JPS6027826A - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
- Publication number
- JPS6027826A JPS6027826A JP13615183A JP13615183A JPS6027826A JP S6027826 A JPS6027826 A JP S6027826A JP 13615183 A JP13615183 A JP 13615183A JP 13615183 A JP13615183 A JP 13615183A JP S6027826 A JPS6027826 A JP S6027826A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- output
- value
- multiplier
- measured
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/12—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in colour, translucency or reflectance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の分野
この発明は、ＣＯＤ のようなイメージセンサを用いた
放射温度計に関するものである。
放射温度計に関するものである。
（２）従来技術
従来、イメージセンサを用いて、走行銅板のような幅を
有する被測定物体の温度を測定する場合。
有する被測定物体の温度を測定する場合。
第１図で示すように素子（画素）間での信号リーク化し
てしまい、同一温度の被測定物体であっても。
てしまい、同一温度の被測定物体であっても。
その長さが異なると、イメージセンサ出力のレベルも異
なシ、正しい温度測定が困難であった。実ベル差があっ
た。
なシ、正しい温度測定が困難であった。実ベル差があっ
た。
１３）発明の目的
この発明の目的は１以上の点に鑑み、被測定物体の長さ
の変動に対しても常に正しい測定を可能とした放射温度
計を提供することである。
の変動に対しても常に正しい測定を可能とした放射温度
計を提供することである。
（４）発明の実施例
第２図に、ＣＯＤのようなイメージセンサの光入射画素
数（Ｎ）に対する。輝度信号（Ｌ）の大きさの実験から
得られた関係を示す。画素数２０００で１００％とする
と画素数１０では約８０％の輝度信号となり９両者には
所定の関係がある。
数（Ｎ）に対する。輝度信号（Ｌ）の大きさの実験から
得られた関係を示す。画素数２０００で１００％とする
と画素数１０では約８０％の輝度信号となり９両者には
所定の関係がある。
この関係を利用して、イメージセンサの出力幅（光入射
画素数）に応じてイメージセンサ出力のレベル（輝度信
号）の補正を行うようにすれば。
画素数）に応じてイメージセンサ出力のレベル（輝度信
号）の補正を行うようにすれば。
第３図で示すように１幅（画素数ＮＩ、Ｎｓ ）にかか
わらず、輝度信号レベルＬ、、Ｌ、は一定となり、正し
い温度測定が可能となる。
わらず、輝度信号レベルＬ、、Ｌ、は一定となり、正し
い温度測定が可能となる。
第４図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、１は走行鋼板のような長さく幅）を有する
被測定物体、２は、被測定物体１からの放射エネルギー
をＣＣＤのようなイメージセンサ３に入射させる光学系
、４はイメージセンサ３の出力を連続波形にするサンプ
ルホールド回路、５は。
被測定物体、２は、被測定物体１からの放射エネルギー
をＣＣＤのようなイメージセンサ３に入射させる光学系
、４はイメージセンサ３の出力を連続波形にするサンプ
ルホールド回路、５は。
（
Ｄ−Ａコンバータのような掛算器、６は掛算器←の出力
をデジタル信号に変換するＡ−Ｄ変換器。
をデジタル信号に変換するＡ−Ｄ変換器。
７はＡ−Ｄ変換器６の出力をアナログ信号に変換するＤ
−Ａ変換器、８はＡ−Ｄ変換器６の出力を記憶するメモ
リ、９は、メモリー０に記憶されたプログラムにより動
作しメモリ８の信号データの幅値からメモリー１に記憶
された第２図に対応する補正値テーブルを読み出し、掛
算器５に補正値（倍率）を出力するマイクロプロセッサ
のような中央処理装置である。
−Ａ変換器、８はＡ−Ｄ変換器６の出力を記憶するメモ
リ、９は、メモリー０に記憶されたプログラムにより動
作しメモリ８の信号データの幅値からメモリー１に記憶
された第２図に対応する補正値テーブルを読み出し、掛
算器５に補正値（倍率）を出力するマイクロプロセッサ
のような中央処理装置である。
次に、第５図を参照して動作を説明する。
イメージセンサ３は、仮測定物体１をくり返し走査し、
第１図で示すようなその長さに対応した画素数Ｎの輝度
信号がサンプルホールド回路４より出力される。甘［算
器５は、サンプルホールド回路４の出力を最初は１倍と
し、Ａ−Ｄ変換器６によシデジタル信号としてメモリ８
に格納する。中央処理装置９は、メモリ８に格納された
輝度信号を適当なじきす値と比較し、千□□□嘲柚÷そ
の幅値を検出し、その幅値に対応した補正値をメモリ１
１に格納された第２図で示すような補正値テーブルから
読み出し、掛算器５への補正値（倍率）とする。次のイ
メージセンサ３の走査において、掛算器５はイメージセ
ンサ３の出力を補正値に基き所定倍し、Ａ−Ｄ変換器６
．Ｄ−ＡＸ換器７を経て、補正された第３図で示すよう
な輝朋信号が出力される。以上の動作は以後くシ返され
る。
第１図で示すようなその長さに対応した画素数Ｎの輝度
信号がサンプルホールド回路４より出力される。甘［算
器５は、サンプルホールド回路４の出力を最初は１倍と
し、Ａ−Ｄ変換器６によシデジタル信号としてメモリ８
に格納する。中央処理装置９は、メモリ８に格納された
輝度信号を適当なじきす値と比較し、千□□□嘲柚÷そ
の幅値を検出し、その幅値に対応した補正値をメモリ１
１に格納された第２図で示すような補正値テーブルから
読み出し、掛算器５への補正値（倍率）とする。次のイ
メージセンサ３の走査において、掛算器５はイメージセ
