JPS60227107A - 欠点検出装置 - Google Patents
欠点検出装置Info
- Publication number
- JPS60227107A JPS60227107A JP8351384A JP8351384A JPS60227107A JP S60227107 A JPS60227107 A JP S60227107A JP 8351384 A JP8351384 A JP 8351384A JP 8351384 A JP8351384 A JP 8351384A JP S60227107 A JPS60227107 A JP S60227107A
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- JP
- Japan
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- data
- defect
- pattern
- output
- gate
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- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野１
本発明はフィルム、シート、板材などの表面の傷、異物
などの欠点を検出する欠点検出装置６に関するものであ
る。
などの欠点を検出する欠点検出装置６に関するものであ
る。
［背景技術１
従来のこの種の装置としては光線をフィルム、シート、
教材などの検査物上に照射してその受光レベルにより欠
点を検出するものがあったが、模様等が印刷している場
合、模様も欠点として検出しているため模様などがある
物の欠点検出は不可能であった。
教材などの検査物上に照射してその受光レベルにより欠
点を検出するものがあったが、模様等が印刷している場
合、模様も欠点として検出しているため模様などがある
物の欠点検出は不可能であった。
［発明の目的１
本発明は上述の問題の欠点に鑑みて為されたものでその
目的とするところ一定のパターンの模様が有っても欠点
を検出することができる欠点検出装置を提供するにある
。
目的とするところ一定のパターンの模様が有っても欠点
を検出することができる欠点検出装置を提供するにある
。
１発明の開示１
（実施例）
第１図は本発明の実施例の回路構成を示すものであり、
１はＣＣＩ）素ｒを用いたイメージセンサ２を惟えたカ
メラヘットであり、照明が当てられた検査物４の像を光
学レンス３によりイメージセンサ２］−に結像させる。
１はＣＣＩ）素ｒを用いたイメージセンサ２を惟えたカ
メラヘットであり、照明が当てられた検査物４の像を光
学レンス３によりイメージセンサ２］−に結像させる。
５はイメージセンサ２から出力する画像の明暗に応した
アナログデータと、予め設定したスレンショルドデータ
とを比較する比較器であり、スレンショルドレベルＬ。
アナログデータと、予め設定したスレンショルドデータ
とを比較する比較器であり、スレンショルドレベルＬ。
を超えた場合は”Ｈ″の１，１号を、超えなかった場合
は’１．”の信号を出力して２値化データｌ）１を作成
する。
は’１．”の信号を出力して２値化データｌ）１を作成
する。
６は予めスレッショルドデータを記ｔａ設定するスレッ
ショルドデータメモリで、このスレッショルドデータメ
モリ６は記憶しであるデータをＩ） ／ Ａ変換回路７
でアナログデータに変換して比較器５に送出する。８は
検査物４の表面に例えば印刷しである模様Ａの配列位置
に対応するアドレスにマスクパータンＰデータを″Ｌ、
″レベルどして記ｔｆ１３せ模様へが存在しない位置に
対応するアドレスに６■１′ルベルのデータを記憶する
マスクパターンメモリで、このマスクパターンメモリ；
）に記憶されであるデータと上記２値化データ１）１と
はアンドデート９で論理積がとられ、該アンドデート８
のデート出力を欠点検出の結果データ１〕２とする。
ショルドデータメモリで、このスレッショルドデータメ
モリ６は記憶しであるデータをＩ） ／ Ａ変換回路７
でアナログデータに変換して比較器５に送出する。８は
検査物４の表面に例えば印刷しである模様Ａの配列位置
に対応するアドレスにマスクパータンＰデータを″Ｌ、
″レベルどして記ｔｆ１３せ模様へが存在しない位置に
対応するアドレスに６■１′ルベルのデータを記憶する
マスクパターンメモリで、このマスクパターンメモリ；
）に記憶されであるデータと上記２値化データ１）１と
はアンドデート９で論理積がとられ、該アンドデート８
のデート出力を欠点検出の結果データ１〕２とする。
１０Ａ、１０１３はエラーデータパン７アで、一方１、
ＯＡは画像走査時の偶数ラインに対応する−１−記結
果データＤ２を取り込み、他力は奇数ラインに対応する
結果データＤ２を取り込むものである。
ＯＡは画像走査時の偶数ラインに対応する−１−記結
果データＤ２を取り込み、他力は奇数ラインに対応する
結果データＤ２を取り込むものである。
１１は結果データＤ２の切り換えを行なうスイッチング
手段である。１２はイメージセンサ２」二の座標点を順
次走査するタイミングと、走査する座標点に対応１ろマ
スクパターンメモリ８のアドレスデータとを作成するカ
ウンタ兼アドレス回路である。１：（は演算制御部を４
１ユ成するコンピュータで、インターフェイス部１４を
