JPS6040904A - 長さ測定装置 - Google Patents
長さ測定装置Info
- Publication number
- JPS6040904A JPS6040904A JP14904683A JP14904683A JPS6040904A JP S6040904 A JPS6040904 A JP S6040904A JP 14904683 A JP14904683 A JP 14904683A JP 14904683 A JP14904683 A JP 14904683A JP S6040904 A JPS6040904 A JP S6040904A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- measured
- length
- image sensor
- peak value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の分野
この発明は、ＣＯＤのようなイメージセンサを用いた長
さ測定装置に関するものである。
さ測定装置に関するものである。
（２）従来技術
従来、第１図、第２図で示すように、被測定物体１の長
さＷを測定するのに、１台または２台のＣＣＤのような
イメージセンサを用いた検出器２によシ行っていた。た
とえば、第１図では、イメージセンサの全画素数をＮｏ
、これに対応する長さををＮとすれば、そのときの被測
定物体１の長さＷは、 Ｗ−Ｗｏ ” Ｎ／Ｎｏでまる
。
さＷを測定するのに、１台または２台のＣＣＤのような
イメージセンサを用いた検出器２によシ行っていた。た
とえば、第１図では、イメージセンサの全画素数をＮｏ
、これに対応する長さををＮとすれば、そのときの被測
定物体１の長さＷは、 Ｗ−Ｗｏ ” Ｎ／Ｎｏでまる
。
しかしながら、第４図で示すように１画素数Ｎに対する
被測定物体１の放射エネルギーＬ（Ａ、Ｔ）は（＞、：
波長、Ｔ：温度）、測定温度Ｔによシレベルが大きく変
化し、イメージセンサの画素間の相互干渉に起因する信
号リークの太きさも変化する。このため、設定値ｖＴ′
を低い一定値としておくと、リーク分まで被測定物体１
の長さと見てしまい、実際の画素数Ｎよシも大きい画素
数Ｎ′から長さｗ’を測定してしまい誤差を招くもので
あった。
被測定物体１の放射エネルギーＬ（Ａ、Ｔ）は（＞、：
波長、Ｔ：温度）、測定温度Ｔによシレベルが大きく変
化し、イメージセンサの画素間の相互干渉に起因する信
号リークの太きさも変化する。このため、設定値ｖＴ′
を低い一定値としておくと、リーク分まで被測定物体１
の長さと見てしまい、実際の画素数Ｎよシも大きい画素
数Ｎ′から長さｗ’を測定してしまい誤差を招くもので
あった。
また、逆に設定値ｖＴ“を高い一定値にしておくと。
被測定物体の温度変化または被測定物体によシしセへい
される光源の光景変化があると、実際の長さよりも短く
測定してしまうことになる。
される光源の光景変化があると、実際の長さよりも短く
測定してしまうことになる。
（３）発明の目的
この発明の目的は２以上の点に鑑み、被測定物体からの
放射エネルギーまたは光源の出力光が変化しても、當に
正しい測定を可能とした長さ測定装置を提供することで
ある。
放射エネルギーまたは光源の出力光が変化しても、當に
正しい測定を可能とした長さ測定装置を提供することで
ある。
（４）発明の実施例
第５図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、１は放射エネルギーＬ （入、Ｔ）。
幅Ｗの被測定物体、３は、被測定物体重からの放射エネ
ルギーをＣＣＤのようなイメージセンサ４に入射さぜる
光学系、５は、イメージセンサ４の出力のピーク値を検
出ブるピーク検出回路、６はピーク検出回路５のピーク
値■Ｐを所定倍α（α〈１）して設定値αＶｐとする可
変抵抗器のような設定器。
ルギーをＣＣＤのようなイメージセンサ４に入射さぜる
光学系、５は、イメージセンサ４の出力のピーク値を検
出ブるピーク検出回路、６はピーク検出回路５のピーク
値■Ｐを所定倍α（α〈１）して設定値αＶｐとする可
変抵抗器のような設定器。
７は、設定器６の出力αＶｐと放射エネルギーのレベル
がきわめて小となったときに用いる下限設定値（一定値
） ＶＺとのうち大きい方を選択するレベル選択回路、
８はレベル選択回路７の設定値ｖＴ（通常はａｖＰ）と
イメージセンサ４の出力とを比較し、イメージセンサ４
の出力が大のとき例えば出ナログ信号に変換するＤ−Ａ
変換器である。
がきわめて小となったときに用いる下限設定値（一定値
） ＶＺとのうち大きい方を選択するレベル選択回路、
８はレベル選択回路７の設定値ｖＴ（通常はａｖＰ）と
イメージセンサ４の出力とを比較し、イメージセンサ４
の出力が大のとき例えば出ナログ信号に変換するＤ−Ａ
変換器である。
動作は次の通りである。
被測定物体１からの長さＷに相当する放射エネルギーは
光学系３を介してイメージセンサ４で受光され、イメー
ジセンサ４は、第４図で示すような出力を発生する。こ
のイメージセンサ４のピーク値ｖＰはピーク検出回路５
により検出され、設定器６によシ所定倍αされてαＶｐ
となシ、レベ哨択回路７によシ下限設定値ＶＺと比較さ
れ２通常はＶＺよシαＶｐが犬なので、長さ測定用の設
定値ｖＴ＝αＶｐとされる。比較回路８は、この設定値
ＶＴとイメージセンサ４の出力の大小比較を行い、イメ
ージセンサ４の出力が設定値ｖＴよυも犬のとき出力を
発生する。この出力をカウンタ９によりカウントし。
光学系３を介してイメージセンサ４で受光され、イメー
