JPS62185178A - デイスク検査方法 - Google Patents
デイスク検査方法Info
- Publication number
- JPS62185178A JPS62185178A JP61028641A JP2864186A JPS62185178A JP S62185178 A JPS62185178 A JP S62185178A JP 61028641 A JP61028641 A JP 61028641A JP 2864186 A JP2864186 A JP 2864186A JP S62185178 A JPS62185178 A JP S62185178A
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- JP
- Japan
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- signal
- inspection
- disk
- circuit
- track
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、磁気ディスク答のディスク表面欠陥を検査す
る方法に関し、詳しくはディスク製造の検査行程におい
てディスク表面の欠陥を検出し、当該ディスクの出荷の
可否を示唆するディスク検査方法に関するものである。
る方法に関し、詳しくはディスク製造の検査行程におい
てディスク表面の欠陥を検出し、当該ディスクの出荷の
可否を示唆するディスク検査方法に関するものである。
（従来技術）
フロッピーディスク等の磁気ディスクは円板状の非磁性
支持体、［に磁性材料を塗布して形成されるが、その際
塗布面に塵埃が付着したり、細かいキズがついたりして
いわゆる欠陥が形成されることがある。
支持体、［に磁性材料を塗布して形成されるが、その際
塗布面に塵埃が付着したり、細かいキズがついたりして
いわゆる欠陥が形成されることがある。
このような欠陥を有する磁気ディスクを出荷した場合に
は、この磁気ディスクを記録媒体として用いた際の読取
信号・に欠落が生じ、この読取（８号から得られた情報
あるいは画像にドロップアウトが発生し、ユーヂに不測
の不利益を与えることがある。
は、この磁気ディスクを記録媒体として用いた際の読取
信号・に欠落が生じ、この読取（８号から得られた情報
あるいは画像にドロップアウトが発生し、ユーヂに不測
の不利益を与えることがある。
そこでメーカーは磁気ディスクの検査工程において磁気
ディスクに欠陥があるが否かを検査し、このような欠陥
が検出された場合にはその磁気ディスクの出荷を中止す
るようにしている。
ディスクに欠陥があるが否かを検査し、このような欠陥
が検出された場合にはその磁気ディスクの出荷を中止す
るようにしている。
このよ）なディスク表面の欠陥を検出する方法としては
任意の１トラックに対して、ディスクの第１回転１」で
所定の検査信号を書き込み、第２回転目でその検査信号
を読み取って当該ディスクについての基準値を設定し、
第３回転目で再度読取りを行なってその読取信号値と上
記基準値を順次比較し、これに基づいて表面欠陥がある
が否かを判定し、第４回転目で次検査トラックへのシー
ク操作を行なうものが一般に知られている。したがって
この方法では１トラックを検査するのにディスク４回転
に相当する期間を必要とする。
任意の１トラックに対して、ディスクの第１回転１」で
所定の検査信号を書き込み、第２回転目でその検査信号
を読み取って当該ディスクについての基準値を設定し、
第３回転目で再度読取りを行なってその読取信号値と上
記基準値を順次比較し、これに基づいて表面欠陥がある
が否かを判定し、第４回転目で次検査トラックへのシー
ク操作を行なうものが一般に知られている。したがって
この方法では１トラックを検査するのにディスク４回転
に相当する期間を必要とする。
しかしながら、ディスク欠陥の検査はディスク１枚に対
し、複数重のトラックについてしがち実時間で行なわな
ければならないため、上記従来方法では検査時間が長く
なり、この結果検査設備費。
し、複数重のトラックについてしがち実時間で行なわな
ければならないため、上記従来方法では検査時間が長く
なり、この結果検査設備費。
人件費が増加しディスク製造コストに対する検査コスト
の割合が大きくなるという問題があった。
の割合が大きくなるという問題があった。
（発明の目的）
本発明は上記問題を解決するためになされたしのであり
、検査粘度を低下させることなく、検査時間を短縮する
と共に検査コストを低減することのできるディスク検査
方法を提供することを目的とするものである。
、検査粘度を低下させることなく、検査時間を短縮する
と共に検査コストを低減することのできるディスク検査
方法を提供することを目的とするものである。
（発明の構成）
本発明のディスク検査方法は、ディスクの１トラックに
対して、ディスクの第１回転目で所定の検査信号の書込
みを行ない、第２回転目で書込まれた検査信号の読取り
を行ない、第３回転目で信号処理と次検査トラックへの
シークを行ない、ディスクの１トラックに対する検査時
間をディスクの３回転期間としたことを特徴とするもの
