JPS6022777A - 磁気デイスク装置 - Google Patents
磁気デイスク装置Info
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- JPS6022777A JPS6022777A JP13029383A JP13029383A JPS6022777A JP S6022777 A JPS6022777 A JP S6022777A JP 13029383 A JP13029383 A JP 13029383A JP 13029383 A JP13029383 A JP 13029383A JP S6022777 A JPS6022777 A JP S6022777A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 12
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 abstract 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/12—Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は磁気ディスク装置における記録エリアの改良さ
れた利用方法に関するものである。
れた利用方法に関するものである。
（従来技術）
近年、情報処理システムで取シ扱う情報量の増大と共に
磁気ディスク装置の記録密度の高密度化が進められてい
る。しかし記録密度が高密度されればされるほど記録媒
体の欠陥による記録情報の低下は大となシ今日その改善
が望まれている。
磁気ディスク装置の記録密度の高密度化が進められてい
る。しかし記録密度が高密度されればされるほど記録媒
体の欠陥による記録情報の低下は大となシ今日その改善
が望まれている。
第１図は磁気ディスク上の１つのトラック（シリンダ番
号Ｘ、ヘッド番号ｙ）を示し、複数セクタから構成され
る。第２図（ａ）は１セクタの構成を示し、ギャップ部
ＧとＩＤフィールド、データ・フィールドから構成され
る。さらにＩＤフィールドは同期部５ＹＮＣ、アドレス
部ＡＤＨ、チェック部ＣＲＣから構成され、データ・フ
ィールドは同期部５ＹＮＣ、データ部ＤＡＴＡ 、チェ
ック部ＣＲＣから構成される。又、ＩＤフィールドのア
ドレス部ＡＤＲは第２図（ｂ）の如くフラグ部ＦＬＧ
、シリンダ番号を示すシリンダ部ＣＹＬ 、ヘッド番号
を示すへ、ド部ＨＥＡＤ 、セクタ番号を示すセクタ部
ＳＥＣから構成される。この様に構成された磁気ディス
ク装置において第１図のセクタ３が不良の場合、（１）
このトラックを不良トラックとしてトラックごと代替
する。
号Ｘ、ヘッド番号ｙ）を示し、複数セクタから構成され
る。第２図（ａ）は１セクタの構成を示し、ギャップ部
ＧとＩＤフィールド、データ・フィールドから構成され
る。さらにＩＤフィールドは同期部５ＹＮＣ、アドレス
部ＡＤＨ、チェック部ＣＲＣから構成され、データ・フ
ィールドは同期部５ＹＮＣ、データ部ＤＡＴＡ 、チェ
ック部ＣＲＣから構成される。又、ＩＤフィールドのア
ドレス部ＡＤＲは第２図（ｂ）の如くフラグ部ＦＬＧ
、シリンダ番号を示すシリンダ部ＣＹＬ 、ヘッド番号
を示すへ、ド部ＨＥＡＤ 、セクタ番号を示すセクタ部
ＳＥＣから構成される。この様に構成された磁気ディス
ク装置において第１図のセクタ３が不良の場合、（１）
このトラックを不良トラックとしてトラックごと代替
する。
（２） セクタのみ不良セクタとしてこのセクタを代替
する。
する。
上記（１）の場合はセクタ３以外の有効セクタが無駄と
なり高密度になればなる程望ましく々い。又、（２）の
場合は（１）の場合に比べてはるかに優れているがよシ
一層の改良が望まれている。
なり高密度になればなる程望ましく々い。又、（２）の
場合は（１）の場合に比べてはるかに優れているがよシ
一層の改良が望まれている。
上記において不良トラック又は不良セクタとされるのは