介してカウンタ兼アドレス回路１２のスタート指令を与
えたり、あるいはマスクパターンメモリＨの読出しの制
御を行なったり、更にエラーデータバッファ１０Ａ１１
０Ｂからの欠、α検出の結果データＤ、を取り込んで例
えば不良判定を行ない当該検査物４の工程ラインからの
除去などの制御を行なう。
手段である。１２はイメージセンサ２」二の座標点を順
次走査するタイミングと、走査する座標点に対応１ろマ
スクパターンメモリ８のアドレスデータとを作成するカ
ウンタ兼アドレス回路である。１：（は演算制御部を４
１ユ成するコンピュータで、インターフェイス部１４を
介してカウンタ兼アドレス回路１２のスタート指令を与
えたり、あるいはマスクパターンメモリＨの読出しの制
御を行なったり、更にエラーデータバッファ１０Ａ１１
０Ｂからの欠、α検出の結果データＤ、を取り込んで例
えば不良判定を行ない当該検査物４の工程ラインからの
除去などの制御を行なう。
次に動作を第２図に基づいて説明する。今検査物４が同
図（Ａ＞に示１ように矢印Ｘの方向に移動させられイメ
ージセンサ２の計測部位が図に示す直線Ｙ上に在るとす
るとイメージセンサ２上に結像された検査物４の画像に
対応するイメージセンサ２の各点の出力レベルは同図（
Ｂ）に示すように模様Ａが無い位置では明るいため低い
レベルとなり、逆に模様Ａが存在する位置では高いレベ
ルとなる。、これらのアナログテ゛−タ１土Ｍｒ＋夛υ
Ｉ、： Ｎ ％れて比較器６に出力される。またＡ／［
）変換器１５によってデジタル（１７号に変換されイン
ター・７工イス部１４を介してフンピユータ１３に送ら
れる５、コンピュータ１３はこのデノタル信すを収り込
んで′明るさに応して補正された所定のスレッショルド
データをスレッショルドデータ、メモリ６がら読出しＤ
／Ａ変換器７を介して比較器５へ送るのである。このス
レッショルドデータと」４記イメーノセンサ２からのア
ナログデータとは比較される。つまりスレッショルドレ
ベルをイメージセンサ２の出力が超えると比較器５は”
Ｙ１゛レベルの信号を発生し、逆に超えなければｌ−，
−１ｔ、ベルの信号を発生する。このようにして走査に
応して２値化されたデータＤ１がイ：１られることにな
る。 ・力走査に対応してマスクパターンメモ’Ｊ ８
からは走査点に応じアドレスから順次パータンＰに対応
したデータを第２図（Ｃ）に示すように読出され、この
データと」二記２値化データ１）ｌとはアンドデー１９
で一致検出がとられろ。即ち欠点Ｚがあればその欠点χ
に対応するイメージセンサ２の出力は″Ｈ″Ｈ″ルとな
り、その座標、−工に対応するマスクパータン１）テ゛
−夕はマスクパータンＰが存在しないため”Ｈ″である
から第２図（４））に示すようにアンドデート９がらは
’１１”レベルの出力が発生することになる。この出力
が結果データＩ）、となり、走査線が奇数が偶数がで切
り換えられるスイッチング手段１１を介してエラーデー
タパン７ア１ｏＡまたは１０ Ｂに取！）込まれたのち
、インク−７工イス部１４を介してコンビエータ１３に
入り、各種の不良検出時の制御動作がコンピュータ１３
の下で行なわれることになる。
図（Ａ＞に示１ように矢印Ｘの方向に移動させられイメ
ージセンサ２の計測部位が図に示す直線Ｙ上に在るとす
るとイメージセンサ２上に結像された検査物４の画像に
対応するイメージセンサ２の各点の出力レベルは同図（
Ｂ）に示すように模様Ａが無い位置では明るいため低い
レベルとなり、逆に模様Ａが存在する位置では高いレベ
ルとなる。、これらのアナログテ゛−タ１土Ｍｒ＋夛υ
Ｉ、： Ｎ ％れて比較器６に出力される。またＡ／［
）変換器１５によってデジタル（１７号に変換されイン
ター・７工イス部１４を介してフンピユータ１３に送ら
れる５、コンピュータ１３はこのデノタル信すを収り込
んで′明るさに応して補正された所定のスレッショルド
データをスレッショルドデータ、メモリ６がら読出しＤ
／Ａ変換器７を介して比較器５へ送るのである。このス
レッショルドデータと」４記イメーノセンサ２からのア
ナログデータとは比較される。つまりスレッショルドレ
ベルをイメージセンサ２の出力が超えると比較器５は”
Ｙ１゛レベルの信号を発生し、逆に超えなければｌ−，
−１ｔ、ベルの信号を発生する。このようにして走査に
応して２値化されたデータＤ１がイ：１られることにな
る。 ・力走査に対応してマスクパターンメモ’Ｊ ８
からは走査点に応じアドレスから順次パータンＰに対応
したデータを第２図（Ｃ）に示すように読出され、この
データと」二記２値化データ１）ｌとはアンドデー１９
で一致検出がとられろ。即ち欠点Ｚがあればその欠点χ
に対応するイメージセンサ２の出力は″Ｈ″Ｈ″ルとな
り、その座標、−工に対応するマスクパータン１）テ゛
−夕はマスクパータンＰが存在しないため”Ｈ″である
から第２図（４））に示すようにアンドデート９がらは
’１１”レベルの出力が発生することになる。この出力
が結果データＩ）、となり、走査線が奇数が偶数がで切
り換えられるスイッチング手段１１を介してエラーデー
タパン７ア１ｏＡまたは１０ Ｂに取！）込まれたのち
、インク−７工イス部１４を介してコンビエータ１３に
入り、各種の不良検出時の制御動作がコンピュータ１３
の下で行なわれることになる。
尚」二元動作のほかに模様ＡとマスクパータンＰとのず
れを検知して毎回マスクパータンＰの位置補正をコンピ
ュータ１３は行なう。
