JPS6010760A - ダイオ−ド電極部品 - Google Patents
ダイオ−ド電極部品Info
- Publication number
- JPS6010760A JPS6010760A JP58119403A JP11940383A JPS6010760A JP S6010760 A JPS6010760 A JP S6010760A JP 58119403 A JP58119403 A JP 58119403A JP 11940383 A JP11940383 A JP 11940383A JP S6010760 A JPS6010760 A JP S6010760A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diode
- electrode
- glass
- diameter part
- small diameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/20—Conductive package substrates serving as an interconnection, e.g. metal plates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W76/00—Containers; Fillings or auxiliary members therefor; Seals
- H10W76/10—Containers or parts thereof
- H10W76/17—Containers or parts thereof characterised by their materials
- H10W76/18—Insulating materials, e.g. resins, glasses or ceramics
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はDHD (double heat 5ink
diode)型封止ダイオード電極に関する。特に、
リード線を一定長に切断後、小径部と大径部を有する電
極を釘打ち加工または成形加工によって組合せて得られ
るリート9レスダイオード8電極において1.J\径部
と大径部との釘打ち加工または成形加工の際に該小径部
を傾斜状に加工成形しガラス封止後のガラスラックを防
止したダイオード電極部品に関するものである。
diode)型封止ダイオード電極に関する。特に、
リード線を一定長に切断後、小径部と大径部を有する電
極を釘打ち加工または成形加工によって組合せて得られ
るリート9レスダイオード8電極において1.J\径部
と大径部との釘打ち加工または成形加工の際に該小径部
を傾斜状に加工成形しガラス封止後のガラスラックを防
止したダイオード電極部品に関するものである。
従来市販されているダイオード電極の殆んどは、第1図
に示すように両端部にリード線1を具備した電極2間に
半導体素子6を装着し、電極2の周囲を封止ガラス4に
て封止したDHD型ガ型ガラス封止ダイオード極電極る
。この種の電極を有する該ダイオードをプリント基板等
に装着する際には、プリント基板の装着孔に細長いリー
ト9線1を挿入して用いる。
に示すように両端部にリード線1を具備した電極2間に
半導体素子6を装着し、電極2の周囲を封止ガラス4に
て封止したDHD型ガ型ガラス封止ダイオード極電極る
。この種の電極を有する該ダイオードをプリント基板等
に装着する際には、プリント基板の装着孔に細長いリー
ト9線1を挿入して用いる。
また、プリント基板への該ダイオードの装着を容易にし
た第2図に示すようなり一ド線を有しないDHD型ガラ
ス封止り一ト8レスダイオードも考案され、その需要が
次第に急増しつつある。このようなリートゝレスダイオ
ード9の電極2には第3図に示すようなジュメット線が
使用される。第3図はジュメット線の拡大断面図を示す
。ジュメット線は心線5(例えば、Fe −Ni線)に
銅層6を被覆しこの表面に亜酸化銅(Cu 20 )層
7を施こして成る。
た第2図に示すようなり一ド線を有しないDHD型ガラ
ス封止り一ト8レスダイオードも考案され、その需要が
次第に急増しつつある。このようなリートゝレスダイオ
ード9の電極2には第3図に示すようなジュメット線が
使用される。第3図はジュメット線の拡大断面図を示す
。ジュメット線は心線5(例えば、Fe −Ni線)に
銅層6を被覆しこの表面に亜酸化銅(Cu 20 )層
7を施こして成る。
すなわち、リードレスダイオードゝの電極2には該ジュ
メット線を一定長に切断し、釘打ち加工を施こして第4
図に示すような小径部8と大径部9とからなる電極2を
使゛用している。
メット線を一定長に切断し、釘打ち加工を施こして第4
図に示すような小径部8と大径部9とからなる電極2を
使゛用している。
この電極2間の中央部に第2図に示すようにシリコン等
の半導体素子3を装着し、電極2の周囲を封止ガラス4
で封止することによって該ダイオードを得ている。
の半導体素子3を装着し、電極2の周囲を封止ガラス4
で封止することによって該ダイオードを得ている。
しかしながら、この方式のガラス封止では、大径部9の
内側面と封止ガラス4の端面が第2図にAで示すように
直接接着し、釘打ち時の変形の際に銅被覆層6と心線5
の割合が小径部8の割合より小さくなったりするため、
ガラスとの膨張係数に差が発生したり、心線5のFe−
Ni合金が強加工により膨張係数が小さくなったりする
ため、ガラス封止後特に半田付時にガラスクラックが発
生することが多く、これがリーク不良の原因となり、ダ
イオードの信頼性を大きく低下させる欠点がある。
内側面と封止ガラス4の端面が第2図にAで示すように
直接接着し、釘打ち時の変形の際に銅被覆層6と心線5
の割合が小径部8の割合より小さくなったりするため、
ガラスとの膨張係数に差が発生したり、心線5のFe−
Ni合金が強加工により膨張係数が小さくなったりする
ため、ガラス封止後特に半田付時にガラスクラックが発
生することが多く、これがリーク不良の原因となり、ダ
イオードの信頼性を大きく低下させる欠点がある。
本発明はこの点を改良するもので、封止ガラス端面が全
面変形加工を受けた大径部に直接接触することを防止し
、膨張係数の差により発生するガラスクラックを防止す
ることができるダイオードゝ電極部品を提供することを
目的とする。
面変形加工を受けた大径部に直接接触することを防止し
、膨張係数の差により発生するガラスクラックを防止す
ることができるダイオードゝ電極部品を提供することを
目的とする。
本発明は、大径部と小径部とを有するリート8レスダイ
オードゝ電極において該小径部を傾斜部を形成したこと
を特徴とする。
オードゝ電極において該小径部を傾斜部を形成したこと
を特徴とする。
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第5図は本発明一実施例電極の拡大斜視図を示す。