記録媒体のドロップアウト等が原因となる恒常的エラー
であり、これは（１） Ｉ Ｄフィールドの一部又は（
２） Ｉ Ｄフィールド全て又は（３）データ・フィー
ルドの一部又は（４）データ・フィールド全て等に生じ
る。しかしく１）のＩＤフィールドの一部、特に前部の
一部に生じたドロップアウト等による不良又は（３）の
データフィールドの一部、特に後部の一部に生じたドロ
ップアウト等による不良はＩＤフィールド及びデータ・
フィールドの物理位置からずらしてＩＤフィールド前部
のギャップＧにおいて吸収可能である。
記録媒体のドロップアウト等が原因となる恒常的エラー
であり、これは（１） Ｉ Ｄフィールドの一部又は（
２） Ｉ Ｄフィールド全て又は（３）データ・フィー
ルドの一部又は（４）データ・フィールド全て等に生じ
る。しかしく１）のＩＤフィールドの一部、特に前部の
一部に生じたドロップアウト等による不良又は（３）の
データフィールドの一部、特に後部の一部に生じたドロ
ップアウト等による不良はＩＤフィールド及びデータ・
フィールドの物理位置からずらしてＩＤフィールド前部
のギャップＧにおいて吸収可能である。
従来の磁気ディスク装置においては上記不良を単に不良
としてその修復手段を持たなかった。又、データ・フィ
ールドのチェック部ＣＲＣの代シにＥＣＣ（エラー訂正
コード）を用いてエラー訂正が可能な磁気ディスク装置
では常にエラー訂正処理を行なわなければならず常にエ
ラー訂正のだめの余分な時間を必要とした。
としてその修復手段を持たなかった。又、データ・フィ
ールドのチェック部ＣＲＣの代シにＥＣＣ（エラー訂正
コード）を用いてエラー訂正が可能な磁気ディスク装置
では常にエラー訂正処理を行なわなければならず常にエ
ラー訂正のだめの余分な時間を必要とした。
（発明の目的）
本発明は以上の点に鑑みてなされたものであシ、目的と
するところは不良エリアをよシ少くして記録媒体の欠陥
による記録容量の低下を少くした改良された磁気ディス
ク装置を提供することである。
するところは不良エリアをよシ少くして記録媒体の欠陥
による記録容量の低下を少くした改良された磁気ディス
ク装置を提供することである。
さらに目的とするところは恒常的エラーが原因で生じる
恒常的エラー訂正時間を少くした磁気ディスク装置を提
供することである。
恒常的エラー訂正時間を少くした磁気ディスク装置を提
供することである。
（発明の構成）
本発明は上記目的を達成するため、記録エリアの一部に
生じた恒常的エラーをＩＤ不イールドおよびデータ・７
４−ルドの物理位置をずらすことによシギャップＧに吸
収させこのセクタを良セクタとするとともに吸収できな
いときはデータ・フィールドのＤＡＴＡ部を縮小させる
ものであシ以下詳細に説明する。
生じた恒常的エラーをＩＤ不イールドおよびデータ・７
４−ルドの物理位置をずらすことによシギャップＧに吸
収させこのセクタを良セクタとするとともに吸収できな
いときはデータ・フィールドのＤＡＴＡ部を縮小させる
ものであシ以下詳細に説明する。
（実施例）
第３図は本発明に関する磁気ディスク装置のブロック図
を示す。第３図において１は磁気ディスク制御装置であ
シ書込みデータレジスタ（ＷＤＲ） ２ 。
を示す。第３図において１は磁気ディスク制御装置であ
シ書込みデータレジスタ（ＷＤＲ） ２ 。
切換回路３ 、４ 、５． ＣＲＣ回路６．エラー訂正
回路７．ノ９ラレルーシリアル変換器（ｐ／Ｓ） ｓ
、シリアル−パラレル変換器（Ｓ／Ｐ） ９ 、読取シ
データレジスク（ＲＤＲ） １ｏ 、読取りデータ用バ
ッファ１１゜これらを制御する制御部１２から構成され
る。
回路７．ノ９ラレルーシリアル変換器（ｐ／Ｓ） ｓ
、シリアル−パラレル変換器（Ｓ／Ｐ） ９ 、読取シ
データレジスク（ＲＤＲ） １ｏ 、読取りデータ用バ
ッファ１１゜これらを制御する制御部１２から構成され
る。
１３は磁気ディスクである。
上記においてＣＲＣ回路６は周知の多項式に基づきＣＲ
