JPS60247751A - 論理回路の構成方式 - Google Patents

論理回路の構成方式

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Publication number
JPS60247751A
JPS60247751A JP59105237A JP10523784A JPS60247751A JP S60247751 A JPS60247751 A JP S60247751A JP 59105237 A JP59105237 A JP 59105237A JP 10523784 A JP10523784 A JP 10523784A JP S60247751 A JPS60247751 A JP S60247751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scan
logic circuit
data
data processing
scan chain
Prior art date
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Pending
Application number
JP59105237A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuji Ito
修二 伊藤
Shohei Ikehara
池原 昌平
Tsutomu Hirasawa
平沢 務
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP59105237A priority Critical patent/JPS60247751A/ja
Publication of JPS60247751A publication Critical patent/JPS60247751A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は論理回路を構成するフリ、ブフロ、プ回路にお
けるデータをシフト手段により移動して入出力する故障
診断機能を備えた論理回路の構成方式に関する。
(b) 技術の背景 近年半導体技術特に集積化技術の発展によシスパッケー
ジに多数の回路要素を搭載する高集積回路素子(LSI
’)が低コストで提供されるようになりた。従来よりデ
ータ処理のための論理回路はナンドおよびオア/ノア回
路のような組合せ回路と更に複数の組合せ回路によシ得
られるラッチ。
レジスタ、フリップフロップ回路(FF)のような順序
回路を相互に接続して構成される。データ処理装置例え
ば中央処理装置(CPU)における論理回路を組合せ回
路および順序回路の集大成によるが、このCPUを構成
するため当初集積度が大きくなかった従来は組合せ回路
または/および順序回路は同一種類を少数個または少数
個を組合せて得る基本機能を実現する小規模集積回路素
子(SSI)または中規模集積回路素子(MSI”1の
多数個を上位の中間実装ユニットの例えばプリント配線
板に搭載して集合する論理回路により上位機能を実現し
、更に中間実装ユニットを多数個連結して例えばスタッ
クユニットを構成してより上位の論理回路機能を実現し
ていた。集積度の向上に従い、従来の実装ユニットにお
けるプリント配線板ないしはスタックユニットレベルの
論理回路構成規模例えばマイクロプロセッサ(MPU)
のような大規模且複雑な論理回路も1パツケージの小形
、軽量の高集積回路素子(LSI”lが低コストで提供
されるようになシ、更にはマスタスライスLSI等に代
表されるように需要家の注文仕様に基く所望のLSIが
短時間で提供されるようになった。勿論これ等のLSI
もまた多数個を上位の実装ユニットに搭載接続して上位
機能例えば従来における装置レベルが実現出来るように
なつた。
(C)従来技術と問題点 上記のような集積度の向上は高度の論理機能を持つ回路
によって小形、軽量、高信頼度を低コストで提供するこ
とからデータ処理技術その他制用分野での発展を支える
ようになる一方でこれ等の高集積目多種のLSIあるい
は中間の実装ユニット更には装置等における試験につい
てより複雑困難なφ件をもたらし、その工数が莫大にの
ほりコストに占める割合が増大するようになった。複雑
な構成を有する論理回路の信頼性および保守向上のため
、エラーの検出、自動訂正および再試行の機能を織込む
一方、LS I/プリント板実装等の試験手法として論
理回路の診断々らびに故障位置の指摘を容易にするため
LSI内部のレジスタ。
FFなどパッケージの外部引出し端子(ピン)に接続さ
れていない部分の状態を読出す(スキャンアウト)、あ
るいは該部分に任意のデータを書込み(スキャンイン)
を行う手段が導入されている。
第1図に従来における論理回路の構成方式のブロック図
