JPS60229355A - Icのピンの状態検出方法 - Google Patents
Icのピンの状態検出方法Info
- Publication number
- JPS60229355A JPS60229355A JP59084140A JP8414084A JPS60229355A JP S60229355 A JPS60229355 A JP S60229355A JP 59084140 A JP59084140 A JP 59084140A JP 8414084 A JP8414084 A JP 8414084A JP S60229355 A JPS60229355 A JP S60229355A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pins
- pin
- light
- condition
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P74/00—Testing or measuring during manufacture or treatment of wafers, substrates or devices
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はDIP型1. Cのピンの隣接方向の曲がり
及び欠落の状態を検出する1、 Cのピンの状態検出方
法に関するものである。
及び欠落の状態を検出する1、 Cのピンの状態検出方
法に関するものである。
一般にI) I P型ICのピンはパッケージ等と呼ば
れる本体の両側に所定間隔をもって配設しであるが、ピ
ンは曲がりを生じたりあるいは欠落していることが多く
ある。このようなピンの曲がりが所定以上大きくなると
矯正したり廃棄する必四がある。又、ピンが欠落してい
る場合は廃棄しなければならない。そのため従来押々の
検出装置6が抜茶されているが、多量のICを^速1w
で1F−僅に検出できる装置は全く存在していなかった
。
れる本体の両側に所定間隔をもって配設しであるが、ピ
ンは曲がりを生じたりあるいは欠落していることが多く
ある。このようなピンの曲がりが所定以上大きくなると
矯正したり廃棄する必四がある。又、ピンが欠落してい
る場合は廃棄しなければならない。そのため従来押々の
検出装置6が抜茶されているが、多量のICを^速1w
で1F−僅に検出できる装置は全く存在していなかった
。
この発明はこのような点を解消して極めて高速庶でLl
−確に1 (?のビンの1′14接方向の曲がり及び欠
浴の状態を検出できるようにしたICのビンの状、tさ
検出方法を提供するものである。
−確に1 (?のビンの1′14接方向の曲がり及び欠
浴の状態を検出できるようにしたICのビンの状、tさ
検出方法を提供するものである。
以−ド図面を参照しながらこの発明の一実施例について
収量する。
収量する。
特に第1O図と第11図を参照するとDIP型のI C
99が示してありかつこのICは本体97の両側に等間
隔dで配置したビン98があり、このビン98は対向す
る側のものとの間隔がDで示すようになっている。
99が示してありかつこのICは本体97の両側に等間
隔dで配置したビン98があり、このビン98は対向す
る側のものとの間隔がDで示すようになっている。
10は外箱で、上面12は前方に向かって下降するよう
に傾斜させてあり、かつこの上面の一半はヒンジ14を
中心として開閉可能な蓋13になっている。15はこの
蓋に設けた透明部である。
に傾斜させてあり、かつこの上面の一半はヒンジ14を
中心として開閉可能な蓋13になっている。15はこの
蓋に設けた透明部である。
96は多数のIC99を1列にして収容したマガジンで
、図示してない公知の手段により11次自動的に移動さ
せて図示した位置で重力によりIC99の送出ができる
ようになっている。
、図示してない公知の手段により11次自動的に移動さ
せて図示した位置で重力によりIC99の送出ができる
ようになっている。
20は外箱10の背面付近から前方に下降するように傾
斜させて姑びた案内部拐で、マカジ/96から下降して
くるI (: 99を下刃・\向かって案内するように
なっている。I (: 99はこの案内部材20の上面
に沿って本体97が配揄′シ両側にそれぞれビン98が
延びているため案内部材20をまたぐ状態で下降するこ
とになる。この下降状態は透明部15から透視できる。
斜させて姑びた案内部拐で、マカジ/96から下降して
くるI (: 99を下刃・\向かって案内するように
なっている。I (: 99はこの案内部材20の上面
に沿って本体97が配揄′シ両側にそれぞれビン98が
延びているため案内部材20をまたぐ状態で下降するこ
とになる。この下降状態は透明部15から透視できる。
22は第1のストッパで、案内部材20の上部の所定位
置でこの案内部材に支持されるIC99を上から釈放可
能に押圧して係止するようになっている。25はこのス
トッパ22が押圧しているIC99の下方側に隣接する
lc99の先端部を釈放口■能に係止する第2のストッ
パである。ストッパ22.25は交互に係止状態と釈放
状態になり釈放状態になる場合は他方が係止状態になっ
た後に釈放するようになっている。前記ストッパ22.
