JPS6027596A

JPS6027596A - 乱丁監視方法及び乱丁監視装置

Info

Publication number: JPS6027596A
Application number: JP13578783A
Authority: JP
Inventors: 石川　碩哉
Original assignee: Kita Denshi Corp
Current assignee: Kita Denshi Corp
Priority date: 1983-07-27
Filing date: 1983-07-27
Publication date: 1985-02-12
Also published as: JPH0578440B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、製本の過程で生ずる乱丁を監視する乱丁監視
方法及び乱丁監視装置に関するものである。

従来の乱丁監視装置は、折り丁の背中部分に背標等のマ
ークを印刷し、光センサーによりそのマークを検出し、
正常な折り丁かどうかの識別をするものであった。しか
し、この従来の装置では、折り丁に背標を印刷しなけれ
ばならず、また印刷物によっては背標の位置が違ってく
るため扱う印刷物によって背標検出器の据え付は位置を
調整しなければならなかった。

また刷Ｍ１はづべて改械ぐ折られるため、従来の手折り
の時に比べて、折りむらや折りズレ等を生じ、背標が折
り込まれて消えてしまうこともあり、その都度機械が誤
動作をしたり、停止したりした。

本発明の目的は前記の従来技術の欠点を解消して印刷物
の種類、背標の有無に関係なく乱丁を検出し排除するこ
とができる乱丁監視方法及び乱丁監視装置を提供Ｊるこ
とにある。

本発明の乱丁監視方法は、紙面に光を当て、その反射光
量の違いにより紙面が同種のものか異種のものかを判定
するものである。

本発明の乱丁監視装置は、まず標準折り丁の最下段の紙
面の信号をメモリーに記憶し、次に監視折り丁の最下段
の紙面の信号を別のメモリーに記憶して、両者を比較し
て紙面の異同を判別する。

本発明の乱丁監視方法は、紙面上の複数の点を測定点と
する。このため、本発明による乱丁監視装置のセンザル
部は、複数の光センサーを有している。

しかし、この比較を簡単に１三＋−［Ｅ＋’＝０（Ｅ＋　は１つの光センサーで測定された１Ｊｉｌ￥紙
面の信号、Ｅ＋’は監視紙面の信号を示で。）と行なっ
たのでは紙面のむら、測定の誤差、位１σのズレ等です
べて不良ど判定づる恐れがある。このためＥ＋　−Ｅ＋’＜±Ｍとし、Ｍに同一位置にａ′３りる反射光量測定に、１３
いて発生ずると思われる不良レベルを入れておき、これ
を越えた所で同一信号でないという判定を下づようにづ
る。

しかし、一点だけの汚れとか、小さい範囲の印刷むらな
どにＪ：って同一紙面でもミクロ的に見ると異なってい
ることが多い。このため、二つの紙ｍ１を測定して個々
の測定点を比較した場合、その位ｎによって−は同一信
号とならない点がいくつか光する。そのため、本発明に
おいては、おＨいの同一位置の比較をして不良点となっ
た点を集計し、全測定点の数に対する不良点の数の比を
予め設定しておき、不良点がこの比を越えたところで、
監視紙面は異種紙面であるという判定を下すのである。

以上説明した原理を図に示づ゛ど、第１図のようになる
。

縦軸は、紙面の反射光ｍを示覆。軸Δが真白の紙面のレ
ベルを示し、軸Ｂが真黒の紙面のレベルを示す。また、
（イ）〈口）（ハ）・・・（ト）は、測定位置すなわち
光センサーの位置を示している。従って、この例ではセ
ンサー部には７個の光センサーが設けられていることに
なる。

信号１００は標準紙面の信号を示し、信号１００ａは信
号１ｏｏに不良レベルＭを加えた信号であり、信号１０
０ｂは信号１００がら不良レベルＭを引いた信号である
。監視紙面を測定して、信号ＩＣｌ０ａと信号１００ｂ
の間に所定の数以上の測定点が入ればその測定紙面は、
同種の紙面であると判断される。

さて、監視紙面が同種の紙面であるにもがかわらず、イ
ンクの濃さが時間の経過とともに変化したり、あるい（
４紙面の材質の違い等により反射光量が違つ−Ｃきて異
種としてしまう場合がある。このＪ、うな判別ミスを避
けるために、Ｅ＋’　に修正レベルαを加算あるいは減
算してＥ＋　−（Ｅ＋　’　±ｃｚ）＜十Ｍとして比較を行い、反射光量の違いを修正して判定を下
づ°Ｊ：うにづる。

例えば、監視紙面のインクが濃い場合は監視紙面の信＠
１０１（第１図）は全体に軸Ｂに近づく。このままで信
号１０１を信号１００ど比較したのでは監視紙面は異種
と判定されるので、信＠１０１に修正レベルαを加えて
信号１０１′にして比較づるのである。

