JPS6028004B2 - 自動乾燥機 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、籾その他の穀粒のような被処理物質を、所定
含水率とするように自動的に乾燥させるための自動乾燥
機に関するものである。

被処理物質の乾燥状態を検出しながら自動的に乾燥を行
う乾燥機は周知である。

毅粒、例えば籾は、収穫後の生籾は含水率が高くそのま
ま保存することはできない。かかる含水率を徐々に低下
せしめ、その後の保存・調製等に適する状態にする必要
がある。そのため、過去においては自然乾燥が行われて
いたが、現在は送風機を備えた燃焼装置の発生する燃風
を、乾燥装置内で循環している籾に当てながら人工的に
乾燥を行う熱風乾燥が主流である。かかる熱風乾燥機の
運転にあたっては熱風の温度調節や持続時間等の点で幾
多の困難が伴う。すなわち、温度が高すぎれば穀粒全体
が平均的に乾燥されずに部分的に過熱され、籾の品質を
劣化させることになる。また反対に温度が低すぎれば乾
燥に長時間を要することになり、乾燥効果率を低下させ
る。かかる温度調節に関しては、多くの実験が繰り返さ
れ、籾の銘柄、耕地の状況、収穫前後の気象条件等を勘
案して通値が決定されるべきものである。一方、乾燥継
続時間の決定も極めて困難な要素を含んでいる。

これは籾の含水率を随時検当しながら乾燥継続の髪否を
判断しなければならないが、籾の含水率判断は極めて困
難であるためである。すなわち、籾の含水率は通常操作
者の勘によって判断されていたが、定量的把握が困難で
あることに加えて、大量の籾が平均的に乾燥されている
か杏かも含めて判断することは極めて困難である。加え
て、乾燥継続中の籾は温度が上昇していることや、籾表
面の状態にのみ影響されやすい、みかけ上の乾燥状態に
左右されることから、通常の勘による判断に狂いと生じ
易い。このような事情は、毅粒の乾燥が収穫後の極く短
期間に大量処理を行わねばならないため、昼夜を分かた
ず長時間運用されることから、常時監視の要杏等を含め
て殊に大きな欠点となり、乾燥状態を適切に判断し、そ
の判断に応じて自動的乾燥作業の可能な装置が渇望され
ていた。

本発明の目的は、被処理物質例えば穀粒の乾燥状態した
がって含水率が、その電気抵抗と密接な対応関係を有す
ることを利用して、所望含水率に達した際に自動的に乾
燥作業を停止し得る自動乾燥機を提供することである。

そのため、被処理物質例えば穀粒を適時サンプリングし
、その都度所定回数の合否判断を繰り返し、この合格回
数が所定割合に達したか否に応じて乾燥継続の要杏・次
回サンプリングの時期等を自動的に判断して、自動乾燥
運転を行い得る自動乾燥機を提供することである。なお
、サンプリングを適宜繰り返しかつその都度所定回数の
合否判断を繰り返すのは、大量の被処理物質の平均値を
とり、極端な上限値または下限値に左右されないように
配慮したものである。なお、本発明にかかる技術思想は
、温度・湿度等を長時間にわたって所定値または所定過
程で制御する必要があるその他のブ。

セス制御例えば醸造の際の醗酵の制御、栽培・飼育等の
温度・湿度等の制御にも適用し得るものである。本発明
の目的は、特許請求の範囲に記載の構成も有する自動乾
燥機、すなわち、乾燥機内の毅粒群から所要回数にわた
ってランダムにサンプリングされた検査試料の電気低抗
値を検出する抵抗検出回路；所定周期でかつ安定化され
た電圧を発生しこれをＤ一Ａ変換回路へ送る発振回路；
前記Ｄ−Ａ変換回路からの所定舎水率に対応した電気抵
抗によってそれぞれ発生する基準電圧と前記抵抗検出回
路で検出された抵抗値に比例する電圧とを比較して両者
が所定条件を満たした際に出力パルスを発生する比較回
路；を含み、検査試料の含水率を電気的に測定・検出す
る含水率検出回路と、前記検査試料に対する所望の合格
含水率を設定し、前記含水率検出回路によって検出され
た含水率が設定値に達した際に出力パルスを発生する合
格舎水率選択回路と、前記合格含水率選択回路が出力パ
ルスを発生した度数を積算するための合格度数積算回路
と、前記合格度数積算回路の積算値が、所望の合格度数
以上になったか否かに応じて被処理物質たる前記毅粒群
の乾燥状態の良否を判定するための合格度数基準の設定
を行う合格度数選択回路と、前記合格度数選択回路の設
定基準を満足するか否かの合否判定出力を受けて、少な
くとも乾燥用熱源、送風装置等の乾燥機主装置の機械停
止回路を含む乾燥機の作動状態を、所望の乾燥工程に合
致せしめるように制御するためのプログラム制御回路と
、を具備する自動乾燥機によって達成される。

