JPS6034220A - 放電加工装置 - Google Patents
放電加工装置Info
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- JPS6034220A JPS6034220A JP14072283A JP14072283A JPS6034220A JP S6034220 A JPS6034220 A JP S6034220A JP 14072283 A JP14072283 A JP 14072283A JP 14072283 A JP14072283 A JP 14072283A JP S6034220 A JPS6034220 A JP S6034220A
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- JP
- Japan
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- machining
- gap
- discharge
- electrode
- inter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H1/00—Electrical discharge machining, i.e. removing metal with a series of rapidly recurring electrical discharges between an electrode and a workpiece in the presence of a fluid dielectric
- B23H1/10—Supply or regeneration of working media
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放電加工装置、特に電極と被加工物と（１）
を絶縁性加工液を介在させて対向させ、その極間間隙内
に放電を発生させて上記被加工物を加工する放電加工装
置に関するものである。
に放電を発生させて上記被加工物を加工する放電加工装
置に関するものである。
第１図には従来の放電加工装置の概要構成図が示されて
いる。第１図において、電極１０は加工槽１２内に置か
れた被加工物１４と絶縁性加工液１６を介して対向して
いる。劃１０と被加工物１４間には加工電源１８が接続
されている。この加工電源１８は直流電源１８＆と、加
工電流の断続を行なうためのスイッチング素子１８ｂと
、電流制限抵抗１８ｃと、上記スイッチング素子１８ｂ
の断続を制御するための発振＠１８ｄとによって構成さ
れ、加工電流を断続的に電極１０と被加工物１４との極
間間隙２０に供給する。
いる。第１図において、電極１０は加工槽１２内に置か
れた被加工物１４と絶縁性加工液１６を介して対向して
いる。劃１０と被加工物１４間には加工電源１８が接続
されている。この加工電源１８は直流電源１８＆と、加
工電流の断続を行なうためのスイッチング素子１８ｂと
、電流制限抵抗１８ｃと、上記スイッチング素子１８ｂ
の断続を制御するための発振＠１８ｄとによって構成さ
れ、加工電流を断続的に電極１０と被加工物１４との極
間間隙２０に供給する。
上記の加工電流Ｉは、１ ＝ 一旦ヨ壺−（Ｅは直流電
源尺 １８ａの電圧値、Ｒは電流制限抵抗１８ｃの抵抗値、ν
９は極間電圧値）の式であられされる。極間電圧値ｖ９
は、アーク放電中は２０〜３０ｖ１短絡時ばＯＶ１無放
電中はＥＶとなり、スイッチング素子１８ｂがオフ状態
の時はＯｖとなる。
源尺 １８ａの電圧値、Ｒは電流制限抵抗１８ｃの抵抗値、ν
９は極間電圧値）の式であられされる。極間電圧値ｖ９
は、アーク放電中は２０〜３０ｖ１短絡時ばＯＶ１無放
電中はＥＶとなり、スイッチング素子１８ｂがオフ状態
の時はＯｖとなる。
（２）
そこでこの極間電圧値ｖｇを検出して平滑回路２２で平
均化すれば、この値で極間間隙￥Ｋｌｌ！＋を行なうこ
とができろ。ずなオ）も、極間間隙２０が広い時は放電
が起りにくく平均電圧値Ｖｓは高い。極間間隙２０が狭
