JPS603082A - Ｉｃカ−ド - Google Patents
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- JPS603082A JPS603082A JP58108540A JP10854083A JPS603082A JP S603082 A JPS603082 A JP S603082A JP 58108540 A JP58108540 A JP 58108540A JP 10854083 A JP10854083 A JP 10854083A JP S603082 A JPS603082 A JP S603082A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
- G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
- G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
- G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
- G06K19/073—Special arrangements for circuits, e.g. for protecting identification code in memory
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、識別用など各種のデータ保持のため、メモリ
とそれを制御するためのマイクロコンピュータとを埋設
したカード、特にメモリとしてＥＥＦＲＯＭ（エレクト
リカリ・イレイザブル・アンド・プログラマブル・リー
ド・オンリー・メモリの略）を用いたカードに関する。
とそれを制御するためのマイクロコンピュータとを埋設
したカード、特にメモリとしてＥＥＦＲＯＭ（エレクト
リカリ・イレイザブル・アンド・プログラマブル・リー
ド・オンリー・メモリの略）を用いたカードに関する。
身分証明用カードやフレノットカード、或いは銀行カー
ドなどの識別用カード（ＩＤカードという）としては、
従来から磁気記録方式によシデータ？保持したデータ・
カードが主として採用されている。
ドなどの識別用カード（ＩＤカードという）としては、
従来から磁気記録方式によシデータ？保持したデータ・
カードが主として採用されている。
この磁気記録方式のカードは、そのブ′−夕の亨１替え
が比較的容易なため、特定の用途、例えは銀行カードな
どで預金残高？併記するような場合などに有利性が見出
せるものの、データの改ざん防止が充分でないことや携
帯時などに受け易い磁気的な汚染に対するデータの保膜
が困難で、信頼性が充分得られない場合があるという問
題点がある。
が比較的容易なため、特定の用途、例えは銀行カードな
どで預金残高？併記するような場合などに有利性が見出
せるものの、データの改ざん防止が充分でないことや携
帯時などに受け易い磁気的な汚染に対するデータの保膜
が困難で、信頼性が充分得られない場合があるという問
題点がある。
そこで、このような点を考慮し、集積回路（ＩＣ）素子
からなるメモリと、このメモリ制御用のマイクロコンピ
ュータ（以下、マイコンといつ）をカードに埋設し、こ
のメモリにデータを記憶させ、必要に応じてそのデータ
を読出し、識別などに用いるようにしたデータ・カード
が提案され、実用化されるようになってきた。
からなるメモリと、このメモリ制御用のマイクロコンピ
ュータ（以下、マイコンといつ）をカードに埋設し、こ
のメモリにデータを記憶させ、必要に応じてそのデータ
を読出し、識別などに用いるようにしたデータ・カード
が提案され、実用化されるようになってきた。
このようにＩＣを内蔵したブ゛−タ・カードはＩＣカー
ドと呼ばれ、例えは第１図の正面図及び第２図の断面図
に示すように、適当なプラスチックなどで作られたカー
ド基体２の一部に凹部３を形成し、その中にＩＣモジュ
ール４を収ｇ したもので、このＩＣモジュール４には
接点端子（′６極）５が設けられ、外部の回路とＩＣモ
ジュール４に含まれている電子回路との間の電気的な接
続が行なえるようになっている。
ドと呼ばれ、例えは第１図の正面図及び第２図の断面図
に示すように、適当なプラスチックなどで作られたカー
ド基体２の一部に凹部３を形成し、その中にＩＣモジュ
ール４を収ｇ したもので、このＩＣモジュール４には
接点端子（′６極）５が設けられ、外部の回路とＩＣモ
ジュール４に含まれている電子回路との間の電気的な接
続が行なえるようになっている。
また、カード基体２の表面にはインクなどで描かれた所
定の文字や図形などからなる絵柄６が施こされる場合が
多く、これらの保膜を１［〔ね、適当な透明プラスチッ
クなどからなる保護層７が設げられ、こす１、ら全体で
ＩＣカードｌを形成している。
定の文字や図形などからなる絵柄６が施こされる場合が