本発明にかかる自動乾燥機によれば、許容乾燥量の被処
理物質例えば生籾を装入し、運転を開始すれば、自動的
に被処理物質の処理状態を適宜判断しながら乾燥継続の
要否をはじめ発生熱風温度の調節を任意プログラムにし
たがって実施することができ、運転操作のための監視や
処理状態の判断が不要となり、常に最適の処理条件を満
足することができる。

その結果、操作者の常時または長時間の監視を必要とせ
ずに、所望設定条件に基づいて高い処理効率を維持しな
がら、極めて理想的な処理結果を得ることができる。例
えば、籾の乾燥においては、初期舎水率の如何や品種等
の差異に影響されることないこ、８同割米のような不良
米の発生を防止しながら理想的な温度および時間で乾燥
および譲質処理が行い得る。以下、実施例を表す添付図
面を参照しつつ本発明を詳述する。

第１図は、穀類特に籾の乾燥を行うための循還型乾燥機
の一例を示すものである。

調質槽４内の籾１０一‘ま、両通風乾燥室５，５′へ矢
印Ｃのように落下して矢印ｄのように集まり、その後ス
クリューコンベア７、バケットコンベア８を経て樋９よ
り矢印ｂのように鋼質糟４へ戻されるような順序で循環
する。熱風発生装置の燃焼器１４では、例えば電磁ポン
プのような燃料給送ポンプ（図示されていない）により
供給された燃料油の燃焼によって熱を発生する。

この燃焼熱は、電動機１１によって回転せしめられる駆
動軸１２に設けられた送風用ファン１３により熱風とし
て熱風室６に送られる。この熱風室６の側板は穿設され
た多数の小孔を有する板材または網目板から構成され、
熱史嵐を矢印ａ，ａ′のように通風乾燥室５，５′に通
過させる。この通風乾燥室５，５′を通過する熱風によ
って籾の乾燥が行われる。通風乾燥室５，５′を通過し
てスクリューコンベア７、バケットコンベア８および樋
９を経て混合されながら矢印ｂのように調質槽４に貯蔵
された籾は、この間に籾の若干不揃いの保有熱量を均一
化させると同時に籾表面に受けた熱を籾の中核まで到達
せしめる。

したがって、通風乾燥室５，５′における籾の含有水分
の蒸発の後、調質槽４内において乾燥の均一化が図られ
、含有水分を均等化することによっていわゆる８同割米
のような不良米の発生を防止しながら乾燥効率を高める
ことができる。このような構成による籾は、全体が平均
化されていて、過乾燥や不足乾燥を排除することが可能
でありまた数巡した籾の含水率は全体的にほぼ均質に保
たれることになる。かかる構成における被処理物質、す
なわち籾のサンプリングは、樋９の一部に設けた小口を
経て行われ、かつ蓮樋１６を経て検出部３に送られる。

第２図は、第１図の樋９に配設されたサンプリングのた
めの機構および検出部３の拡大図で、ソレノィド機構１
によって作動せしめられる弁２が樋９の一部に配設され
る。

一部省略されている蓮樋１６の下方には籾摺りローラ１
７，１７′、送風機１８および圧壊用ローラ１９，１９
′から成る検出部３が配設される。サンプリングのため
に、ソレノィド機構により弁２が短時間開放されると、
樋９を通過中の試料籾が適量取り出される。このように
取り出された籾は、蓮樋１６を落下した後硬質ゴム製の
籾摺ローラー１７，１７′により籾穀が除去されて玄米
となる。籾穀は送風機１８により矢印ｆのように吹き飛
ばされる。玄米は、矢印ｇのように導体製の圧嬢用ロー
ラ１９，１９′に至り、圧壊されると同時に圧縮・挟着
される。この状態における両ローラー１９，１９′間の
電気抵抗値を導線２１，２１′を介して測定することに
より被検査試料としての玄米の含水率を測定するもので
ある。第３図は、本発明にかかる自動乾燥機を制御する
ための制御装置のブロック図で、実線接続は各回路の機
能上の接続を、そして二重線は機械的接続をそれぞれ示
し、電源接続は省略した。