れを検知して毎回マスクパータンＰの位置補正をコンピ
ュータ１３は行なう。
１発明の効果１
本発明は上述のように構成し、検査物の表面の画像を捕
らえるイメージセンサと、該イメージセンサで得られた
画像の明暗に応じたアナログデータと予め設定したスレ
ッショルドデータとを比較して２値化データを得る比較
手段と、予め良品の検査物の表面に対応させて設定した
パターンデータと上記比較下゛段からイ：また２値化デ
ータとの一致検出を行うゲート手段とを（Ｎｉｌえ、ゲ
ート手段のゲート出力を欠点検出信号としであるので、
無地であろうと、従来不可能であった模様がある場合で
あろうと、欠点があれば確実に検出することができると
いうを奏する。
らえるイメージセンサと、該イメージセンサで得られた
画像の明暗に応じたアナログデータと予め設定したスレ
ッショルドデータとを比較して２値化データを得る比較
手段と、予め良品の検査物の表面に対応させて設定した
パターンデータと上記比較下゛段からイ：また２値化デ
ータとの一致検出を行うゲート手段とを（Ｎｉｌえ、ゲ
ート手段のゲート出力を欠点検出信号としであるので、
無地であろうと、従来不可能であった模様がある場合で
あろうと、欠点があれば確実に検出することができると
いうを奏する。
第１図は本発明の実施例の回路構成図、第２図は同上の
動作説明図であり、２はイメーノセンサ、４は検査物、
５は比較器、６はスレッショルドデータメモリ、８はマ
スクパターンメーモリ、りはアンドデート、Ｄｌは２値
化データ、Ｄ、は結果データである。 代理人 弁理士 百 口１ 艮 七
動作説明図であり、２はイメーノセンサ、４は検査物、
５は比較器、６はスレッショルドデータメモリ、８はマ
スクパターンメーモリ、りはアンドデート、Ｄｌは２値
化データ、Ｄ、は結果データである。 代理人 弁理士 百 口１ 艮 七
Claims (1)
- １）検査物の表面の画像を捕らえろイメージセンサと、
該イ／−ノセンサでイ：１られな画像の明暗に応したア
ナログデータと予め設定したスレンショルドデータとを
比較して２値化データを得る比較手段と、Ｐめ良品の検
査物の表面に対応させて設定したパターンデータと−に
記比較手段から４１だ２値化データとの一致検出を行う
デー１手段とを俯え、デート手段のデート出力を火入ｒ
検出イ、１号として成ることを特徴とする欠点検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8351384A JPS60227107A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8351384A JPS60227107A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 欠点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60227107A true JPS60227107A (ja) | 1985-11-12 |
Family
ID=13804563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8351384A Pending JPS60227107A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 欠点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60227107A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018012192A1 (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
-
1984
- 1984-04-25 JP JP8351384A patent/JPS60227107A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018012192A1 (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
| JPWO2018012192A1 (ja) * | 2016-07-12 | 2019-04-25 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
| US10830707B2 (en) | 2016-07-12 | 2020-11-10 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus |
| AU2017296488B2 (en) * | 2016-07-12 | 2021-10-28 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | Inspection method, inspection/notification method, manufacturing method including inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus |
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