を示す。
図において1は論理回路、2はサービスプロセッサ(S
VP)、10は制御部、1la−dはフリップフロップ
回路(FF)、12はシフトレジスタ、13はクロック
発生器および14はデータ入出力制御回路である。シフ
ト方式によるスキャンイン/アウト制御は第1図に示す
ように5VP2による制御の下論理回路1のFF11a
〜dn個こ\では4個と任意段数m段によるシフト段数
こ\では4段のシフト段数を有するシフトレジスタ12
と直列環状に接続してm+nステップのこ\では計8ス
テップからなるスキャンチェーンを構成し制御部10は
データ入出力制御回路14を介し入力するスキャンイン
データをシフトレジスタ12に設定した後クロック発生
器13をしてシフトクロック4個を送出せしめてデータ
を早遅せしめシフトレジスタFFo〜FF3 のデータ
はFF11a−dに入力される(スキャンイン)。また
、スキャンアウトはデータ処理動作等においてFF11
a−dに得られたデータを同様に制御部10は早遅せし
めてシフトレジスタ12にシフトしデータ入出力制御回
路を介して読出す。このようにシフトレジスタ12に設
定されたスキャンインデータはスキャンチェーンの総ス
テツプ数n+mこ\では8ステツプのシフト動作によっ
て1巡し、スキャンチェーンを構成するFF11a−d
において反転を伴う誤動作がかければ、データ入出力制
御回路14よシ印加したスキャンインデータと同じくデ
ータ入出力回路14に得られるデータは一致する。従っ
て制御部10は図示省略したが両データの照合機能を備
えることによシその一致によシ論理回路の正常動作を診
断することが出来る。
データ処理動作におけるスキャンアウトデータを別途期
待値データと比較照合しても良い。
従来の論理回路における構成方式は設定されているので
スキャンチェーンの総ステツプam+nはLSI/プリ
ント板の種類によって異なるので制御部10における制
御プログラムによるスキャンイン/アウトの制御はm/
nの数に対応して変更を必要とする煩わしさを伴い同−
品種においても例えば設計変更等によってFFの数に増
減の変更があると対応して制御プログラムのソフトをそ
の都度変更しなければない問題点を有していた。
(d) 発明の目的 本発明の目的は上記の問題点を除去するため、LSIを
構成する論理回路OFFに予めデータ処理動作には使用
し々いがスキャンチェーンには接続しておくダミーOF
Fを任意の単数または複数p個を加えてn +p = 
k個のFFで論理回路を構成しておき、スキャンイン/
アウト制御はに個に対応して用意し論理回路の構成変更
は例えば(n+1 )+(p−1’)=にのよう形で実
施しスキャンイン/アウト制御におけるソフトウェアの
負担を軽くする論理回路の構成方法t−枡供しようとす
るものである。
(e) 発明の構成 この目的は、論理回路における複数のフリップフロップ
回路および任意段数mのシフトレジスタを直列環状に接
続してスキャンチェーンを構成し7、スキャンチェーン
にシフトクロックを印加してスキャンチェーンのデータ
をシフトせしめ該データの入出力を制御するスキャンイ
ン/アウト機能を備えた論理回路にあって、該論理回路
はシフトレジスタを介しスキャンチェーンにデータを入
出力制御する手段々らびにシフトクロックを送出するク
ロック発生手段を備えると共に、該論理回路のフリップ
フロップ回路(r:iデータ処理モードにおいて実動作
するフリップフロップ回路n個とデータ処理モードに関
与しないフリップフロップ回路9個を具備し、スキャン
チェーンの構成においてはp個のフリップフロップ回路
をダミーとして接続しスキャンイン/アウト動作モード
はm−1−n+pを総段数として実行することを特徴と
する論理回路の構成方式を提供することによって達成す
ることが出来る。
(f) 発明の実施例 以下図面を参照しつ\本発明の一実施例について説明す
る。
第2図は本発明の一実施例における論理回路の構成方式
のブロック図である。
図において1aは論理回路、2はサービスプロセッサ、
10aは制御部、11 a−d 、11 pはフリップ
フロップ回路(FF)、12はシフトレジスタ、13は
クロック発生回路および14はデータ入出力制御回路で
ある。図の構成部材で従来の第1図におけるそれと共通
の符号を有するものは従来の構成部材と共通の機能と特
性會有する。
論理回路1aは従来と比較して従来のデータ処理動作モ
ードで作動するIi’F11a−d即スキャンチェーン
OF Fであったのに対し本実雄側の構成ではデータ処
理動作モードに関与しないがスキャンチェーンOF F
として付加したダミーのFF11pを有するのとスキャ
ンイン/アウト動作において制御部10aが従来の制御
部10に対しFF11pが付加さねたためこれを加えて
従来における1巡8ステツプが1巡9ステ、ブとして制
御する点だけが異なる。即ち通常のデータ処理動作モー