い時は短絡したり、容易に放電するため平均電圧値Ｖｓ
は低下する。従って、この平均電圧値Ｖｓを基準電圧値
Ｖｔと比較して、乙の差を増幅器２４で増幅して油圧サ
ーボコイル２６に入力すれば、油圧発生ポンプ２８と油
圧シリンダ３０とで構成されろ油圧サーボ機構によって
、極間間隙２０がほぼ一定になるように電極１０を制御
することができる。
均化すれば、この値で極間間隙￥Ｋｌｌ！＋を行なうこ
とができろ。ずなオ）も、極間間隙２０が広い時は放電
が起りにくく平均電圧値Ｖｓは高い。極間間隙２０が狭
い時は短絡したり、容易に放電するため平均電圧値Ｖｓ
は低下する。従って、この平均電圧値Ｖｓを基準電圧値
Ｖｔと比較して、乙の差を増幅器２４で増幅して油圧サ
ーボコイル２６に入力すれば、油圧発生ポンプ２８と油
圧シリンダ３０とで構成されろ油圧サーボ機構によって
、極間間隙２０がほぼ一定になるように電極１０を制御
することができる。
従来の放電加工装置で加工状態の良否を判別する際、最
も一般的なのは上記の極間電圧値ｖ９の平均電圧値Ｖｓ
を１３１３１することである。すなわち、平均電圧値Ｖ
ｓが低い時は極間インピーダンスが低い場合であって、
短絡、連続的アーク放電となり、極間間隙２０には加工
粉やスラッジの滞留等が考えられる。しかし放電加工に
おいて最も危険な異常アーク放電は、一度発生すると加
工液の熱分解（３） によるカーボン発生のなめに、カーボンと被加工物との
間の放電となり、極間インピーダンスが高くなったよう
な状態になる。このため平均電圧値Ｖｓの観測では異常
アーク放電による極間間隙状態悪化の検出は不可能であ
るという欠点があった。
も一般的なのは上記の極間電圧値ｖ９の平均電圧値Ｖｓ
を１３１３１することである。すなわち、平均電圧値Ｖ
ｓが低い時は極間インピーダンスが低い場合であって、
短絡、連続的アーク放電となり、極間間隙２０には加工
粉やスラッジの滞留等が考えられる。しかし放電加工に
おいて最も危険な異常アーク放電は、一度発生すると加
工液の熱分解（３） によるカーボン発生のなめに、カーボンと被加工物との
間の放電となり、極間インピーダンスが高くなったよう
な状態になる。このため平均電圧値Ｖｓの観測では異常
アーク放電による極間間隙状態悪化の検出は不可能であ
るという欠点があった。
本発明は前述した従来の課題に鑑み為されたものであり
、その目的は放電発生時の極間間隙放電電圧波形の周波
数スペクトル解析を行って正常放電と異常放電の判別を
し極間間隙状態が正常となるように極間間隙において噴
出あるいｌよ吸引させる加工液の圧力を増加することに
より、極間間隙に滞留した加工粉やカーボン、スラッジ
等の異常アーク発生原因となる物質を排出除去して放電
集中を防ぐようにした放電加工装置を提供することにあ
る。
、その目的は放電発生時の極間間隙放電電圧波形の周波
数スペクトル解析を行って正常放電と異常放電の判別を
し極間間隙状態が正常となるように極間間隙において噴
出あるいｌよ吸引させる加工液の圧力を増加することに
より、極間間隙に滞留した加工粉やカーボン、スラッジ
等の異常アーク発生原因となる物質を排出除去して放電
集中を防ぐようにした放電加工装置を提供することにあ
る。
上記目的を達成するために、本発明は電極と被加工物と
を絶縁性加工液を介在させて対向させ、その対向間隙内
に放電を発生させて上記被加工物を加工する放電加工装
置において、電極と被加工物の間の放電電圧波形の周波
数スペクトルを分析（４） し、異常放電状態と正常放電状態であるかを識別する異
常放電検出手段と、上記分析によって極間間隙状態に応
じて信号を出力する極間状態判別手段と、この判別手段
の出力に基すいて極間間隙の汚れを排除するように加工
液の噴出圧力や殴打を制御する制卸手段とを備えたこと
を特徴とする。
を絶縁性加工液を介在させて対向させ、その対向間隙内
に放電を発生させて上記被加工物を加工する放電加工装
置において、電極と被加工物の間の放電電圧波形の周波
数スペクトルを分析（４） し、異常放電状態と正常放電状態であるかを識別する異
常放電検出手段と、上記分析によって極間間隙状態に応