多く、これらの保膜を１［〔ね、適当な透明プラスチッ
クなどからなる保護層７が設げられ、こす１、ら全体で
ＩＣカードｌを形成している。
なお、８は磁性体のストライ２°層で、磁気記録方式の
データ・カードとしても使用できるように設けられたも
ので、ＩＣカードとしては特に必要なものではない。
データ・カードとしても使用できるように設けられたも
ので、ＩＣカードとしては特に必要なものではない。
ＩＣモ、：、’ニール４ば、ＬＳＩ（大規模年払回路）
による各棟のメモリや、それ音制御するためのマイコン
を備え、ＩＣカードｌを所定のチェック用機器に七ット
するとＩＣモジュール４に搭載されているマイコンと外
部のデータ処理回路との間の電気的接続が接点端子５を
介してル成され、ＩＣカードｌ内のメモリに対する外部
回路からのアクセスが行なわれてデータの■込みと胱出
しがｎ」能になシ、識別なとの機能かにた芒れるよ５に
なっている。
による各棟のメモリや、それ音制御するためのマイコン
を備え、ＩＣカードｌを所定のチェック用機器に七ット
するとＩＣモジュール４に搭載されているマイコンと外
部のデータ処理回路との間の電気的接続が接点端子５を
介してル成され、ＩＣカードｌ内のメモリに対する外部
回路からのアクセスが行なわれてデータの■込みと胱出
しがｎ」能になシ、識別なとの機能かにた芒れるよ５に
なっている。
そして、このようなＩＣカードにおけるＩＣモジュール
４の構成としては、従来がら、例えは第３図に示すよう
に、情報データ記憶用のメモリとしてＥ ＥＰ ＲＯＭ
を用いたものが知られている。
４の構成としては、従来がら、例えは第３図に示すよう
に、情報データ記憶用のメモリとしてＥ ＥＰ ＲＯＭ
を用いたものが知られている。
この第３図において、４０ｉ：？イ””＋４．］ｔｌ：
ＥＥＰＲＯＭであり、芒らにマイコン４ｏはＣＰＵ（セ
ントラル・グロセッシング・ユニッ））４０１゜プログ
ラム格納用のＲＯＭ （リード・オンリー・メモリ）−
４０２，そしてデータ演算用のメモリであるＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）４０３で構成されておシ、
これらは接点九″、ｉ子５の各端子片５】〜５６を介し
て外部装置に接続され、ＥＥＰＲＯＭ４０に対するデー
タの訃込みゃ、それからのデータの読出しが行なえるよ
うになっている。
ＥＥＰＲＯＭであり、芒らにマイコン４ｏはＣＰＵ（セ
ントラル・グロセッシング・ユニッ））４０１゜プログ
ラム格納用のＲＯＭ （リード・オンリー・メモリ）−
４０２，そしてデータ演算用のメモリであるＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）４０３で構成されておシ、
これらは接点九″、ｉ子５の各端子片５】〜５６を介し
て外部装置に接続され、ＥＥＰＲＯＭ４０に対するデー
タの訃込みゃ、それからのデータの読出しが行なえるよ
うになっている。
したがって、このＩＣカードによれ＆、ｊ、、′５−′
−タの改ざんが困佃で高い信ゎ４・注がイｉｉｒ：）肛
、イ侵気的なちオ境変化に強い上、記憶可能なテ゛−夕
１ｉの増加が答易な／こめ、ＩＤ用に限らず一般的なブ
゛−タ保掲用としても広い用途が期ｆ、１できるように
なってさた。
−タの改ざんが困佃で高い信ゎ４・注がイｉｉｒ：）肛
、イ侵気的なちオ境変化に強い上、記憶可能なテ゛−夕
１ｉの増加が答易な／こめ、ＩＤ用に限らず一般的なブ
゛−タ保掲用としても広い用途が期ｆ、１できるように
なってさた。
そして、上記のよりなＥＥＰＲＯＭを用い７’ｃ ＩＣ
カードによれは、そのＥ ＥＰ ＲＯｙｒに記憶した情
報の消去が容易に行なえるため、必要に応じてメモリに
書込んであるガータを消去し、ＩＣデータの再使用がで
きるという利点があシ、従来のＰＲＯＭ （プログシマ
プル・リード・オンリー・メモリ）やＥ Ｐ ＲＯＭ
（イレイザフ゛ル・アンド・）゛ログシマゾル・リード
・オンリー・メモリー、ただし、紫外線脂身」による消
去ケ要するグこめ、ＩＣカード用とした％１合には消去
ががなシ困難になる）を用いたＩＣカードに比して多く
使用感れるようだなってきた。
カードによれは、そのＥ ＥＰ ＲＯｙｒに記憶した情
報の消去が容易に行なえるため、必要に応じてメモリに
書込んであるガータを消去し、ＩＣデータの再使用がで
きるという利点があシ、従来のＰＲＯＭ （プログシマ
プル・リード・オンリー・メモリ）やＥ Ｐ ＲＯＭ
（イレイザフ゛ル・アンド・）゛ログシマゾル・リード
・オンリー・メモリー、ただし、紫外線脂身」による消
去ケ要するグこめ、ＩＣカード用とした％１合には消去
ががなシ困難になる）を用いたＩＣカードに比して多く
使用感れるようだなってきた。
ところで、このようなＩＣカードにおいても、正しい椴
能陀もった製品とし７で提供するためには、その製造工
程の終シの段階での各棟の横歪が不可欠である。
能陀もった製品とし７で提供するためには、その製造工
程の終シの段階での各棟の横歪が不可欠である。
１−かして、メモリとし？ｒ Ｐ ＲＯＭやＥＰＲＯＭ
などデータの消去が不可能又は困９ｊ１［なもの音用い
たＩＣカードにおいては、メモリに冥際にテ′−タｋ
古込んでそのメモリ機能をテスＩ・することができない
から、この点での機能については未確認の状態のまま製
品とせざるをえない。
などデータの消去が不可能又は困９ｊ１［なもの音用い
たＩＣカードにおいては、メモリに冥際にテ′−タｋ
古込んでそのメモリ機能をテスＩ・することができない
から、この点での機能については未確認の状態のまま製
品とせざるをえない。
一方、ＪうＫＦＲＯＭを用いたＩＣカードでは、メモリ
に実際にデータを書込んでのテストが可能で、機能的に
信頼性の高い製品と）ることかできる。
に実際にデータを書込んでのテストが可能で、機能的に
信頼性の高い製品と）ることかできる。
しかしながら、この場合、ＥＥＰＲＯＭｋＩＣカードに
実装する前にテストしたのでは、光分な信頼性を与える
ことができない。即ち、Ｅ Ｅ Ｐ ｌ’（ＯＭをＩＣ
カードに実装する場合、その実装条件によってはメモリ
機能に影響を与えてしまう可能性がかなシあシ、そのた
め、たとえ芙装前にメモリ機能に異常がなかったとして
も、それでち゛こ装機の正常なち９能の発揮が期待でき
るとい）作置・は必ずしもない。
実装する前にテストしたのでは、光分な信頼性を与える
ことができない。即ち、Ｅ Ｅ Ｐ ｌ’（ＯＭをＩＣ
カードに実装する場合、その実装条件によってはメモリ
機能に影響を与えてしまう可能性がかなシあシ、そのた
め、たとえ芙装前にメモリ機能に異常がなかったとして
も、それでち゛こ装機の正常なち９能の発揮が期待でき
るとい）作置・は必ずしもない。
従つ−Ｃ，ＥＥＰＲＯＭを用いたＩＣカードの品質保障
のためには、ＩＣカードとしてメモリを実装した後での
メモリ機能の検査、７ｉｆ１゛ｔｔ、４が大きなファク
タとなシ、はとんど不可欠の妥件となっているといって
よい。
のためには、ＩＣカードとしてメモリを実装した後での
メモリ機能の検査、７ｉｆ１゛ｔｔ、４が大きなファク
タとなシ、はとんど不可欠の妥件となっているといって
よい。
ところで、このようなＥ′Ｆ２ＰＲＯＭｔメモリとしで
使用したＩＣカードのメモリ様能を・訊査、イ＋７Ｍ認
する方法としてね１、まず、このＩＣカード自身が持つ
ＩＣカードとしての機能をそのまま利用する方法が考え
られる。即ち、ＩＣカードの検査装置からＩＣカードに
所定のデータを転送し、それをメモリに眉、込んで確認
するという処理をメモリの全領域について行なえばよい
。
使用したＩＣカードのメモリ様能を・訊査、イ＋７Ｍ認
する方法としてね１、まず、このＩＣカード自身が持つ
ＩＣカードとしての機能をそのまま利用する方法が考え
られる。即ち、ＩＣカードの検査装置からＩＣカードに
所定のデータを転送し、それをメモリに眉、込んで確認
するという処理をメモリの全領域について行なえばよい
。
このようなＩＣカードの機能をそのまま利用して
た方法の場合の処理をフローチャート示すと第４図のよ
うになる。即ち、ＩＣカードの検査装置かこの処理に入
ると、まずステップ１で所定のメモリ領域ごとの切込み
コマンドイ７．−号を出力し、ついでステップ３でそれ
に対応したデータを出力する。
うになる。即ち、ＩＣカードの検査装置かこの処理に入
ると、まずステップ１で所定のメモリ領域ごとの切込み
コマンドイ７．−号を出力し、ついでステップ３でそれ
に対応したデータを出力する。
一方、ＩＣカードは、検査装ＷＪからの■込コマンドと
ｒ−夕をステップ１０．３０で順次入力し、それにした
がってステップ５０でＥＥＰＲＯＭの］：４定されたメ
モリ領域にブータラ書込む。つイテステップ７０でいま
間込んだデータを読出してそれが正しく書込まれている
か否かを照合確認し、その結果をステータス信号として
出力する。
ｒ−夕をステップ１０．３０で順次入力し、それにした
がってステップ５０でＥＥＰＲＯＭの］：４定されたメ
モリ領域にブータラ書込む。つイテステップ７０でいま
間込んだデータを読出してそれが正しく書込まれている
か否かを照合確認し、その結果をステータス信号として
出力する。
こうしてＩＣカードからステータスが出力されると、そ
れを検査装置がステップ５で入力し、次のステップ７に
進み、ＥＥＦＲＯＭの全てのメモ９領域に対する処理が
終了するまでステップｌから５までの処ｆｉ！１．”！
ｉ＝繰シ返えす。
れを検査装置がステップ５で入力し、次のステップ７に
進み、ＥＥＦＲＯＭの全てのメモ９領域に対する処理が
終了するまでステップｌから５までの処ｆｉ！１．”！
ｉ＝繰シ返えす。
従って、この方法では、第４図に示した処理ｆ ＥＥＰ
ＲＯＭに格納可能なデータ量に応じて多数回繰９返えす
必要があシ、１回の処ｐｉｊでイ゛ｄ納されるデータ量
があまシ多くない場合にＵｌｌ、膨大々処理回数を要す
ることになり、その際、コマンドやプ′−夕の入出力に
必要な伝送時間が累積されるため、多くの検査時間が必
要になるという間；顆点があった。
ＲＯＭに格納可能なデータ量に応じて多数回繰９返えす
必要があシ、１回の処ｐｉｊでイ゛ｄ納されるデータ量
があまシ多くない場合にＵｌｌ、膨大々処理回数を要す
ることになり、その際、コマンドやプ′−夕の入出力に
必要な伝送時間が累積されるため、多くの検査時間が必
要になるという間；顆点があった。
そこで、この方法を実装のＩＣカードの検査に適用した
際には、上記した検査時間を勘案してメモリの一部の領
域に対してだけブ゛−夕の？１２込みと読出し、それに
消去などを行ない、こｈによってｌ（ケに動作に異常が
なげれば、そのＩＣカードの機能はＥＥＰＲＯＭのメモ
リ機能も含めて正常であるとする検査方法が採用されて
おシ、従って、この場合には充分に信頼性の高い製品を
−ｔ−４えることができなかった。
際には、上記した検査時間を勘案してメモリの一部の領
域に対してだけブ゛−夕の？１２込みと読出し、それに
消去などを行ない、こｈによってｌ（ケに動作に異常が
なげれば、そのＩＣカードの機能はＥＥＰＲＯＭのメモ
リ機能も含めて正常であるとする検査方法が採用されて
おシ、従って、この場合には充分に信頼性の高い製品を
−ｔ−４えることができなかった。
また、ＩＣカードのメモリ機能を正しくテストするため
には、そのメモリ領域の全ビラトラ対象としたテストを
行なわなけれはならない。一方、このよう々ＩＣカード
においては、それが対象とするデータに対して何らかの
コードを伺加し、そｔ’ＬによシＩＣカードのメモリに
格納でれたデータの管理を行なうようにする場合がある
。例えは、エラーチェック用のビラトラ付加した場合が
それである。しかして、このような場合には、メモリに
書込みが行なわれないビットが残ってしまうことになυ
、全ビットを対象としたテストは不可能になる。
には、そのメモリ領域の全ビラトラ対象としたテストを
行なわなけれはならない。一方、このよう々ＩＣカード
においては、それが対象とするデータに対して何らかの
コードを伺加し、そｔ’ＬによシＩＣカードのメモリに
格納でれたデータの管理を行なうようにする場合がある
。例えは、エラーチェック用のビラトラ付加した場合が
それである。しかして、このような場合には、メモリに
書込みが行なわれないビットが残ってしまうことになυ
、全ビットを対象としたテストは不可能になる。
従って、従来のＩＣカーＦＴは、ＥＥＰＲｏＭ′（Ｉ−
用いた場合でも、そのメモリ機能奮完全に検査しように
すれ′ば、膨大な検査時間を要してコストアップとなっ
たシ、或は完全な検査が不可能であったシするため、充
分に高い信頼性をイ４るのが回前であるという欠点があ
った。
用いた場合でも、そのメモリ機能奮完全に検査しように
すれ′ば、膨大な検査時間を要してコストアップとなっ
たシ、或は完全な検査が不可能であったシするため、充
分に高い信頼性をイ４るのが回前であるという欠点があ
った。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除き、メモ
リ機能に対する検査が充分に行なえ、高い信頼性を有す
るＩＣカードをローコストで提供するにある。
リ機能に対する検査が充分に行なえ、高い信頼性を有す
るＩＣカードをローコストで提供するにある。
この目的を達成するため、本号６げ１シシ、４苔ｌ現さ
れたＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭのメモ！Ｊ ｌ；／”、＆能に
対する検査処ｖｌ！カニ全てＩＣカード内で行なわれる
ように’！７′ｉ Ｊ戊したＩＡを牛Ｙ徴とする。
れたＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭのメモ！Ｊ ｌ；／”、＆能に
対する検査処ｖｌ！カニ全てＩＣカード内で行なわれる
ように’！７′ｉ Ｊ戊したＩＡを牛Ｙ徴とする。
以下、本発明によるＩＣカードの尖施５１Ｊにつ℃・て
、図面を参照して説明する。
、図面を参照して説明する。
本発明の一実施例によるＩＣカー１’は第１図及び第２
図に示したＩＣカードと同じ）（゛り造を有し、内蔵さ
れているＩＣモジュール４も第３図に示したＩＣカード
と同じであるが、そのＲＯＭ ４０２に格納しであるプ
ログラムが異なり、；ＩＩ！１． ’ｊＷのＩＣカード
としての処理に加え、外部の検イｄ促［′ｌＩ′力＼ら
入力されるテストコマンドに応じて２ｉ４５１ン１のフ
ローチャートにしたがった処理がＩＣカーＩＷ （７）
中Ｔ実行されるように構成烙れておｐ、こσ’ ＋’
＋１．＋で上り己した従来のＩｃカードと異々つて（・
る。
図に示したＩＣカードと同じ）（゛り造を有し、内蔵さ
れているＩＣモジュール４も第３図に示したＩＣカード
と同じであるが、そのＲＯＭ ４０２に格納しであるプ
ログラムが異なり、；ＩＩ！１． ’ｊＷのＩＣカード
