JPH0634300B2 - 磁気デイスク装置 - Google Patents
磁気デイスク装置Info
- Publication number
- JPH0634300B2 JPH0634300B2 JP58130293A JP13029383A JPH0634300B2 JP H0634300 B2 JPH0634300 B2 JP H0634300B2 JP 58130293 A JP58130293 A JP 58130293A JP 13029383 A JP13029383 A JP 13029383A JP H0634300 B2 JPH0634300 B2 JP H0634300B2
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- JP
- Japan
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- field
- sector
- magnetic disk
- error
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- Expired - Lifetime
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 102100041023 Coronin-2A Human genes 0.000 description 1
- 101000748858 Homo sapiens Coronin-2A Proteins 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/12—Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は磁気ディスク装置における記録エリアの改良さ
れた利用方法に関するものである。
れた利用方法に関するものである。
（従来技術） 近年、情報処理システムで取り扱う情報量の増大と共に
磁気ディスク装置の記録密度の高密度化が進められてい
る。しかし記録密度が高密度されればされるほど記録媒
体の欠陥による記録情報の低下は大となり今日その改善
が望まれている。
磁気ディスク装置の記録密度の高密度化が進められてい
る。しかし記録密度が高密度されればされるほど記録媒
体の欠陥による記録情報の低下は大となり今日その改善
が望まれている。
第１図は磁気ディスク上の１つのトラック（シリンダ番
号ｘ，ヘッド番号ｙ）を示し、複数セクタから構成され
る。第２図(a)は１セクタの構成を示し、ギャップ部Ｇ
とＩＤフィールド，データ・フィールドから構成され
る。さらにＩＤフィールドは同期部SYNC，アドレス部AD
R，チェック部CRCから構成され、データ・フィールドは
同期部SYNC，データ部DATA，チェック部CRCから構成さ
れる。又、ＩＤフィールドのアドレス部ADRは第２図(b)
の如くフラグ部FLG，シリンダ番号を示すシリンダ部CY
L，ヘッド番号を示すヘッド部HEAD，セクタ番号を示す
セクタ部SECから構成される。この様に構成された磁気
ディスク装置において第１図のセクタ３が不良の場合、 (1) このトラックを不良トラックとしてトラックごと
代替する。
号ｘ，ヘッド番号ｙ）を示し、複数セクタから構成され
る。第２図(a)は１セクタの構成を示し、ギャップ部Ｇ
とＩＤフィールド，データ・フィールドから構成され
る。さらにＩＤフィールドは同期部SYNC，アドレス部AD
R，チェック部CRCから構成され、データ・フィールドは
同期部SYNC，データ部DATA，チェック部CRCから構成さ
れる。又、ＩＤフィールドのアドレス部ADRは第２図(b)
の如くフラグ部FLG，シリンダ番号を示すシリンダ部CY
L，ヘッド番号を示すヘッド部HEAD，セクタ番号を示す
セクタ部SECから構成される。この様に構成された磁気
ディスク装置において第１図のセクタ３が不良の場合、 (1) このトラックを不良トラックとしてトラックごと
代替する。
(2) セクタのみ不良セクタとしてこのセクタを代替す
る。
る。
上記(1)の場合はセクタ３以外の有効セクタが無駄とな
り高密度になればなる程望ましくない。又、(2)の場合
は(1)の場合に比べてはるかに優れているがより一層の
改良が望まれている。
り高密度になればなる程望ましくない。又、(2)の場合
は(1)の場合に比べてはるかに優れているがより一層の
改良が望まれている。
上記において不良トラック又は不良セクタとされるのは