じて信号を出力する極間状態判別手段と、この判別手段
の出力に基すいて極間間隙の汚れを排除するように加工
液の噴出圧力や殴打を制御する制卸手段とを備えたこと
を特徴とする。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
。第２図；よ本発明におけろ検出原理を説明するための
放電電圧波形と、その周波数スペクトルを示すものであ
って、無放電の際のように放電せずに単なる電圧パルス
の印加のみの場合には比較的容易に数式化でき、ちなみ
に振幅Ｅ２周期Ｔ、パルス幅τの時のスペクトルは以下
にように表わすことができる。（しかし、放電波形の場
合アトランダムであり式化は難しい。） ただし、ω＝ 、？ｚ 丁 第２図におけるスペクトル図はＴ＝２τの場合を例にし
て記載した。このスペクトル分布と放電状（５） 態かられかること１よ以下の項目である。
。第２図；よ本発明におけろ検出原理を説明するための
放電電圧波形と、その周波数スペクトルを示すものであ
って、無放電の際のように放電せずに単なる電圧パルス
の印加のみの場合には比較的容易に数式化でき、ちなみ
に振幅Ｅ２周期Ｔ、パルス幅τの時のスペクトルは以下
にように表わすことができる。（しかし、放電波形の場
合アトランダムであり式化は難しい。） ただし、ω＝ 、？ｚ 丁 第２図におけるスペクトル図はＴ＝２τの場合を例にし
て記載した。このスペクトル分布と放電状（５） 態かられかること１よ以下の項目である。
ｆｉｌいづれの状態のスペクトルであっても、周期Ｔの
逆数にあたる周波数ｆ、に高い出力を示す。ただし正常
放電の場合、他と比較してそのピーク値は低い。
逆数にあたる周波数ｆ、に高い出力を示す。ただし正常
放電の場合、他と比較してそのピーク値は低い。
（２）アークに関連するような放電の場合、高周波ｆＩ
−１（約２ Ｍ Ｈｚ以上）はほとんど存在せず正常放
電の場合２００ＭＨ２付近にまで高周波成分が減衰しな
いで発生している。
−１（約２ Ｍ Ｈｚ以上）はほとんど存在せず正常放
電の場合２００ＭＨ２付近にまで高周波成分が減衰しな
いで発生している。
（３１ｆＯの時の出力が低く、ＥＨでの出力が十分あれ
ば正常放電しているとみなせる。
ば正常放電しているとみなせる。
上記の結果より、（３１項のような状態にあることを判
別できれば放電状態の異常識別が可能となることがわか
る。
別できれば放電状態の異常識別が可能となることがわか
る。
第３図は、この実施例を示す概要図であって、基本的に
は周波数スペクトル分析型と同様の構成となっている。
は周波数スペクトル分析型と同様の構成となっている。
極間間隙の電圧信号Ｆ（ｔ）は、ＦＭ変ｌ！１１Ｍ５１
の出力信号ｆ （ｔ）と混合糖によって混合されヘテロ
ダイン検波によって、Ｆ（ｔ）とｆ（ｔ）の和の周波数
のうち中間周波３ （ｔｌの周波数のみが取り（６） 出され差も出るが、これはフィルターによって除去する
中間周波数増幅器５３により増幅され、検波Ｍ５４によ
り振幅分が検波されて低周波増幅器５５によって増幅さ
れる。前述のＦＭ変＠晋５１は、アナログ電圧Ａνによ
って周波数変調されているので、このアナログ電圧ＡＶ
を時間に比例して変化させることにより時間と周波数の
関係が直線的となり、時間毎にＦＴｔ）のうちの」（ｔ
）の周波数分多いだけの周波数スペクトルの振幅を低周
波増幅器５５の出力として取り出すことができる。よっ
てアナログ電圧＾νが前記のｆｏ、 ｆＨに相当する電
圧になる時間は正確な発ｌｉｔ！！！！５８、及びこの
出力を数えていくカウンター５７によって判別できる。
の出力信号ｆ （ｔ）と混合糖によって混合されヘテロ
ダイン検波によって、Ｆ（ｔ）とｆ（ｔ）の和の周波数
のうち中間周波３ （ｔｌの周波数のみが取り（６） 出され差も出るが、これはフィルターによって除去する
中間周波数増幅器５３により増幅され、検波Ｍ５４によ
り振幅分が検波されて低周波増幅器５５によって増幅さ
れる。前述のＦＭ変＠晋５１は、アナログ電圧Ａνによ
って周波数変調されているので、このアナログ電圧ＡＶ
