、コロナ放電が起る。
これにより、第1電極9の周辺にイオンが発生する。又
、第1電極9と被帯電体40間に直流電圧を印加すると
この間に直流電界が形成され、第1電極90周一のイオ
ンは直流電界により被帯電体4に導かれ被帯電体4を帯
電又は除電する。この時、被帯電体4を流れた帯電電流
Idは、接地から検出器Slを介して嬉1電極9に帰還
する。
ここで、交流電源10と直流電源11の夫々の出力と帯
電電流Idの関係を第3図及び第4図で説明する。
第3図は直流電圧VD(3を一定にした時の交流電流番
αCと帯電電流Idの関係である。
第4図は、交流電流を一定にした時の直流電圧と帯電電
流の関係である。これらの図から、交流電源10と直流
電源11の夫々の出力変動に追従して帯電電流も変動す
る事が解る。この事より、交流電源10と直流電源11
の一方の出力を固定し、他方の出力を制御する事で、被
帯電体4に所望の帯電電位を得る事ができる。
そこで、この実施例では第2図に示す様に、直流電源1
1の出力端の電圧を検出器13 (S2)で検出し制御
回路CON ’I’ 2にて定電圧制御すると共に、検
出器S1で帯電電流と等しい直流電源11の出力電流を
検出し制御回路C0NTlにて帯電電流が所定の値とな
るよに交流電源10の出力を制御している。
尚、制御回路C0NT1とC0NT2は、夫々の制御の
応答速度に差をつけである。
直流電源を可変制御しなかった理由は、本方式の場合、
少ないイオンで充分帯電が行なえる時はフィードバック
によりイオン発生用のコロナ放電を弱くする制御をして
いるので無駄が少ない為である。この様にこの実施例で
は、被帯電体を接地よりフロートしな(とも容易に帯電
電流を検出でき、また帯電電流を検出し制御しているの
で環境変動などの外乱の影響を受けずに安定な帯電を行
なえる。さらに、コロナ放電用の交流電源の出力を制御
しているので発生したイオンを有効に利用出来る。
次に第5図に他の実施例回路を示す。第1実施例と同一
個所は説明を省略する。
第1実施例との違いは、交流電源と直流電源を一体化し
た点である。
図で電源装置14のトランスTの2次側には、交流出力
用の2次コイルN2と直流出力用の3次コイルN3が設
けである。2次コイルN2は、抵抗を介して固体放電器
5の第2電極7と第3電極8に接続しである。2次コイ
ルと絶縁して設けた3次コイルN3はダイオードとコン
デンサからなる整流回路と抵抗を介して定電圧素子ZK
Rに接続しである。定電圧素子から一方は第1電極9に
、他方は検出器S!を介して接地しである。トランスT
の1次側は1次コイルNlと制御回路C0NTから成り
、制御回路には、検出器S1が接続しである。又、図示
してないが制御回路には、この電源装置の電源が接続し
である。
次にその作用を説明する。
制御回路が始動すると、トランス′rの1次コイルN1
に電流が流れトランスTを励磁すると、2次コイルと3
次コイルに交流電圧が誘起する。2次コイルに誘起した
電圧は第2と第3の電極7.8の間に印加されイオンを
発生する。又同時に3次コイルに誘起した電圧は整流回
路で直流にされ定電圧素子ZNRで定電圧化されて第1
電極9に印加され直流電界を形成し、被帯電体4を帯電
する。又帯電電流1dを検出器S1で検出し第1実施例
と同様に所望の安定な帯電がなされる様に第2と第3の
電極7.8の間に印加される交流電圧を制御している。
尚、2次コイルN2と3次コイルN3は単一のトランス
に設けであるので、通常想定される環境変動などの範囲
で2次コイルN2に誘起する電圧が最も低い値に制御さ
れた場合に、3次コイルより定電圧素子に供給する電圧
が降伏電圧以下とならぬように3次コイルN3の巻数を
設定する必要がある。
この様にこの実施例では第1実施例で記載した効果の他
に、単一の電源回路(インバータ)で安定な帯電を行な
えるので簡単な構成になり、小型化でき、また安価に作
れ、るという効果及び部品轄の低減により信頼性が向上
するという効果も望める。
(効果) 以上の様に本発明によれば°、イオン発生用電源と帯電
用電源を独立に制御でき、帯電用電源にて被帯電体の帯
電電流を容易に検出できるので、簡単な構成で安価に均
一な除帯電が行なえる。
【図面の簡単な説明】
第1図は複写機に応用した従来例に係る放電装置の回路
図、第2図は複写機に応用した本発明の一実施例に係る
放電装置の回路図、第3図、第4図は交流電源と直流電
源のおのおのの出力と帯電電流との関係を示す特性図、
第5図は他の実施例に係る放電装置の回路図である。 4・・・・・・被帯電体、5・・・・・・固体放電器、
6・・・・・・誘電体、7・・・・・・第2電極、8・
・・・・・第3電極、9・旧・・第1電極、10・・・
・・・交流電源、11・旧・・直流電源、14・・・・
・・インバータ。 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)接地した導電性基板を有する被帯電体に対向して
    設けた第1の電極と更に、第1の電極と誘電体を介して
    設けた第2と第3の電極から成る固体放電器の第1の電
    極と接地間に直流電源を接続し、且つ第2と第3の電極
    間に交流電源を接続するとともに直流電源の出力を定電
    圧制御し、更に直流電源の出力電流が所定値となるよう
    に、交流電源の出力を制御することを臀徴とする放電装
    置。 (2ン前記直流電源と交流電源は、単一のトランス及び
    該トランスに制御された電圧を供給する単一の制御回路
    を共有するインバータであり、該トランスの2次側に交
    流出力手段と直流出力手段を設けたものである事を特徴
    とする特許請求の範囲第(1)項記載の放電装置。
JP7660984A 1984-04-18 1984-04-18 放電装置 Pending JPS60221776A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011038979A (ja) * 2009-08-18 2011-02-24 Fujitsu Ltd イオンセンサ、イオン分析装置、及びイオン分析方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011038979A (ja) * 2009-08-18 2011-02-24 Fujitsu Ltd イオンセンサ、イオン分析装置、及びイオン分析方法
US8034295B2 (en) 2009-08-18 2011-10-11 Fujitsu Limited Ion analyzing apparatus and ion analyzing method
US8173069B2 (en) 2009-08-18 2012-05-08 Fujitsu Limited Ion analyzing apparatus and ion analyzing method

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