記録媒体のドロップアウト等が原因となる恒常的エラー
であり、これは(1)ＩＤフィールドの一部又は(2)ＩＤフ
ィールド全て又は(3)データ・フィールドの一部又は(4)
データ・フィールド全て等に生じる。しかし(1)のＩＤ
フィールドの一部、特に前部の一部に生じたドロップア
ウト等による不良又は(3)のデータフィールドの一部、
特に後部の一部に生じたドロップアウト等による不良は
ＩＤフィールド及びデータ・フィールドの物理位置から
ずらしてＩＤフィールド前部のギャップＧにおいて吸収
可能である。
記録媒体のドロップアウト等が原因となる恒常的エラー
であり、これは(1)ＩＤフィールドの一部又は(2)ＩＤフ
ィールド全て又は(3)データ・フィールドの一部又は(4)
データ・フィールド全て等に生じる。しかし(1)のＩＤ
フィールドの一部、特に前部の一部に生じたドロップア
ウト等による不良又は(3)のデータフィールドの一部、
特に後部の一部に生じたドロップアウト等による不良は
ＩＤフィールド及びデータ・フィールドの物理位置から
ずらしてＩＤフィールド前部のギャップＧにおいて吸収
可能である。
従来の磁気ディスク装置においては上記不良を単に不良
としてその修復手段を持たなかった。又、データ・フィ
ールドのチェック部CRCの代りにECC（エラー訂正コー
ド）を用いてエラー訂正が可能な磁気ディスク装置では
常にエラー訂正処理を行なわなければならず常にエラー
訂正のための余分な時間を必要とした。
としてその修復手段を持たなかった。又、データ・フィ
ールドのチェック部CRCの代りにECC（エラー訂正コー
ド）を用いてエラー訂正が可能な磁気ディスク装置では
常にエラー訂正処理を行なわなければならず常にエラー
訂正のための余分な時間を必要とした。
（発明の目的） 本発明は以上の点に鑑みてなされたものであり、目的と
するところは不良エリアをより少くして記録媒体の欠陥
による記録容量の低下を少くした改良された磁気ディス
ク装置を提供することである。
するところは不良エリアをより少くして記録媒体の欠陥
による記録容量の低下を少くした改良された磁気ディス
ク装置を提供することである。
さらに目的とするところは恒常的エラーが原因で生じる
恒常的エラー訂正時間を少くした磁気ディスク装置を提
供することである。
恒常的エラー訂正時間を少くした磁気ディスク装置を提
供することである。
（発明の構成） 本発明は上記目的を達成するため、記録エリアの一部に
生じた恒常的エラーをＩＤフィールドおよびデータ・フ
ィールドの物理位置をずれすことによりギャップＧに吸
収させこのセクタを良セクタとするものであり以下詳細
に説明する。
生じた恒常的エラーをＩＤフィールドおよびデータ・フ
ィールドの物理位置をずれすことによりギャップＧに吸
収させこのセクタを良セクタとするものであり以下詳細
に説明する。
（実施例） 第３図は本発明に関する磁気ディスク装置のブロック図
を示す。第３図において１は磁気ディスク制御装置であ
り書込みデータレジスタ（WDR）２，切換回路３，４，
５，CRC回路６，エラー訂正回路７，パラレル−シリア
ル変換器（Ｐ／Ｓ）８，シリアル−パラレル変換器（Ｓ
／Ｐ）９，読取りデータレジスタ（RDR）１０，読取り
データ用バッファ１１，これらを制御する制御部１２か
ら構成される。１３は磁気ディスクである。
を示す。第３図において１は磁気ディスク制御装置であ
り書込みデータレジスタ（WDR）２，切換回路３，４，
５，CRC回路６，エラー訂正回路７，パラレル−シリア
ル変換器（Ｐ／Ｓ）８，シリアル−パラレル変換器（Ｓ
／Ｐ）９，読取りデータレジスタ（RDR）１０，読取り
データ用バッファ１１，これらを制御する制御部１２か
ら構成される。１３は磁気ディスクである。
上記においてCRC回路６は周知の多項式に基づきCRCチェ
ックを行なう。エラー訂正回路７は所定長のバーストエ
ラーの訂正が可能であり、例えばAdvanced Micro Devic
es（AMD）社製AmZ8065である。このように構成された磁
気ディスク装置において、第４図(b)に示すデータを書
き込むときは（以下これを第１のフォーマット・ライト
と呼びF・W１と略記する）第５図(a)〜(c)のフローに従
い動作する。第５図(a)〜(c)のフローで記録媒体上に記
録されるデータはWDR２にセットされ、書き込み準備が
整った時点でＰ／Ｓ８に送られてパラレル−シリアル変
換されて磁気ディスク１３へ転送される。書き込み用デ
ータとしては先ず所定数の(1)ギャップＧ用データ，(2)