各回路の機能の概要を以下に説明する。含水率検出回路 一馬鎖線で囲まれた含水率検出回路は、 【ィーサンプリング機構 【〇｝ 検出端スイッチ し一 抵抗検出回路 〇 発振回路 ■ ○−Ａ変換回路 Ｎ 比較回路 ‘トーデコーダ から構成されている。

これら各要素の概要は以下の通りである。｛ィー サン
ブリング機構 第２図において説明した被処理物質として籾を適宜抜き
取り、検査するための機械的機構である。

‘ｏ｝ 検出端スイッチ 玄米を圧壊し、電気抵抗を検出するための圧壊用ローラ
１９，１９′の回転に伴って作動するカム機構によって
開閉され、閉（オン）の際に含水率検出回路その他の回
路に直流電圧を印加し、作動可能にする。

し一 抵抗検出回路 圧壊用ローラ１９，１９′に接続された導線２１，２１
′を介して得られる電位差として、玄米の含水率を電気
信号に変換する。

この場合の玄米の含水率は、後述するように対数目盛で
表した低抗値に反比例することが知られている。Ｂ 発
振回路 測定に関する時間的基準として所定周波数を発生する発
振器で、本実施例では集積回路によって形成され、３０
ＨＺの周波数を発生する。

‘村 Ｄ−Ａ変換回路発振回路二による発振周波数から
階段状に順次増加する基準亀圧を発生するもので、カウ
ンタと抵抗鷺羊とから形成される。

竹 比較回路 抵抗検出回路ハからの電位差を読み取りこれをＤ−Ａ変
換回路木からの階段電圧と比較して、比較条件が成立し
た時点で発振回路二の発振を停止させる。

本実施例では、プログラマブルュニジヤンクショントラ
ンジスタＰＵＴが使用されている。‘ト）デコーダ 発振回路二が停止した際の電圧値を含水率と対応せしめ
る値に変換し、該出力を含水率検出回路の出力信号とす
る。

扮 含水率表示回路 含水率検出回路のデコーダトからの出力を含水率として
表示するもので、本実施例では所要数の発光ダイオード
を使用している。

（リ｝ 合格含水率選択回路 舎水率表示回路チに供給される信号と同じ信号を受け、
この信号が前以つて設定された含水率に相当する値であ
る場合にのみ出力を発生するもので、多接点スイッチか
ら構成される。

（ヌ） 含水率合格度数積算回路できるだけ正しい結果
を得るために１サンプリングあたり複数回測定されるが
、この複数回の測定に対して合格含水率選択回路りの出
力パルス数を積算するカゥンタである。

（ル） 合格度数選択回路 １サンプリングあたりの含水率合格度数を選択設定し、
該合格度数が所望回数に達した際に出力を発生する多接
点スイッチである。

（ヲ） 機械停止回路 合格度数選択回路ルの出力を受けて、乾燥機の各部を任
意プログラムに従って停止させる回路で、サィリスタＳ
ＣＲ、リレーその他周知素子によって構成される。

（ワ） 測定回数積算回路 １サンプリングあたりの測定回数を積算するカウンタで
ある。

この積算値が所定回数になった場合に出力を発生する。
（力） 測定回路停止回路 測定回数積算回路つの出力を受け、測定回路の作動電圧
をオフにする回路である。

適当な機成が考えられるが、本実施例にあっては、サィ
リスタＳＣＲ、リレーその他周知素子によって構成され
る。（ョ） 整流・定電圧回路 商用電源を回路動作に適した直流電圧に変成すると共に
、装置内に使用されている回路素子、特に集積回路ＩＣ
等の安定動作を図るため所定値に維持された電圧＋Ｖの
供給を行うものである。

第４図は、本発明にかかる自動乾燥機の制御回路の構成
例を示すものであり、第３図と対応するブロックは同一
符号を付して示している。

整流・定電圧回路は、商用電源を変圧器によって所定電
圧にすると共に規定電圧＋Ｖを出力し、全回路、特に集
積回路ＩＣ類の安定動作を図るものである。抵抗Ｒ．，
Ｒ２コンデンサＣ，およびトランジスタＴｒ，から成る
回路は、電源投入直後における測定回路の不安定動作を
回避するものである。