ドにおいては図示省略したが複数の組合せ回路と共に別
途データ入力端子よシ印加されるデータを処理して他の
データ出力端子よシ出力し、FF11pはデータ処理動
作モードにおいて信号の入出力はない。
しかしスキャンイン/アウト動作モードにおいてuFF
llpはスキャンチェーンOFFとして作動するよう接
続されており、第2図の例では任意段数m段こ\では4
段、任意個数0FFn個こ\では4個と任意個数のダミ
ーFFp個こ\では1個によるm+n−1−’p段こ\
では4+4+1=9段のスキャンチェーンを構成してい
る。このような論理回路の構成を用いておけば例えば設
計変更の都合でFF1個をデータ処理動作モードとして
追加の必要が生じたときにも該FF11pを充当すれば
スキャンイン/アウト動作モードにおいてのスキャンチ
ェーンのシフト制御についてはm+n −1−p段こ\
では9段の構成に変I買スキャンチェーンのシフト制御
に関するソフトウェアについてはそのま\適用出来るの
で従来のようにFFの個数にその都度煩わされることは
なくなる。
(g) 発明の詳細 な説明したように本発明によれば、論理回路の構成にあ
たって予めデータ処理動作モードには使用しないダミー
のフリ、プフロップ回路(FF)を加えてスキャンチェ
ーンには接続しておきスキャンイン/アウト動作を制御
するようにしておけば、その後データ処理動作モードに
変更を生じて追加が必要になったときはダミーOFFを
引当てるようにすれば、従来FFを追加変更の都度ソフ
トウェアの対応が必要であったのに比較して遥かにソフ
トウェア改変負担を軽減する論理回路の構成方式を提供
することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来における論理回路の構成方式によるブロッ
ク図および第2図は本発明の一実施例における論理回路
の構成方式によるブロック図を示す。図において1,1
aは論理回路、2はサービスプロセッサ(SVP)、1
0.10aは制御部、11a〜d、pはフリップフロッ
プ回路(FF)、12はシフトレジスタ、13はクロ、
り発生回路および14けデータ入出力制御回路である。 菓 1 口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 論理回路における複数の7リツプフロ、ンプ回路および
    任意段数mのシフトレジスタ全直列環状に接続してスキ
    ャンチェーンを構成し、スキャンチェーンにシフトクロ
    ックを印加してスキャンチェーンのデータをシフトせし
    め該データの入出力を制御するスキャンイン/アウト機
    能を備えた論理回路にあって、該論理回路はシフトレジ
    スタを介しスキャンチェーンにデータを入出力制御する
    手段ならびにシフトクロックを送出するクロ、νり発生
    手段を備えると共に、該論理回路のフリップフロップ回
    路はデータ処理モードにおいて実動作するフリップフロ
    ップ回路n個とデータ処理モードに関与しないフリ、プ
    フロップ回路p個全具備しスキャンチェーンの構成にお
    いてはp個のフリップフロップ回路をダミーとして接続
    し、スキャンイン/アウト動作モードはm+n+p、を
    総段数として実行することを特徴とする論理回路の構成
    方式。
JP59105237A 1984-05-24 1984-05-24 論理回路の構成方式 Pending JPS60247751A (ja)

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JP59105237A JPS60247751A (ja) 1984-05-24 1984-05-24 論理回路の構成方式

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JP59105237A JPS60247751A (ja) 1984-05-24 1984-05-24 論理回路の構成方式

Publications (1)

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JPS60247751A true JPS60247751A (ja) 1985-12-07

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ID=14402038

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JP59105237A Pending JPS60247751A (ja) 1984-05-24 1984-05-24 論理回路の構成方式

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