を時間に比例して変化させることにより時間と周波数の
関係が直線的となり、時間毎にＦＴｔ）のうちの」（ｔ
）の周波数分多いだけの周波数スペクトルの振幅を低周
波増幅器５５の出力として取り出すことができる。よっ
てアナログ電圧＾νが前記のｆｏ、 ｆＨに相当する電
圧になる時間は正確な発ｌｉｔ！！！！５８、及びこの
出力を数えていくカウンター５７によって判別できる。
５８はｆ６の判別器、５９はｆＩ、の判別器である。カ
ウンター５７の内容はＤ／Ａ変換器６０によってアナロ
グ電圧＾νとなり、前記ＦＭ変調器５１を変調する。レ
ベル比較＠ｓ６１はｆ。判別器あるいはｆ１判別冊より
のタイミング（８号に応答してそのタイミングにおける
所定の基準値よりも低周波増幅された振幅、すなわち周
波数スペクトルが大か小かの判（７） 別をし、この結果に基づいて異常放電の時は出力ＳＡを
出す。例えばｆ、が３ＫＨ２，１１，１が５ Ｍ １１
２とする。また中間周波数１０．７Ｍ＋（２とすれば、
ｆ（ｔ）が、１０．６９３ＭＨ，の時にｆ。が５．７０
０ ＭＨ，の時ｆ、の各スペクトルが検出できる。ＦＭ
変ｗ４晋５１が広帯域のものであって、入力電圧ＯＶの
時５ＭＨ，ＩＯＶの時１０ＭＨのものとし、Ｄ／Ａ変換
が１６ｂｉｔタイプのものなら±８０Ｈ程度の分解能の
スペクトル分析器となる。また、■に関しては常に加工
の条件選択の毎に変更されるのでｆ。−一部 （ただし、周期Ｔはオンタイムとオフタイムの和）の演
算制御を行う必要がある。
ウンター５７の内容はＤ／Ａ変換器６０によってアナロ
グ電圧＾νとなり、前記ＦＭ変調器５１を変調する。レ
ベル比較＠ｓ６１はｆ。判別器あるいはｆ１判別冊より
のタイミング（８号に応答してそのタイミングにおける
所定の基準値よりも低周波増幅された振幅、すなわち周
波数スペクトルが大か小かの判（７） 別をし、この結果に基づいて異常放電の時は出力ＳＡを
出す。例えばｆ、が３ＫＨ２，１１，１が５ Ｍ １１
２とする。また中間周波数１０．７Ｍ＋（２とすれば、
ｆ（ｔ）が、１０．６９３ＭＨ，の時にｆ。が５．７０
０ ＭＨ，の時ｆ、の各スペクトルが検出できる。ＦＭ
変ｗ４晋５１が広帯域のものであって、入力電圧ＯＶの
時５ＭＨ，ＩＯＶの時１０ＭＨのものとし、Ｄ／Ａ変換
が１６ｂｉｔタイプのものなら±８０Ｈ程度の分解能の
スペクトル分析器となる。また、■に関しては常に加工
の条件選択の毎に変更されるのでｆ。−一部 （ただし、周期Ｔはオンタイムとオフタイムの和）の演
算制御を行う必要がある。
さて、上記出力ＳＡについて、厚４図のレベル比較１１
ｉ６１の詳細説明図を用いてより詳しく説明する。低周
波増幅器５５の出力はアナログスイッチ６２．６３によ
り、各々ｆ、判別とｆ１１判別のタイミング以外に比較
器６４．６５に接続されないようになっている。そして
、１０判別タイミングにおいて、スペクトル振幅Ｖ。が
ｖｌより大であると比較器６４の出力は１″となり、Ａ
ＮＤゲート６６を（８１ 介してカウンター６７をカウントアツプいる。また、１
１判別タイミングにおいて、上記■がｖｌより大である
と、比較器６５の出力は“１”となり、ＡＮＤゲート６
８を介してカウンタ６７をリセットするので、このカウ
ンター６７はｆ。タイミングでのスペクトル振幅大の時
内容が増加し、ｆ）Ｉタイミングでのｖｏが大の時はた
だちにカウンタ内容が零になる。よって高周波成分があ
れば零、ｆＯ酸成分大であると増加という状態を（りか
えずので、このカウンター内容をＤ／Ａ変換器４０を用
いてアナログ電圧ｖｏを観察することによっても、極間
間隙状態の良否を判別できる。すなわち、ＶＱが大であ
れば異常放電に近づいていることとなり、例えば加工粉
の滞留によって極間間隙スラッジがたまっているとか、
異常アークによって加工液１６が熱分解してカーボンが
発生しているとか、電極の一部が破損してそのかけらが
極間間隙２ｏに存在するとか、等の不具合が容易に検出
できる。
ｉ６１の詳細説明図を用いてより詳しく説明する。低周
波増幅器５５の出力はアナログスイッチ６２．６３によ
り、各々ｆ、判別とｆ１１判別のタイミング以外に比較
器６４．６５に接続されないようになっている。そして
