JPS6022612A - 高さ検査装置 - Google Patents

高さ検査装置

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Publication number
JPS6022612A
JPS6022612A JP59134260A JP13426084A JPS6022612A JP S6022612 A JPS6022612 A JP S6022612A JP 59134260 A JP59134260 A JP 59134260A JP 13426084 A JP13426084 A JP 13426084A JP S6022612 A JPS6022612 A JP S6022612A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
inspection device
light source
height
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59134260A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Ikoma
生駒　清
Yasuhiko Tosa
土佐　泰彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP59134260A priority Critical patent/JPS6022612A/ja
Publication of JPS6022612A publication Critical patent/JPS6022612A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608—Height gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高さ検査装置に関し、樹脂板金成形物。
ンヤーンーおよびプリント基板等の面上に高精度あるい
は数種の異る高さに密着されたピンなどを生産工程にお
いて非接触で高速度で自動検査することを可能にするこ
とを目的とする。
従来この種の検査は、ダイヤルゲージが差動トランスに
よる直読方式で行っていたが自動化ラインにおいてはセ
ンサの取付スペースおよび機械タクト上の制限を受ける
ことならびにセンサ可動部における接触不良等メノテナ
ンス上にも困難性があった。
本発明は従来における以上のような問題を解決しようと
するもので、以下に図面を用いてその説明を行なう。
初めに本発明による高さ検査装置の動作原理を説明する
と、被検査物として第１図、第２図に示す例えばプラス
チック板金複合成形物の突起部Ａ。
Ｂ、Ｃ，Ｄの高さの検査を行う場合、第３図に示すよう
にレーザ光源１から発射されたレーザ光線γを、高さが
正常であるかどうかを検査しようとする突起部Ｂの上面
に投射して、その反射光線が所定の位置に配置された光
検出素子２により検出されるかどうかで突起部Ｂの高さ
を検査するものである。
なおこの検査では突起部の上面が水平でない場合も、成
形不良として判定できる。また検査の精度範囲を限定し
たい場合は、被検査物と光検出素子との距離を調整する
ことにより反射光線の角度の公差を定めるとよい。
第４図は本発明の一実施例を示し、３は検査ライン上の
被測定物で高さを検査しようとする複数の突起部Ａ、Ｂ
、Ｃ，Ｄを有する。４は突起部Ａ。
Ｂ、Ｃ，Ｄそれぞれの上面に斜め上方からレーザ光を投
射できるよう配設されたレーザ光源群、５は突起部Ａ、
Ｂ、Ｃ，Ｄの高さが正常な範囲内にあるとき、レーザ光
源群４から投射されたレーザ光が突起部Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ
の上面でそれぞれ反射、し進んでぐる光路に配置された
光検出素子群である。レーザ光源群４の各光源と光検出
素子群５の各素子は１対１に対応して検出部アンプ６に
接続されている。検出部アンプ６では光源における光Ｉ
のコントロールならびに検出素子からの信号の増幅がお
こなわれる。７は検出部アンプ６に接続された当否回路
で光検出素子群５からの信号にもとづいて突起部Ａ、Ｂ
、Ｃ，Ｄの高さが正常な範囲内にあるかどうかを判定す
る。８は検査システム全体を統括するシーケノスコノト
ロール回路で判定結果の表示を行うとともにライン負荷
９念ｉ１ｒ制御するようになっている。
本発明は以上のように構成されることにより大量生産に
おける種々の高さの被測定部の測定を同時にかつ高速度
でしかも非接触の状態で行なうことが可能となり、検査
の自動化を進める上で極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
第１図、第２図はそれぞれ被検査物の正面図および上面
図、第３図は本発明の動作原理を説明するための図、第
４図は本発明の一実施例における高さ検査装置が検査シ
ステムに組込まれた状態を示す図である。 １・・・・・光源、２・・・・・受光素子、４・・・・
・・光源群。 ５・・・・・・光源群。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検査体の一４二面に斜め上方から光照射するための光
    源と、所定の位置に配置され被検査体の上面に反射され
    た上記光源からの光を検出する光検出手段とを有し、被
    検査体の高さが所定の範囲内ｒあるかどうかを判定する
    よう構成されたことを特徴とする高さ検査装置。
JP59134260A 1984-06-28 1984-06-28 高さ検査装置 Pending JPS6022612A (ja)

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JP59134260A JPS6022612A (ja) 1984-06-28 1984-06-28 高さ検査装置

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JP59134260A JPS6022612A (ja) 1984-06-28 1984-06-28 高さ検査装置

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JPS6022612A true JPS6022612A (ja) 1985-02-05

Family

ID=15124134

Family Applications (1)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03183906A (ja) * 1989-12-13 1991-08-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半田の外観検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03183906A (ja) * 1989-12-13 1991-08-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半田の外観検査方法

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