抵抗Ｒ，およびコンデンサＣ，の時定数に応じてトラン
ジスタＴｒ，の導通を遅延させ、同時に内部リレーＲＬ
を作動させる。この内部リレーＲＬも、測定回路の安定
動作を確保するために使用される。第４図左の抵抗検出
回路ハは第２図の圧嬢用ローラ１９，１９′間に圧着さ
れて介在する玄米粉の電気抵抗を示すものである。なお
、これらの圧嬢ローラ１９，１９′が回転する間に前述
のように検出端スイッチ口であるＳＷ，が閉となり、測
定回路主要部に対して測定可能にするための電圧を供給
する。検出端スイッチＳＷ，、内部リレーＲＬ−ａを介
しての電圧＋Ｖ２、さらに測定回路停止回路リレーＲＸ
２の常開接点ＲＸ２−ｂを介しての電圧十Ｖ３が発生す
ることによって、測定回路主要部は作動可能状態となる
。

トランジスタＴｒ２の不動作を条件として、制御端子Ｃ
ＯＮＴに十Ｖ３からの電圧が印加されている間、発振回
路ニは適当な周波数のパルスを発生する。

この発振回路二は、比較回路へとしてのＰＵＴが出力を
発生し、サィリス夕ＳＣＲ，の導通によりトランジスタ
Ｔｒ３が不動作となり、これによってトランジスタＴｒ
２が動作して、制御端子ＣＯＮＴの電圧が零になること
によりその発振を停止する。周知の発振回路が採用し得
るが、本実施例では発振用ＩＣを使用して３０Ｈｚの周
波数を発生している。発振回路二からの出力パルスは、
Ｄ−Ａ変換回路ホのカゥンタを構成する集積回路ＩＣ，
において０〜１５の二進数に変換される。

ＩＣ，の出力は、抵抗Ｒ，のＲ，．，Ｒ，２，Ｒ，３を
介して安定化された電圧十Ｖ２とそれぞれ接続される。
これは比較回路へにおける電圧の整合を図るために必要
とされるものである。また、この出力は、抵抗Ｒ，チ〜
Ｒ２，の抵抗虎羊を通過し、プログラマフルュニジヤン
クショントランジスタＰＵＴのアノードＡに接続された
コンデンサＣ３とあいまつてカウントアップ毎に階段状
に増加する電圧を発生する。この二進数を電圧値に変換
する抵抗群の各抵抗は後述するような各舎水率に対応す
る電圧を順次発生するような抵抗値に選定される。この
電圧信号はＰＵＴのアノードＡに印加される。このＰＵ
ＴのゲートＧには、抵抗検出回路ハによって得られた電
圧が印加される。ＰＵＴは、周知のようにアノードＡの
電位がゲートＧに印奴される電位よりも低い間は導通せ
ずオフ状態にある。もしアノードＡの電位がゲートＧに
印加される電位に対して等しいかまたは高くなったとす
ると、導適状態となってカソードＫに出力を発生する。
したがって、集積回路ＩＣ，および抵抗群Ｒ，４ないし
Ｒ２，によってＤ一Ａ変換された階段状電圧値と抵抗検
出回路ハによって得られた電圧とが比較され、アノード
Ａの電位が等しくなるかまたは高くなった場合にＰＵＴ
はオンとなり、コンデンサＣ３が放電して発振回路二を
停止させるためのサイリスタＳＣＲ，のゲートに信号パ
ルスを伝送する。この信号パルスによりＳＣＲ，および
トランジスタＴｒ３，Ｔｒ２の回路を介して発振回路二
が停止せしめられる。この発振停止に伴って、含水率表
示回路チには、その際の含水率値が表示される。集積回
路ＩＣ，の出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄには、各カウント毎に第
１表のような出力が得られる。

この表で１はパルスが存在する状態を示すもので、検出
端スイッチＳＷ，が閉となっている間、例えば千分の１
秒の間隔で０〜１５をカウントするように形成される。
本実施例では、このカウントの内５〜１５を適宜使用す
る。いま、カウント５であるとすると、集積回路ＩＣ，
の出力ＡおよびＣにパルスが存在するが、出力Ａからの
パルスは点Ｅまでに３個の抵抗を経、さらに１個の抵抗
を介してＰＵＴのアノード′Ａに達する。一方出力Ｃに
発生したパルス第１表 リップルカゥントモード は点Ｅまでに１個の抵抗を経、さらに共通の１個の抵抗
を介してＰＵＴのアノードＡに達する。

