JPS6031064A - 磁気ディスク装置の起動検査方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気ディスク装置の起動検査方式に関し、特に
磁気ディスクと磁気ヘッドとを密封容器内に収容する密
封型磁気ディスク装置の起動検査方式に関する。

コンピュータシステムの外部記憶装置として用いられる
磁気ディスク装置は、高い１バ頼性と耐久性が要求され
るが、その記録密度の同上に伴ない、ますますこれらに
対する要求が強まっている。このために記録媒体でおる
磁気ディスク自体の特性の改良や塵埃による損傷の防止
のための構造の改良等の棟々の改良が行われてきている
。特に近年の磁気ディスク装置は、このような記録密贋
および誉込み・読取９動作の信頼性の向上を図るため、
磁気ディスクとこの磁気ディスクに対して情報の書込み
や読出し全行う磁気ヘッドとを密封容器内に収容し、磁
気ディスクの回転に伴う空気抵抗による密封容器内の温
度上昇を、密封容器内の空気流の自然循環または外部か
らの清浄な空気の送風による強制循環によって抑制する
ことによって、情報の書込み・読出しの信頼性の維持を
図る構成を有するいわゆる密封型磁気ディスク装置が主
流となってきている。

上記の如き磁気ディスク装置は、動作中は密封容器内の
温度が上昇するため内部圧力が高くなるが、動作を停止
させると温度が低下して内部圧力も低くなる。この内部
圧力の低下を補うため、自然循環方式の磁気ディスク装
置においては除塵用フィルタを備えた呼吸用通気口全役
けて外部からの空気の補給を行い、また強制循環方式の
磁気ディスク装置においては、空気循環路の入口または
出口から外部の空気の補給が行われる。

このため密封容器内の空気は除塵の不完全な空気が混入
される場合があり、このような場合に、長期間磁気ディ
スク装置の動作を休止したのちその動作を再開するよう
なとき、例えば年末年始の休日や夏期長期連続休日のあ
とに磁気ディスク装置を使用するとき、休止期間中に磁
気ディスク面に堆積した密封容器内の塵埃が磁気ヘッド
と磁気ディスクとの間にはさみ込まれて磁気ヘッドに付
着し、これによって磁気へ、ドの浮上姿勢が変化するた
め、書込みまたは読出しエラーが発生し、時には磁気デ
ィスク面の損傷（ヘッドクラッシュ）をひき起すことが
ある。このような現象は空気循環蓋の多い強制循環方式
の磁気ディスク装置において特に顕著である。

従って本発明の目的は、長期休止後の磁気ディスク装置
の起動時に磁気ディスクに堆積した塵埃を除去し、更に
その塵埃の除去動作により磁気ヘッドに付層した塵埃の
有無全検査することのできる磁気ディスク装置の起動検
査方式を提供することにより、磁気ディスク装置の信頼
性を維持・向上するのに寄与することにある。

不発明の磁気ディスク装置の記動方式は、起動動作開始
指令によって磁気ディスクを所定の回転数で回転させ、
続いて磁気ヘッドを所定のシークモードによってシーク
動作を行わせ、前記シーク動作の終了後前記磁気−・ラ
ドを前記磁気ディスクの検査・診断用トラックに位置決
めし、次に前記磁気ヘッドにより前記検査・診断用トラ
ックに検査用データを書込み、続いて前記書込んだ検査
用データ全前記磁気ヘッドによって読出し、前記書込ん
だ検査用データと前記読出したデータとを比較照合する
ことを含むことによって構成される。

以下本発明について図面を参照して詳細に説明する。

第１図は本発明の起動検査方式を適用する磁気ディスの
装置の一例の構成全ブロック図で示したもので、不例の
磁気ディスク装置は、上位装置との間で書込み読出し情
報２１．制御信号２２．アドレス情報２３およびステー
タス情報２４の授受を行うインターフェイス部２および
上位装置から電源制御指示信号２５を受けて動作する電
源制御インターフェイス部３によって上位装置と接続さ
れている。磁気ディスク装置内部には、インターフェイ
ス部２との間で制御信号３２の授受を行う制御回路部５
、制御回路部５との間で書込み読出し制御信号３３の授
受を行いながらインタフェイス部２との間で書込み読出
し情報３１の授受を行う書込み読出し回路部６、制御回
路部５から位置決め制御信号３４をまたインターフェイ
ス部２から位置決めアドレス信号３５ｖｉ−受けて動作
する位　５　− 置決め回路部７、書込み読出し回路部６と書込み読出し
情報４４の授受を行いまた位置信号４３を位置決め回路
部７へ送出する磁気ヘッド９を搭載し位置決め回路部７
からサーボ信号４１を受けて速度信号４２を送出する位
置決め装置８、磁気ヘッド９によって情報の書込み読出
しが行われる磁気ディスク１０．ｆｆｌ気ディスク１（
１回転させるスピンドルモータ１２に回転制御信号４５
ｆ、送出し電源制御インタフェイス部３から電源制御信
号３６を受けて動作する電源制御回路部４が備えられて
いる。磁気ヘッド９および磁気ディスク１０は密封容器
内に収容されて外部との空気の流通を遮断されて塵埃に
よる汚染から保護されている。