Ｃチェックを行なう。エラー訂正回路７は所定長のバー
ストエラーの訂正が可能であシ、例えばＡｄｖａｎｃｅ
ｄ Ｍｉｃｒｏ Ｄｅｖｉｃｅｓ （ＡＭＤ）社製Ａｍ
Ｚ ８０６５である。このように構成された磁気ディス
ク装置において、第４図（ｂ）に示すデータを書き込む
ときは（以下これを第１のフォーマット・ライトと呼び
Ｆ−Ｗｌと略記する）第５図（ａ）〜（ｃ）のフローに
従い動作する。第５図（ａ）〜（ｃ）のフローで記録媒
体上に記録されるデータはＷＤＲ２にセットされ、書き
込み準備が整った時点でＰ／Ｓ ８に送られてツク゛ラ
レルーシルアル変換されて磁気ディスク１３へ転送され
る。書き込み用データとしては先ず所定数の（１）ギヤ
ツブＧ月データ、 （２） ５ＹＮＣ用データ、（３）
朧月データ、 （４） ＣＲＣ回路６から出力されるＣ
ＲＣ用データ、（５）ギャッｆＧ用データ、 （６）
５ＹＮＣ用データ。
Ｃチェックを行なう。エラー訂正回路７は所定長のバー
ストエラーの訂正が可能であシ、例えばＡｄｖａｎｃｅ
ｄ Ｍｉｃｒｏ Ｄｅｖｉｃｅｓ （ＡＭＤ）社製Ａｍ
Ｚ ８０６５である。このように構成された磁気ディス
ク装置において、第４図（ｂ）に示すデータを書き込む
ときは（以下これを第１のフォーマット・ライトと呼び
Ｆ−Ｗｌと略記する）第５図（ａ）〜（ｃ）のフローに
従い動作する。第５図（ａ）〜（ｃ）のフローで記録媒
体上に記録されるデータはＷＤＲ２にセットされ、書き
込み準備が整った時点でＰ／Ｓ ８に送られてツク゛ラ
レルーシルアル変換されて磁気ディスク１３へ転送され
る。書き込み用データとしては先ず所定数の（１）ギヤ
ツブＧ月データ、 （２） ５ＹＮＣ用データ、（３）
朧月データ、 （４） ＣＲＣ回路６から出力されるＣ
ＲＣ用データ、（５）ギャッｆＧ用データ、 （６）
５ＹＮＣ用データ。
（７） ＤＡＴＡ 、 （８）エラー訂正回路７から出
力されるＥＣＣ用データの順で転送される。上記におい
て（４）のＣＲＣ用データはＡＤＲ用データをＣＲＣ回
路６に与えることによ請求められ、（８）のＥＣＣ用デ
ータは（７）のＤＡＴＡをエラー訂正回路７に与えるこ
とによりめられる。
力されるＥＣＣ用データの順で転送される。上記におい
て（４）のＣＲＣ用データはＡＤＲ用データをＣＲＣ回
路６に与えることによ請求められ、（８）のＥＣＣ用デ
ータは（７）のＤＡＴＡをエラー訂正回路７に与えるこ
とによりめられる。
上記において記録されたデータを読み取るときには（Ａ
ＤＲ部とＤＡＴＡ部を上位装置に転送するのをフォーマ
ット・リードｕＦ−Ｒ”と呼び、ＤＡＴＩＡ部のみを上
位装置に転送するのをリード’ＲＥＡＤ”と呼ぶ）第６
図（ａ） 、 （ｂ）のフローに従い動作する。
ＤＲ部とＤＡＴＡ部を上位装置に転送するのをフォーマ
ット・リードｕＦ−Ｒ”と呼び、ＤＡＴＩＡ部のみを上
位装置に転送するのをリード’ＲＥＡＤ”と呼ぶ）第６
図（ａ） 、 （ｂ）のフローに従い動作する。
第６図は上記ＲＥＡＤ動作を例に取っであるがＦ−Ｒで
はＩＩ ＯＩＩセクタから順次そのセクタのＡＤＲ用デ
ータとＤＡＴＡ部データを読み取シ上位装置へ転送する
。第６図（ａ） ｊ （ｂ）のフローで磁気ディスク１
３から転送される読み取りデータはＳ／’Ｐ 、 ９で
シリアル−パラレル変換され、所定数蓄積された後にＲ
ＤＲ１０にセットされる。ＲＤＲ１０にセットされた読
み取シデータは制御部１２によシ判定に供されるかある
いはＲＢＩＩに転送され、さらに必要なデータはエラー
訂正回路７に転送される。
はＩＩ ＯＩＩセクタから順次そのセクタのＡＤＲ用デ
ータとＤＡＴＡ部データを読み取シ上位装置へ転送する
。第６図（ａ） ｊ （ｂ）のフローで磁気ディスク１
３から転送される読み取りデータはＳ／’Ｐ 、 ９で
シリアル−パラレル変換され、所定数蓄積された後にＲ
ＤＲ１０にセットされる。ＲＤＲ１０にセットされた読
み取シデータは制御部１２によシ判定に供されるかある
いはＲＢＩＩに転送され、さらに必要なデータはエラー
訂正回路７に転送される。