SYNC用データ，(3)ADR用データ，(4)CRC回路６から出力
されるCRC用データ，(5)ギャップＧ用データ，(6)SYNC
用データ，(7)DATA，(8)エラー訂正回路７から出力され
るECC用データの順で転送される。上記において(4)のCR
C用データはADR用データをCRC回路６に与えることによ
り求められ、(8)のECC用データは(7)のDATAをエラー訂
正回路７に与えることにより求められる。
ックを行なう。エラー訂正回路７は所定長のバーストエ
ラーの訂正が可能であり、例えばAdvanced Micro Devic
es（AMD）社製AmZ8065である。このように構成された磁
気ディスク装置において、第４図(b)に示すデータを書
き込むときは（以下これを第１のフォーマット・ライト
と呼びF・W１と略記する）第５図(a)〜(c)のフローに従
い動作する。第５図(a)〜(c)のフローで記録媒体上に記
録されるデータはWDR２にセットされ、書き込み準備が
整った時点でＰ／Ｓ８に送られてパラレル−シリアル変
換されて磁気ディスク１３へ転送される。書き込み用デ
ータとしては先ず所定数の(1)ギャップＧ用データ，(2)
SYNC用データ，(3)ADR用データ，(4)CRC回路６から出力
されるCRC用データ，(5)ギャップＧ用データ，(6)SYNC
用データ，(7)DATA，(8)エラー訂正回路７から出力され
るECC用データの順で転送される。上記において(4)のCR
C用データはADR用データをCRC回路６に与えることによ
り求められ、(8)のECC用データは(7)のDATAをエラー訂
正回路７に与えることにより求められる。
上記において記録されたデータを読み取るときには（AD
R部とDATA部を上位装置に転送するのをフォーマット・
リード“F・R”と呼び、DATA部のみを上位装置に転送す
るのをリード“READ”と呼ぶ）第６図(a)，(b)のフロー
に従い動作する。第６図は上記READ動作を例に取ってあ
るがF・Rでは“０”セクタから順次そのセクタのADR用デ
ータとDATA部データを読み取り上位装置へ転送する。第
６図(a)，(b)のフロー磁気ディスク１３から転送される
読み取りデータはＳ／Ｐ９でシリアル−パラレル変換さ
れ、所定数蓄積された後にRDR１０にセットされる。RDR
１０にセットされた読み取りデータは制御部１２により
判定に供されるかあるいはＲＢ１１に転送され、さらに
必要なデータはエラー訂正回路７に転送される。
R部とDATA部を上位装置に転送するのをフォーマット・
リード“F・R”と呼び、DATA部のみを上位装置に転送す
るのをリード“READ”と呼ぶ）第６図(a)，(b)のフロー
に従い動作する。第６図は上記READ動作を例に取ってあ
るがF・Rでは“０”セクタから順次そのセクタのADR用デ
ータとDATA部データを読み取り上位装置へ転送する。第
６図(a)，(b)のフロー磁気ディスク１３から転送される
読み取りデータはＳ／Ｐ９でシリアル−パラレル変換さ
れ、所定数蓄積された後にRDR１０にセットされる。RDR
１０にセットされた読み取りデータは制御部１２により
判定に供されるかあるいはＲＢ１１に転送され、さらに
必要なデータはエラー訂正回路７に転送される。
今、あるセクタの記録データを読み取ろうとすると制御
部１２は第４図(a)に示すセクタパルス信号の監視状態
に入る。この状態でセクタパルスを検出すると制御部１
２はRDR１０の出力を順次読み取る。ここでSYNCデータ
を検出すると続けてADR部のデータを読み取り、制御部
１２へ転送すると共に切替回路３を介して該データをCR
C回路６に取り込む。ADR部を全て読み取ると制御部１２
への転送を中止すると共にCRC用データを続けてCRC回路
６に取り込む。CRC用データを全て読み取るとCRC回路６
への取り込みを終了してCRCエラーが生じたかどうかを
チェックし、CRCエラーが生じているとドロップアウト
等による媒体欠陥あるいはノイズ等による読み取りデー
タの異常があるとしてエラー処理を行なう。一方、CRC
エラーが生じていないとわかると制御部１２は上記読み
取ったADR用データと目的とするアドレスが一致してい
るかどうかを調べ、一致していなければデータ・フィー
ルド読み取り動作を行なわず次のセクタパルスを待つ。
一方一致しているとデータ・フィールド読み取り動作に
入り上記同様SYNC用データ検出動作を行ないSYNC用デー
タを検出するとDATA部読み取りを行なう。DATA部から読
み取ったデータはRDR１０から順次ＲＢ１１に転送され