25及び後述する他のストッパは何れも電磁的に動作さ
せるものである。27は透過型のセンサーで、 発光部
28と受光部30間にIC99の本体97がある場合検
出できるようになっている。このセッサー及び後述する
センサーはすべて光ファイバーを用いるものであって図
示してない光源から出る光を発光部へ導いて照射しかつ
受光部で受光した光を図示してない光導電素子へ導くよ
うになっている。
置でこの案内部材に支持されるIC99を上から釈放可
能に押圧して係止するようになっている。25はこのス
トッパ22が押圧しているIC99の下方側に隣接する
lc99の先端部を釈放口■能に係止する第2のストッ
パである。ストッパ22.25は交互に係止状態と釈放
状態になり釈放状態になる場合は他方が係止状態になっ
た後に釈放するようになっている。前記ストッパ22.
25及び後述する他のストッパは何れも電磁的に動作さ
せるものである。27は透過型のセンサーで、 発光部
28と受光部30間にIC99の本体97がある場合検
出できるようになっている。このセッサー及び後述する
センサーはすべて光ファイバーを用いるものであって図
示してない光源から出る光を発光部へ導いて照射しかつ
受光部で受光した光を図示してない光導電素子へ導くよ
うになっている。
又、発光部28等から出る光としては可視光線又は赤外
線を用いることができる。ストッパ25で係止した第1
Tj目のIC99をセンサー27が検出するとストッパ
22が次のIC99を係止した後ストッパ25が釈放状
態になって第1査目のIC99が案内部材20に沿って
重力によって下降することになる。センサー27により
IC99がないのを検出し、続いてストッパ25が係止
状態になり、その後ストッパ22が釈放状態になって上
方からIC99が1個の長さだけ下降してストッパ25
により係止され、その後前述した動作が繰返されること
になる。このような動作は図示してないマイクロコンピ
ュータ等のコンピュータで制御されておりIC99は1
個ずつ案内部材20上を下降することになる。この下降
は重力による加速度運動をするものである。
線を用いることができる。ストッパ25で係止した第1
Tj目のIC99をセンサー27が検出するとストッパ
22が次のIC99を係止した後ストッパ25が釈放状
態になって第1査目のIC99が案内部材20に沿って
重力によって下降することになる。センサー27により
IC99がないのを検出し、続いてストッパ25が係止
状態になり、その後ストッパ22が釈放状態になって上
方からIC99が1個の長さだけ下降してストッパ25
により係止され、その後前述した動作が繰返されること
になる。このような動作は図示してないマイクロコンピ
ュータ等のコンピュータで制御されておりIC99は1
個ずつ案内部材20上を下降することになる。この下降
は重力による加速度運動をするものである。
32.33はそれぞれ案内部イ:4−20 J−をト降
するIC99の左側と右側から光を送って本体97が通
過する部分であるビン98の付根の部分すなわち基部付
近が通過する部分を照射して各ビ/98の通過時の反射
光を検出して16号をコンピコ−一タへ入力する光ファ
イバーを用いた反射型の基準信号用センサーである。3
5.36は光ファイバーを用いる透過型の隣接方向の曲
がり及び欠落検出用のセンサーで、それぞれ前記センサ
ー32.33に続いて案内部材20」二を下降するI
C99の左側と右側で図示してない光源から送られた光
を発光部37からビ/98の先端イ1近が通過する部分
に向かって照射して案内部材20の上部のプリズム40
によって全反射させ受光部42で受光して通過する状態
を検出した信号をコンピュータへ入力するようになって
いる。コンピュータには図示してない時間信号発生装置
から微小な間隔で時間信号が入力されるようになってい
る。したがって、センサー32.33による検出結果か
らコンピュータによりIC99の下降速度状幹がめられ
これを基準としてセンサー35.36による検出結果よ
りコンピュータによりピン98の1書接h゛向の曲がり
による間隔変化や欠落の状態がするものである。一般に
ピン98に曲がりができている場合でも基部は等間隔に
なっており、時間を横!I4I+にした場合第7図に示
すような信号が得られる。又、ピン98は同一方向に同
様に曲がりを生ずることはほとんどないものである。し