ンサ３の出力を補正値に基き所定倍し、Ａ−Ｄ変換器６
．Ｄ−ＡＸ換器７を経て、補正された第３図で示すよう
な輝朋信号が出力される。以上の動作は以後くシ返され
る。
つまり、光入射画素数Ｎ、 、 Ｎ、に対応して常に所
定倍し、第３図で示すように輝度信号り、、Ｌ、が常に
Ｌｌ’＝ Ｌ＊なるようにしている。
定倍し、第３図で示すように輝度信号り、、Ｌ、が常に
Ｌｌ’＝ Ｌ＊なるようにしている。
なお、第５図では、中央処理装置９．メモリ８等で幅検
出手段、メモリ１１．掛算器５等で補正手段を構成して
いるが、第６図のような他の実施例でもよい。
出手段、メモリ１１．掛算器５等で補正手段を構成して
いるが、第６図のような他の実施例でもよい。
第６図では、掛算器５の出力をコンパレータにで基準（
ｉ［Ｖｃ と比較して幅値出力を発生し、一定周波数の
クロックとアンド回路１３でアンドをとり。
ｉ［Ｖｃ と比較して幅値出力を発生し、一定周波数の
クロックとアンド回路１３でアンドをとり。
カウンタ１４でカウントする。このカウンタ１４のカウ
ント値は１幅値（画素数）を示し、補正値テーブルが格
納されたメモリ１１より補正値データを読み出し、掛算
器５の倍率補正を行う。この例ではｐ比較器１２．アン
ド回路１３．カウンタ１４等で幅検出手段を構成し、メ
モリ１１．掛算器５等で補正手段を構成している。
ント値は１幅値（画素数）を示し、補正値テーブルが格
納されたメモリ１１より補正値データを読み出し、掛算
器５の倍率補正を行う。この例ではｐ比較器１２．アン
ド回路１３．カウンタ１４等で幅検出手段を構成し、メ
モリ１１．掛算器５等で補正手段を構成している。
（５）発明の要約
この発明は９以上述べたように、長さをもつ被測定物体
からの放射エネルギーを受光するイメーメージセンサの
出力レベルを補正する補正手段を備えた放射温度計であ
る。
からの放射エネルギーを受光するイメーメージセンサの
出力レベルを補正する補正手段を備えた放射温度計であ
る。
（６）発明の効果
（５）
被ｍ＋＋定物体の長さくｍ）が変化してイメージセンサ
の出力レベルが変動しても、常に所定のレベルとなるよ
うに補正を行っているので、光入射画素数の変化による
影響は除去され、常に正しい温度測定か可能となる。
の出力レベルが変動しても、常に所定のレベルとなるよ
うに補正を行っているので、光入射画素数の変化による
影響は除去され、常に正しい温度測定か可能となる。
第１図、第２図、第３図、第５図は、この発明の動作説
明図、第４図、第６図は、この発明の一実施例を示す構
成説明図である。 １・・・被測定物体、２・・・光学系、３・・・イメー
ジセンサ、４・・・サンプルホールド回路、５・・・掛
算器。 ６・・・Ａ−Ｄ変換器、７・・・Ｄ−Ａ変換器、８．１
０゜１１・・・メモリ、９・・・中央処理装置、１２・
・・コンパレータ、１３・・・アンド回路、１４・・・
カウンタ特許出願人 株式会社 子桁製作所 （６）
明図、第４図、第６図は、この発明の一実施例を示す構
成説明図である。 １・・・被測定物体、２・・・光学系、３・・・イメー
ジセンサ、４・・・サンプルホールド回路、５・・・掛
算器。 ６・・・Ａ−Ｄ変換器、７・・・Ｄ−Ａ変換器、８．１
０゜１１・・・メモリ、９・・・中央処理装置、１２・
・・コンパレータ、１３・・・アンド回路、１４・・・
カウンタ特許出願人 株式会社 子桁製作所 （６）
Claims (1)
- １、長さをもつ被測定物体からの放射エネルギーを受光
するイメージセンサと、このイメージセンサ出力の幅を
検出する幅検出手段と、この幅検出手段の出力に応じて
前記イメージセンサの出力レベルを補正する補正手段と
を備え、被測定物体の温度を測定することを特徴とする
放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13615183A JPS6027826A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13615183A JPS6027826A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 放射温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027826A true JPS6027826A (ja) | 1985-02-12 |
| JPH0441290B2 JPH0441290B2 (ja) | 1992-07-07 |
Family
ID=15168501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13615183A Granted JPS6027826A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027826A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61237028A (ja) * | 1985-04-13 | 1986-10-22 | Toyobo Co Ltd | 赤外線温度計 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU774541B2 (en) | 1999-12-21 | 2004-07-01 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Fine denier multicomponent fibers |
-
1983
- 1983-07-26 JP JP13615183A patent/JPS6027826A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61237028A (ja) * | 1985-04-13 | 1986-10-22 | Toyobo Co Ltd | 赤外線温度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0441290B2 (ja) | 1992-07-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |