JPS6035273U - 集積回路組込用テスト回路 - Google Patents

集積回路組込用テスト回路

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JPS6035273U
JPS6035273U JP12716483U JP12716483U JPS6035273U JP S6035273 U JPS6035273 U JP S6035273U JP 12716483 U JP12716483 U JP 12716483U JP 12716483 U JP12716483 U JP 12716483U JP S6035273 U JPS6035273 U JP S6035273U
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JP
Japan
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integrated circuit
circuit
test
integration
test circuit
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Application number
JP12716483U
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Inventor
金内　秀志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPS6035273U publication Critical patent/JPS6035273U/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例のブロック図である。 図中、Ａｉ、Ａｊはアドレス端子、Ｖｐｐは書込電圧印
加端子、Ｂ、　Ｂ’はＴＴＬレベルで動作する通常のア
ドレスバッファ、Ｃ９Ｃ′は電源電圧より高いしきい値
を持ち９〜１５Ｖで動作するコンパレータ、Ｅは電源投
入時に自動的にリセット信号を発生する初期設定回路、
ＤはＣ１ｌとＥのＯＲ回路、ＦはＲ−Ｓフリップ・フロ
ップ、である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 集積回路内に組込まれる集積回路の動作をチェックする
    テスト回路を動作状態・非動作状態に設定する際、Ｒ−
    Ｓフリップ・フロップを用い、Ｒ−Ｓフリップ・フロッ
    プの入力信号をＴＴＬレベルより高電位である第３のレ
    ベルで動作するコンパレータによって与えることで集積
    回路の端子を共有し、該テスト回路動作時の測定端子と
    して該集積回路の本来の機能を損うことなくテストが行
    なえる端子を用いることにより、該集積回路の機能を損
    なうことなく該集積回路の動作をチェック可能とするこ
    とを特徴とする集積回路組込用テスト回路。
JP12716483U 1983-08-17 1983-08-17 集積回路組込用テスト回路 Pending JPS6035273U (ja)

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JPS6035273U true JPS6035273U (ja) 1985-03-11

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JP12716483U Pending JPS6035273U (ja) 1983-08-17 1983-08-17 集積回路組込用テスト回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH022866U (ja) * 1988-06-20 1990-01-10

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH022866U (ja) * 1988-06-20 1990-01-10

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