たがって、各ピン98の基部が所定位置を通過する時間
間隔と先端部が1方に位置を通過する時間間隔を比較す
ればピン98の曲がりの大きさや欠格を判断できるもの
である。IC99け下降するにしたがって加速されて速
くなるため第7図に示す信号は時間の経過によシわずか
であるが間隔が狭くなるものである。又、センサー35
.36により得られる信号はピン98の曲がりがあれば
信号の時間間隔が徨々異なり、曲がりのない場合は第7
図に示すものと同様になる。したがって、センサー32
と35による信号の比較とセンサー33 と36による
信号の比較により正確にピン98の状!川が判断される
。この場合、本体97と案内部材20間の摩擦係数等に
バラつきがあってIC99が種々異なった加速JJCで
下降してきてもその影智を消去することができるもので
ある。
するIC99の左側と右側から光を送って本体97が通
過する部分であるビン98の付根の部分すなわち基部付
近が通過する部分を照射して各ビ/98の通過時の反射
光を検出して16号をコンピコ−一タへ入力する光ファ
イバーを用いた反射型の基準信号用センサーである。3
5.36は光ファイバーを用いる透過型の隣接方向の曲
がり及び欠落検出用のセンサーで、それぞれ前記センサ
ー32.33に続いて案内部材20」二を下降するI
C99の左側と右側で図示してない光源から送られた光
を発光部37からビ/98の先端イ1近が通過する部分
に向かって照射して案内部材20の上部のプリズム40
によって全反射させ受光部42で受光して通過する状態
を検出した信号をコンピュータへ入力するようになって
いる。コンピュータには図示してない時間信号発生装置
から微小な間隔で時間信号が入力されるようになってい
る。したがって、センサー32.33による検出結果か
らコンピュータによりIC99の下降速度状幹がめられ
これを基準としてセンサー35.36による検出結果よ
りコンピュータによりピン98の1書接h゛向の曲がり
による間隔変化や欠落の状態がするものである。一般に
ピン98に曲がりができている場合でも基部は等間隔に
なっており、時間を横!I4I+にした場合第7図に示
すような信号が得られる。又、ピン98は同一方向に同
様に曲がりを生ずることはほとんどないものである。し
たがって、各ピン98の基部が所定位置を通過する時間
間隔と先端部が1方に位置を通過する時間間隔を比較す
ればピン98の曲がりの大きさや欠格を判断できるもの
である。IC99け下降するにしたがって加速されて速
くなるため第7図に示す信号は時間の経過によシわずか
であるが間隔が狭くなるものである。又、センサー35
.36により得られる信号はピン98の曲がりがあれば
信号の時間間隔が徨々異なり、曲がりのない場合は第7
図に示すものと同様になる。したがって、センサー32
と35による信号の比較とセンサー33 と36による
信号の比較により正確にピン98の状!川が判断される
。この場合、本体97と案内部材20間の摩擦係数等に
バラつきがあってIC99が種々異なった加速JJCで
下降してきてもその影智を消去することができるもので
ある。
43は案内部材20上を下降してセンサー32.33,
35.36のある部分を通過してきたIC99を釈放可
能に係止する第3のストッパである。45は案内部材2
0の下方でこの案内部材上直角方向に姑ひるように配置
した横方向部材、46はこの横方向部材に沿って摺動可
能に案内される摺動部47を有する架台である。48は
この架台を横方向に定速度で移動させるリニアーパルス
モータ−で、外箱IOに対して固定した固定部50及び
架台46に取付けた取付部51を有し、取付部51には
車輪52が設けである。53は光ファイバーを用いる透
過型のセンサーで、図/Tζしてない光源からの光を発
光部55から発してプリズム56によって全反射させて
ストッパ43に係止されたIC99のピン98の隣接方
向に光をlj4+射しかつこの光をプリズム57によっ
て全反射させ受光部58((よって受光し図示してない
光導電素子に導くようになっている。60は透過型のセ
ンナ−で、ストッパ43に1c99が係止されているか
どうかを判断するようになっており、発光部61及び受
光部62を有している。このセンサーによりIC99が
ストッパ43に係止された状態を検出すると信号全光し
、この信号によりコンピュータが信号を送り架台46が