今、あるセクタの記録データを読み取ろうとすると制御
部１２は第４図（ａ）に示すセクタパルス信号の監視状
態に入る。この状態でセクタパルスを検出すると制御部
１２はＲＤＲ１θの出力を順次読み取る。ここで５ＹＮ
Ｃデータを検出すると続けてＡＤＲ部のデータを読み取
シ、制御部１２へ転送すると共に切替回路３を介して該
データをＣＲＣ回路６に取シ込む。ＡＤＲ部を全て読み
取ると制御部１２への転送を中止すると共にＣＲＣ用デ
ータを続けてＣＲＣ回路６に取シ込む。ＣＲＣ用データ
を全て読み取るとＣＲＣ回路６への取シ込みを終了して
ＣＲＣエラーが生じたかどうかをチェックし、ＣＲＣエ
ラーが生じているとドロップアウト等による媒体欠陥あ
るいはノイズ等による読み取シデータの異常があるとし
てエラー処理を行なう。一方、ＣＲＣエラーが生じてい
ないとわかると制御部１２は上記読み取ったＡＤＲ用デ
ータと目的とするアドレスが一致しているかどうかを調
べ、一致していなければデータ・フィールド読み取シ動
作を行なわず次のセクタパルスを待つ。一方一致してい
るとデータ・フィールド読み取り動作にムシ上記同様５
ＹＮＣ用データ検出動作を行ない５ＹＮＣ用データを検
出するとＤＡＴＡ部読み取りを行なう。ＤＡＴＡ部から
読み取ったデータはＲＤＲ１ｏから順次ＲＢ１１に転送
されると共に切換回路４を介してエラー訂正回路７に取
シ込まれる。ＤＡＴＡ部を全て読み取るとＲＢＩＩへの
転送を終了すると共にＥＣＣ部データを続けてエラー訂
正回路７に取シ込む。
部１２は第４図（ａ）に示すセクタパルス信号の監視状
態に入る。この状態でセクタパルスを検出すると制御部
１２はＲＤＲ１θの出力を順次読み取る。ここで５ＹＮ
Ｃデータを検出すると続けてＡＤＲ部のデータを読み取
シ、制御部１２へ転送すると共に切替回路３を介して該
データをＣＲＣ回路６に取シ込む。ＡＤＲ部を全て読み
取ると制御部１２への転送を中止すると共にＣＲＣ用デ
ータを続けてＣＲＣ回路６に取シ込む。ＣＲＣ用データ
を全て読み取るとＣＲＣ回路６への取シ込みを終了して
ＣＲＣエラーが生じたかどうかをチェックし、ＣＲＣエ
ラーが生じているとドロップアウト等による媒体欠陥あ
るいはノイズ等による読み取シデータの異常があるとし
てエラー処理を行なう。一方、ＣＲＣエラーが生じてい
ないとわかると制御部１２は上記読み取ったＡＤＲ用デ
ータと目的とするアドレスが一致しているかどうかを調
べ、一致していなければデータ・フィールド読み取シ動
作を行なわず次のセクタパルスを待つ。一方一致してい
るとデータ・フィールド読み取り動作にムシ上記同様５
ＹＮＣ用データ検出動作を行ない５ＹＮＣ用データを検
出するとＤＡＴＡ部読み取りを行なう。ＤＡＴＡ部から
読み取ったデータはＲＤＲ１ｏから順次ＲＢ１１に転送
されると共に切換回路４を介してエラー訂正回路７に取
シ込まれる。ＤＡＴＡ部を全て読み取るとＲＢＩＩへの
転送を終了すると共にＥＣＣ部データを続けてエラー訂
正回路７に取シ込む。
ＥＣＣ部データを苓て読み取るとエラー訂正回路７への
取シ込みを終了してエラー訂正回路７に入力されたデー
タが正常かどうかをエラー訂正回路７のＥＲ端子の状態
でチェックする。ここで異常であればドロップアウト等
による媒体欠陥あるいはノイズ等による読み取りデータ
の異常があるとしてエラー処理を行なう。このエラー処
理は通常エラー訂正回路７のコントロール端子を操作し
てエラー訂正可能かどうかを調べ、もしエラー訂正可能
ならばエラーロケーションを調べＲＢＩＩ内の読み取シ
データとＤ端子に出力される訂正用データとの排他的論
理和を取シデータの修正を行なう。
取シ込みを終了してエラー訂正回路７に入力されたデー
タが正常かどうかをエラー訂正回路７のＥＲ端子の状態
でチェックする。ここで異常であればドロップアウト等
による媒体欠陥あるいはノイズ等による読み取りデータ
の異常があるとしてエラー処理を行なう。このエラー処
理は通常エラー訂正回路７のコントロール端子を操作し
