JPS60240147A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS60240147A JPS60240147A JP59096016A JP9601684A JPS60240147A JP S60240147 A JPS60240147 A JP S60240147A JP 59096016 A JP59096016 A JP 59096016A JP 9601684 A JP9601684 A JP 9601684A JP S60240147 A JPS60240147 A JP S60240147A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- glass
- metal
- plating
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
- H10W74/111—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition the semiconductor body being completely enclosed
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体整流ペレットの両端電極面に金属端子
を接続し、ガラス被覆材料で被覆してなる半導体装置に
関する。
を接続し、ガラス被覆材料で被覆してなる半導体装置に
関する。
(従来技術)
従来のガラス被覆型の高電圧半導体装置、例えば整流器
は、第1図fa)に示す様に、PN接合を有ド電極面と
アノード電極面にそれぞれ接続された金属端子2および
2′と、これを共に被覆したガラス被蝋材料3と外部リ
ード4及び4′すらびにリードの保護膜としてNiメッ
キ又はanメッキ、の5及び5′とからできている。
は、第1図fa)に示す様に、PN接合を有ド電極面と
アノード電極面にそれぞれ接続された金属端子2および
2′と、これを共に被覆したガラス被蝋材料3と外部リ
ード4及び4′すらびにリードの保護膜としてNiメッ
キ又はanメッキ、の5及び5′とからできている。
しかしながら、従来の半導体装置では、リードの保護膜
としてNi又は、an 5 t 5’をメッキする際、
ガラス被覆材も、酸によシ同時にエツチングされる為、
第1図(a)の拡大図fb)K示すように、ガラス3と
メッキ5,5′との接触部6が、他の部分に比ベメッキ
厚は、薄くなってしまう。その為、信頼度試験たとえば
、高温・高湿試験等を行なうと、ガラス3とメッキ5,
5′との接触部6より水分等が浸透しゃすくなシ、金属
端子2及び1ルート4が、緑青し、長時間後には、金属
端子2とリード4の浴接部7よりリード線4が取れると
いう欠点があった。特に、海岸近くで半導体整流装置を
使用した場合にはこのような欠点が顕著でおる。
としてNi又は、an 5 t 5’をメッキする際、
ガラス被覆材も、酸によシ同時にエツチングされる為、
第1図(a)の拡大図fb)K示すように、ガラス3と
メッキ5,5′との接触部6が、他の部分に比ベメッキ
厚は、薄くなってしまう。その為、信頼度試験たとえば
、高温・高湿試験等を行なうと、ガラス3とメッキ5,
5′との接触部6より水分等が浸透しゃすくなシ、金属
端子2及び1ルート4が、緑青し、長時間後には、金属
端子2とリード4の浴接部7よりリード線4が取れると
いう欠点があった。特に、海岸近くで半導体整流装置を
使用した場合にはこのような欠点が顕著でおる。
(発明の解決しようとする問題点)
従って、本発明の目的は、上述のガラス被柵材 □とメ
ッキとの接触部からの水分等の浸透を防止し、リード線
のはずれをなくシ、信頼性を大幅に向上した半導体装置
を提供することにある。
ッキとの接触部からの水分等の浸透を防止し、リード線
のはずれをなくシ、信頼性を大幅に向上した半導体装置
を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明の半導体装置は、半導体ベレットの両端電極面に
金属端子を接続し、ガラス被覆してなるものであシ、か
つ、この金属端子のガラス被覆の端部近傍に溝をもうけ
てなる構成を有する。
金属端子を接続し、ガラス被覆してなるものであシ、か
つ、この金属端子のガラス被覆の端部近傍に溝をもうけ
てなる構成を有する。
(実施例)
つぎに、本発明を実施例によシ説明する。
第2図fa)は、本発明の一実施例の断面図であシ、同
図(b)は、その拡大図である。PN接合を有するメサ
型の半導体整流ベレッ)1のカソード電極面およびアノ
ード電極面にそれぞれ接続された金属端子8aおよび8
bには拡大図である第2図(b)に示すように、複数の
溝9がもうけられているため、溝9のメッキ厚により、
ガラス被覆材3が多少エツチングされても外部からの水
分等の浸透はきわめて少ない。たとえ、水分等が浸透し
た場合でも、溝9の凸部が水分等のストッパーとなシ、
金属端子8aとリード4の溶接部7の緑青は防止できる
。