一方側から他方側へ移動しピン98によって光が遮き゛
られる状態が検出され信号としてコンピュータに入力さ
れ、この検出状態からピン98の対同方向の曲が9を判
断できるものである。架台46は交互に逆方向に移動し
て検出した信号を発するようになっており、その両端の
位置は1対の反射型のセンサー63によってそれぞれ検
出して停止させるようになっている。ピン98に曲がり
がない場合横軸を時間とすると第9図(a)に示すよう
な信号が得られ、かつ曲がりがある場合には(b)に示
すような信号が得られる。しだがって最小のtlで示す
時間と最大の12で示す砂で表わした時間間隔に例えば
速度が0.4m/sであればこれを乗じて幅が−まる。
35.36のある部分を通過してきたIC99を釈放可
能に係止する第3のストッパである。45は案内部材2
0の下方でこの案内部材上直角方向に姑ひるように配置
した横方向部材、46はこの横方向部材に沿って摺動可
能に案内される摺動部47を有する架台である。48は
この架台を横方向に定速度で移動させるリニアーパルス
モータ−で、外箱IOに対して固定した固定部50及び
架台46に取付けた取付部51を有し、取付部51には
車輪52が設けである。53は光ファイバーを用いる透
過型のセンサーで、図/Tζしてない光源からの光を発
光部55から発してプリズム56によって全反射させて
ストッパ43に係止されたIC99のピン98の隣接方
向に光をlj4+射しかつこの光をプリズム57によっ
て全反射させ受光部58((よって受光し図示してない
光導電素子に導くようになっている。60は透過型のセ
ンナ−で、ストッパ43に1c99が係止されているか
どうかを判断するようになっており、発光部61及び受
光部62を有している。このセンサーによりIC99が
ストッパ43に係止された状態を検出すると信号全光し
、この信号によりコンピュータが信号を送り架台46が
一方側から他方側へ移動しピン98によって光が遮き゛
られる状態が検出され信号としてコンピュータに入力さ
れ、この検出状態からピン98の対同方向の曲が9を判
断できるものである。架台46は交互に逆方向に移動し
て検出した信号を発するようになっており、その両端の
位置は1対の反射型のセンサー63によってそれぞれ検
出して停止させるようになっている。ピン98に曲がり
がない場合横軸を時間とすると第9図(a)に示すよう
な信号が得られ、かつ曲がりがある場合には(b)に示
すような信号が得られる。しだがって最小のtlで示す
時間と最大の12で示す砂で表わした時間間隔に例えば
速度が0.4m/sであればこれを乗じて幅が−まる。
この結果と前述したビ/98の隣接方向の状態の判断結
果よりピン98の状態が許容すべきものであるか、矯正
できるものであるか、あるいは廃棄すべきものかを決定
するようになっている。ストッパ43は架台46が移動
してピン98の曲がり状態の検出を行った後釈放状態に
なり、T、C99は案内部材20に沿って滑りながら外
角10の外へ出て図示してない処理装置へ供給される。
果よりピン98の状態が許容すべきものであるか、矯正
できるものであるか、あるいは廃棄すべきものかを決定
するようになっている。ストッパ43は架台46が移動
してピン98の曲がり状態の検出を行った後釈放状態に
なり、T、C99は案内部材20に沿って滑りながら外
角10の外へ出て図示してない処理装置へ供給される。
この処理装置はコンピュータの指示によってピン98の
曲がりが許容範囲のものと、曲がりを矯正して使用でき
るようにするものと、ピン98の欠格又は所定以上の曲
がりのため廃棄するものに区別して処理する公知の装置
を用いるようになっている。65はストッパ43から釈
放されて下降し外箱】Oの外部へ出ようとするI C!
+ 9を心安に応じて釈放可能に係止するストッパであ
る。このストッパ65は通常は動作しないが、例えば外
小10から出たI C99を処理する処理装置の都合等
によってIC99が外部へ送出されないようにする必要
のあることをコンピュータか刊1!J+ シた場合係止
状態にするようになっている。
曲がりが許容範囲のものと、曲がりを矯正して使用でき
るようにするものと、ピン98の欠格又は所定以上の曲
がりのため廃棄するものに区別して処理する公知の装置
を用いるようになっている。65はストッパ43から釈
放されて下降し外箱】Oの外部へ出ようとするI C!