、１０判別タイミングにおいて、スペクトル振幅Ｖ。が
ｖｌより大であると比較器６４の出力は１″となり、Ａ
ＮＤゲート６６を（８１ 介してカウンター６７をカウントアツプいる。また、１
１判別タイミングにおいて、上記■がｖｌより大である
と、比較器６５の出力は“１”となり、ＡＮＤゲート６
８を介してカウンタ６７をリセットするので、このカウ
ンター６７はｆ。タイミングでのスペクトル振幅大の時
内容が増加し、ｆ）Ｉタイミングでのｖｏが大の時はた
だちにカウンタ内容が零になる。よって高周波成分があ
れば零、ｆＯ酸成分大であると増加という状態を（りか
えずので、このカウンター内容をＤ／Ａ変換器４０を用
いてアナログ電圧ｖｏを観察することによっても、極間
間隙状態の良否を判別できる。すなわち、ＶＱが大であ
れば異常放電に近づいていることとなり、例えば加工粉
の滞留によって極間間隙スラッジがたまっているとか、
異常アークによって加工液１６が熱分解してカーボンが
発生しているとか、電極の一部が破損してそのかけらが
極間間隙２ｏに存在するとか、等の不具合が容易に検出
できる。
しかしごく短時間であれば極間間隙状態は断えず変化し
ており、短時間前記のηがあっても必ず（９） しも極間間隙状態が悪いとは判断できない。そこでディ
ジタルアナログ変換＠！ｊ４０の出力ｖｏのＦＬｔ値以
上の存在がある時間線いたことを検出して、極間間隙状
態の良否を判断する必要がある。
ており、短時間前記のηがあっても必ず（９） しも極間間隙状態が悪いとは判断できない。そこでディ
ジタルアナログ変換＠！ｊ４０の出力ｖｏのＦＬｔ値以
上の存在がある時間線いたことを検出して、極間間隙状
態の良否を判断する必要がある。
第５図における電圧比較器１４８はディジタルアナログ
変換器４０の出力Ｖ、が所定値′ｖｌＩよりも大か小か
を判別している。Ｖｏ＞Ｖ、、になると、電圧比較器１
４８の出力は負となり、ペース抵抗１５０を介してスイ
ッチング用トランジスタ１５２をオフ状態にする。この
ため時間計測用コンデンサ１５４は抵抗１５６を介して
充電され、コンデンサ１５４の両端電圧へ、は次式にょ
うにあられされるーニ（ ％−％１ （１ｅｌ（ｙ ｒ２ｃ ） ただし、ｒ２は抵抗１５６の抵抗値 Ｃはコンデンサ１５４の容量 ｔは時間 このコンデンサ１５４の両端電圧Ｖは基準電圧・ノｌ （１０） 間は電圧比較１４ｇ１５８の出力が負にならないため、
発光ダイ４−ド１６０は点灯しない。モしてＶ。
変換器４０の出力Ｖ、が所定値′ｖｌＩよりも大か小か
を判別している。Ｖｏ＞Ｖ、、になると、電圧比較器１
４８の出力は負となり、ペース抵抗１５０を介してスイ
ッチング用トランジスタ１５２をオフ状態にする。この
ため時間計測用コンデンサ１５４は抵抗１５６を介して
充電され、コンデンサ１５４の両端電圧へ、は次式にょ
うにあられされるーニ（ ％−％１ （１ｅｌ（ｙ ｒ２ｃ ） ただし、ｒ２は抵抗１５６の抵抗値 Ｃはコンデンサ１５４の容量 ｔは時間 このコンデンサ１５４の両端電圧Ｖは基準電圧・ノｌ （１０） 間は電圧比較１４ｇ１５８の出力が負にならないため、
発光ダイ４−ド１６０は点灯しない。モしてＶ。
〉ＶＩＩの状態が所定時間継続してＶ、、＞ Ｖ、μこ
なると、電圧比較部１５８の出力が負となり、発光ダイ
オード１６０を抵抗１６２を介して点灯させて極間間隙
状態の異常発生を表示するものである。
なると、電圧比較部１５８の出力が負となり、発光ダイ
オード１６０を抵抗１６２を介して点灯させて極間間隙
状態の異常発生を表示するものである。
スイッチ１６４ば、時間の関数だけで極間間隙状態を判
断するか、ディジタルアナログ変換銀４０の出力■ｏの
大きさと時間の積の関数として判断するかを切換えるた
めのスイッチである。すなわち単に時間ｔ！けの検出で
は極間間隙状態の異常判別の困難な加工、例えば超硬合
金の加工のように一瞬にしてアークによる割れや、タン
グステンの欠落が発生する場合には、差の電圧と時間の
積の関数として、異常の発生をすみやかに知ることがで
きる。すなわち短時間であっても、差が大であればコン