である。
対して、ディスクの第１回転目で所定の検査信号の書込
みを行ない、第２回転目で書込まれた検査信号の読取り
を行ない、第３回転目で信号処理と次検査トラックへの
シークを行ない、ディスクの１トラックに対する検査時
間をディスクの３回転期間としたことを特徴とするもの
である。
ここで上記信号処理とは基準信号と読取信号の比較、さ
らにはこの比較に基づくディスク欠陥があるか否かの判
定信号の出力をいうものとする。
らにはこの比較に基づくディスク欠陥があるか否かの判
定信号の出力をいうものとする。
なお、基準信号の設定は第２回転目の１１１間内で行な
ってもよいし、第３回転目の期間内のうちで上記比較の
期間に先立って行なってもよい。
ってもよいし、第３回転目の期間内のうちで上記比較の
期間に先立って行なってもよい。
（発明の効果）
木発ＩＩのディスク検査方法は、従来別々のディスク回
転期間内で処理されていた信号処理とトラックシーク操
作を同一回転期間内で行なうようにしているから、１ト
ラックについての検査時間を１回転期間減少せしめるこ
とができる。
転期間内で処理されていた信号処理とトラックシーク操
作を同一回転期間内で行なうようにしているから、１ト
ラックについての検査時間を１回転期間減少せしめるこ
とができる。
したがって、ディスク１枚あたりの検査時間を従来の約
３／４に短縮することができ、またこれにより製造コス
トに対する検査コストの割合を引下げることができる。
３／４に短縮することができ、またこれにより製造コス
トに対する検査コストの割合を引下げることができる。
（実施態様）
以下、本発明の実施態様について図面を用いて説明する
。
。
図面は本発明の方法を実施するための回路の一例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
この回路は、信号読取装置からの磁気ディスク読取信号
を増幅する差動アンプ１、差動アンプ１からの出力信号
へを入力されこの信号Ａをサンプリングし、全部もしく
はそのうち必要に応じた信号Ｂを出力するサンプリング
回路２、信号へのうち最低レベルをボールドし、そのホ
ールドした値を最低レベル信号Ｃとして出力する最低レ
ベル検出回路３、上記信号Ｂと信号Ｃをタイミングよく
出力する切換回路４、信号Ｂ、ＣをＡ／Ｄ変換するＡ／
Ｄ変換回路５およびデジタル変換された信号Ｂ、Ｃを入
力されて、信号の演暉、比較２判定処理およびシーク命
令信号の出力等を行なうＣＰＵ回路６により構成されて
いる。
を増幅する差動アンプ１、差動アンプ１からの出力信号
へを入力されこの信号Ａをサンプリングし、全部もしく
はそのうち必要に応じた信号Ｂを出力するサンプリング
回路２、信号へのうち最低レベルをボールドし、そのホ
ールドした値を最低レベル信号Ｃとして出力する最低レ
ベル検出回路３、上記信号Ｂと信号Ｃをタイミングよく
出力する切換回路４、信号Ｂ、ＣをＡ／Ｄ変換するＡ／
Ｄ変換回路５およびデジタル変換された信号Ｂ、Ｃを入
力されて、信号の演暉、比較２判定処理およびシーク命
令信号の出力等を行なうＣＰＵ回路６により構成されて
いる。
そして本実ＩＭ態様においては、ＣＰＵ回路６により最
低レベル信号Ｃｌｆｉ基準信号より小さいと判断される
と原則として欠陥ありということで当該ディスクの検査
は終了するが、検査されたトラックに欠陥がなく、ＣＰ
Ｕ６により、最低レベル信号Ｃ／ｆｉ基準信号より常に
大きいと判断された場合は、シーク命令信号が出力され
、次のトラックにヘッドを移すために直ちにトラックシ
ーク操作が開始される。
低レベル信号Ｃｌｆｉ基準信号より小さいと判断される
と原則として欠陥ありということで当該ディスクの検査
は終了するが、検査されたトラックに欠陥がなく、ＣＰ
Ｕ６により、最低レベル信号Ｃ／ｆｉ基準信号より常に
大きいと判断された場合は、シーク命令信号が出力され
、次のトラックにヘッドを移すために直ちにトラックシ
ーク操作が開始される。
ここで上記基準イΔ号は、信号Ｂに基づいて演惇された
信号であり、例えばＣＰＵ６において、サンプリングさ
れたデジタル信号Ｂの平均値に所定の係数を乗じて得ら
れた信号である。
信号であり、例えばＣＰＵ６において、サンプリングさ
れたデジタル信号Ｂの平均値に所定の係数を乗じて得ら
れた信号である。
以下、本実施態様についてさらに詳しく説明する。検査
すべきトラック上にヘッドが到達すると回転のＩｉｔ準
となるパルスが入力される度にシーケンスが進行するよ
うになっている。このパルスはインデックスパルスと叶
ばれる乙のでありディスク１回転につき１パルス発生す
るようになっている。
すべきトラック上にヘッドが到達すると回転のＩｉｔ準
となるパルスが入力される度にシーケンスが進行するよ
うになっている。このパルスはインデックスパルスと叶
ばれる乙のでありディスク１回転につき１パルス発生す
るようになっている。
任意の検査トラックについて、最初のインデックスパル
スが入力されると予め設定された信号がディスク表面に
書き込まれる。第２番目のインデックスパルスが入力さ
れると上記書き込まれた信号がサンプリング回路２およ
び最低レベル検出口路３に読み込まれ、この後、両回路