+ 9を心安に応じて釈放可能に係止するストッパであ
る。このストッパ65は通常は動作しないが、例えば外
小10から出たI C99を処理する処理装置の都合等
によってIC99が外部へ送出されないようにする必要
のあることをコンピュータか刊1!J+ シた場合係止
状態にするようになっている。
66はこのストッパ65にIC99が係止されているの
を検出する透過型のセンサーである。
を検出する透過型のセンサーである。
外箱10の傾斜した★13を含゛まない上面12には次
のようなスイッチや表示灯が設けである。
のようなスイッチや表示灯が設けである。
すなわち、70は電源スィッチ、71は押すと点灯して
動作を開始させる実hスイッチ、72は停止スイッチ、
73.74は次に吹く処理装置が動作できるかどうかを
それぞれオンとオフのいずれかで灰示する1対の表示幻
、75.76は押すと点灯して自動又は手動を選択する
1対のスイッチ、77は押すと点灯して手動の場合1個
の1c99のみを1ステツプずつ動かす選択を行うスイ
ッチ、78は押すと点灯して1個のIC99のみを全部
のステップ動作させる選択を行うスイッチである。
動作を開始させる実hスイッチ、72は停止スイッチ、
73.74は次に吹く処理装置が動作できるかどうかを
それぞれオンとオフのいずれかで灰示する1対の表示幻
、75.76は押すと点灯して自動又は手動を選択する
1対のスイッチ、77は押すと点灯して手動の場合1個
の1c99のみを1ステツプずつ動かす選択を行うスイ
ッチ、78は押すと点灯して1個のIC99のみを全部
のステップ動作させる選択を行うスイッチである。
79.80.81は検出結果によシIC99のピン98
がそれぞれ良好な状態あるいは矯正可能な曲がりを有す
る状態又はピン98が欠落したυ矯正不可能な曲がりを
有する状態を瞬間的に点灯して表示する表示灯である。
がそれぞれ良好な状態あるいは矯正可能な曲がりを有す
る状態又はピン98が欠落したυ矯正不可能な曲がりを
有する状態を瞬間的に点灯して表示する表示灯である。
コンピュータではスイッチ75を押して自動を選択しか
つ失11)、イノJ71を押した後前記人事灯79,8
0.81がI?、1灯するごとにその回数を加算して所
定の71−リに記憶するようになっている。この記憶内
各はリセットスイッチ82を押すとゼロとなる。8:3
は押すごとに1,2.3を変更TiJ能に人事するカラ
/ター選択スイッチで、1,2.3が人事される場合カ
ウンター84にコンピュータに記憶されたそれぞれIC
99の良好な場合の回数、矯正(1■能な場合の回数、
ピン98の矯正不可能や欠落)の廃棄すべきものの回数
を表示するようになっている。
つ失11)、イノJ71を押した後前記人事灯79,8
0.81がI?、1灯するごとにその回数を加算して所
定の71−リに記憶するようになっている。この記憶内
各はリセットスイッチ82を押すとゼロとなる。8:3
は押すごとに1,2.3を変更TiJ能に人事するカラ
/ター選択スイッチで、1,2.3が人事される場合カ
ウンター84にコンピュータに記憶されたそれぞれIC
99の良好な場合の回数、矯正(1■能な場合の回数、
ピン98の矯正不可能や欠落)の廃棄すべきものの回数
を表示するようになっている。
85は1. C99が出口付近でつかえたような場合点
灯して表示する撥報灯で、IC99がつかえる原因を除
去した後押すと最初の状、態に4帰させるようになって
いる。蓋13を開くと、検出するIC99のピン98の
数を設定するビン数設定部86.1時間に処理する1、
C99の個数をI Ofl 0個単位で2桁のデジタ
ルスイッチにより設51..する速度設定部87.IC
99のk kして屈んでいるピ/98の間隔を2.54
mmあるいは1.27 n1mのいずれかに選択する間
隔選択部88.@接して並んでいるピン98の隣接間隔
の矯正可能な範囲を例えば標準間隔の80チ等にデジタ
ルスイッチで設定する隣接間隔矯正範囲設定部89.ピ
ン98の対向して配置する方向の対向間隔の矯正できる
最大値と最小値をそれぞれ設定する対同間隔設定部90
.91が設けである。これらの設定部で設定値を変更し
た場合は電源スィッチ70がオンの状態で設定スイッチ
92を押すことによりコンピュータに記憶されて以後は
操作を行う必要がないものである。又、矯正の不要なピ
ン98の瞬接間隔誤差範囲と対向間隔誤差範囲はコンピ
ュータに定数として記憶させである。
灯して表示する撥報灯で、IC99がつかえる原因を除
去した後押すと最初の状、態に4帰させるようになって
いる。蓋13を開くと、検出するIC99のピン98の
数を設定するビン数設定部86.1時間に処理する1、
C99の個数をI Ofl 0個単位で2桁のデジタ
ルスイッチにより設51..する速度設定部87.IC
99のk kして屈んでいるピ/98の間隔を2.54
mmあるいは1.27 n1mのいずれかに選択する間
隔選択部88.@接して並んでいるピン98の隣接間隔
の矯正可能な範囲を例えば標準間隔の80チ等にデジタ
ルスイッチで設定する隣接間隔矯正範囲設定部89.ピ
ン98の対向して配置する方向の対向間隔の矯正できる
最大値と最小値をそれぞれ設定する対同間隔設定部90
.91が設けである。これらの設定部で設定値を変更し
た場合は電源スィッチ70がオンの状態で設定スイッチ
92を押すことによりコンピュータに記憶されて以後は
操作を行う必要がないものである。又、矯正の不要なピ
ン98の瞬接間隔誤差範囲と対向間隔誤差範囲はコンピ
ュータに定数として記憶させである。
この発明においては棟々の変更を行うことができる。例
えば反射型のセンサー32.33を設けることなくその
代わりにIC99の本体97の通過を検出する透過型の
1個又は2個のセンサーを設け、本体97の通過時間よ
り速度をめる等により基準となる値を算出してこれとセ
ンサー35.36による測定値を比較し食肉をv41断
するようにしてもよい。又、センサー35 、36は透
過ノー1才であるためピン98が曲がっていても容易に
検出できるが、反射型のセンサーに変更することもLI
J能である。さらに又、ピ/98の対向方向の曲がりの
検出は行わないようにする場合もある。
えば反射型のセンサー32.33を設けることなくその
代わりにIC99の本体97の通過を検出する透過型の
1個又は2個のセンサーを設け、本体97の通過時間よ
り速度をめる等により基準となる値を算出してこれとセ
ンサー35.36による測定値を比較し食肉をv41断
するようにしてもよい。又、センサー35 、36は透
過ノー1才であるためピン98が曲がっていても容易に
検出できるが、反射型のセンサーに変更することもLI
J能である。さらに又、ピ/98の対向方向の曲がりの
検出は行わないようにする場合もある。
この発明は前述したように案内部4420 J:をまた
ぐ状態で下降するIC99の本体97が通過する所定位
置に向かって光を照射して基準のイ、シシ−を得ると共
に1. C99のピン98の先端付近が通過する所定位
置に向かって光を照射してピン98の状態の信号を得て
これらの信号に基づいてピア98の隣接方向の曲がり及
び欠落の状態をi4J断するから、極めて高速度で多量
のIC99のピン98の曲がりや欠落の状態を正確に検
出できるという効果を有している。
ぐ状態で下降するIC99の本体97が通過する所定位
置に向かって光を照射して基準のイ、シシ−を得ると共
に1. C99のピン98の先端付近が通過する所定位
置に向かって光を照射してピン98の状態の信号を得て
これらの信号に基づいてピア98の隣接方向の曲がり及
び欠落の状態をi4J断するから、極めて高速度で多量
のIC99のピン98の曲がりや欠落の状態を正確に検
出できるという効果を有している。
第1図はこの発明を実施する装置の一部を切欠いて概略
を示す側面図、第2図はその一部を切欠いて概略を示す
平面図、第3図はストッパやヒノ11−の配置を示す要
部の平面図、第4図はその側面図、第5図に第3図にお
けるA−A線方向断面図、第6図はICのビ/が間接す
る方向の曲がり青を検出する状態を示す平面図、第7図
はこの場合の検出信号を示す説明図、第8図はICのビ
ンの対向する方向の曲がりを検出する状態を示す側聞図
、第9図はこの場合の検出信号を示す説明図第10図は
L) I P型1. Cの一部を切欠いて示す正面図、
第11図はその側面図である。 lOは外箱、20は案内部材、22,25゜43、65
はストッパ、32.33は基準信号用センサー、35.