デンサＣの充電電流が増え、ｆ−たちにコンデンサ電圧
ｖ３がｖｚに達するからである。
断するか、ディジタルアナログ変換銀４０の出力■ｏの
大きさと時間の積の関数として判断するかを切換えるた
めのスイッチである。すなわち単に時間ｔ！けの検出で
は極間間隙状態の異常判別の困難な加工、例えば超硬合
金の加工のように一瞬にしてアークによる割れや、タン
グステンの欠落が発生する場合には、差の電圧と時間の
積の関数として、異常の発生をすみやかに知ることがで
きる。すなわち短時間であっても、差が大であればコン
デンサＣの充電電流が増え、ｆ−たちにコンデンサ電圧
ｖ３がｖｚに達するからである。
また、差の電圧馬を直接電圧計で観測する乙とより、最
進値と現在値の差を直接観測することが１１１ でき、極間間隙状態のモニターとして使用できることは
明らかである。
進値と現在値の差を直接観測することが１１１ でき、極間間隙状態のモニターとして使用できることは
明らかである。
よって、上記の検出信号ＳＡの有無に応じて極間間隙へ
の加工液噴出圧力を変化させれば、極間状態を回復させ
ることができる。第６図において加工液タンク９９より
加工液供給ポンプ１００より吸い上げられた加工液は、
電磁バルブ１０１、手動バルブ１０２を介してパイプ１
０３を通り、電極１０に設けられた噴出路１０４に接続
されており、加工液圧は液圧メータリレー１０５によす
観測され、しかも所定圧力を越すとフィードバック信号
ＳＲが出力されて電磁バルブ１０１のコントローラ１０
６にフィードバックされ、適切な所定圧力を維持する。
の加工液噴出圧力を変化させれば、極間状態を回復させ
ることができる。第６図において加工液タンク９９より
加工液供給ポンプ１００より吸い上げられた加工液は、
電磁バルブ１０１、手動バルブ１０２を介してパイプ１
０３を通り、電極１０に設けられた噴出路１０４に接続
されており、加工液圧は液圧メータリレー１０５によす
観測され、しかも所定圧力を越すとフィードバック信号
ＳＲが出力されて電磁バルブ１０１のコントローラ１０
６にフィードバックされ、適切な所定圧力を維持する。
また、手動バルブ１０２は電磁バルブ１０１が動作しな
い時の最低圧力を維持するためのものである。加工状態
が悪化し極間間隙に加工粉が滞留すると、検出信号ＳＡ
が出力され、バルブコントローラ１０６に入力されるた
め電磁バルブは開放となり、液圧メータリレー１０５か
ら信号がフィードバックされるまで開き続ける。この−
ｆ＼１９） 強い噴出圧力によって極間間隙に存在していた加工粉は
すみやかに除去され、極間状態は回復する。回復すると
検出信号Ｓ＾ば出力されなくなり、電磁バルブ１０１は
閉じて手動バルブのみで設定された弱い圧力に戻る。尚
、何故２種の圧力が必要かについて述べると、一般に、
０．０５ｋｇ ／ ｃｄ程度の圧力の時最も極間インピ
ーダンスが適切で（適度に汚れているほうが放電しやす
く加工の安定性がよい。）電極の消耗も少ない。また、
０．５ｋｇ／ａＪ９上となると電極表面温度が低下し、
電極表面を保護するパイログラファイトの生成が期待で
きなくなって電極の消耗が増える乙と、あるいは、極間
間隙のインピーダンスが高くなりすぎて放電のための間
隙長が狭くなりすぎ、短絡が発生しやすくなって加工が
不安定になる等の不具合があるため、通常は０．０５ｋ
ｇ ／ ｃｓｆ以下で加工しているのが望ましく、極間
間隙が汚れすぎたり加工のスラッジが一部に滞留した時
のみ高圧の液流を必要とするのである。実験によれば、
銅電極と鉄の組合せでは、低圧０．０５ｋｇ ／ ｃｄ
と高圧１ｋｇｃｊ１銅タングステ（１３） 、：；”’Ｈ’ぜ′ ン電極とタングステンカーバイドの場合、低圧０．２
ｋｇ ／ ｃｄ高圧４ｋｇ／ｃｄ等が有効であることが
判明しな。
い時の最低圧力を維持するためのものである。加工状態
が悪化し極間間隙に加工粉が滞留すると、検出信号ＳＡ
が出力され、バルブコントローラ１０６に入力されるた
め電磁バルブは開放となり、液圧メータリレー１０５か
ら信号がフィードバックされるまで開き続ける。この−
ｆ＼１９） 強い噴出圧力によって極間間隙に存在していた加工粉は