ジセンサ４は、第４図で示すような出力を発生する。こ
のイメージセンサ４のピーク値ｖＰはピーク検出回路５
により検出され、設定器６によシ所定倍αされてαＶｐ
となシ、レベ哨択回路７によシ下限設定値ＶＺと比較さ
れ２通常はＶＺよシαＶｐが犬なので、長さ測定用の設
定値ｖＴ＝αＶｐとされる。比較回路８は、この設定値
ＶＴとイメージセンサ４の出力の大小比較を行い、イメ
ージセンサ４の出力が設定値ｖＴよυも犬のとき出力を
発生する。この出力をカウンタ９によりカウントし。
このカウント値Ｎが、被測定物体１の長さＷとして測定
が行われる。カウンタ９の出力は必要に応じてＤ−Ａ変
換器１０によルアナログ信号として出力される。
が行われる。カウンタ９の出力は必要に応じてＤ−Ａ変
換器１０によルアナログ信号として出力される。
このように、イメージセンサ４のピーク値Ｖｐに応じて
、長さ測定用の設定（しきい）値をａｖＰに変更し、ピ
ーク値Ｖｐが変化し、リーク値も変化しても、常に設定
値がリーク値以上となり、誤測定を招くことがない。
、長さ測定用の設定（しきい）値をａｖＰに変更し、ピ
ーク値Ｖｐが変化し、リーク値も変化しても、常に設定
値がリーク値以上となり、誤測定を招くことがない。
第５図で示す、ピーク検出手段、比較回路８゜カウンタ
９等の長さ測定手段は、イメージセンサ出力をＡ−Ｄ変
換してマイクロコンピュータのような中央処理装置で演
算処理してもよい。
９等の長さ測定手段は、イメージセンサ出力をＡ−Ｄ変
換してマイクロコンピュータのような中央処理装置で演
算処理してもよい。
第６図は、光源を用いた他の実施例を示し、被測定物体
１に一部分じゃへいされた光源１１からの光は光学系３
によシイメージセンザ４に入射され。
１に一部分じゃへいされた光源１１からの光は光学系３
によシイメージセンザ４に入射され。
第７図で示すような出力信号を得る。測定回路は第５図
とほぼ同様でイメージセンサ４の全画素数Ｎｏに対し、
設定値ＶＴ＝αＶｐ以上の画素数をＮＩ、 Ｎｏとすれ
ば、被測定物体１の長さはＮ ＝ Ｎｏ （Ｎ ｌ十Ｎ
ｔ）よ請求まる。この場合、光源ｉｉの光景が劣化等に
よシ変動しても、−そのピーク値Ｖｐの所定倍した値α
Ｖｐを設定値ＶＴとして用いているので、光量変化の影
響はなくなシ、常に正しい測定が可能となる。
とほぼ同様でイメージセンサ４の全画素数Ｎｏに対し、
設定値ＶＴ＝αＶｐ以上の画素数をＮＩ、 Ｎｏとすれ
ば、被測定物体１の長さはＮ ＝ Ｎｏ （Ｎ ｌ十Ｎ
ｔ）よ請求まる。この場合、光源ｉｉの光景が劣化等に
よシ変動しても、−そのピーク値Ｖｐの所定倍した値α
Ｖｐを設定値ＶＴとして用いているので、光量変化の影
響はなくなシ、常に正しい測定が可能となる。
（５）発明の要約
以上述べたように、この発明は、被測定物体からの放射
エネルギーまだは被測物体に一部分じゃへいされた光を
受光するイメージセンサのピーク値をピーク検出手段で
検出し、このピーク検出手段の出力を所定倍した設定値
に基いて測定手段は被測定物の長さを測定するようにし
た長さ測定装置である。
エネルギーまだは被測物体に一部分じゃへいされた光を
受光するイメージセンサのピーク値をピーク検出手段で
検出し、このピーク検出手段の出力を所定倍した設定値
に基いて測定手段は被測定物の長さを測定するようにし
た長さ測定装置である。
（６）発明の効果
常に、設定値は、ピーク値に応じて最適な値となるよう
補正しているので、リーク等の影響を受けす、常に正し
い長さ測定が可能となる。
補正しているので、リーク等の影響を受けす、常に正し
い長さ測定が可能となる。
第１図、第２図、第５図、第６図は、この発明に係る実
施例を示す構成説明図、第３図、第４図。 第７図は、動作説明用波形図である。 工・・・被測定物体、４・・・イメージセンサ、５・・
・ピー、つ□あ、６．１．ゎ定。、４０１．比□２．溝
１．。 δ カウンタ 特許出願人 株式会社 千野製作所
施例を示す構成説明図、第３図、第４図。 第７図は、動作説明用波形図である。 工・・・被測定物体、４・・・イメージセンサ、５・・
・ピー、つ□あ、６．１．ゎ定。、４０１．比□２．溝
１．。 δ カウンタ 特許出願人 株式会社 千野製作所
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定物体からの放射エネルギーまたは被測定物体
に一部分し中へいされた光源からの光を受光するイメー
ジセンサと、とのイメージセンサのピーク値を検出する
ピーク検出手段と、とのピーク検出手段の出力を所定倍
した設定値に基いて被測定物体の長さを測定する測定手
段とを備えたことを特徴とする長さ測定装置。 ２、 前記測定手段は、ピーク検出手段出力と一定値の
うちいずれか大きい方を選択して使用することを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の長さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14904683A JPS6040904A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 長さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14904683A JPS6040904A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 長さ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6040904A true JPS6040904A (ja) | 1985-03-04 |