としての処理に加え、外部の検イｄ促［′ｌＩ′力＼ら
入力されるテストコマンドに応じて２ｉ４５１ン１のフ
ローチャートにしたがった処理がＩＣカーＩＷ （７）
中Ｔ実行されるように構成烙れておｐ、こσ’ ＋’
＋１．＋で上り己した従来のＩｃカードと異々つて（・
る。
次に、この実力凪例の動作について粘ｉ、明する。
まず、本発明の一実施例によるＩＣカード〃５製造工程
を終シ、−旧製品として完成したとする。
を終シ、−旧製品として完成したとする。
そうすると、ここでＩＣカードに内蔵したＥＥｒ’ＲＯ
Ｍのメモリ機能を含めたＩＣカードの検査工程に入力、
所定の検査装置にこのＩＣカードをセットし、端子５を
介して両者間に電気的な結合が行なわれるようにする。
Ｍのメモリ機能を含めたＩＣカードの検査工程に入力、
所定の検査装置にこのＩＣカードをセットし、端子５を
介して両者間に電気的な結合が行なわれるようにする。
こうして検査装置にＩＣカードがセットされ、両者間で
のデータ伝送が可能にたつたことが検査装置に確認され
たら、第５図にしたかった処理力（開始し、まず検査装
置１１からステップ２に示すようにテストコマンド信号
が出力される。
のデータ伝送が可能にたつたことが検査装置に確認され
たら、第５図にしたかった処理力（開始し、まず検査装
置１１からステップ２に示すようにテストコマンド信号
が出力される。
一方、このテストコマンド信号がＩＣカードにへ力埒れ
るとステップ２０でそれが判別さ〕′シ、そ扛により油
密のう″−タ４り込みとは異なった処理ルーチンな行な
い、ステップ４０で所定のテストプ′−夕の生成全行な
い、ステップ６０でこのテストラ′−夕をＥＥＰＲＯＭ
４１の先頭番地から畳込み始める。そして、これをステ
ップ７０で判断し、Ｅ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１の全ての
番地のビットにデータが書込まれてゆくようにする。な
お、この間、検査装置は、ステップ２でテストコマンド
を出力した後ＩＣカードからステータスが入力されて来
るのをただ待っていればよい。
るとステップ２０でそれが判別さ〕′シ、そ扛により油
密のう″−タ４り込みとは異なった処理ルーチンな行な
い、ステップ４０で所定のテストプ′−夕の生成全行な
い、ステップ６０でこのテストラ′−夕をＥＥＰＲＯＭ
４１の先頭番地から畳込み始める。そして、これをステ
ップ７０で判断し、Ｅ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１の全ての
番地のビットにデータが書込まれてゆくようにする。な
お、この間、検査装置は、ステップ２でテストコマンド
を出力した後ＩＣカードからステータスが入力されて来
るのをただ待っていればよい。
もて、ＩＣカードで（ｄ、ステップ７０での結果がＹＥ
ＳＫなったら、次にステップ８０に進み、Ｅ Ｅ Ｐ
ＲＯＭ ４１の全てのビットにで１込んだテストデータ
を訃１．出して照合、るイを認を行ない、その結果をス
テップ１００で出力する。
ＳＫなったら、次にステップ８０に進み、Ｅ Ｅ Ｐ
ＲＯＭ ４１の全てのビットにで１込んだテストデータ
を訃１．出して照合、るイを認を行ない、その結果をス
テップ１００で出力する。
こうしてＩＣカードからステータスが出力されたら、そ
れを検査装置がステップ４の処理として入力し、そのＩ
Ｃカードの良否判定を行なう。
れを検査装置がステップ４の処理として入力し、そのＩ
Ｃカードの良否判定を行なう。
従って、この実施例によれは、ＩＣカードに対してただ
１回のテストコマンドの入力介行なうだけで、その彼は
テストデータの４１．成と、そｆ’Ｌのメモリへのｆ′
ｒ込及び読出しによる？Ｘ（１〜、（処理とが全てＩＣ
カード内で進めらオｔてゆ＜１、蛍も、ＩＣカードと外
部との間でのデータ転送にデ、゛・やされる弓１ｉｉ１
が不要になシ、検査時間を太１’：１：に減ｙＪ、させ
ることができる。
１回のテストコマンドの入力介行なうだけで、その彼は
テストデータの４１．成と、そｆ’Ｌのメモリへのｆ′
ｒ込及び読出しによる？Ｘ（１〜、（処理とが全てＩＣ
カード内で進めらオｔてゆ＜１、蛍も、ＩＣカードと外
部との間でのデータ転送にデ、゛・やされる弓１ｉｉ１
が不要になシ、検査時間を太１’：１：に減ｙＪ、させ
ることができる。
また、この実施例によるｉｒｊ：、ＥＥＰＲＯＭ４１の
メモリ領域にも込むべきテストデーク全全てＩＣカード
の中で住゛成するようになっているから、このＩＣカー
ド欠用いるシステムにおけるプ″−夕の官理方式とシ（
１（関係にＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１に書込ｔｒべきナ
ス１データを定めることができ、全てのビットへの４１
＞込が容易に行なえ、メモリ機能の確認が不用能なビッ
トを生じることがなく、全てのビットの検査を容易に行
なうことができる。
メモリ領域にも込むべきテストデーク全全てＩＣカード
の中で住゛成するようになっているから、このＩＣカー
ド欠用いるシステムにおけるプ″−夕の官理方式とシ（
１（関係にＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ４１に書込ｔｒべきナ
ス１データを定めることができ、全てのビットへの４１
＞込が容易に行なえ、メモリ機能の確認が不用能なビッ
トを生じることがなく、全てのビットの検査を容易に行
なうことができる。
さらに、この実７１＋！ｉ ｆｉｔによれは、ＩＣカー
ドにおける第５ン１のステップ１００の処理の後に、Ｅ
ＥＰ ＲＯＭ ４１の全てのビットのプ′−りを消去す
る処理を付加しておけにＪｌ、ＩＣカードの検査に必要
な処理を一連の処理として全て終了させることができ、
さらに効率的な検査を行シーうことができる。
ドにおける第５ン１のステップ１００の処理の後に、Ｅ
ＥＰ ＲＯＭ ４１の全てのビットのプ′−りを消去す
る処理を付加しておけにＪｌ、ＩＣカードの検査に必要
な処理を一連の処理として全て終了させることができ、
さらに効率的な検査を行シーうことができる。
ところで、このＩＣカードに使用されるＥＥ、ＦＲＯＭ
においては、ブ゛−タ居込時に周込ｉ４ルスの供給を要
づる。そして、このときに供給すべき：ｊ１：込パルス
のパルス幅し、製品の什椋として規ンを値がシｉセめら
れており、この規別値よシパルス幅を狭くすると射込条
件が厳しくなシ、データの（Ｌｒ頼性（保存性）が低下
してゆくという特性がある。
においては、ブ゛−タ居込時に周込ｉ４ルスの供給を要
づる。そして、このときに供給すべき：ｊ１：込パルス
のパルス幅し、製品の什椋として規ンを値がシｉセめら
れており、この規別値よシパルス幅を狭くすると射込条
件が厳しくなシ、データの（Ｌｒ頼性（保存性）が低下
してゆくという特性がある。
そこで、この発明の一笑施秒１」としてｆｆ、ｉ！、
５ 図のステップ６０においてＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ｌ
ｌ １に供給する書込パルスのパルス幅を上記した規定
値よシ所定値だけ狭くするようにしてもよい。
５ 図のステップ６０においてＥ Ｅ Ｐ ＲＯＭ ｌ
ｌ １に供給する書込パルスのパルス幅を上記した規定
値よシ所定値だけ狭くするようにしてもよい。
この９こ施例によれは、ＥＥＰ ＲＯＭのメツ上り機能
に対する検査基準が厳しくな９、製品の信頼性を商くす
ることができる上、検査処理が高速になシ検秀時間が炉
かくて済み、効率的な検査を行なうことができる。例え
ＶＪ１成るＥＥＰＲＯＭにおける１バイト当シの書込パ
ルスのパルス幅の規定値が１０ｍ５ｅｃで、そのメモリ
容筒が２ Ｋバイトであったとずれは、このＥＥＦＲＯ
Ｍの全バイトにデータを会き込むためには２０秒以上の
時間が必要になるが、上記したように１１１込パルスの
幅を短くし、ｌ ｍ Ｓｅｅとずオしは２秒程ＩＷの７
１込時間で済むことになｐ、その分、ＩＣカードの検査
に心太な時間を短編でも、検査時間を大幅に少くするこ
とができる。
に対する検査基準が厳しくな９、製品の信頼性を商くす
ることができる上、検査処理が高速になシ検秀時間が炉
かくて済み、効率的な検査を行なうことができる。例え
ＶＪ１成るＥＥＰＲＯＭにおける１バイト当シの書込パ
ルスのパルス幅の規定値が１０ｍ５ｅｃで、そのメモリ
容筒が２ Ｋバイトであったとずれは、このＥＥＦＲＯ
Ｍの全バイトにデータを会き込むためには２０秒以上の
時間が必要になるが、上記したように１１１込パルスの
幅を短くし、ｌ ｍ Ｓｅｅとずオしは２秒程ＩＷの７
１込時間で済むことになｐ、その分、ＩＣカードの検査
に心太な時間を短編でも、検査時間を大幅に少くするこ
とができる。
以上説明しブζように、本発明によれは、ＥＥＰＲＯＭ
を用いたＩＣカードにおいて、そのメモリの全てのピン
トに対するメモリ機能の検査ケ容易に、しかも比較的短
時間で行なうことができるから、従来技術の欠点を除き
、メモリの全てのピントを含めた機能についての検査が
充分に行なわれ、Ｃ１−：１い信頼性を−りえることが
できるＩＣＣカードコロ−コスト提供することができる
。
を用いたＩＣカードにおいて、そのメモリの全てのピン
トに対するメモリ機能の検査ケ容易に、しかも比較的短
時間で行なうことができるから、従来技術の欠点を除き
、メモリの全てのピントを含めた機能についての検査が
充分に行なわれ、Ｃ１−：１い信頼性を−りえることが
できるＩＣＣカードコロ−コスト提供することができる
。
３１図はＩＣカードの一例を示す正面図、第２図はその
Ａ−Ａ線による断面図、第３図は同じくＥＥＰＲＯＭを
用いたＩＣモノニールのブロック図、第４図はＩＣカー
ドの検査処理の従来例を示−Ｊフローチャート、第５図
は本発明によるＩＣカードの一実施例における検査処理
を示すフローチャートである。 １・・・ＩＣカード、２・・・カード基体、３・・・凹
部、４・・・ＩＣモジュール、５・・・接点端子、４０
・・・マイクロコンピュータ、４１−ＥＥＰＲＯＭ、４
０１−ＣＰＵ、４０２−ＲＯＭ、４０３・ ＲＡＭ。 第１図 第２図 り 第３図 ５６ ５５ ５４ ５３ ５２ ５１
Ａ−Ａ線による断面図、第３図は同じくＥＥＰＲＯＭを
用いたＩＣモノニールのブロック図、第４図はＩＣカー
ドの検査処理の従来例を示−Ｊフローチャート、第５図
は本発明によるＩＣカードの一実施例における検査処理
を示すフローチャートである。 １・・・ＩＣカード、２・・・カード基体、３・・・凹
部、４・・・ＩＣモジュール、５・・・接点端子、４０
・・・マイクロコンピュータ、４１−ＥＥＰＲＯＭ、４
０１−ＣＰＵ、４０２−ＲＯＭ、４０３・ ＲＡＭ。 第１図 第２図 り 第３図 ５６ ５５ ５４ ５３ ５２ ５１
Claims (1)
- （１）データ格納用のＥＥＦＲＯＭと、このＥＥＰＲＯ
Ｍに対するデータの七込み、読出し及び消去を制御する
ためのマイクロコンピュータとを備えたＩＣカードにお
いて、外部からの命令入力に応答し、上記Ｅ Ｅ Ｐ
’ＲＯＭのメモリ領域全体を対象としたテストデータの
書込処理と、この層、込処理による書込結果の検査処理
と、外部に対する検査結果の出力処理とを逐次実行する
機能を上記マイクロコンピュータに設げ、上記ＥＥＰＲ
ＯＭのメモリ機能に対するテスト処理が全てＩＣカード
内で実行されるように構成したことを特徴とするＩＣカ
ード。 伐）特許請求の範囲第（１）項において、上記ＥＥＰＲ
ＯＭのメモリ領域全体を対象としたテストテ′−夕の書
込処理における裾込パルスのパルス幅が、このＥＥＰＲ
ＯＭの通常のデータ書込時に必要な書込ノｆルスのパル
ス幅よシ所定値だけ狭くなるように構成したことを特徴
とするＩＣカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108540A JPS603082A (ja) | 1983-06-18 | 1983-06-18 | Ｉｃカ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108540A JPS603082A (ja) | 1983-06-18 | 1983-06-18 | Ｉｃカ−ド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS603082A true JPS603082A (ja) | 1985-01-09 |
| JPH053634B2 JPH053634B2 (ja) | 1993-01-18 |
Family
ID=14487404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108540A Granted JPS603082A (ja) | 1983-06-18 | 1983-06-18 | Ｉｃカ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS603082A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243791A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃカ−ド |
| JPS62289023A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-12-15 | エヌ・ブイ・ネ−デルランドシエ アパラ−テンフアブリ−ク エヌ イ− デ− エ− ピ− | 電磁式識別用応答機 |
| JPS62296287A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS63100587A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-05-02 | Diesel Kiki Co Ltd | Ｉｃカ−ドの挿入検出方法 |
| JPH06282702A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-07 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｃｐｕを内蔵した情報記録媒体 |
| US5365045A (en) * | 1990-06-07 | 1994-11-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Portable electric device |
| WO2000011489A1 (en) * | 1998-08-19 | 2000-03-02 | Hitachi, Ltd. | Method of manufacturing ic cards |