図(b)は、その拡大図である。PN接合を有するメサ
型の半導体整流ベレッ)1のカソード電極面およびアノ
ード電極面にそれぞれ接続された金属端子8aおよび8
bには拡大図である第2図(b)に示すように、複数の
溝9がもうけられているため、溝9のメッキ厚により、
ガラス被覆材3が多少エツチングされても外部からの水
分等の浸透はきわめて少ない。たとえ、水分等が浸透し
た場合でも、溝9の凸部が水分等のストッパーとなシ、
金属端子8aとリード4の溶接部7の緑青は防止できる
。
このため従来から問題になっているリード折れ等は無く
なる。
なる。
このように、本発明の半導体装置は、金属端子に、はぼ
均一に金属保護膜が、メッキされる効果と、金属端子の
溝によるストッパー効果とにより、外部からの水分や塩
分等の浸透はI丘とんどなくなるため、長胡使用状態に
おいても、リードの引張強度及び折曲げる強度の低下も
なく信頼性の高い半導体装置が得られる。
均一に金属保護膜が、メッキされる効果と、金属端子の
溝によるストッパー効果とにより、外部からの水分や塩
分等の浸透はI丘とんどなくなるため、長胡使用状態に
おいても、リードの引張強度及び折曲げる強度の低下も
なく信頼性の高い半導体装置が得られる。
第1図(a)は、従来の高圧整流器の一例を示す断面図
、同図(b)は同図(a)の拡大図、第2図(a)は、
本発明の一実施例を示す断面図、同図(b)は、その拡
大図でおる。 1・・・・・・半導体整流ペレット、12’、8alb
・・・・・・金属端子、3・・・・・・被覆ガラス、4
,4′・・・・・・外部リード、5.5′・・・・・・
金属保護膜、6,6′・・・・・・金属保護膜とガラス
の接触部、7・・・・・・リード溶接部、9・・・・・
・金属端子溝。
、同図(b)は同図(a)の拡大図、第2図(a)は、
本発明の一実施例を示す断面図、同図(b)は、その拡
大図でおる。 1・・・・・・半導体整流ペレット、12’、8alb
・・・・・・金属端子、3・・・・・・被覆ガラス、4
,4′・・・・・・外部リード、5.5′・・・・・・
金属保護膜、6,6′・・・・・・金属保護膜とガラス
の接触部、7・・・・・・リード溶接部、9・・・・・
・金属端子溝。
Claims (1)
- 半導体ペレットの両端電極面に金属端子を接続し、ガラ
ス被覆した半導体装置において、前記金属端子の前記電
極面側の先端に溝をもうけたことを特徴とする半導体装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59096016A JPS60240147A (ja) | 1984-05-14 | 1984-05-14 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59096016A JPS60240147A (ja) | 1984-05-14 | 1984-05-14 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60240147A true JPS60240147A (ja) | 1985-11-29 |
Family
ID=14153439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59096016A Pending JPS60240147A (ja) | 1984-05-14 | 1984-05-14 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60240147A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105006491A (zh) * | 2015-08-07 | 2015-10-28 | 南通明芯微电子有限公司 | 一种点接触型整流二极管 |
| CN105023955A (zh) * | 2015-08-07 | 2015-11-04 | 南通明芯微电子有限公司 | 一种平面型整流二极管 |
| CN105023954A (zh) * | 2015-08-07 | 2015-11-04 | 南通明芯微电子有限公司 | 一种面接触型整流二极管 |
-
1984
- 1984-05-14 JP JP59096016A patent/JPS60240147A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105006491A (zh) * | 2015-08-07 | 2015-10-28 | 南通明芯微电子有限公司 | 一种点接触型整流二极管 |
| CN105023955A (zh) * | 2015-08-07 | 2015-11-04 | 南通明芯微电子有限公司 | 一种平面型整流二极管 |
| CN105023954A (zh) * | 2015-08-07 | 2015-11-04 | 南通明芯微电子有限公司 | 一种面接触型整流二极管 |
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