ると共に切換回路４を介してエラー訂正回路７に取り込
まれる。DATA部を全て読み取るとＲＢ１１への転送を終
了すると共にECC部データを続けてエラー訂正回路７に
取り込む。ECC部データを全て読み取るとエラー訂正回
路７への取り込みを終了してエラー訂正回路７に入力さ
れたデータが正常かどうかをエラー訂正回路７のＥＲ端
子の状態でチェックする。ここで異常であればドロップ
アウト等による媒体欠陥あるいはノイズ等による読み取
りデータの異常があるとしてエラー処理を行なう。この
エラー処理は通常エラー訂正回路７のコントロール端子
を操作してエラー訂正可能かどうかを調べ、もしエラー
訂正可能ならばエラーロケーションを調べＲＢ１１内の
読み取りデータとＤ端子に出力される訂正用データとの
排他的論理和を取りデータの修正を行なう。一方、訂正
不可能であれば所定長以上のバーストエラーが生じてい
ると判断して必要な処理を行なう。
部１２は第４図(a)に示すセクタパルス信号の監視状態
に入る。この状態でセクタパルスを検出すると制御部１
２はRDR１０の出力を順次読み取る。ここでSYNCデータ
を検出すると続けてADR部のデータを読み取り、制御部
１２へ転送すると共に切替回路３を介して該データをCR
C回路６に取り込む。ADR部を全て読み取ると制御部１２
への転送を中止すると共にCRC用データを続けてCRC回路
６に取り込む。CRC用データを全て読み取るとCRC回路６
への取り込みを終了してCRCエラーが生じたかどうかを
チェックし、CRCエラーが生じているとドロップアウト
等による媒体欠陥あるいはノイズ等による読み取りデー
タの異常があるとしてエラー処理を行なう。一方、CRC
エラーが生じていないとわかると制御部１２は上記読み
取ったADR用データと目的とするアドレスが一致してい
るかどうかを調べ、一致していなければデータ・フィー
ルド読み取り動作を行なわず次のセクタパルスを待つ。
一方一致しているとデータ・フィールド読み取り動作に
入り上記同様SYNC用データ検出動作を行ないSYNC用デー
タを検出するとDATA部読み取りを行なう。DATA部から読
み取ったデータはRDR１０から順次ＲＢ１１に転送され
ると共に切換回路４を介してエラー訂正回路７に取り込
まれる。DATA部を全て読み取るとＲＢ１１への転送を終
了すると共にECC部データを続けてエラー訂正回路７に
取り込む。ECC部データを全て読み取るとエラー訂正回
路７への取り込みを終了してエラー訂正回路７に入力さ
れたデータが正常かどうかをエラー訂正回路７のＥＲ端
子の状態でチェックする。ここで異常であればドロップ
アウト等による媒体欠陥あるいはノイズ等による読み取
りデータの異常があるとしてエラー処理を行なう。この
エラー処理は通常エラー訂正回路７のコントロール端子
を操作してエラー訂正可能かどうかを調べ、もしエラー
訂正可能ならばエラーロケーションを調べＲＢ１１内の
読み取りデータとＤ端子に出力される訂正用データとの
排他的論理和を取りデータの修正を行なう。一方、訂正
不可能であれば所定長以上のバーストエラーが生じてい
ると判断して必要な処理を行なう。
一般に記録媒体の欠陥は媒体出荷時にわかるか、あるい
は前記F・WとF・RおよびREADを繰り返し行ない所定回数以
上のリトライでも正常に読めないことにより知ることが
できる。
は前記F・WとF・RおよびREADを繰り返し行ない所定回数以
上のリトライでも正常に読めないことにより知ることが
できる。
次に欠陥場所がわかっているときの媒体欠陥による恒常
的エラーの修復動作を説明する。本発明によれば前記F・
W１と異なるフォーマットで書き込みを行なうF・W２とい
う命令を新規に追加することにより好適な結果が得られ
る。今、例えば第１図のセクタ３に媒体欠陥がわかって
いるか、あるいはわかるとセクタ３を見つけるまで順次
各セクタをアクセスする。セクタ３が見つかるとデータ
・フィールドを読み取る。ここでデータ・フィールドの
SYNC部が検出できないと所定回数のリトライを行ない、
それでも検出できないと不良セクタとして処理する。一
方SYNC部を検出できると続けてDATA部及びECC部を読み
取る。DATA及びECC部を読み取ってECCエラーを検出する
とECC訂正回路７を操作してエラーロケーションを知
る。ここでエラーロケーションがデータ・フィールドの
後部にだけあるとわかるとＩＤフィールド，データ・フ
ィールドの物理位置を変更可能かどうかをチェック（す
なわちギャップＧで吸収可能かどうか）して変更可能だ
とわかると次の回転で第４図(c)の如くＩＤフィール