てエラー訂正可能かどうかを調べ、もしエラー訂正可能
ならばエラーロケーションを調べＲＢＩＩ内の読み取シ
データとＤ端子に出力される訂正用データとの排他的論
理和を取シデータの修正を行なう。
一方、訂正不可能であれば所定長以上のバーストエラー
が生じていると判断して必要な処理を行なう〇 一般に記録媒体の欠陥は媒体出荷時にわかるか、あるい
は前記Ｆ−ＷとＦ−ＲおよびＲＥＡＤを繰シ返し行ない
所定回数以上のりトライでも正常に読めないことによシ
知ることができる。
が生じていると判断して必要な処理を行なう〇 一般に記録媒体の欠陥は媒体出荷時にわかるか、あるい
は前記Ｆ−ＷとＦ−ＲおよびＲＥＡＤを繰シ返し行ない
所定回数以上のりトライでも正常に読めないことによシ
知ることができる。
次に欠陥場所がわかっているときの媒体欠陥による恒常
的エラーの修復動作を説明する。本発明によれば前記Ｆ
−Ｗ １と異なるフォーマットで書き込みを行なうＦ−
Ｗ２という命令を新規に追加することによシ好適な結果
が得られる。今、例えば第１図のセクタ３に媒体欠陥が
わかっているか、あるいはわかるとセクタ３を見つける
まで順次各セクタをアクセスする。セクタ３が見つかる
とデータ・フィールドを読み取る。ここでデータ・フィ
ールドの５ＹＮＣ部が検出できないと所定回数のりトラ
イを行ない、それでも検出できないと不良セクタとして
処理する。一方５ＹＮＣ部を検出できると続けてＤＡＴ
Ａ部及びＥＣＣ部を読み取る。ＤＡＴＡ部及びＥＣＣ部
を読み取ってＦＣＣエラーを検出するとＦＣＣ訂正回路
７を操作してエラーロケーションを知る。ここでエラー
ロケーションがデータ・フィールドの後部にだけあると
わかるとＩＤフィールド、データ・フィールドの物理位
置を変更可能かどうかをチェック（すなわちギャップＧ
で吸収可能かどうか）して変更可能だとわかると次の回
転で第４図（ｃ）の如（ＩＤフィールド、データ・フィ
ールドの物理位置を変更して記録する。この変更される
フォーマットは固定としても良いしエラーロケーション
に応じて可変としても良い。上記において変更不可能だ
とわかるとそのセクタを不良セクタとして処理するか、
あるいは後述のようにＤＡＴＡ部を縮小してそのセクタ
を使用できるようにする。
的エラーの修復動作を説明する。本発明によれば前記Ｆ
−Ｗ １と異なるフォーマットで書き込みを行なうＦ−
Ｗ２という命令を新規に追加することによシ好適な結果
が得られる。今、例えば第１図のセクタ３に媒体欠陥が
わかっているか、あるいはわかるとセクタ３を見つける
まで順次各セクタをアクセスする。セクタ３が見つかる
とデータ・フィールドを読み取る。ここでデータ・フィ
ールドの５ＹＮＣ部が検出できないと所定回数のりトラ
イを行ない、それでも検出できないと不良セクタとして
処理する。一方５ＹＮＣ部を検出できると続けてＤＡＴ
Ａ部及びＥＣＣ部を読み取る。ＤＡＴＡ部及びＥＣＣ部
を読み取ってＦＣＣエラーを検出するとＦＣＣ訂正回路
７を操作してエラーロケーションを知る。ここでエラー
ロケーションがデータ・フィールドの後部にだけあると
わかるとＩＤフィールド、データ・フィールドの物理位
置を変更可能かどうかをチェック（すなわちギャップＧ
で吸収可能かどうか）して変更可能だとわかると次の回
転で第４図（ｃ）の如（ＩＤフィールド、データ・フィ
ールドの物理位置を変更して記録する。この変更される
フォーマットは固定としても良いしエラーロケーション
に応じて可変としても良い。上記において変更不可能だ
とわかるとそのセクタを不良セクタとして処理するか、
あるいは後述のようにＤＡＴＡ部を縮小してそのセクタ
を使用できるようにする。
又、上記においてエラー訂正回路７で訂正不可能（所定
長以上のバーストエラー有シ）とわかると次の回転でＤ
ＡＴＡ部を縮小してフォーマット・ライトを行なう。こ
れを繰り返し行ないＥＣＣエラーがなくなるか、あるい
は訂正可能となシェラ−ロケーションがめられるとその
ときのＤＡＴＡ部長さからＩＤフィールド、データ・フ