すみやかに除去され、極間状態は回復する。回復すると
検出信号Ｓ＾ば出力されなくなり、電磁バルブ１０１は
閉じて手動バルブのみで設定された弱い圧力に戻る。尚
、何故２種の圧力が必要かについて述べると、一般に、
０．０５ｋｇ ／ ｃｄ程度の圧力の時最も極間インピ
ーダンスが適切で（適度に汚れているほうが放電しやす
く加工の安定性がよい。）電極の消耗も少ない。また、
０．５ｋｇ／ａＪ９上となると電極表面温度が低下し、
電極表面を保護するパイログラファイトの生成が期待で
きなくなって電極の消耗が増える乙と、あるいは、極間
間隙のインピーダンスが高くなりすぎて放電のための間
隙長が狭くなりすぎ、短絡が発生しやすくなって加工が
不安定になる等の不具合があるため、通常は０．０５ｋ
ｇ ／ ｃｓｆ以下で加工しているのが望ましく、極間
間隙が汚れすぎたり加工のスラッジが一部に滞留した時
のみ高圧の液流を必要とするのである。実験によれば、
銅電極と鉄の組合せでは、低圧０．０５ｋｇ ／ ｃｄ
と高圧１ｋｇｃｊ１銅タングステ（１３） 、：；”’Ｈ’ぜ′ ン電極とタングステンカーバイドの場合、低圧０．２
ｋｇ ／ ｃｄ高圧４ｋｇ／ｃｄ等が有効であることが
判明しな。
以上のように本発明によれば、極間状態の良否に応動し
て加工液噴出圧力を制御するため、極間間隙に生成する
加工粉の排出が能率的に行われる乙とになり、加工能率
を著しく改善できる。すなわち加工粉が極間間隙に存在
すると放電の火花は電極−加工粉→被加工物の経路で発
生するため、放電エネルギのかなりの割合が加工粉と加
工液の熱分解に費やされ、加工速度が低下するという現
象を防止できることと、加工粉や熱分解によるカーボン
によるアーク放電を未然に防ぐことができるという効果
がある。以上のように放電の異常を既述の検出方法で判
別し、該検出結果をもとにして極間状態の回復をはかる
ために、加工液圧を変化させて極間間隙の加工粉やカー
ボンを排除して良好な状態に復帰させるという従来にな
い放電加工装置の提供を行うものである。
て加工液噴出圧力を制御するため、極間間隙に生成する
加工粉の排出が能率的に行われる乙とになり、加工能率
を著しく改善できる。すなわち加工粉が極間間隙に存在
すると放電の火花は電極−加工粉→被加工物の経路で発
生するため、放電エネルギのかなりの割合が加工粉と加
工液の熱分解に費やされ、加工速度が低下するという現
象を防止できることと、加工粉や熱分解によるカーボン
によるアーク放電を未然に防ぐことができるという効果
がある。以上のように放電の異常を既述の検出方法で判
別し、該検出結果をもとにして極間状態の回復をはかる
ために、加工液圧を変化させて極間間隙の加工粉やカー
ボンを排除して良好な状態に復帰させるという従来にな
い放電加工装置の提供を行うものである。
尚本実施例では噴出、噴射の事例で説明したき（１４）
たが、吸引による加工の場も全く同様の効果を得ること
は明らかである。
は明らかである。
第１図は従来の放電加工装置を示す原理図、第２図は本
発明になる原理の説明図、第３図は周波数スペクトル分
析回路説明図、第４図は、異常状態検出判別回路図、第
５図はその表示回路図、第６図は本発明の詳細な説明図
である。図中１０は電極、１４は被加工物、１８は加工
電源、６７は異常検知カウンターである。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大君 増雄 （１５）
発明になる原理の説明図、第３図は周波数スペクトル分
析回路説明図、第４図は、異常状態検出判別回路図、第
５図はその表示回路図、第６図は本発明の詳細な説明図
である。図中１０は電極、１４は被加工物、１８は加工
電源、６７は異常検知カウンターである。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大君 増雄 （１５）
Claims (1)
- 電極と被加工物とを絶縁性加工液を介在させて対向させ
ると共に、加工液に圧力を持たせて極間間隙より噴出さ
せながらその極間間隙に放電を発生させて上記被加工物