から出力された信号Ｂ、Ｃはナンプリング周期にしたが
いＡ／Ｄ変換回路５にてＡ／Ｄ変換され、ＣＰＵ回路６
に入力される。すなわち、検査に必要なすべてのデータ
信号は一旦ＣＰＵ回路６に記憶される。第３番目のイン
デックスパルスの入力により、ＣＰＵ回路６にて基準レ
ベル演算およびこの基準レベルと最低レベルの比較、判
定が行なわれ、さらに最低レベルが基準レベルよりも大
きければヘッドはシークされて次の検査トラックに移動
する。ディスクの回転数が３０Ｏｒｐｍとすればインデ
ックスパルスの間隔は２００ｍ５であるからヘッドをシ
ークする時間に相当する１５〜２０ｍ５を除いた１８０
〜１８５ｍ５を利用して上記演算、比較処理が行なわれ
る。したがって１トラックの検査は０．６秒で行なわれ
、ディスク１枚の検査トラック数が例えば８０本であれ
ば４８秒で１枚の検査を終了することができる。
スが入力されると予め設定された信号がディスク表面に
書き込まれる。第２番目のインデックスパルスが入力さ
れると上記書き込まれた信号がサンプリング回路２およ
び最低レベル検出口路３に読み込まれ、この後、両回路
から出力された信号Ｂ、Ｃはナンプリング周期にしたが
いＡ／Ｄ変換回路５にてＡ／Ｄ変換され、ＣＰＵ回路６
に入力される。すなわち、検査に必要なすべてのデータ
信号は一旦ＣＰＵ回路６に記憶される。第３番目のイン
デックスパルスの入力により、ＣＰＵ回路６にて基準レ
ベル演算およびこの基準レベルと最低レベルの比較、判
定が行なわれ、さらに最低レベルが基準レベルよりも大
きければヘッドはシークされて次の検査トラックに移動
する。ディスクの回転数が３０Ｏｒｐｍとすればインデ
ックスパルスの間隔は２００ｍ５であるからヘッドをシ
ークする時間に相当する１５〜２０ｍ５を除いた１８０
〜１８５ｍ５を利用して上記演算、比較処理が行なわれ
る。したがって１トラックの検査は０．６秒で行なわれ
、ディスク１枚の検査トラック数が例えば８０本であれ
ば４８秒で１枚の検査を終了することができる。
このように、本実施態様によれば演算、比較処理および
シーク操作を１インデックスパルス間期間で行なってい
るので、この処理および操作をそれぞれ別のインデック
スパルス間期間で行なっていた従来の技術に比べ、例え
ば上述した回転数に設定した場合１枚のディスクあたり
検査時間を１６秒。
シーク操作を１インデックスパルス間期間で行なってい
るので、この処理および操作をそれぞれ別のインデック
スパルス間期間で行なっていた従来の技術に比べ、例え
ば上述した回転数に設定した場合１枚のディスクあたり
検査時間を１６秒。
も短縮することができる。
なお、上記実ｍ［様においては、ＣＰＵ回路６を用いて
信号の演算、比較処理等を行なっているが、ＣＰＵ回路
６に酔えハードロジックを組んでこのような信号の演算
、比較処理等を行なうようにしてもよい。この場合に第
２ｆｔ１目のインデックスパルス間期間において、信号
を読み取りながら王の信号に基づいて遂次基準信号を作
成、設定するようにしてもよい。
信号の演算、比較処理等を行なっているが、ＣＰＵ回路
６に酔えハードロジックを組んでこのような信号の演算
、比較処理等を行なうようにしてもよい。この場合に第
２ｆｔ１目のインデックスパルス間期間において、信号
を読み取りながら王の信号に基づいて遂次基準信号を作
成、設定するようにしてもよい。
なお、上記磁気ディスクの回転数は上記３００ｒｐｍ＋
に限られるものではなく、信号処理とシーク操作をシリ
アル的に実行し得るインデックスパルス間期間が得られ
る回転数であればよい。
に限られるものではなく、信号処理とシーク操作をシリ
アル的に実行し得るインデックスパルス間期間が得られ
る回転数であればよい。
図面は本発明の実施態様によるディスク検査方法を実施
するための回路の一例を示すブロック図である。 ２・・・サンプリング回路 ３・・・最低レベル検出回
路４・・・切換回路 ５・・・Δ／Ｄ変換回路
６・・・ＣＰＵ回路
するための回路の一例を示すブロック図である。 ２・・・サンプリング回路 ３・・・最低レベル検出回
路４・・・切換回路 ５・・・Δ／Ｄ変換回路
６・・・ＣＰＵ回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 円板状記録媒体を複数回回転せしめる間に、該記録媒体
の１トラックに対して、信号の書込みと、この書き込ま
れた信号の読取りと、該信号の読取りにより得られた読
取信号と基準信号の比較およびこの比較に基づく判定信
号の出力からなる信号処理とを行ない、この後、次検査
トラックへのシークを行ない、これを前記記録媒体の複
数トラックに亘って繰り返して該記録媒体の欠陥を検出
する方法において、 前記記録媒体の各トラックについての第１回目の回転で
前記信号の書込みを行ない、第２回目の回転で前記書込
まれた信号の読取りを行ない、第３回目の回転で前記信
号処理および前記次検査トラックへのシークを行なうこ
とを特徴とするディスク検査方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61028641A JPS62185178A (ja) | 1986-02-12 | 1986-02-12 | デイスク検査方法 |