ィールドの物理位置の変更が可能なら上記の如く変更を
行なう。一方変更不可能なら上記の如く不良セクタとす
るか、ＤＡＴＡ部を縮小して使用できるようにする。次
にＤＡＴＡ部を縮小してそのセクタを使用するには第４
図（ｅ）の如（ＦＬＧ部に予備セクタフラグと他に予備
セクタ有り・無しのフラグと次の予備セクタアドレス及
びＤＡＴＡ部の長さを追加すれば良い。この様にすれば
ＤＡＴＡ部が縮小された予備セクタ同志が結合されて不
良セクタの有効利用が可能となる利点がある。又、上記
の如＜’ ＤＡＴＡ部の縮小したセクタを予備セクタと
することなく通常のセクタと同様に取シ扱い１トラツク
のＤＡＴＡ部の合計長を可変とすることも可能である。
長以上のバーストエラー有シ）とわかると次の回転でＤ
ＡＴＡ部を縮小してフォーマット・ライトを行なう。こ
れを繰り返し行ないＥＣＣエラーがなくなるか、あるい
は訂正可能となシェラ−ロケーションがめられるとその
ときのＤＡＴＡ部長さからＩＤフィールド、データ・フ
ィールドの物理位置の変更が可能なら上記の如く変更を
行なう。一方変更不可能なら上記の如く不良セクタとす
るか、ＤＡＴＡ部を縮小して使用できるようにする。次
にＤＡＴＡ部を縮小してそのセクタを使用するには第４
図（ｅ）の如（ＦＬＧ部に予備セクタフラグと他に予備
セクタ有り・無しのフラグと次の予備セクタアドレス及
びＤＡＴＡ部の長さを追加すれば良い。この様にすれば
ＤＡＴＡ部が縮小された予備セクタ同志が結合されて不
良セクタの有効利用が可能となる利点がある。又、上記
の如＜’ ＤＡＴＡ部の縮小したセクタを予備セクタと
することなく通常のセクタと同様に取シ扱い１トラツク
のＤＡＴＡ部の合計長を可変とすることも可能である。
以上の説明ではＩＤフィールド部のチェックコードとし
てＣＲＣを用いたがＣＲＣＯ代りにＦＣＣを用いること
によシ上記と同様にしてエラーロケーションを知シ■Ｄ
フィールド及びデータ・フィールドの物理位置を上記と
反対方向にずらして記録、およびＤＡＴＡ部を縮小する
ことも可能である。
てＣＲＣを用いたがＣＲＣＯ代りにＦＣＣを用いること
によシ上記と同様にしてエラーロケーションを知シ■Ｄ
フィールド及びデータ・フィールドの物理位置を上記と
反対方向にずらして記録、およびＤＡＴＡ部を縮小する
ことも可能である。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように本発明によればエラーロケー
ションを知り該エラーロケーションニヨｐＩＤフィール
ドおよびデータ・フィールドの物理位置をずらして記録
するか、あるいはＤＡＴＡ部を縮小して記録することに
より不良セクタとなる確率が少なくなると共に記録エリ
アの有効利用ができる利点がある。
ションを知り該エラーロケーションニヨｐＩＤフィール
ドおよびデータ・フィールドの物理位置をずらして記録
するか、あるいはＤＡＴＡ部を縮小して記録することに
より不良セクタとなる確率が少なくなると共に記録エリ
アの有効利用ができる利点がある。
第１図は磁気ディスク装置のトラック構成を示す図、第
２図はセクタフォーマットを示す図、第３図は磁気ディ
スク装置のブロック図、第４図（ａ）〜（ｅ）は本発明
に係るセクタフォーマ、トを説明する図、第５図（ａ）
〜（ｃ）はＦ−Ｗのフローチャート図、第６図（ａ）
、 （ｂ）はＲＥＡＤのフローチャート図である。 １・・・磁気ディスク制御装置、３，４．５・・・切換
回路、６・・・ＣＲＣ回路、７・・・エラー訂正回路、
１３・・磁気ディスク。 特許出願人 沖電気工業株式会社 第１図 第２図 第３図 工 （ 第４図 肩表アト°し久ノグーアＫＶ、べ 第５図（ａ） 第５図（ｂ） 第５図（ｃ） 第６図（０）
２図はセクタフォーマットを示す図、第３図は磁気ディ
スク装置のブロック図、第４図（ａ）〜（ｅ）は本発明
に係るセクタフォーマ、トを説明する図、第５図（ａ）
〜（ｃ）はＦ−Ｗのフローチャート図、第６図（ａ）