以下、第２図を参照して本発明の好適な実施例について
説明づる。

第２図に本発明ににる乱丁監視装置のブロックダイアグ
ラムを示す。

センサー部１（Ｊ、Ｔ自機の折り丁積台（以下、単に枠
）に固定されており、Ｔ台機の枠に積まれている折り丁
の一番下の紙面を監視する。例えば、枠がｎ個あれば、
センナ一部１もｎ個必要になる。Ｎ０１１・・・Ｎｏ、
ｎは枠の番号を示づ。センサー部１は複数の光センサー
により構成されている。従って、本発明の乱丁監視装置
は複数の点を測定点とする。センサー部１は光源ランプ
の光を紙面に反射させ、その反射光を光センサーにより
、アナログ電気量に変換されるように作られている。

レンザ一部１の出力は、増幅器２で増幅される。増幅器
２はノイズ等の混入を防止するために、インピーダンス
変換を行うバッファーアンプが望ましい。

増幅された信号は、マルチブレラ４ノ°−７９に送られ
る。マルチプレクサ−７９でアナログ信号は時分割され
て順々にＡＤコンバーター１３に送られる。ＡＤコンバ
ーター１３において、アナログ信号はデジタル信号に変
換される。

この動作により、アナログ信号はデジタル信号として、
メモリーコントローラー１４の指示に従って、記憶回路
７５へ測定点別に記憶される。

以下、枠が１つの場合について説明する。

枠が複数の場合も同様に考えることができる。

記憶回路７５は、その役割から大きく標準メモリー１５
と監視メモリー１６に分けることができる。標準メモリ
ー１５と監視メモリー１６は機能的に何ら差はない。メ
モリー１５には標準紙面の情報を記憶し、メモリー１６
には監視紙面の情報を記憶する。メモリー１５とメモリ
ー１６の動作は次の通りである。

メモリー１６の内容は、レベル不良検出器３１でメモリ
ー１５の内容と比較されて、所定の不良レベルＭ以上の
差があるものは不良点として検出される。すなわち、メ
モリー１５の標準紙面第１番目の測定点の情報〈以下Ｅ
＋　）がレベル不良検出器３１に導き出される。続いて
メモリー１６内の監視紙面の第１番目の測定点の情報（
以下Ｅ１′）がレベル不良検出器３１に導きだされる。

そして、レベル不良検出器３１で、Ｅ＋−（ＥＴ’±α）〈±Ｍの判定によりＥ＋’が不良点であるかどうかの判定をす
る。修正レベルαは修正レベル設定器９０で任意に設定
される。例えば標準紙面のインクの濃さに変化がないと
きは、レベルαをＯに設定する。不良レベルＭは不良レ
ベル設定器３２により任意に設定される。

Ｅ＋’が不良信号である場合は、レベル不良検出器３１
から不良率検出器５１へ１個のバ　・ルスが送り出され
る。不良率検出器５１ではそのパルス数をカウントする
。次に、標準紙面の第２番目の測定点の情報（Ｅ２）と
監視紙面の第２番目の測定点の情報（Ｅ　２’　）が同
じように比較されて、Ｅ２’が不良信号かどうか判別さ
れる。この動作を全ての測定点について行なう。

このようにして全測定点について比較し終わったときに
、不良率検出器５１には不良信号の数が記憶されている
。折り丁が不良であるかどうかの判定は不良信号の数が
全測定点の数に対してどのくらいの割合であるかによっ
て判別される。

不良率設定器４２によって、不良信号の全測定点の数に
対する割合を設定する。例えば、不良率設定器４２を２
０％に設定した場合、全測定点を１０点とすれば２点が
不良信号の数の限界となる。この２点の情報が不良率設
定器４２から不良率検出器５１に送られる。

不良率検出器５１には不良信号の数が記憶されており、
この不良信号の数と不良率設定器４２から送られてぎＩ
Ｃ情報とが比較され、監視紙面が同種か異種かの信号が
連続不良発生検出器６１に送られる。

連続不良発生検出器６１は、不良の判定回数が連続不良
回数設定器６２で設定された回数に連続してなったとき
、初めて最終的不良として指令回路（図示せず）に不良
指令を出ず。連続不良回数設定器６２は１枚でも不良と
判定すれば、不良指令を出すことができるが、乗せミス
による乱丁の場合は連続して５０枚〜１００枚程度の不
良が発生するので、連続不良回数設定器６２を、例えば
３に設定すれば連続３回不良が発見された時点で始めて
不良指令を出す。連続不良回数設定器６２の設定は任意
にづることができ、この連続不良回数設定器６２によっ
て、乗せミスによる乱丁のみを監視することが可能にな
る。指令回路に出された最終的な不良判定は、ブザーを
鳴らしたり、あるいはＴ合成を停止させたりして作業者
に知らせる。