ド，データ・フィールドの物理位置を変更して記録す
る。この変更されるフォーマットは固定としても良いし
エラーロケーションに応じて可変として良い。上記にお
いて変更不可能だとわかるとそのセクタを不良セクタと
して処理するか、あるいは後述のようにDATA部を縮小し
てそのセクタを使用できるようにする。
的エラーの修復動作を説明する。本発明によれば前記F・
W１と異なるフォーマットで書き込みを行なうF・W２とい
う命令を新規に追加することにより好適な結果が得られ
る。今、例えば第１図のセクタ３に媒体欠陥がわかって
いるか、あるいはわかるとセクタ３を見つけるまで順次
各セクタをアクセスする。セクタ３が見つかるとデータ
・フィールドを読み取る。ここでデータ・フィールドの
SYNC部が検出できないと所定回数のリトライを行ない、
それでも検出できないと不良セクタとして処理する。一
方SYNC部を検出できると続けてDATA部及びECC部を読み
取る。DATA及びECC部を読み取ってECCエラーを検出する
とECC訂正回路７を操作してエラーロケーションを知
る。ここでエラーロケーションがデータ・フィールドの
後部にだけあるとわかるとＩＤフィールド，データ・フ
ィールドの物理位置を変更可能かどうかをチェック（す
なわちギャップＧで吸収可能かどうか）して変更可能だ
とわかると次の回転で第４図(c)の如くＩＤフィール
ド，データ・フィールドの物理位置を変更して記録す
る。この変更されるフォーマットは固定としても良いし
エラーロケーションに応じて可変として良い。上記にお
いて変更不可能だとわかるとそのセクタを不良セクタと
して処理するか、あるいは後述のようにDATA部を縮小し
てそのセクタを使用できるようにする。
又、上記においてエラー訂正回路７で訂正不可能（所定
長以上のバーストエラー有り）とわかると次の回転でDA
TA部を縮小してフォーマット・ライトを行なう。これを
繰り返し行ないECCエラーがなくなるか、あるいは訂正
可能となりエラーロケーションが求められるとそのとき
のDATA部長さからＩＤフィールド，データ・フィールド
の物理位置の変更が可能なら上記の如く変更を行なう。
一方変更不可能なら上記の如く不良セクタとするか、DA
TA部を縮小して使用できるようにする。次にDATA部を縮
小してそのセクタを使用するには第４図(e)の如くFLG部
に予備セクタフラグと他に予備セクタ有り・無しのフラ
グと次の予備セクタアドレス及びDATA部の長さを追加す
れば良い。この様にすればDATA部が縮小された予備セク
タ同志が結合されて不良セクタの有効利用が可能となる
利点がある。又、上記の如くDATA部の縮小したセクタを
予備セクタとすることなく通常のセクタと同様に取り扱
い１トラックのDATA部の合計長を可変とすることも可能
である。
長以上のバーストエラー有り）とわかると次の回転でDA
TA部を縮小してフォーマット・ライトを行なう。これを
繰り返し行ないECCエラーがなくなるか、あるいは訂正
可能となりエラーロケーションが求められるとそのとき
のDATA部長さからＩＤフィールド，データ・フィールド
の物理位置の変更が可能なら上記の如く変更を行なう。
一方変更不可能なら上記の如く不良セクタとするか、DA
TA部を縮小して使用できるようにする。次にDATA部を縮
小してそのセクタを使用するには第４図(e)の如くFLG部
に予備セクタフラグと他に予備セクタ有り・無しのフラ
グと次の予備セクタアドレス及びDATA部の長さを追加す
れば良い。この様にすればDATA部が縮小された予備セク
タ同志が結合されて不良セクタの有効利用が可能となる
利点がある。又、上記の如くDATA部の縮小したセクタを
予備セクタとすることなく通常のセクタと同様に取り扱
い１トラックのDATA部の合計長を可変とすることも可能
である。
以上の説明ではＩＤフィールド部のチェックコードとし
てCRCを用いたがCRCの代りにECCを用いることにより上
記と同様にしてエラーロケーションを知りＩＤフィール
ド及びデータ・フィールドの物理位置を上記と反対方向
にずらして記録、およびDATA部を縮小することも可能で
ある。
てCRCを用いたがCRCの代りにECCを用いることにより上
記と同様にしてエラーロケーションを知りＩＤフィール
ド及びデータ・フィールドの物理位置を上記と反対方向
にずらして記録、およびDATA部を縮小することも可能で
ある。
（発明の効果） 以上詳細に説明したように本発明によればエラーロケー
ションを知り該エラーロケーションによりＩＤフィール
ドおよびデータ・フィールドの物理位置をずらして記録