上記のように構成された磁気ディスク装置は、通常の動
作のときは、磁気ディスク１０は電源制御回路部４の指
令を受けて回転するスピンドルモータ１２によって定常
回転を行っており、この磁気ディスク１０に対して位置
決め回路部７の指令によって位置決め装置８が所定のト
ラック上に位置決めされ、磁気ヘッド９によって情報の
書込み　６− または抗出しが行われて書込み読出し回路部６およびイ
ンタフェイス部２を介して上位装置と情報の授受が行わ
れる。

このような磁気ディスク装置が年末年始の時のように長
期間に互って動作を休止すると、既述のように密封容器
内に吸入される呼吸のための外気に含まれる微細な塵埃
や、磁気ディスク装置内部を循環している空気に残存し
ている塵埃が磁気ディスク１０の表面に堆積する。この
ため、休止期間が満了して動作を再開するときこの堆積
した塵埃が磁気ヘッド９と磁気ディスク１０との間には
さみ込まれるため磁気へ、ド９の浮上姿勢が変化し、こ
れによル書込み読出しエラーを生ずることがある。従っ
てこのようなエラーを防止するため、動作再開のときは
第２図に一実施例を示す本発明の起動検査方式によりて
起動動作を行わせる。

すなわち、長期間の動作休止後の動作開始のときには、
上位ｖｅｔ［から電源制御指示信号２５として起動開始
指令信号を受けるかまたは磁気ディスク装置に装備しで
ある起動開始ボタンの押下によ）電源制御回路部４に起
動動作開始指令が与えられ（参照番号５１）ると、電源
制御回路部４はスピンドルモータ１２に回転指令信号を
送り、スピンドル１２および磁気ディスク１０は定常回
転を行う（参照番号５２）、引続いて位置決め回路部７
は上位装置からの指令または制御回路部５に内蔵されて
いるマイクロプロセッサの指令によって位置決め装置ｉ
［８にシーク動作指令を与えるので、位置決め装置［８
は磁気ディスク１０に対してシーク動作を行う（参照番
号５３）、このシーク動作としては最内周シリンダ（最
大シリンダ）から１シリンダずつ外周へ移動し、磁気ヘ
ッドが各シリンダ上で１回転以上位置決めされるシーク
モード（いわゆるデクリメントシークモード）が有効で
あるが、最外周シリンダ（０シリンダ）から最内周シリ
ンダ（最大シリンダ）へ移動するインクリメントシーク
モードや、最外周シリンダと最内周シリンダとの間を往
復するレピートシークモードあるいは任意のシリンダを
２ングムに選択するランダムシークモード等の適宜力シ
ーク動作を用いることかできる。このシーク動作によっ
て磁気ディスク１０上に堆積していた塵埃は磁気ヘッド
９によって磁気ディスクの外に掃き出される。

清掃のためのシーク動作が終ると位置決め装置８は位置
決め回路部７０指令によって磁気ヘッド９を磁気ディス
ク１０の検査・診断用トラ、り（以下ＴｄＤ）ラックと
いう）に位置決めされる（参照番号５４）、Ｔ（ＨＤ）
ラックは、磁気ディスク装置の各磁気ディスク記録面に
設けられている特別のトラックで、通常のデータの曹込
みや読出しには使用されず、磁気ディスク装置の試験や
故障の診断のために、検査または診断用のデータの書込
みや読出しを行うために専用に使用されるトラックであ
る。

磁気ヘッド９がＴｄＤ）う、り上に位置決めされると、
磁気へ、ド９は上位装置から送られてくる試験用データ
または制御回路部５に内蔵されている読出し専用メモリ
に記憶されている試験データｆ：ＴｄＤ　）う、りに書
込み（参照番号５５）、　引続いてこの書込んだ試験用
データを読取る参照番号９− ５６）、読取られた試験用データはインタフェイス部２
を介して上位装置に送られて書込みデータと照合される
か、あるいは制御回路部５内において書込みデータと照
合され（参照番号５７）て誓込みまたは読取シの誤りの
有無が検査される。読取り誤りがあった場合はその原因
がしらべられて除去される。

上述の起動検査動作は、これをすべて上位装置からの指
令によって行わせることもできるが、制御部５内に上述
の動作手順を記憶した続出専用メモリを設け、制御回路
部５内にあるマイクロプロセッサによりこの読出専用メ
モリから動作手順を読出しながら電源制御回路部４およ
び位置決め回路部７に指令を与えることによって行わせ
ることもできる。また当初の磁気ディスクの回転（参照
番号５２）は、通常の書込みまたは読取力を行うときと
同じ回転数の定常回転を行わせてもよいが、電源制御回
路部４円に、スピンドルモータに対して定常回転（例え
ば３６００ｒｌ）ｍ）と、定常回転に対して所定の割合
だけ低い回転数の低速回転（例−１０＝ えば３０００ｒｌ）ｍ）’に指令できるように構成され
たモータ回転制御部を設け、このモータ回転制御部から
の指令によって低速回転を行わせるようにしてもよい。

このときは、磁気ヘッド９の浮上量は通常回転時の浮上
量より低くなり（低速回転の回転数は、浮上量が清掃動
作に最適な浮上量となるように設定される）、従って磁
気ヘッドのシーク動作（参照番号５３）による磁気ディ
スク上の塵埃の掃き出しが↓り効果的に行われる。

更にまた、磁気ディスクがその回転を停止′していると
きは磁気ヘッドが磁気ディスクの表面に接触して静止し
ており、磁気ディスクの回転速度の上昇とともに浮上し
、磁気ディスクの回転数が定常回転となることによって
一足の浮上間隔を保つように構成されているいわゆるコ
ンタクト・スタート・ストップ方式（Ｃ８Ｓ方式）の磁
気ディスク装置の場合は、磁気ヘッドのシーク動作（参
照番号５３）ののち磁気ヘッド９をコンタクト・スター
ト・ストップ領域（ｇｉ気ヘッドが磁気ディスクと接触
して静止するときの磁気ディスク上の領域で、通常これ
をＣ８Ｓゾーンという）に復帰させ、つづいてスピンド
ルモータ１２および磁気ディスク１（ｌ電源制御回路部
４の指令によってその回転動作を停止させたのち再び電
源制御回路部４０指令によって回転全開始させて冗めら
れた回転数υ定常回転を行わせたのち、磁気ヘッドのＴ
ｄＤトラックへの位置決め動作（参照番号５４）を行わ
せるようにすることもできる。この磁気ディスクの回転
の停止および再回転動作によって磁気へ、ドは磁気ディ
スク面に接触したのち再浮上を行うので、このとき、前
述の磁気ヘッドのシーク動作（参照番号５４）において
磁気ヘッドに付着して残留している塵埃がある場合、そ
の塵埃が取力除かれるので塵埃の除去が更に確実に行わ
れる。

以上詳細に説明したように、本発明の磁気ディスク装置
の起動検査方式を用いることにより、長期間動作を休止
したのち動作を再開するときは、通常の書込みまたは読
取り動作を実行する前に磁気へ、ドのシーク動作によっ
て清掃動作を行わせて磁気ディスク上に堆積している塵
埃を掃き出したのち、磁気ディスク装置の書込み読取〕
エラーの有無を検査して確認をすることができるので、
磁気ディスク装置の信頼性を維持し、また磁気ヘッドに
付着している塵埃による磁気ディスク面の損傷（ヘッド
クラッシュ）の地峡も減少させることができるという効
果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を適用する磁気ディスク装置の一例の構
成を示すブロック図、第２図は本発明の一実施例のフロ
ーチャートである。 図において、 ２・・・・・・インタフェイス部、３・・・・・・電源
インタ７工イス部、４・・・・・・電源制御回路部、５
・・・・・・制御回路部、６・・・・・・書込み読出し
回路部、７・・・・・・位置決め回路部、８・・・・・
・位置決め装置、９・・・・・・磁気ヘッド、１０・・
・・・・磁気ヘッド、１２・・・・・・スピンドルモー
タ。 ダ　７　ロ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 起動動作開始指令によって磁気ディスクを所定の回転数
   で回転させ、続いて磁気ヘッドを所定のシークモードに
   よってシーク動作を行わせ、前記シーク動作の終了後前
   記磁気ヘッドを前記磁気ディスクの検査・診断用トラ、
   りに位置決めし、次に前記磁気ヘッドによル前記検査・
   診断用トラックに検査用データを書込み、続いて前記書
   込んだ検査用データを前記磁気ヘッドによって読出し、
   前記書込んだ検査用データと前記読出したデータとを比
   較照合することを含むことを特徴とする磁気ディスク装
   置の起動検査方式。