この状態では、出力Ｃに発生したパルスによる電位が高
く、この値が主としてアノードＡに作用する。アノード
Ａの電位がゲートＣの電位に等しいかあるいはこれより
も高ければＰＵＴは導通して、前述のように発振回路二
の発振を停止させ、後述するように含水率表示回路チに
よりその際の含水率を表示する。なお、集積回路ＩＣ，
は第６図に示すように、入力パルスをカウントし、出力
端子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに二進出力を発生する。この関係は
第１表に示す通りである。もし、カウント１０の場合に
は、第１表から明らかなように出力およびＤにパルスが
発生する。

この場合は、出力Ｂからのパルスは３個の抵抗を経て、
そして出力Ｄからのパルスはただ１個の抵抗を経てコン
デンサＣ３に所定電圧を発生する。この電圧はＰＵＴの
アノードＡに至り、この場合の抵抗検出回路ハにおいて
得られや抵抗値によって生ずるゲートＣの電圧と比較さ
れる。第５図は、籾の含水率（％）を横軸とし、縦軸に
抵抗値（ＫＱ）〜（ＭＱ）を取ったグラフである。

また第５ａ図は、Ｄ−Ａ変換回路木の抵新撰羊を介して
ＰＵＴのアノードＡに得られる階段状電圧であり、電圧
Ｖ５ないしＶ，５がそれぞれ舎水率１９％ないし１４％
に対応する。含水率の抵抗値は、縦軸の抵抗値を対数目
盛にするとほぼ直線的関係にある。

この関係は、実験的に確かめられたもので、本邦産の籾
では、第２表のような数値が得られている。第２表 このように、含水率に対する電気抵抗値の変化は極めて
大きなもので、縦軸を対数目盛とする所以である。

なお、抵抗値がそのまま含水率と密接な関連を有するた
め、圧嬢ローラ１３，１９′の測定条件例えば間隔、回
転速度、印放電圧等は常に一定条件に維持されなければ
ならないことは当然である。第４図のデコーダトは、Ｄ
−Ａ変換回路ホのカウント出力を受けて、含水率に相当
する出力５〜１５に変換するもので、集積回路ＩＣ２か
らなる。

このＩＣ２の出力端子には、ｎ個の発光ダイオードＬＤ
，‐ｎから成る含水率表示回路チが接続される。集積回
路ＩＣ２は、第４図には簡潔に表示するために１個の集
積回路で図示されているが、実施例においては、第７図
に示すような０〜９の十進カウンタが２個縦列接続され
ている。このカウンタは、カゥソタ入力をＡ，Ｂ，Ｃ，
Ｄに受け、発振回路こを停止させた信号が、ダイオード
ＳＲ，を介して印加された際にそれぞれ出力０〜９に対
応する出力を発生する。この場合の関係は、第３表に示
す通りである。表中入力欄縦方向には、二第３表進数に
よるカウント０〜１５が表されており、出力欄にはそれ
ぞれこれら入力に対応する出力が得られる。

本実施例では、Ｄ−Ａ変換回路ホの電圧が低すぎるため
０〜４は使用していない。これらの集積回路を使用して
７個の発光ダイオードＬＤ，‐ｎを点灯するように構成
している。なお、第４図では出力端子が２本直接接続さ
れているが、実際の回路においては、相互干渉をしない
よう配慮されており、オア条件によって発光ダイオード
ＬＤ，‐ｎを点灯する。いま、Ｄ−Ａ変換回路ホがカウ
ント５で発生する電位と、抵抗検出回路ハの検出抵抗値
による電位との関係によって、比較回路へとしてのＰＵ
Ｔの出力パルスが発生し、発振が停止したとする。

この場合は、第３表の出力５に相当する端子は０電位と
なるので、この端子に接続された発光ダイオードＬＤ，
が点灯する。したがってカウント５が、例えば含水率１
９％に対応しているとすると、この発光ダイオードＬＤ
，の点灯によりこれを表示するものである。なお、含水
率１９％以上の場合は、生籾またはこれに近い状態であ
り、当然不合格であり乾燥運転を継続する必要がある。
同様に、含水率１８％が端子６または７に対応するとす
れば、端子６および７に接続された発光ダイオードＬＤ
２が点灯する。本実施例における含水率とカウント数と
の関係は第４表の通りであり、ＩＣ２の対応する出力端
子との接続がなされている。