することにより不良セクタを減らして記録エリアを有効
に利用することができる。
ションを知り該エラーロケーションによりＩＤフィール
ドおよびデータ・フィールドの物理位置をずらして記録
することにより不良セクタを減らして記録エリアを有効
に利用することができる。
第１図は磁気ディスク装置のトラック構成を示す図、第
２図はセクタフォーマットを示す図、第３図は磁気ディ
スク装置のブロック図、第４図(a)〜(e)は本発明に係る
セクタフォーマットを説明する図、第５図(a)〜(c)はF・
Wのフローチャート図、第６図(a)，(b)はREADのフロー
チャート図である。 １……磁気ディスク制御装置、３，４，５……切換回
路、６……CRC回路、７……エラー訂正回路、１３……
磁気ディスク。
２図はセクタフォーマットを示す図、第３図は磁気ディ
スク装置のブロック図、第４図(a)〜(e)は本発明に係る
セクタフォーマットを説明する図、第５図(a)〜(c)はF・
Wのフローチャート図、第６図(a)，(b)はREADのフロー
チャート図である。 １……磁気ディスク制御装置、３，４，５……切換回
路、６……CRC回路、７……エラー訂正回路、１３……
磁気ディスク。
Claims (1)
- 【請求項１】磁気ディスクの同一円周上を複数のセクタ
に分割すると共に、各々のセクタを、アドレス情報が書
き込まれるＩＤフィールド、データが書き込まれるデー
タフィールド、セクタ間の境界を規定するギャップ部と
に分割し、所定の書込み指示に応答して前記セクタの所
定の位置に前記ＩＤフィールド、データフィールド、ギ
ャップ部を形成する磁気ディスク装置において、 前記ＩＤフィールドおよびデータフィールドにおける欠
陥位置を検出する検出手段と、 所定の書込み指示に応答し、前記欠陥位置が前記ＩＤフ
ィールドおよびデータフィールドの端部の所定位置であ
ることにより前記ギャップ部の幅を所定量縮小して前記
ＩＤフィールドおよびデータフィールドを欠陥のない位
置までずらすように前記ＩＤフィールド、データフィー
ルド、ギャップ部の位置を設定し直す手段とを備えた ことを特徴とする磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58130293A JPH0634300B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | 磁気デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58130293A JPH0634300B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | 磁気デイスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6022777A JPS6022777A (ja) | 1985-02-05 |
| JPH0634300B2 true JPH0634300B2 (ja) | 1994-05-02 |
Family
ID=15030844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58130293A Expired - Lifetime JPH0634300B2 (ja) | 1983-07-19 | 1983-07-19 | 磁気デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0634300B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS575414A (en) * | 1980-06-13 | 1982-01-12 | Victor Co Of Japan Ltd | Amplitude selecting circuit |
| JPS583104A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Toshiba Corp | 磁気デイスク装置 |
-
1983
- 1983-07-19 JP JP58130293A patent/JPH0634300B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6022777A (ja) | 1985-02-05 |
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