36は隣接方向の曲がり及び欠落検出用センサー、46
は架台、48はリニアーパルスモータ−153は対向方
向の曲がり検出用セッサー 代理人 井理十 勝 部 明 長 第5図 第 6 図 第7図 第 8 図
を示す側面図、第2図はその一部を切欠いて概略を示す
平面図、第3図はストッパやヒノ11−の配置を示す要
部の平面図、第4図はその側面図、第5図に第3図にお
けるA−A線方向断面図、第6図はICのビ/が間接す
る方向の曲がり青を検出する状態を示す平面図、第7図
はこの場合の検出信号を示す説明図、第8図はICのビ
ンの対向する方向の曲がりを検出する状態を示す側聞図
、第9図はこの場合の検出信号を示す説明図第10図は
L) I P型1. Cの一部を切欠いて示す正面図、
第11図はその側面図である。 lOは外箱、20は案内部材、22,25゜43、65
はストッパ、32.33は基準信号用センサー、35.
36は隣接方向の曲がり及び欠落検出用センサー、46
は架台、48はリニアーパルスモータ−153は対向方
向の曲がり検出用セッサー 代理人 井理十 勝 部 明 長 第5図 第 6 図 第7図 第 8 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 i) I I)型ICのピンの隣接方向の曲がり
及び欠落の状態を検出する方法であって、1個ずつのI
Cに1頃斜して配置する案内部材上をまたぐ状態で下降
させる段階と、この下降するIcの少くとも本体が通過
する所定位置に向かって光を照射して基準となる部分の
通過状態を検出した基準の信号を得る段階と、前記下降
するICの両側でそれぞれピンの先端付近が通過する所
定位置に向かって光を照射してピンの先端付近の通過状
態を検出したピンの状態の信号を得る段階と、それぞれ
の側での前記ピンの状態の信号及び前記基準の信号に基
づきピンの隣接方向の曲がり及び欠落の状態を判断する
段階とを包含することを特徴とするICのピンの状態検
出方法。 2、特許請求の範囲第1項記載の方法であって、前記基
準の信号として案内部材上を下降するICの両側からそ
れぞれI Cのピンの基部[1近が通〕1φする部分に
光を照射してピンの基部付近からの反射光を検出してそ
れぞれの1円の蓼隼の信易を得るようになっており、か
つ前記ピンの隣接方向の曲がりの状態を判断するにはそ
れぞれの側の基準の信号とピンの状態の信号に基づいて
行うことを特徴とするICのピンの状態検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59084140A JPS60229355A (ja) | 1984-04-27 | 1984-04-27 | Icのピンの状態検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59084140A JPS60229355A (ja) | 1984-04-27 | 1984-04-27 | Icのピンの状態検出方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59069112A Division JPS60213041A (ja) | 1984-04-09 | 1984-04-09 | Icのピンの状態検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60229355A true JPS60229355A (ja) | 1985-11-14 |
Family
ID=13822186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59084140A Pending JPS60229355A (ja) | 1984-04-27 | 1984-04-27 | Icのピンの状態検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60229355A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5663275A (en) * | 1979-10-30 | 1981-05-29 | Nec Kyushu Ltd | Lead testing device for semiconductor device |
| JPS5870110A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-04-26 | マイクロコンポ−ネント テクノロジ− インコ−ポレ−テツド | リ−ド整列状態検査装置 |
-
1984
- 1984-04-27 JP JP59084140A patent/JPS60229355A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5663275A (en) * | 1979-10-30 | 1981-05-29 | Nec Kyushu Ltd | Lead testing device for semiconductor device |
| JPS5870110A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-04-26 | マイクロコンポ−ネント テクノロジ− インコ−ポレ−テツド | リ−ド整列状態検査装置 |
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