なお、第４図の集積回路は１個で表示しているので、連
続数字で出力端子を示した。

また、単独および２端子接続の関係が第４表の通りであ
る。第４表カウント数 舎水率 （出力端子） ５ １９％６，７
１８％８，９
１６％１０
１５．５％１１，１２ １５
％１３ １４．５％１４
，１５ １４％合格含水率
選択回路川ま、ロータリースイッチＰＳＷ，によって形
成され、たとえば、上記含水率１９％〜１４％のうち所
望値に設定することができる。

このように、含水率を任意に設定できるように構成した
のは、銘柄、収穫前後の気象条件、その後の流通予想等
の諸条件を勘案し適宜選択されるべきものだからである
。含水率合格度数積算回路ヌは、カウンタとしての集積
回路ＩＣ３から構成され、合格含水率選択回路りからイ
ンバータＩＶ，およびダイオードＳＲ３を介して印加さ
れる出力パルス数を積算するものである。

このＩＣ３の出力は、合格度数選択回路ルに伝えられる
。なお、ィンバータＩＶ，は信号の極性を反転し次段回
路の入力に適合させるためのもの、そしてダイオードＳ
Ｒ３は信号の干渉を除去するためのものである。合格度
数選択回賂ヌは、ロータリースイッチＲＳＷ２によって
構成され、前述の合格舎水率選択と同様に適宜選択され
る。

本実施例では４〜９の適当な度数に適宜設定することが
できる。この場合にも、ィンバータＩＶ２および抵抗Ｒ
２７を介して出力が機械停止回路のサィリスタＳＣＲ２
のゲートに入力されて、機械停止用リレーＲＸ，を作動
させ、必要なプログラム制御を実施する。一方、測定回
数積算回路ワは、カウンタとしての集積回路ＩＣ４から
構成されていて、不合格の場合の全測定回数の積算を行
うものである。

本実施例では、１０回の測定を行うため、各測定回毎に
集積回路に２からのパルスをインバータＩＶ３を介して
受けて０〜１０回のカウントを行う。測定が全回数に至
る場合、これはそれ以前に合格度数に達しないこと、す
なわち乾燥が不十分で不合格であることを表すから、１
０回目に測定回路停止回路力のサィリスタＳＣＲ３を導
通させてリレーＲＸ−２を作動させる。その結果第４図
上方の接点ＲＸ−幼を開放することによって各回路をリ
セットし、次回測定まで待機する。これら両回路の機能
について第８図および第９図により説明する。

第８図の構成において、いま２個の入力パルスがあると
それぞれ１，２，４’８に対応する出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ
には二進数０，１，０，０″が現れる。この場合の真理
値表は第５表の通りである。もし、リセツト端子にパル
スが入力されると、カウント０となる。第９図は第４図
において便宜上１個の集積回路で示された含水率合格度
数積算回路ヌの実施例であり、２個の集積回路ＩＣ３−
，およびＩＣ３‐２を接続したもので、出力端子は合格
度数選択回路ルの各固定接点に接続され、このロータリ
ースイッチＲＳＷ２の選択位置に合致した回数、図示例
では６に達した際に出力が矢印のように得られる。この
出力は、適当な表示装置例えばパイロットランプや発光
ダイオード等により常時または必要に応じて表示するこ
ともできる。合格度数選択回路」しから出力が得られた
場合には、第４図の機械停止回路ヲに出力が伝送され、
該回路内のサィリスタＳＣＲ２を点弧し、自動乾燥機本
体の燃焼系、送風系その他機器を停止する。このように
合格度数選択回路ルから出力が得られる条件は、前述の
ように抵抗検出回路ハで検出した抵抗値に対応する点で
発振回路第５表 二が停止し、この際のカウント数に対応する基準電圧が
合格含水率選択回路りで選択されている合格含水率に達
しており、そしてこの合格含水率が合格度数選択回路ル
の選択度数に到達しいることである。