| US07/013,806 US4829249A (en) | 1986-02-12 | 1987-02-12 | Method of inspecting magnetic disks for surface defects |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61028641A JPS62185178A (ja) | 1986-02-12 | 1986-02-12 | デイスク検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62185178A true JPS62185178A (ja) | 1987-08-13 |
Family
ID=12254147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61028641A Pending JPS62185178A (ja) | 1986-02-12 | 1986-02-12 | デイスク検査方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4829249A (ja) |
| JP (1) | JPS62185178A (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US5376965A (en) * | 1989-09-14 | 1994-12-27 | Olympus Optical Co., Ltd. | Electronic imaging system capable of recording/reproducing images with any one of several possible recording media |
| US5081547A (en) * | 1989-11-08 | 1992-01-14 | Archive Corporation | Apparatus and method for automatic adjustment of read amplitude threshold in a digital tape drive |
| JPH0476863A (ja) * | 1990-07-19 | 1992-03-11 | Seiko Seiki Co Ltd | 磁気ディスク検査装置 |
| JP2793735B2 (ja) * | 1992-02-18 | 1998-09-03 | 富士通株式会社 | 磁気ディスク媒体の欠陥検出方法 |
| KR0132807B1 (ko) * | 1995-05-12 | 1998-04-18 | 김광호 | 하드 디스크 드라이브 서보 시스템에서의 디펙트 검출 및 처리방법 |
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| US7440224B2 (en) * | 2006-01-23 | 2008-10-21 | Toshiba Corporation | Disk drive servo |
| US7721049B2 (en) * | 2006-03-27 | 2010-05-18 | Kabuhsiki Kaisha Toshiba | Disk drive write method |
| US20070279788A1 (en) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | Toshiba America Information Systems, Inc. | Method and apparatus to perform defect scanning |
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| JPS57160076A (en) * | 1981-03-30 | 1982-10-02 | Fujitsu Ltd | Tester for magnetic medium |
| JPS6073472A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Fujitsu Ltd | 記録媒体不良検出方式 |
| JPS6138476A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-24 | Nec Corp | 記録媒体欠陥検出装置 |
-
1986
- 1986-02-12 JP JP61028641A patent/JPS62185178A/ja active Pending
-
1987
- 1987-02-12 US US07/013,806 patent/US4829249A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4829249A (en) | 1989-05-09 |
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