Family
ID=15466460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14904683A Pending JPS6040904A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 長さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6040904A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62180204A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-07 | Furukawa Electric Co Ltd:The | カメラ撮像による寸法測定方法 |
| JPH01171680A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-06 | Taiyo Seiko Kk | 高不揮発分塗料による着色亜鉛鉄板の製造方法 |
| JPH03500739A (ja) * | 1987-11-03 | 1991-02-21 | エイベリ デニソン コーポレイション | 塗布方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54128361A (en) * | 1978-03-28 | 1979-10-04 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
-
1983
- 1983-08-15 JP JP14904683A patent/JPS6040904A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54128361A (en) * | 1978-03-28 | 1979-10-04 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62180204A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-07 | Furukawa Electric Co Ltd:The | カメラ撮像による寸法測定方法 |
| JPH03500739A (ja) * | 1987-11-03 | 1991-02-21 | エイベリ デニソン コーポレイション | 塗布方法 |
| JPH01171680A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-06 | Taiyo Seiko Kk | 高不揮発分塗料による着色亜鉛鉄板の製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6465460A (en) | Space filter type speed measuring instrument | |
| US4812043A (en) | Method for measuring a physical quantity providing digital data using analog-value measuring devices, and measuring apparatus for applying this method | |
| JPS6040904A (ja) | 長さ測定装置 | |
| JPH01202614A (ja) | アクティブ測距装置 | |
| JP2002022839A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPH04315985A (ja) | 放射線計測装置 | |
| JPH0441290B2 (ja) | ||
| JPH04286477A (ja) | 赤外線撮像装置 | |
| JPH0213815A (ja) | 光電導型赤外線検知器の感度補正方式 | |
| JP2567908Y2 (ja) | 光量センサ | |
| JPS623609A (ja) | 測距装置 | |
| JP2805956B2 (ja) | 厚さ測定装置 | |
| JPH0429083A (ja) | 放射線検出器の感度校正装置 | |
| EP0592520A1 (en) | APPARATUS AND METHOD FOR CALIBRATING AN APPARATUS FOR MEASURING LAYER THICKNESS BY X-RAYS. | |
| JPS5853546B2 (ja) | ブラウンカンキドケンサソウチ | |
| JPS62108668A (ja) | 蓄積型イメ−ジセンサの画像情報検出方法 | |
| JPH0612302B2 (ja) | 赤外線放射温度計 | |
| JPS6132324Y2 (ja) | ||
| JPH0550685B2 (ja) | ||
| JPS5960231A (ja) | 熱放射温度測定装置 | |
| JPS6023718Y2 (ja) | 暗電流補償機能を有するピンホ−ル検出回路 | |
| JPH05126867A (ja) | 光応用電流電圧センサｌｅｄ制御回路 | |
| JPH0525293B2 (ja) | ||
| JPH09257589A (ja) | 赤外線熱画像装置における温度ドリフト補正装置 | |
| JPS62277568A (ja) | 受光素子の温度特性補正装置 |