当然、かかる条件が整わない場合には、乾燥過程を継続
し、所定時間後に前述のサンプリングをけじめ、所望含
水率が得られるまで測定動作を自動的に繰り返す。

したがって、被処理物質としての穀粒を装入したのち、
自動乾燥が行われ、その間格別の人手は必要でなくなる
ため労力が軽減され、しかも、従来操作者の勘に頼って
判断していた含水率が高い信頼性をもって定量的に測定
・判断されるため、穀粒の仕上がり状態を均一化し、品
質向上に資することができる。以下、本発明にかかる自
動乾燥機において所望舎水率の穀粒に仕上げるための動
作について説明する。

含水率は、従来の経験から、１９％以上、１８％、１６
％、１５．５％、１５％、１５．５％、１４．５％、１
４％の中から適宜選定され合格含水率選択回路りが設定
される。

１９％以上は高舎水率であって生籾状態であり、問題に
ならない。

通常は１５％前後に選定される。次いで、合格度数選択
回路」しが４ないし９回の適当な回数に設定される。こ
れは１０回の検査あたり何回合格含水率に達した場合に
乾燥終了とするかを決定するもので、通常は６〜７回程
度に設定される。そこで適当量の被乾燥穀粒を自動乾燥
機内に装入し、乾燥を行う。適当な時間にわたり乾燥を
行った頃からサンプリング機綾イを作動させて適宜サン
プリングを行い、測定が行われる。

かかる乾燥過程においては、第４図の整流・定電圧回路
ヨは規定電圧を発生しているから、測定の基本的条件は
整っている。検出端スイッチ口はサンプリング機構の圧
嬢ローラのカムによって作動せしめられているから、条
件下においてはオンとなる。当然、内部リレーＲＬなら
びに測定回路リレーＲＸ‐２の各接点もオンとなってい
るから、測定回路は作動条件が整い、発振回路二が発振
する。本実施例では、３０ＨＺのパルスを発生する。こ
の発振回路の出力パルスを受けて、ＩＣ，および抵抗群
Ｒ，。ないしＲ２，からなるＤ一Ａ変換回路木は階段状
の基準電圧を発生する。この階段状電圧は、比較回路へ
としてのＰＵＴのアノード‘こ印放される。一方、抵抗
検出回路ハは圧嬢ローラ間に挟着された被検査試料の電
気抵抗を示す。

この低抗値に比例する電圧を取り出し、比較回路へとし
てのＰＵＴのゲートに印加して比較を行う。もし、ＰＵ
Ｔを導通させる条件の電圧が得られた場合には、発振回
路二を停止させる。この場合の階段状電圧はデコーダト
において、含水率を表す数値に換算される。ここで換算
された含水率は、含水率表示回路チとしての発光ダイオ
ードＬＤを点灯させると同時に、合格舎水率選択回路川
こも与えられる。合格舎水率選択回路りの出力回数は、
含水率合格度数積算回路丸こおいて積算される。

この合格度数積算回路ヌの出力が合格度数選択回路」し
で以つて設定された合格度数に一致したときは乾燥を終
了すべきであるので、機械停止回路ヲを作動させるため
のサィリスタＳＣＲ２を点弧し、リレーＲＸ‐２を作動
させる。その結果、乾燥機の主機器類が停止される。前
述のような合格度数に達しない場合には、当然不合格と
なる。

この場合にはデコーダトの一部のパルスを受けて計数を
行う測定回数積算回路ワが全測定回数、本実施例では１
０回お測定回数になった際に測定回路停止回路力のサィ
リスタＳＣＲ３を作動させて測定を終了する。しかし乾
燥は継続され、しかるべき時間の後、図示されていない
適当なタイマー等によって、測定が再開される。かかる
不合格の場合の含水率は、図示されていない適当な保持
回路により含水率表示回路チに継続表示したまま乾燥過
程を継続すると都合がよい。このような表示によって、
その後のおおよその所要乾燥時間を推測することができ
る。合格の条件が整った場合には、前述のように機械停
止回路ラを作動せしめ、乾燥過程を終了する。この乾燥
終了により検出端スイッチは作動しなくなるので測定回
路も必然的に作動を停止する。含水率の測定は、１サン
プリングあたり１０回行い、その中に任意に選択した４
〜９の合格度数に達するまで行うことができる。