第6図は第5図の電極を用いてダイオードを組立たとき
の要部断面図を示す。第6図は本発明の要部を明確にす
るため要部が誇張して描かれている。
の要部断面図を示す。第6図は本発明の要部を明確にす
るため要部が誇張して描かれている。
すなわち、釘打ち用ジュメット線として0.5〜1.5
mmφの素線な2〜3罷長さに切断したのち、釘打ち加
工において小径部8の周囲に本発明の特徴とする傾斜部
11を形成し第5図に示す電極13を得る。この電極1
3に封止ガラス4を挿入 ]し、次に半導体素子6およ
び他方の電極13′を上部より乗せ圧力を加えながら温
度が約640℃のバッチ炉あるいは連続炉を通してダイ
オ−1−9を形成する。
mmφの素線な2〜3罷長さに切断したのち、釘打ち加
工において小径部8の周囲に本発明の特徴とする傾斜部
11を形成し第5図に示す電極13を得る。この電極1
3に封止ガラス4を挿入 ]し、次に半導体素子6およ
び他方の電極13′を上部より乗せ圧力を加えながら温
度が約640℃のバッチ炉あるいは連続炉を通してダイ
オ−1−9を形成する。
ここで、傾斜部11の始端径d2.終端径d1および封
止ガラス4の内径D(第7図に示す。)の間は dlく
D<d2の関係を有するように形成される為、本電極1
3を用いれば大径部9の内側面と封止ガラス4の端面が
直接接触することはなくガラスクラックの発生が防止さ
れる。特に、傾斜部11の始端径d2 と終端径d□
との関係はd 1 < 、Od 2とすると加工時の変
形が大きくなり表面の亜酸化銅層7が脱落することがあ
りダイオードの信頼性が低下する。また、本発明による
電極16を用いてダイオード8を組立てた場合には従来
の電極を用いて、ダイオードゝを組立てた場合に0.1
〜10%の割合で発生していたガラスクラックがまった
く認められない。
止ガラス4の内径D(第7図に示す。)の間は dlく
D<d2の関係を有するように形成される為、本電極1
3を用いれば大径部9の内側面と封止ガラス4の端面が
直接接触することはなくガラスクラックの発生が防止さ
れる。特に、傾斜部11の始端径d2 と終端径d□
との関係はd 1 < 、Od 2とすると加工時の変
形が大きくなり表面の亜酸化銅層7が脱落することがあ
りダイオードの信頼性が低下する。また、本発明による
電極16を用いてダイオード8を組立てた場合には従来
の電極を用いて、ダイオードゝを組立てた場合に0.1
〜10%の割合で発生していたガラスクラックがまった
く認められない。
以上説明したように本発明によれば、電極の小径部周囲
に傾斜部を形成することとしたので、ガラスクラックの
発生を防止することができる。また、プリント基板等へ
の装着も従来電極と同様に容易に行うことができる等の
効果を有する。
に傾斜部を形成することとしたので、ガラスクラックの
発生を防止することができる。また、プリント基板等へ
の装着も従来電極と同様に容易に行うことができる等の
効果を有する。
第1図は従来のリード線付きDHD型ダイオード9の断
面図。 第2図は従来のり一トゝレスDHD型ダイオード8の断
面図。 第3図はジュメット線の拡大断面図。 第4図は第2図に示したダイオード9の電極の拡大斜視
図。 第5図は本発明一実施例電極の拡大斜視図。 第6図は第5図の電極を用いたダイオードの断面図。 第7図は封止ガラスの断面図。 2・・・電極、6・・・半導体素子、4・・・封止ガラ
ス、8・・・小径部、9・・・大径部、11・・・傾斜
部。 (外4名) 第1図 第3図 第5図 1.5 第2図 第4図 第6図 第7図
面図。 第2図は従来のり一トゝレスDHD型ダイオード8の断
面図。 第3図はジュメット線の拡大断面図。 第4図は第2図に示したダイオード9の電極の拡大斜視
図。 第5図は本発明一実施例電極の拡大斜視図。 第6図は第5図の電極を用いたダイオードの断面図。 第7図は封止ガラスの断面図。 2・・・電極、6・・・半導体素子、4・・・封止ガラ
ス、8・・・小径部、9・・・大径部、11・・・傾斜
部。 (外4名) 第1図 第3図 第5図 1.5 第2図 第4図 第6図 第7図
Claims (2)
- (1)小径部と大径部を有する電極を釘打ち加工または
成形加工によって組合せて得られるリート8レスダイオ
ード電極において、 上記小径部の周囲に傾斜部が形成されたことを特徴とす
るダイオード電極部品。 - (2)上記傾斜部の始端径d2と終端径d1とがd□〉
1il)d2 である特許請求の範囲第(1)項に記載のダイオード電
極部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58119403A JPS6010760A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | ダイオ−ド電極部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58119403A JPS6010760A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | ダイオ−ド電極部品 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6010760A true JPS6010760A (ja) | 1985-01-19 |
| JPS6347341B2 JPS6347341B2 (ja) | 1988-09-21 |
Family
ID=14760618
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58119403A Granted JPS6010760A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | ダイオ−ド電極部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6010760A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56120150A (en) * | 1980-02-26 | 1981-09-21 | Sony Corp | Semiconductor element |
-
1983
- 1983-06-30 JP JP58119403A patent/JPS6010760A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56120150A (en) * | 1980-02-26 | 1981-09-21 | Sony Corp | Semiconductor element |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6347341B2 (ja) | 1988-09-21 |
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