、 （ｂ）はＲＥＡＤのフローチャート図である。 １・・・磁気ディスク制御装置、３，４．５・・・切換
回路、６・・・ＣＲＣ回路、７・・・エラー訂正回路、
１３・・磁気ディスク。 特許出願人 沖電気工業株式会社 第１図 第２図 第３図 工 （ 第４図 肩表アト°し久ノグーアＫＶ、べ 第５図（ａ） 第５図（ｂ） 第５図（ｃ） 第６図（０）
Claims (1)
- トラックを複数のセクタに分割して該セクタに固定長の
データを記録又は該セクタからデータを読み取る磁気デ
ィスク装置において、上記セクタに恒常的エラーが生じ
たときそのセクタのエラーロケーションヲ知す該エラー
ロケーションがＩＤフィールド及びデータフィールドの
物理位置をずらして恒常的エラーの生じない正常セクタ
とできる位置であるならＩＤフィールド及びデータフィ
ールドの物理位置をずらして正常セクタとし、一方正常
セクタとできない位置であるならＤＡＴＡ部を縮小して
予備セクタとする機能を有することを特徴とする磁気デ
ィスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58130293A JPH0634300B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | 磁気デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58130293A JPH0634300B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | 磁気デイスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6022777A true JPS6022777A (ja) | 1985-02-05 |
| JPH0634300B2 JPH0634300B2 (ja) | 1994-05-02 |
Family
ID=15030844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58130293A Expired - Lifetime JPH0634300B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | 磁気デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0634300B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS575414A (en) * | 1980-06-13 | 1982-01-12 | Victor Co Of Japan Ltd | Amplitude selecting circuit |
| JPS583104A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Toshiba Corp | 磁気デイスク装置 |
-
1983
- 1983-07-19 JP JP58130293A patent/JPH0634300B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS575414A (en) * | 1980-06-13 | 1982-01-12 | Victor Co Of Japan Ltd | Amplitude selecting circuit |
| JPS583104A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Toshiba Corp | 磁気デイスク装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0634300B2 (ja) | 1994-05-02 |
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