不合格であれば側・定停止回路力を作動させることによ
って測定回路の電圧を遮断して測定を中止すると共に、
測定回数積算回路ワおよび合格度数積算回路ヌをリセッ
トする。その後適当な内蔵タイマー機構によって、含水
率に影響を及ぼす程度の乾燥過程継続し、サンプリング
および一連の測定過程を再開する。この時間は、例えば
１時間とすることができ、乾燥終期に近ずし、た場合は
３び分程度に短縮すると都合がよい。かかる制御は、適
当なプログラムタイマーによって適宜実施することがで
きる。このプログラムタイマーと本発明にかかる測定・
制御装置とを組み合わせて使用することにより、最適の
自動乾燥機運転を行うことができる。以上詳述したよう
に、実施例として示された循環型の籾乾燥機における含
水率の測定において１サンプリングあたり所定回数の測
定を行い、その中で適宜設定した回数にわたって合格基
準に達したか否かによって合否判定を行い、この判定結
果に応じた含水率表示を行うと同時に、本体たる乾燥機
に対して乾燥運転をプログラム制御することができる。
このプログラム制御の対象としては本実施例においては
、加熱用バーナへの燃料供給量、送風機の運転状態、コ
ンベアその他の機器を周知タイミングおよび順序等によ
り被処理対象としての籾の乾燥状態を的確に把握しなが
ら実施することができる。ここに示した実施例において
は、含水率を電気抵抗として測定しているが、湿度、温
度等に関しても適当な手段、例えば抵抗計やサーミスタ
等によって電気的な数値として変換・測定し得るもので
あれば、同様に制御することができる。

したがつて、加湿器によって加湿されている雰囲気の制
御や保温室内温度の制御等にも適用することができる。
かかる状態は、例えば醸造室や温室内の雰囲気を数個所
からサンプリングし、その結果に応じて温度・湿度・給
水・燃料等の段階的または時間に比例する等の任意プロ
グラムによって制御して、微生物、生物、植物等の育成
過程に適用可能である。なお、室内雰囲気のサンプリン
グは、１個または少数のセンサを移動させながら行うこ
ともでき、また多数のセンサを併置して順次測定する構
成とすることもできる。本発明にかかる自動乾燥機によ
り操作者の常時監視を必要とすることなしに常に適切な
被処理対象の乾燥が実施され、省力化を図りかつ最適処
理時間ならびに処理品位を達成することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明にかかる循環型自動乾燥機の例を示す
部分破断図、第２図はサンプリング機構と電気抵抗検出
部の機械的構造の例を示す説明図、第３図は、本発明に
かかる自動乾燥機のブロック図、第４図は、本発明にか
かる自動乾燥機の電気回路の例、第５図は、含水率と電
気抵抗値との関係を示すグラフ、第５ａ図は、Ｄ−Ａ変
換回路の発生する階段状基準電圧の関係を示すグラフ、
第６図ないし第９図は、第４図内の集積回路の機能説明
図である。 第９図 第１図 第２図 第３図 図 寸 船 第５図 第６図 第７図 第５図ａ 第８図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 乾燥機内の穀粒群から所要回数にわたつてランダム
   にサンプリングされた検査試料の電気抵抗値を検出する
   抵抗検出回路；所定周期でかつ安定化された電圧を発生
   しこれをＤ−Ａ変換回路へ送る発振回路；前記Ｄ−Ａ変
   換回路からの各所定含水率に対応した電気抵抗によつて
   それぞれ発生する基準回路と前記抵抗検出回路で検出さ
   れた抵抗値に比例する電圧とを比較して両者が所定条件
   を満たした際に出力パルスを発生する比較回路；を含み
   、検査試料の含水率を電気的に測定・検出する含水率検
   出回路と、 前記検査試料に対する所望の合格含水率を
   設定し、前記含水率検出回路によつて検出された含水率
   が設定値に達した際に出力パルスを発生する合格含水率
   選択回路と、 前記合格含水率選択回路が出力パルスを
   発生した度数に積算するための合格度数積算回路と、
   前記合格度数積算回路の積算値が、所望の合格度数以上
   になつたか否かに応じて被処理物質たる前記穀粒群の乾
   燥状態の良否を判定するための合格度数基準の設定を行
   う合格度数選択回路と、 前記合格度数選択回路の設定
   基準を満足するか否かの合格判定出力を受けて、少なく
   とも乾燥用熱源、送風装置等の乾燥機主装置の機械停止
   回路を含む乾燥機の作動状態と、所望の乾燥工程に合致
   せしめるように制御するためのプログラム制御回路と、
   を具備することを特徴とする自動乾燥機。