| US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7113572B1 (ja) * | 2022-02-02 | 2022-08-05 | 株式会社 Toshin | 水道メータの流量読取装置の保持具 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5564699A (en) * | 1978-11-09 | 1980-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor integrated-circuit memory |
| JPS5638650A (en) * | 1979-04-25 | 1981-04-13 | Cii | Data delete device |
| JPS5638651A (en) * | 1979-07-02 | 1981-04-13 | Cii | Portable data carrier |
| JPS57161951A (en) * | 1981-03-30 | 1982-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Control device with memory diagnostic function |
-
1983
- 1983-06-18 JP JP58108540A patent/JPS603082A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5564699A (en) * | 1978-11-09 | 1980-05-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor integrated-circuit memory |
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| JPS5638651A (en) * | 1979-07-02 | 1981-04-13 | Cii | Portable data carrier |
| JPS57161951A (en) * | 1981-03-30 | 1982-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Control device with memory diagnostic function |
Cited By (9)
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|---|---|---|---|---|
| JPS6243791A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃカ−ド |
| JPS62289023A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-12-15 | エヌ・ブイ・ネ−デルランドシエ アパラ−テンフアブリ−ク エヌ イ− デ− エ− ピ− | 電磁式識別用応答機 |
| JPS62296287A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS63100587A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-05-02 | Diesel Kiki Co Ltd | Ｉｃカ−ドの挿入検出方法 |
| US5365045A (en) * | 1990-06-07 | 1994-11-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Portable electric device |
| JPH06282702A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-07 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｃｐｕを内蔵した情報記録媒体 |
| WO2000011489A1 (en) * | 1998-08-19 | 2000-03-02 | Hitachi, Ltd. | Method of manufacturing ic cards |
| US6615390B1 (en) * | 1998-08-19 | 2003-09-02 | Hitachi, Ltd. | Method of manufacturing IC cards |
| US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH053634B2 (ja) | 1993-01-18 |
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