を加工する放電加工装置において、電極と被加工物の極
間間隙で放電した際の極間間隙における電気信号中の周
波数成分の分布を検知する検知手段と、この検知手段に
より検知される周波数成分の分布を予め設定した周波数
成分の分布を比較する比較手段と、上記比較手段の出力
信号に基づいて極間間隙状態を判断して信号を出力する
極間間隙状態判別手段と、この判別手段の出力に基づい
て上記加工液の圧力を制御する制御手段を具備すること
を特徴とする放電加工装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14072283A JPS6034220A (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 放電加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14072283A JPS6034220A (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 放電加工装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6034220A true JPS6034220A (ja) | 1985-02-21 |
Family
ID=15275182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14072283A Pending JPS6034220A (ja) | 1983-08-01 | 1983-08-01 | 放電加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6034220A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5075603A (en) * | 1987-11-13 | 1991-12-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cold-cathode discharge lamp device |
| US6198595B1 (en) | 1996-10-31 | 2001-03-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Logic deck mechanism for portable audio |
| US20160361770A1 (en) * | 2011-01-12 | 2016-12-15 | Perfect Point Edm Corporation | Dynamic adaptive flushing for workpiece erosion |
-
1983
- 1983-08-01 JP JP14072283A patent/JPS6034220A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5075603A (en) * | 1987-11-13 | 1991-12-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cold-cathode discharge lamp device |
| US6198595B1 (en) | 1996-10-31 | 2001-03-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Logic deck mechanism for portable audio |
| US20160361770A1 (en) * | 2011-01-12 | 2016-12-15 | Perfect Point Edm Corporation | Dynamic adaptive flushing for workpiece erosion |
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