不良レベル設定器３２にＪ３ける不良レベルＭの設定及
び不良率設定器４２における不良率の設定を自動的に行
うこともできる。第２図には不良レベルＭ及び不良率を
自動的に設定する実施例が示されている。

折り下積台上に標準紙面が載せであるどきに判別レベル
自動設定器８６は次のような操作で不良レベルＭと不良
率を設定する。

例えば、Ｎｏ、１からＮ００６までの枠がある場合、Ｎ
ｏ、１の標１１１ｉ紙面とＮＯ１２の標準紙面、Ｎｏ、
１の標準紙面とＮ０８３の標準紙面、・・・というふう
に１５通りの全ての組合せで標準紙面同士を比較づるの
である。このとき、不良レベルＭ及び不良率は適当な値
に設定されている。標準紙面同士の比較はメモリーコン
トローラー１４の指示により行う。標準紙面同士には同
−紙面がないはずであるから、標準紙面同士の比較で１
１１でも「同種」という判断がされた場合は、不良レベ
ルＭ及び不良率の設定値が大きいのである。そこで、不
良レベルＭあるいは不良率の値は判別レベル自動設定器
８６にＪ：り自動的に小さくされる。逆に、全ての標準
紙面が「異種」と判断された場合は、不良レベルＭ及び
不良率の値は十分に小さい。しかし、不良レベルＭ及び
不良率の伯が小さ過ぎる場合には、「同種」を「異種」
とする判別ミスが生ずるので、不良レベルＭ及び不良率
の値は判別レベル自動設定器８６によりわずかに大きく
される。

判別レベル自動設定器８６は以上の操作を繰り返して、
不良レベル設定器３２及び不良率設定器４２に、全ての
標準紙面同士を区別することができる最も大ぎな不良レ
ベルＭ７１８！び不良率を設定するのである。

以上のように本発明は、光センサーによる実際の測定値
に修正レベルαを加粋あるいは減算して比較を行うこと
ができるので、インクの濃さが変化したり、あるいは紙
面の材質の違い等による反射光量の変化を修正すること
ができる。従って、同種の紙面を異種紙面とする判定ミ
スが大変少ない。４、図面の簡単な説明第１図は、本発明の乱丁監視方法の原理の説明図、第２
図は本発明の乱丁監視装置の一例を示すブロックダイア
グラムである。

１・・・・センサー部２・・・・増幅器１３・・・ＡＤコンバーター１４・・・メモリーコン１〜ローラー１５・・・標準メモリー１６・・・監視メモリー３１・・・レベル不良検出器３２・・・不良レベル設定器４２・・・不良率設定器５１・・・不良率検出器６１・・・連続不良発生検出器６２・・・連続不良回数設定器８６・・・判別レベル自動設定器９０・・・修正レベル設定器特許出願人　株式会社　北電子代　理　人　弁理士　田辺　徹

Claims

【特許請求の範囲】

（１）監視紙面上及び標準紙面上の複数の側止レベルを
加昇あるいは減算し、前記修正レベルを加締あるいは減
算した前記反射光量と前記標準紙面からの反ｑ・１光量
どの差を各測定１ｉａごとにとり、前記差が所定レベル
を越えた測定点の数を全測定点の数と比較することによ
り乱丁を監視することを特徴とする乱丁監視方法。
（２）製本で用いる丁合機の各折り丁積台に設置され、
かつ複数の光センサーで構成されたセンサー部と、前記
光センサーからの各出力を増幅する増幅器と、前記増幅
器からの各出力を時分割して順にＡＤシコンーターに送
るためのマルチプレクサ−と、前記へ〇コンバーターで
変換されたデジタル信号を記憶づる標準メモリー及び監
視メモリーと、前記各メモリーの内容と所定のレベルを
比較づるためのレベル不良検出器と、監視紙面からの反
則光量の強さに対応して前記監視メモリーの内容に加棹
あるいは減算する修正レベルを設定づる修正レベル設定
器と、前記レベル不良検出器からの不良信号の数と測定
点の数を比較する不良率検出器とを備え、前記各折り丁
積台に乗せた標準折り丁の最下段の紙面を前記センサー
部の光センサーで測定し、その出力をＡＤシコンーター
でデジタル信号に変換して前記標準メモリーに記憶し、
ざらに前記各折り丁積台に乗せた監視折り丁の最下段の
紙面を前記センサー部の光セン４ノーで測定し、その出
ツノを前記ＡＤシコンーターでデジタル信号に変換して
前記監視メモリーに記憶した喉、前記監視メモリーの内
容に前記修正レベルを加綽あるいは減算した値と前記標
準メモリーの内容との差を各測定点ごとにとり、ぞの差
が所定のレベルを越えた不良信号の数を前記不良率検出
器に記憶し、前記不良信号の数と全測定点の数とを比較
づることにより乱丁を監視する構成にしたことを特徴と
する乱」監視装置。